一种用于COC老化测试的光谱分析仪的制作方法

本实用新型涉及芯片检测设备技术领域，具体为一种用于COC老化测试的光谱分析仪。

背景技术：

COC芯片生产之后，为了保证COC芯片具有很好的稳定性能，筛选或剔除勉强合格、早期失效的器件，需要对所有芯片进行老化试验，一般情况下，老化试验需要不间断进行数十个小时，将测试的COC芯片放入光谱分析仪进行测试，配合电脑直接测量COC芯片的相对光谱功率分布(紫外、可见、近红外)、色品坐标、相关色温、显色指数、色容差、峰值波长、红色比、绿色比、蓝色比、光谱辐射功率、光通量、光效等光电参数；快速负高压自动调节，不仅使测量时间更快，跟大大降低了仪器的磨损；环境温度、测光球内温度的同步检测，使测量条件更直观，数据更可靠。

现如今的COC芯片老化分析，将COC芯片放置于大型光谱分析仪内部进行测试成本太高，或通过小型的光谱分析仪进行人工测试，但是由于光谱分析仪内存在大量的辐射，小型的光谱分析仪在使用时会影响操作人员的身体健康。鉴于此，我们提供一种用于COC老化测试的光谱分析仪。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供一种用于COC老化测试的光谱分析仪，以解决上述背景技术中提出由于光谱分析仪内存在大量的辐射，小型的光谱分析仪在使用时会影响操作人员的身体健康的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种用于COC老化测试的光谱分析仪，包括光谱分析仪检测台，所述光谱分析仪检测台包括检测工作台，所述检测工作台的中心处开设有检查通道，所述检测工作台的一侧边缘通过铰链连接有顶盖，所述检测工作台远离铰链的一侧中心处开设有滑动槽，所述滑动槽内安装有可调节滑动座所述检测工作台远离铰链的一侧边缘铰接有限位条，所述滑动槽远离进口的一端内侧安装有复位弹簧，所述可调节滑动座包括COC芯片分析区，所述COC芯片分析区的一侧设置有通孔区，所述通孔区远离所述COC芯片分析区的一侧连接有按压环，所述顶盖的中部安装有光谱分析仪主体。

优选的，所述光谱分析仪主体与所述检查通道的位置相对应，且两者尺寸相适配。

优选的，所述限位条远离所述检测工作台的一侧开设有定位孔。

优选的，所述滑动槽的下方设置有螺纹孔，所述螺纹孔与所述定位孔的位置相对应，且尺寸大小相同。

优选的，所述限位条通过固定螺栓依次穿过所述定位孔和螺纹孔螺纹连接于所述检测工作台上。

优选的，所述可调节滑动座与所述滑动槽的尺寸相适配，且两者滑动配合。

优选的，所述检测工作台的底部安装有COC芯片回收箱，所述COC芯片回收箱靠近所述限位条的一侧中部开设有回收槽，所述回收槽内安装有回收抽屉。

优选的，所述回收抽屉包括抽屉箱，所述抽屉箱的一侧焊接有限位板。

优选的，所述检查通道与所述回收槽相连通。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1、本用于COC老化测试的光谱分析仪通过将光谱分析仪主体安装与顶盖上，进行工作，操作简单使用方便；同时设置的可调节滑动座可以将检测后的COC芯片直接排出，不需要人工将其捡起，改善了操作人员的工作环境。

2、本用于COC老化测试的光谱分析仪通过按压可调节滑动座的按压环，COC芯片从可调节滑动座的通孔区落入至抽屉箱内，打开抽屉箱可以将内部的已测试的COC芯片取出，进行回收。

附图说明

图1为本实用新型工作时的结构示意图；

图2为本实用新型按压环按压后的结构示意图；

图3为本实用新型的爆炸系统结构示意图；

图4为本实用新型的左视结构示意图。

图中：1、光谱分析仪检测台；11、检测工作台；12、检查通道；13、滑动槽；14、限位条；141、定位孔；15、COC芯片回收箱；16、回收槽；17、螺纹孔；18、复位弹簧；2、可调节滑动座；21、COC芯片分析区；22、通孔区；23、按压环；3、回收抽屉；31、抽屉箱；32、限位板；4、顶盖；5、光谱分析仪主体；6、定位螺栓。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

