一种电路联板测试支架的制作方法

本实用新型涉及电路测试仪器领域，具体涉及一种电路联板测试支架。

背景技术：

在线测试仪，简称ICT，即自动在线测试仪，是现代电子企业必备的 PCBA(Printed-Circuit Board Assembly，印刷电路板组件)生产的测试设备，测试仪器通过针床测试夹具或IC夹具上的探针与被测电路板上的测点对齐，通过探针给被测电路板施加测试信号，然后测量响应，逐个测试板上的元器件及导线连接的正确性，也称为内电路测试法。测试的目的是为了做出更合格的产品，防止出现重复性问题，减少产品返修率，提高效率。现有技术中，由于有些电路板的面积较小，因此会将很多个小电路板预制成电路联板进行测试，利用测试支架上的控制电路，对联板电路上的单个电路板进行通道切换，这样可以提高工作效率，但是也存在一些不足和缺陷：

1、由于采用电路联板测试探针，每个单板的测针在测试时都按压在被测电路板上，测针数量太多，造成测点接触不良，无法有效测试；

2、需要控制电路对被测联板电路上的单板进行通道选择，一一测试，控制电路的结构复杂、成本高。

技术实现要素：

鉴于以上所述现有技术的缺点，本实用新型的目的在于提供一种电路联板测试支架，用于解决现有技术中探针数量多造成测点接触不良，控制电路结构复杂、成本高的问题。

为实现上述目的及其他相关目的，本实用新型提供一种电路联板测试支架，包括底座，所述底座上端的一侧固定安装有立板，所述立板的前侧铰接有按压手柄，所述按压手柄的下端连接有弧形驱动杆，所述弧形驱动杆远离按压手柄的一端通过铰座活动连接有推杆，所述推杆远离铰座的一端设有转换接头，所述转换接头的前侧设有测试探针固定板，所述测试探针固定板上贯穿设有测试探针，所述测试探针的根部通过测试信号线缆连接测试系统，所述底座上端固定安装有联板电路支架，所述联板电路支架内开设有若干个定位卡槽，每个所述定位卡槽均安装有单板电路，相邻所述单板电路之间互相连接形成被测联板电路。

优选的，所述单板电路上设有与测试探针一一对应的测试点。

优选的，所述单板电路的位置可以通过定位卡槽进行自由切换。

优选的，所述联板电路支架的的形状与被测联板电路相匹配。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：由于采用单电路板测试探针结构，利用联板电路支架上的卡槽，对联板电路上的单板电路进行一一机械位置切换，使被测单板和单电路板测试探针进行准确定位。这种结构相比现有产品，由于单板测试探头数量少，不存在接触不良的问题，大大提高了有效测试的效率，并且无需控制电路对被测联板电路上的单板进行通道选择，使得整个测试支架更简洁有效，成本更低。

附图说明

下面结合附图与具体实施例对本实用新型作进一步详细说明。

图1为本实用新型提供的一种电路联板测试支架的结构示意图；

图2为本实用新型中的单板电路的结构示意图。

其中，附图标记具体说明如下：底座1、立板2、按压手柄3、弧形驱动杆4、推杆5、转换接头6、测试探针固定板7、测试探针8、测试信号线缆9、测试系统10、联板电路支架11、定位卡槽12、单板电路13、测试点14、被测联板电路15。

具体实施方式

以下由特定的具体实施例说明本发明的实施方式，熟悉此技术的人士可由本说明书所揭露的内容轻易的了解本实用新型的其他优点及功效。

请参阅图1-2。须知，本说明书所附图式所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本实用新型可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本实用新型所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本实用新型所揭示的技术内容得能涵盖的范围内。同时，本说明书中所引用的如“上”、“下”、“左”、“右”、“中间”及“一”等的用语，亦仅为便于叙述的明了，而非用以限定本实用新型可实施的范围，其相对关系的改变或调整，在无实质变更技术内容下，当亦视为本实用新型可实施的范畴。

参阅图1-2，本实用新型提供一种电路联板测试支架，包括底座1，底座1 上端的一侧固定安装有立板2，立板2的前侧铰接有按压手柄3，按压手柄3的下端连接有弧形驱动杆4，弧形驱动杆4远离按压手柄3的一端通过铰座活动连接有推杆5，推杆5远离铰座的一端设有转换接头6，转换接头6的前侧设有测试探针固定板7，测试探针固定板7上贯穿设有测试探针8，当需要对电路进行测试时，按下或抬起按压手柄3，弧形驱动杆4会使得测试探针固定板7以及测试探针8上下活动并锁定位置，测试探针8的根部通过测试信号线缆9连接测试系统10，通过测试系统10检测单板电路13是否功能正常，测试探针8是有弹性的，当按下按压手柄3之后，其头部可以和单板电路13上的测试点14接触，底座1上端固定安装有联板电路支架11，用于安装被测联板电路15，联板电路支架11内开设有若干个定位卡槽12，每个定位卡槽12均安装有单板电路13，单板电路13的位置可以通过定位卡槽12进行自由切换，并确保测试点14和测试探针8的定位准确，相邻单板电路13之间互相连接形成被测联板电路15。

单板电路13上设有与测试探针8一一对应的测试点14。

联板电路支架11的的形状与被测联板电路15相匹配。

综上，本实用新型由于采用单电路板测试探针结构，利用联板电路支架上的卡槽，对联板电路上的单板电路进行一一机械位置切换，使被测单板和单电路板测试探针进行准确定位。这种结构相比现有产品，由于单板测试探头数量少，不存在接触不良的问题，大大提高了有效测试的效率，并且无需控制电路对被测联板电路上的单板进行通道选择，使得整个测试支架更简洁有效，成本更低。所以，本实用新型有效克服了现有技术中的种种缺点而具有高度产业利用价值。

上述实施例仅例示性说明本发明的原理及其功效，而非用于限制本发明。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本发明的精神及范畴下，对上述实施例进行修饰或改变。因此，举凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本发明所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变，仍应由本发明的权利要求所涵盖。