1.一种监控光模块老化过程的测试装置，包括：设置在光模块老化测试板上的接口电路，微处理器，模拟开关和提供工作电源的电源电路，其特征在于：接口电路至少并联两路微处理器，微处理器通过对应串联的模拟开关，并联n路光模块的信息读取接口；微处理器通过模拟开关电路连通指定的光模块通讯总线，采集被测光模块的数据，接口电路将I2C通信转换成PC机的USB通信，将监控到的光模块老化信息传递给PC机，对所有老化板上的光模块的工作状态进行实时监测、诊断，准确记录被测光模块每时每刻工作状态，工作温度，供电电压，激光偏置电流的重要参数，汇总、查询、追溯获取的光模块参数信息，找出链路中故障出现的位置。
2.如权利要求1所述的监控光模块老化过程的测试装置，其特征在于：电源电路提供老化测试板的所有部件工作电源，接口电路将连接老化测试板和上位机，微处理器负责所有光模块的数据采集和处理，模拟开关电路负责连通指定的光模块通讯总线。
3.如权利要求1所述的监控光模块老化过程的测试装置，其特征在于：微处理器通过模拟开关电路控制模拟开关的工作模式，选择光模块之间进行数据通信需要采集数据的光模块，实时监测其被测光收发模块收发信号参数信息，获取光模块参数信息。
4.如权利要求1所述的监控光模块老化过程的测试装置，其特征在于：接口电路通过12Ｃ通信接口串联模拟开关1、模拟开关2，通过２线串行总线对SFP光模块进行访问，读写光模块的电子抹除式可复写只读存储器EEPROM的数据信息。
5.如权利要求1所述的监控光模块老化过程的测试装置，其特征在于：微处理器实时采集来自模拟开关1、模拟开关2的光模块内部工作电压，温度，偏置电流，发射和接收光功率的参数信号，分别对这５个模拟量进行标定的校准，得到数字化测量结果。
6.如权利要求1所述的监控光模块老化过程的测试装置，其特征在于：微处理器选择ADI公司型号为ADuC7020的微处理器芯片，模拟开关选择ADI公司型号为ADG706BRUZ的模拟开关，模拟开关实现16路I2C总线切换。
7.如权利要求6所述的监控光模块老化过程的测试装置，其特征在于：采用两个ADuC7020的微处理器芯片，分别带动两个ADG706BRUZ的模拟开关，每一个ADG706BRUZ的模拟开关带13个光模块。
8.如权利要求1所述的监控光模块老化过程的测试装置，其特征在于：电源电路包括接口电路电源，微处理器电源，模拟开关电源以及所有需要测试的光模块电源。