技术总结
本实用新型公开的一种监控光模块老化过程的测试装置，旨在提供一种方便操作，测试效率高，不易出错，能实时监控光模块工作状态的测试装置。本实用新型通过下述技术方案予以实现：接口电路至少并联两路微处理器，微处理器通过对应串联的模拟开关，并联n路光模块的信息读取接口；微处理器通过模拟开关电路连通指定的光模块通讯总线，采集被测光模块的数据，接口电路将I2C通信转换成PC机的USB通信，将监控到的光模块老化信息传递给PC机，对所有老化板上的光模块的工作状态进行实时监测、诊断，准确记录被测光模块每时每刻工作状态，工作温度，供电电压，激光偏置电流的参数、查询、追溯获取的光模块参数信息，找出故障出现的位置。
技术研发人员：王宏;徐龙
受保护的技术使用者：成都飞机工业(集团)有限责任公司
技术研发日：2018.08.18
技术公布日：2019.03.29