ASIC测试装置的制作方法

本实用新型属于测试仪器技术领域，具体地来说，是一种ASIC测试装置。

背景技术：

ASIC(Application Specific Integrated Circuits)，即专用集成电路，是为特定用户或特定电子系统制作的集成电路。ASIC一般可分为全定制设计与半定制设计，随着集成电路规模的迅速增加，ASIC应用日益频繁。其中，属于半定制设计的FPGA应用更为广泛。

ASIC多属于自研产品，测试过程取决于各生产厂家的自主要求，尚不具备通用的测试设备。目前，多数生产厂家并不对ASIC进行单独测试，而是在其所应用的电子产品装配完成后，进行整体测试。

由于ASIC未经单独测试，电路可靠性无法控制，可能存在尚未排除的线路故障。问题器件在电子产品装配后容易发生故障，造成整体测试无法通过而导致返工或频繁调试，使测试效率与生产效率低下，无法满足大批量生产的需要。

技术实现要素：

为了克服现有技术的不足，本实用新型提供了一种ASIC测试装置，可实现对ASIC的快速高效测试，操作过程标准化程度高，适应大批量生产的需要。

本实用新型的目的通过以下技术方案来实现：

一种ASIC测试装置，包括：

测试箱，设有用于与电源连接的连接端子；

定位夹具，设置于所述测试箱的外表面，用于定位装夹被测试模块；

复数个探针组，环设于所述定位夹具的外周侧，所述探针组包括复数个弹簧探针，所述弹簧探针一端通过线缆与所述连接端子电性连接，另一端与所述被测试模块的连接触点保持相对；

直线运动机构，用于驱动所述探针组直线运动而使所述弹簧探针顶紧于所述被测试模块的连接触点。

作为上述技术方案的改进，所述测试箱包括开口箱体与设置于所述开口箱体的开口端的启闭门，所述开口箱体与所述启闭门包围而成容纳腔，所述开口箱体上设有所述连接端子，所述容纳腔用于容纳所述线缆，所述定位夹具、所述探针组与所述直线运动机构分别设置于所述开口箱体的外表面上。

作为上述技术方案的进一步改进，所述开口箱体与所述启闭门之间设有用于锁紧二者的锁扣。

作为上述技术方案的进一步改进，所述开口箱体具有与所述探针组对应设置的过线孔，所述过线孔环设于所述定位夹具的外周侧，所述线缆贯穿于所述过线孔。

作为上述技术方案的进一步改进，所述定位夹具包括安装底座与设置于所述安装底座上的定位支座，所述安装底座安装于所述测试箱的外表面，所述定位支座具有用于插拔定位所述被测试模块的定位柱。

作为上述技术方案的进一步改进，所述定位支座具有用于嵌装所述被测试模块的嵌设槽，所述定位柱突出于所述嵌设槽的外部。

作为上述技术方案的进一步改进，所述定位夹具还包括紧固机构，所述紧固机构包括紧固头与用于驱动所述紧固头运动的驱动件，所述紧固头用于将所述被测试模块压紧于所述定位夹具上。

作为上述技术方案的进一步改进，所述紧固头接近所述被测试模块的一端设有柔性缓冲件，所述柔性缓冲件用于直接作用于所述被测试模块的表面。

作为上述技术方案的进一步改进，所述探针组包括探针支架与平行设置于所述探针支架上的复数个弹簧探针，所述探针支架与所述直线运动机构连接。

作为上述技术方案的进一步改进，所述直线运动机构包括机构支架与可滑动地保持于所述机构支架上的传动杆，所述传动杆一端连接所述探针组，另一端连接用于驱动其滑动的驱动源。

本实用新型的有益效果是：

以测试箱的连接端子实现与电源的连接并避免线缆散乱缠绕，以定位夹具定位装夹被测试模块，以直线运动机构驱动探针组的弹簧探针顶紧于被测试模块的连接触点，弹簧探针通过线缆与连接端子实现电性连接，适应具有不同触点布局的ASIC的连接测试，实现于一致性基准下的标准化操作，保证测试效率与测试精度，具有快速高效的优点，适应大批量生产的需要。

为使本实用新型的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本实用新型的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1是本实用新型实施例1提供的ASIC测试装置的第一轴测示意图；

