技术总结
本实用新型涉及一种光器件测试装置，包括测试插座，用于可拆卸连接被测试的光器件，测试插座包括绝缘壳体，绝缘壳体上设有散热块和若干个插针，每个插针用于可拆卸连接光器件上对应的针脚；测试电路板，其上设有若干个测试触点，测试插座连接于测试电路板的正面，测试电路板的背面设有散热板，散热块和所有插针贯穿测试电路板，散热块连接散热板，所有插针连接对应的测试触点。运用本实用新型的一种光器件测试装置，测试插座上设有散热块，散热块连接测试电路板上的散热板，当被测试的光器件与测试插座连接并开始通电测试后，光器件产生的热量导入测试插座，并由散热块传导至散热板散热，能够有效降低光器件的温度，从而保证光器件测试的准确性。
技术研发人员：赖人铭
受保护的技术使用者：成都英思嘉半导体技术有限公司
技术研发日：2018.10.16
技术公布日：2019.05.24