一种温频机测试弹片保护轮装置的制作方法

本实用新型涉及一种温频机测试弹片保护轮装置，属于石英晶体电子元器件制造领域。

背景技术：

晶体振荡器在很多控制电路中被广泛使用，其中有些应用场合对晶体振荡器输出频率的稳定性有着严格的要求；通常情况下，晶体振荡器输出频率随温度的波动须满足一定的范围，因此对晶体振荡器进行温度特性检测尤为必要。温度测试是石英晶体电子元器件制造行业中重要的步骤，常用温频机检测晶体的温度特性，温频机检测温度特性的准确性直接影响对晶体温度特性合格与否的判断。

测试时，将晶体振荡器放置于温频机中温频圈的测试槽里，测试程序启动时温频圈转动，使每只晶体振荡器都被测试到。如图1所示，温频机的测试弹片是一种较软较薄的金属片，分为上下两片，测试时上下两片测试弹片卡在温频圈测试端的上下两端进行测试。测试程序启动时，温频圈开始转动，由于测试弹片较软较薄，温频圈经常会转到上测试弹片上面或转到下测试弹片下面，转不到两片测试弹片中间，弄坏测试弹片导致测试失败，需要停机更换测试弹片并重新对位校机。这种情况不仅导致测试弹片寿命的缩短，还造成工作效率的低下。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于克服现有晶体测试工装结构上的缺陷，提出一种温频机测试弹片的保护轮装置。

本实用新型的技术解决方案：一种温频机测试弹片保护轮装置，其结构包括测试弹片、保护轮、保护轮固定座；其中测试弹片包括1个上测试弹片和1个下测试弹片，保护轮包括1对上保护轮和1对下保护轮，保护轮固定座包括1个上保护轮固定座和1个下保护轮固定座。

本实用新型的优点：

1）增加了测试弹片保护轮，但未改变测试弹片的材质，不会影响到测试准确性；

2）固定了温频圈在水平方向的移动位置，使测试弹片不易受损，增加了测试弹片的使用寿命；

3）测试弹片损坏率极大降低，减少更换测试弹片和对位校机的发生频率，提高了工作效率；

4）保护轮和保护轮固定座采用胶木材质，具有较高的机械强度，良好的绝缘性，耐热、耐腐蚀，在温频机中不同温度环境下均不易受损。

附图说明

附图1 是传统温频机中温频圈结构的示意图。

附图2 是温频机装配了本实用新型测试弹片保护轮装置的结构示意图。

附图3是本实用新型的结构右侧示意图。

图中1.1为上测试弹片，1.2为下测试弹片，2为温频圈，3.1为上保护轮，3.2为下保护轮，4.1为上保护轮固定座，4.2为下保护轮固定座，5为螺丝。

具体实施方式

如图2~图3所示，一种温频机测试弹片保护轮装置，其结构包括测试弹片、保护轮、保护轮固定座；其中测试弹片包括1个上测试弹片1.1和1个下测试弹片1.2，保护轮包括1对上保护轮3.1和1对下保护轮3.2，保护轮固定座包括1个上保护轮固定座4.1和1个下保护轮固定座4.2。

所述的上保护轮固定座4.1和下保护轮固定座4.2为结构尺寸相同的“凹”字形结构，其背侧固定于温频机测试位置的机箱壁上；1对上保护轮3.1分别通过螺丝5固定于上保护轮固定座4.1突出的两端，1对下保护轮3.2分别通过螺丝5固定于下保护轮固定座4.2突出的两端，上保护轮3.1和下保护轮3.2的间距略大于温频圈2的厚度，固定了温频圈2在水平方向的移动位置。

所述的上测试弹片1.1和下测试弹片1.2的横截面为L型，上测试弹片1.1和下测试弹片1.2分别对称固定于上保护轮固定座4.1和下保护轮固定座4.2的凹陷处，其伸出端设有1个半环形接触端。

所述的保护轮和保护轮固定座均为胶木材质。

实际操作时，将温频机测试程序启动，温频圈2转到测试位置，即1对测试弹片处，由于有保护轮的保护，温频圈2不会转到上测试弹片1.1上面，也不会转到下测试弹片1.2下面，只能转到测试弹片中间，不会弄坏测试弹片，保证测试工作的正常进行。

本实用新型利用测试弹片保护轮固定了温频圈的移动位置，使之只能从测试弹片中间通过，实现了在温度测试过程中避免温频机的测试弹片损坏的功能，同时也使得工作效率得到提高。