技术总结
本实用新型公开了一种测试紫外线透过率的装置，包括透过率检测装置、光源以及计算机，透过率检测装置包括底壳、盖板、升降支架、紫外聚光装置、第一光纤、第二光纤，底壳底面放置有光谱仪，光谱仪连接计算机，光谱仪连接第一光纤，底壳上设置有立柱，立柱上放置有升降支架，升降支架上设置有第一固定支架，第一固定支架上设置有紫外聚光装置，紫外聚光装置连接第二光纤，第二光纤连接光源，盖板放置于底壳顶面，盖板上设置有第二固定支架，第二固定支架上设置有紫外聚光装置，紫外聚光装置内部设置有胶合镜片，本实用新型采用双紫外聚光装置对接的方式，测试时让能量损耗更少，测试的波长220‑1100nm，使测试样品更多样。
技术研发人员：蔡成周
受保护的技术使用者：广州常晖电子科技有限公司
技术研发日：2018.05.16
技术公布日：2018.12.25