1.一种荧光X射线吸收谱探测器，其特征在于：包括实验样品仓，实验样品仓前端设置两个一维狭缝结构，其中，第二个一维狭缝结构与第一个一维狭缝结构成90°叠放，一维狭缝结构后端设置大面积半导体光电二极管探测器，用于将光信号转换成电信号输出。
2.根据权利要求1所述的一种荧光X射线吸收谱探测器，其特征在于：所述一维狭缝结构包括铝框，所述铝框内安装有若干叶片，其中叶片的安装与焦点的射线方向重合，焦点为狭缝到样品的距离。
3.根据权利要求2所述的一种荧光X射线吸收谱探测器，其特征在于：所述叶片选用11片。
4.根据权利要求1所述的一种荧光X射线吸收谱探测器，其特征在于：所述大面积半导体光电二极管探测器包括铝壳体，光电二极管固定于铝壳体，并通过BNC信号引出插座输出电信号。
5.根据权利要求4所述的一种荧光X射线吸收谱探测器，其特征在于：所述光电二极管采用滨松S4276-02，有效面积为48×48mm。