DIP4排脚产品电性测试增加双探针结构的制作方法

本实用新型涉及排脚产品技术领域，具体为DIP4排脚产品电性测试增加双探针结构。

背景技术：

DIP开关也称为指拨开关，是可以人工调整的开关，多半是数个开关一组，以标准双列直插封装（DIP）的封装形式出现，“DIP开关”可以指个别的开关，也可以指整组的开关，DIP开关一般会设计在印刷电路板上，配合其他电子元件使用，主要目的是，调整电子设备的特性。

在对DIP4排脚产品进行电性测试时需要使用到探针结构进行检测，现有市场上探针结构为单支探针，结构较为简单，不具备测试效果好的功能，测试时直流电阻（DCR）不良率50%以上，不良率较高，产品合格率低下，影响了产品的正常生产，成本上损失很大，不利于产品的生产推广。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供DIP4排脚产品电性测试增加双探针结构，具备测试效果好的优点，解决了现有市场上排脚产品电性测试装置不具备测试效果好功能的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：DIP4排脚产品电性测试增加双探针结构，包括工作台，所述工作台的底部与上面探针气缸输出端的连接处固定连接，所述工作台顶部的两侧均设有固定骨架，所述固定骨架的内腔固定连接有PH-1H加长探针，所述工作台的表面开设有与固定骨架配合使用的导轨，所述工作台底部的两侧均固定连接有两侧探针气缸，所述工作台的顶部设有压紧装置，所述压紧装置的顶部固定连接有夹板，所述夹板的底部的左侧与压料气缸的输出端固定连接，所述压料气缸的底部固定连接有连接块，所述连接块的底部固定连接有平移压料气缸，所述平移压料气缸的底部固定连接有底座。

优选的，所述两侧探针气缸的输出端与固定骨架的推动装置固定连接，且推动装置贯穿工作台并与导轨配合使用。

优选的，所述压紧装置的底部与产品的接触面设有防挤压层，且防挤压层的厚度不少于10mm-15mm。

优选的，所述夹板的底部设有加固装置，且加固装置的底部与压料气缸的连接处固定连接。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果如下：

1、本实用新型通过设置上面探针气缸、两侧探针气缸、固定骨架、PH-1H加长探针、压紧装置、夹板、压料气缸、平移压料气缸和导轨，可使装置达到测试效果好的效果，解决了现有市场上探针结构为单支探针，结构较为简单，不具备测试效果好的功能，测试时直流电阻（DCR）不良率50%以上，不良率较高，产品合格率低下，影响了产品的正常生产，成本上损失很大，不利于产品的生产推广的问题。

2、本实用新型通过推动装置，能够使两个探针气缸的动作达到同步一致，使装置的测试效果更好，通过防挤压层，能够有效避免在对产品进行测试时出现产品被挤压损坏的现象，提升了装置使用时的实用性，通过加固装置，能够有效增强夹板的使用强度，避免装置在长时间的使用后夹板出现形变的现象，提升了装置的使用寿命。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图；

图2为本实用新型剖视图。

图中：1工作台、2上面探针气缸、3两侧探针气缸、4固定骨架、5PH-1H加长探针、6压紧装置、7夹板、8压料气缸、9连接块、10平移压料气缸、11底座、12导轨。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-2，DIP4排脚产品电性测试增加双探针结构，包括工作台1，工作台1的底部与上面探针气缸2输出端的连接处固定连接，工作台1顶部的两侧均设有固定骨架4，固定骨架4的内腔固定连接有PH-1H加长探针5，工作台1的表面开设有与固定骨架4配合使用的导轨12，工作台1底部的两侧均固定连接有两侧探针气缸3，两侧探针气缸3的输出端与固定骨架4的推动装置固定连接，且推动装置贯穿工作台1并与导轨12配合使用，通过推动装置，能够使两侧探针气缸3的动作达到同步一致，使装置的测试效果更好，工作台1的顶部设有压紧装置6，压紧装置6的底部与产品的接触面设有防挤压层，且防挤压层的厚度不少于10mm-15mm，通过防挤压层，能够有效避免在对产品进行测试时出现产品被挤压损坏的现象，提升了装置使用时的实用性，压紧装置6的顶部固定连接有夹板7，夹板7的底部设有加固装置，且加固装置的底部与压料气缸8的连接处固定连接，通过加固装置，能够有效增强夹板的使用强度，避免装置在长时间的使用后夹板出现形变的现象，提升了装置的使用寿命，夹板7的底部的左侧与压料气缸8的输出端固定连接，压料气缸8的底部固定连接有连接块9，连接块9的底部固定连接有平移压料气缸10，平移压料气缸10的底部固定连接有底座11。

使用时，通过增加双探针结构使产品的良品率大大增加，通过设置上面探针气缸2、两侧探针气缸3、固定骨架4、PH-1H加长探针5、压紧装置6、夹板7、压料气缸8、平移压料气缸10和导轨12，可使装置达到测试效果好的功能，适合推广使用。

综上所述：该DIP4排脚产品电性测试增加双探针结构，通过上面探针气缸2、两侧探针气缸3、固定骨架4、PH-1H加长探针5、压紧装置6、夹板7、压料气缸8、平移压料气缸10和导轨12，解决了现有市场上探针结构为单支探针，结构较为简单，不具备测试效果好的功能，测试时直流电阻（DCR）不良率50%以上，不良率较高，产品合格率低下，影响了产品的正常生产，成本上损失很大，不利于产品的生产推广的问题。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。