图2是图1中ASIC测试装置的M处放大示意图；

图3是本实用新型实施例1提供的ASIC测试装置的第二轴测示意图。

主要元件符号说明：

1000-ASIC测试装置，0100-测试箱，0110-开口箱体，0111-过线孔，0120- 启闭门，0130-合页，0140-锁扣，0150-连接端子，0200-定位夹具，0210- 安装底座，0220-定位支座，0221-嵌设槽，0222-定位柱，0230-紧固机构， 0231-紧固头，0232-驱动件，0233-柔性缓冲件，0234-固定支架，0300-探针组，0310-弹簧探针，0320-探针支架，0400-直线运动机构，0410-机构支架， 0420-传动杆，0430-驱动源，0500-通断开关，0600-线缆。

具体实施方式

为了便于理解本实用新型，下面将参照相关附图对ASIC测试装置进行更全面的描述。附图中给出了ASIC测试装置的优选实施例。但是，ASIC 测试装置可以通过许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对ASIC测试装置的公开内容更加透彻全面。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。相反，当元件被称作“直接在”另一元件“上”时，不存在中间元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在ASIC测试装置的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在限制本实用新型。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

实施例1

请结合参阅图1～3，本实施例公开一种ASIC测试装置1000，包括测试箱0100、定位夹具0200、复数个探针组0300与直线运动机构0400，用于提供一种标准化测试治具，实现标准化测试而保证测试效率与精度。

测试箱0100设有用于与电源连接的连接端子0150，实现模块化的电性连接，避免线路混乱，提高测试人员的操作效率。可以理解，测试箱0100 具有可启闭结构，便于测试人员对测试箱0100内部的器件(如连接端子 0150)进行安装或更换。

测试箱0100的可启闭结构实现方式众多，包括旋转启合、滑动启合等类型。示范性地，测试箱0100包括开口箱体0110与设置于开口箱体0110 的开口端的启闭门0120。

示范性地，开口箱体0110与启闭门0120通过合页0130铰接。合页0130 具有两折式构造，两折分别连接开口箱体0110与启闭门0120，实现开口箱体0110与启闭门0120的活动连接。

开口箱体0110与启闭门0120包围而成容纳腔，通过启闭门0120而便于测试人员对容纳腔进行启闭与物品取放。可以理解，开口箱体0110与启闭门0120之间可为旋转启合、滑动启合等类型。

其中，开口箱体0110上设有连接端子0150。例如，连接端子0150可设置于开口箱体0110的一侧侧壁，实现与电源的快速插拔连接。容纳腔用于容纳线缆0600，避免线缆0600的暴露与散乱缠绕。定位夹具0200、探针组0300与直线运动机构0400分别设置于开口箱体0110的外表面上，得以可靠安装。

示范性地，开口箱体0110与启闭门0120之间设有用于锁紧二者的锁扣0140。当锁扣0140打开时，开口箱体0110与启闭门0120得以分离开启；当锁扣0140锁紧时，开口箱体0110与启闭门0120保持紧密固定，保证安装容腔的封闭。

示范性地，开口箱体0110具有与探针组0300对应设置的过线孔0111，过线孔0111环设于定位夹具0200的外周侧，线缆0600贯穿于过线孔0111 而进入容纳腔内。示范性地，过线孔0111贯穿开口箱体0110的内外壁面，并与探针组0300一一对应地设置。

定位夹具0200设置于测试箱0100的外表面，用于定位装夹被测试模块，实现被测试模块的快速标准化定位。可以理解，被测试模块属于ASIC，包括基板与焊设于基板的电子元器件，并因应不同的生产厂家而有所差异。示范性地，被测试模块的连接触点位于ASIC的周侧，由探针组0300运动地实现连接或分离。

复数个探针组0300环设于定位夹具0200的外周侧，探针组0300包括复数个弹簧探针0310，弹簧探针0310一端通过线缆0600与连接端子0150 电性连接，另一端与被测试模块的连接触点保持相对。示范性地，探针组 0300的数量为4，并均匀分设于定位夹具0200的四周，实现与被测试模块的连接触点的全方位相对。

弹簧探针0310属于弹针的一种类型，包括针管及设置于针管的管道两端的端部触头，两个端部触头之间通过弹簧连接。弹簧探针0310一端的端部触头通过线缆0600与连接端子0150保持连接，另一端的端部触头随弹簧探针0310的往复运动而与被测试模块的连接触点实现连接或分离。

