一种用于测试设备的纹波有效值测量装置的制作方法

本实用新型涉及电子设备测试行业、教学实验平台。

背景技术：

电源在出厂时都需要做出货测试检查检验，而纹波有效值是比较关键的一项参数，所以纹波有效值测试方案及装置有较大的市场；传统纹波有效值是使用示波器来测量的，然后通过通信接口把数据上传给上位机软件，这种传统解决方案及装置均存在如下缺点：

A、集成度低：示波器体积大，无法集成到小型测试设备中；

B、成本高：示波器功能强大但是性价比很低，成本高；

C、效率低：测试时间长，一次测量需要耗时2秒。

因而十分需要解决现有方案的缺点，研发设计一种集成度高，成本低，效率高，能够在测试设备中广泛使用的纹波有效值测试方案及装置。

技术实现要素：

本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足,提供一种集成度高，成本低，效率高，能够在测试设备中广泛使用的纹波有效值测试装置。

本实用新型所采用的技术方案是：一种用于测试设备的纹波有效值测量装置，它包括多路待测信号选择开关、隔直流电容、高精度RMS-DC模块、缓冲器、MCU模块、EEPROM存储器、上位机及电源，所述待测信号通过所述选择开关连接所述隔直流电容的一端，所述隔直流电容的另一端连接所述高精度RMS-DC模块，所述高精度RMS-DC模块串联所述缓冲器后连接所述MCU模块，所述MCU模块分别连接所述EEPROM存储器和上位机，所述电源分别连接所述高精度RMS-DC模块、所述MCU模块。

所述高精度RMS-DC模块包括高精度RMS-DC IC AD8436芯片及其外围电路。

所述MCU模块包括18 Bit 的AD4003芯片及其外围电路。

本实用新型的有益效果是：由于本实用新型包括多路待测信号选择开关、隔直流电容、高精度RMS-DC模块、缓冲器、MCU模块、EEPROM存储器、上位机、电源，所述待测信号通过所述选择开关连接所述隔直流电容的一端，所述隔直流电容的另一端连接所述高精度RMS-DC模块，所述高精度RMS-DC模块串联所述缓冲器后连接所述MCU模块，所述MCU模块分别连接所述EEPROM存储器和上位机，所述电源分别连接所述高精度RMS-DC模块、所述MCU模块。所述高精度RMS-DC模块包括高精度RMS-DC IC AD8436芯片及其外围电路。所述MCU模块包括18 Bit 的AD4003芯片及其外围电路。所以本实用新型集成度高，成本低，效率高，能够在测试设备中广泛使用，是一种用于测试设备的纹波有效值测量装置。

附图说明

图1是本实用新型电路原理结构方框示意图；

图2是本实用新型高精度RMS-DC模块电路原理示意图；

图3是本实用新型MCU模块电路原理示意图。

具体实施方式

如图1至图3所示，本实用新型它包括多路待测信号选择开关、隔直流电容、高精度RMS-DC模块、缓冲器、MCU模块、EEPROM存储器、上位机、电源，所述待测信号通过所述选择开关连接所述隔直流电容的一端，所述隔直流电容的另一端连接所述高精度RMS-DC模块，所述高精度RMS-DC模块串联所述缓冲器后连接所述MCU模块，所述MCU模块分别连接所述EEPROM存储器和上位机，所述电源分别连接所述高精度RMS-DC模块、所述MCU模块。

所述高精度RMS-DC模块包括高精度RMS-DC IC AD8436芯片及其外围电路。

所述MCU模块包括18 Bit 的AD4003芯片及其外围电路。

本实施例中具体流程如下：

1、多路待测信号经过继电器（选择开关）来选择测试哪一路信号的纹波有效值；

2、经过隔直流电容，信号经过RMS-DC转换芯片，把RMS转换成直流电压，同时放大10倍；

3、转换并放大后的纹波有效值经过电压跟随器后再送到MCU模块的ADC测量；

4、MCU模块读回来的有效值和标准示波器进行对比，计算出校准系数，然后存储到EEPROM；

5、MCU将ADC测量结果加上存储在EEPROM中的校准系数，把计算后的数据通过串口发送给上位机。

被测纹波经过C78电容，直流信号被隔离，只有交流信号能通过高精度RMS-DC IC AD8436 完成RMS到DC的转换。为了提高小信号的测量精度，我们设置C77电容为10uF，这样AD8436可以将转换后的电压放大10倍，最后再送到ADC模块完成采集。为了提高纹波测量精度，MCU采用18 Bit 的AD4003芯片，一次测量只需要0.2秒。