一种滑台式发射率测试装置的制作方法

本实用新型涉及仪器仪表领域，尤其涉及发射率测试装置。

背景技术：

发射率作为一项能够表征材料辐射能力的热物性参数，在很多高科技领域中都有着不可替代的作用。一方面，准确的发射率数据与红外技术等基础研究息息相关。另一方面，发射率的研究在工业、军事、航空航天等工程技术领域有着宝贵的研究价值。

在测温过程中，为了先确定表面发射率，常用辅助方法是采用发射率已知的物体作为参考物。然而目前得到的发射率只能是单一或几个数值，不能得到近似从0到1连续的一系列数值，不能直接得到特定的发射率，劳动量大，十分不便。

现阶段对于发射率测试的装置不是很多，现技术有三个缺点，一是测温区间不够宽，不能近似从0到1；二是在工作温度区间内，参考物体发射率是一个定值或区域值，不能连续调节；三是不能直接得到特定发射率，使测量发射率精度受到影响。

技术实现要素：

本实用新型的目的是为了克服现有发射率测试装置的不足，提供了一种滑台式发射率测试装置。

本实用新型包括X电机，X轴，X平移台，样品，Y电机， Y轴，Y平移台，环形夹。所述X电机、X轴和X平移台组成一个整体，位于底部，所述样品放置于X平移台上，所述Y电机、Y轴、 Y平移台和环形夹组成一个整体，垂直放置于X平移台上方，环形夹的环口恰好位于样品的正上方。

作为本实用新型的优选技术方案，所述X电机通过X轴连接 X平移台，X电机工作时通过X轴的转动控制X平移台在X轴方向左右移动。

作为本实用新型的优选技术方案，所述样品为对称式深度连续渐变空腔阵列，作为发射率参考物。

作为本实用新型的优选技术方案，所述Y电机通过Y轴连接 Y平移台，Y电机工作时通过Y轴的转动控制Y平移台在Y轴方向上下移动。

作为本实用新型的优选技术方案，所述环形夹被固定在Y平移台表面中心处，环口恰好位于样品的正上方。

本实用新型通过设计一种滑台式发射率测试装置，能够在红外测温技术领域提供比较广泛的发射率区间，并提供连续可选的表面单元，可选的表面单元在工作温度区间内有连续稳定的发射率，还可直接得到特定发射率，提高测量发射率的精度，小巧简单，操作方便。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图。

图2为本实用新型底部的结构示意图。

图中：1.X电机；2.X轴；3.X平移台；4.样品；5.Y电机； 6.Y轴；7.Y平移台；8.环形夹。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

请参阅图1，图1为本实用新型的结构示意图。

一种滑台式发射率测试装置，包括X电机1，X轴2，X平移台3，样品4，Y电机5，Y轴6，Y平移台7，环形夹8，所述X 电机1、X轴2和X平移台3组成一个整体，位于底部；所述样品4 放置于X平移台3上，所述Y电机5、Y轴6、Y平移台7和环形夹 8组成一个整体，垂直放置于X平移3台上方，环形夹8的环口恰好位于样品4的正上方。

将样品4放置在X平移台3上，由于样品4为对称式深度连续渐变空腔阵列，作为发射率参考物拥有近似从0到1连续的发射率，用环形夹8将红外测温仪夹住，使红外测温仪的测温探头朝下对准样品4。

通过Y电机5控制Y轴6转动，进而控制Y平移台7上下移动，在环形夹8内的红外测温仪随之上下移动，调整红外测温仪与样品4之间的焦距到合理距离。

通过X电机1控制X轴2转动，进而控制X平移台3左右移动，在X平移台3上放置的样品4随之左右移动，先将X平移台移动至红外测温仪测温探头对准样品4的最左侧，开始测量其发射率，然后控制X平移台缓缓向右移动，直至红外测温仪测温探头对准样品4的最右侧，再通过匹配法计算，便可得到一系列近似从0到1的发射率，还可通过红外测温仪的读数找到特定发射率，提高了测量发射率的精度，小巧简单，操作方便。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。