实施例1

一种用于COC老化测试的光谱分析仪，如图1、图2和图4所示，包括光谱分析仪检测台1，光谱分析仪检测台1包括检测工作台11，检测工作台11的中心处开设有检查通道12，检测工作台11的一侧边缘通过铰链连接有顶盖4，检测工作台11远离铰链的一侧中心处开设有滑动槽13，滑动槽13内安装有可调节滑动座2检测工作台11远离铰链的一侧边缘铰接有限位条14，滑动槽13远离进口的一端内侧安装有复位弹簧18，可调节滑动座2包括COC芯片分析区21，COC芯片分析区21的一侧设置有通孔区22，通孔区22远离COC芯片分析区21的一侧连接有按压环23，顶盖4的中部安装有光谱分析仪主体5。

值得说明的是，本实施例中的光谱分析仪主体5采用江苏威联检测技术服务有限公司声测的EDXP3000的光谱分析仪，本实用新型中涉及到电路和电子元器件以及模块的均为现有技术，本领域技术人员完全可以实现，无需赘言，本实用新型保护的内容也不涉及对于软件和方法的改进。

进一步，光谱分析仪主体5与检查通道12的位置相对应，且两者尺寸相适配。

限位条14远离检测工作台11的一侧开设有定位孔141，滑动槽13的下方设置有螺纹孔17，螺纹孔17与定位孔141的位置相对应，且尺寸大小相同，限位条14通过固定螺栓6依次穿过定位孔141和螺纹孔17螺纹连接于检测工作台11上。

进一步，可调节滑动座2与滑动槽13的尺寸相适配，且两者滑动配合。

本实施例的COC老化测试的光谱分析仪在安装时，操作人员将可调节滑动座2插入至滑动槽13内，并通过固定螺栓6依次穿过定位孔141和螺纹孔17将限位条14螺纹连接于检测工作台11上，之后打开顶盖4，将待检测的COC芯片放入至检查通道12内，并关闭顶盖4，之后将光谱分析仪主体5接入计算主机，并通电，直接测量COC芯片的相对光谱功率分布、色品坐标、相关色温、显色指数、色容差、峰值波长、红色比、绿色比、蓝色比、光谱辐射功率、光通量、光效等光电参数，测试完毕之后，操作人员通过按压可调节滑动座2的按压环23，检测后的COC芯片从通孔区22落入地面上，松开按压环23，通过复位弹簧18恢复形变，按照上述可继续做另一组试验，本实施例通过将光谱分析仪主体5安装与顶盖4上，进行工作，操作简单使用方便；同时设置的可调节滑动座2可以将检测后的COC芯片直接排出，不需要人工将其捡起，改善了操作人员的工作环境。

实施例2

为了解决在检测后，COC芯片从可调节滑动座2的通孔区22直接落下，不便于收集的问题，本实施例对实施例1中的检测工作台11作出改进，作为实施例1的一种优选技术方案，如图3所示，检测工作台11的底部安装有COC芯片回收箱15，COC芯片回收箱15靠近限位条14的一侧中部开设有回收槽16，回收槽16内安装有回收抽屉3。

此外，回收抽屉3包括抽屉箱31，抽屉箱31的一侧焊接有限位板32，方便将抽屉箱31抽出或合上。

进一步的，检查通道12与回收槽16相连通，COC芯片可以直接落入至回收槽16内的回收抽屉3内。

本实施例中的用于COC芯片老化测试的光谱分析仪在使用时，测试完毕之后，操作人员通过按压可调节滑动座2的按压环23，COC芯片从可调节滑动座2的通孔区22落入至抽屉箱31内，打开抽屉箱31可以将内部的已测试的COC芯片取出，进行回收。

以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的仅为本实用新型的优选例，并不用来限制本实用新型，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。