一种光器件测试装置的制作方法

文档序号:17753400发布日期:2019-05-24 21:07阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种光器件测试装置,其特征在于,包括:

测试插座(1),用于可拆卸连接被测试的光器件(3),所述测试插座(1)包括绝缘壳体(11),所述绝缘壳体(11)上设有散热块(13)和若干个插针(12),每个所述插针(12)用于可拆卸连接所述光器件(3)上对应的针脚(31);

测试电路板(2),其上设有若干个测试触点(24),所述测试插座(1)连接于所述测试电路板(2)的正面(21),所述测试电路板(2)的背面(22)设有散热板(23),所述散热块(13)和所有所述插针(12)贯穿所述测试电路板(2),所述散热块(13)连接所述散热板(23),所有所述插针(12)连接对应的所述测试触点(24)。

2.根据权利要求1所述的光器件测试装置,其特征在于,所述散热块(13)贯穿所述绝缘壳体(11)。

3.根据权利要求1所述的光器件测试装置,其特征在于,所述散热块(13)与所有所述插针(12)平行设置。

4.根据权利要求3所述的光器件测试装置,其特征在于,所有所述插针(12)环绕所述散热块(13)设置。

5.根据权利要求1所述的光器件测试装置,其特征在于,所有所述插针(12)在所述背面(22)走线焊接于对应的所述测试触点(24)。

6.根据权利要求1所述的光器件测试装置,其特征在于,所述散热块(13)和所述散热板(23)均为铜结构件,所述散热块(13)焊接于所述散热板(23)上。

7.根据权利要求1所述的光器件测试装置,其特征在于,所述绝缘壳体(11)为塑料壳体。

8.根据权利要求1所述的光器件测试装置,其特征在于,所述绝缘壳体(11)和所述散热块(13)均呈圆柱体,所述绝缘壳体(11)的高度小于所述散热块(13)的高度,所述绝缘壳体(11)的直径大于所述散热块(13)的直径。

9.根据权利要求1-8任一项所述的光器件测试装置,其特征在于,每个所述插针(12)为变径圆柱体,其连接所述针脚(31)的一端大于另一端。

10.根据权利要求9所述的光器件测试装置,其特征在于,所述插针(12)连接所述针脚(31)的一端内设有凹槽,所述针脚(31)能够插入所述凹槽中。

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