示范性地，探针组0300包括探针支架0320。复数个弹簧探针0310平行设置于探针支架0320上，且彼此绝缘，形成多个可供利用的触点，适应具有不同的连接触点布局的被测试模块，保证良好的电性接触。

其中，探针支架0320与直线运动机构0400连接，由直线运动机构0400 直接驱动。示范性地，探针支架0320上设有多个嵌装孔，用于嵌装弹簧探针0310。

直线运动机构0400用于驱动探针组0300直线运动而使弹簧探针0310 顶紧于被测试模块的连接触点。可以理解，直线运动机构0400与示范性地，探针组0300的直线运动方向与弹簧探针0310的弹簧伸缩方向一致，避免发生运动干涉。示范性地，探针组0300的直线运动方向与所述被测试模块的基板表面平行。

示范性地，定位夹具0200包括安装底座0210与设置于安装底座0210 上的定位支座0220，安装底座0210安装于测试箱0100的外表面，定位支座0220具有用于插拔定位被测试模块的定位柱0222。

定位柱0222突出于定位支座0220远离安装底座0210的一侧表面，以便与被测试模块相接。装夹时，定位柱0222嵌入于被测试模块的底部，实现对被测试模块的限位固定。示范性地，定位柱0222的数量为复数个，相互平行设置而形成阵列结构。

示范性地，定位支座0220具有用于嵌装被测试模块的嵌设槽0221，定位柱0222突出于嵌设槽0221的外部。被测试模块嵌入于嵌设槽0221内，由嵌设槽0221对之形成侧向限位。结合定位柱0222的嵌入定位作用，被测试模块的多个自由度同时受到约束而实现可靠定位。

示范性地，定位夹具0200还包括紧固机构0230。紧固机构0230用于自被测试模块远离定位支座0220的一侧对被测试模块施加约束，从而实现对被测试模块的全部自由度的约束，保证被测试模块于测试过程被完全定位。

其中，紧固机构0230包括紧固头0231与用于驱动紧固头0231运动的驱动件0232。紧固头0231用于将被测试模块压紧于定位夹具0200上，与定位夹具0200(如其中的定位柱0222)自两侧夹紧被测试模块。其中，驱动件0232的实现方式众多，包括推拉把手、旋转松紧扳手、驱动电机等不同类型。

示范性地，紧固头0231接近被测试模块的一端设有柔性缓冲件0233，柔性缓冲件0233用于直接作用于被测试模块的表面。柔性缓冲件0233具有柔软性质，实现与被测试模块的柔性连接，避免对被测试模块造成冲击损害。柔性缓冲件0233可由多种材料制成，包括橡胶、硅胶、聚氨基甲酸酯、塑料等多种类型。

示范性地，紧固机构0230还包括固定支架0234。固定支架0234安装于测试箱0100上(如其中的开口箱体0110的上表面)，紧固头0231可旋转或直线运动地保持于固定支架0234上。

示范性地，固定支架0234上设有限位部，其形式包括限位槽、限位卡扣、限位坎肩等类型。限位部的作用至少在于，当紧固头0231对被测试模块紧固到位时，将紧固头0231锁紧于当前位置。

示范性地，直线运动机构0400包括机构支架0410与可滑动地保持于机构支架0410上的传动杆0420。其中，机构支架0410安装于测试箱0100 上(如其中的开口箱体0110的上表面)，提供对传动杆0420与探针组0300 的结构支撑。传动杆0420一端固定连接探针组0300，另一端连接用于驱动其滑动的驱动源0430。在驱动源0430的驱动下，传动杆0420可于机构支架0410上滑动而带动探针组0300运动，实现弹簧探针0310与被测试模块的连接/远离。

驱动源0430的实现方式众多，示范性地，驱动源0430为驱动把手或驱动电机。驱动把手用于手动驱动传动杆0420运动，其形式包括推拉把手、旋转松紧扳手等类型。驱动电机可为旋转电机、直线电机等不同类型，在旋转电机形式下，驱动电机通过丝杠传动结构驱动传动杆0420直线往复运动。

示范性地，ASIC测试装置1000还包括通断开关0500，用于控制电源通断而实现启闭控制。通断开关0500的种类众多，包括拨动开关、按键开关、旋转开关等类型。

在这里示出和描述的所有示例中，任何具体值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制，因此，示例性实施例的其他示例可以具有不同的值。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型的保护范围应以所附权利要求为准。