液晶显示装置寿命检测装置的制作方法

本实用新型涉及显示器测试技术领域，特别是涉及一种液晶显示装置寿命检测装置。

背景技术：

OLED发光层主要由红色荧光材料、绿光材料以及蓝色磷光材料三者混合成白光，其中任一种材料的衰减不同步，就会导致整个OLED颜色显示失效。因此在OLED器件结构不断优化研发的道路上，针对OLED发光材料的寿命量测是一项必不可少的测试手段。OLED寿命周期测试仪就是专门针对OLED器件寿命试验进行设计的测试系统，其通过计算机数据采集系统长期记录，OLED器件在恒流情况下驱动电压和发光亮度随时间的变化，从而计算或测量出OLED的寿命。

然而，如图1所示，现有的OLED寿命测试仪的器件载物台、光探头载物台、测试盒上盖为分开的三个独立体，使用时需依次安装，安装器件时需将这三个独立体根据对位柱对齐组装并用螺丝固定，过程较麻烦且容易压碎玻璃器件、扯坏线路，造成仪器配件损坏。如图2所示，器件定位到载物台后因器件有4个发光点可测量，故需将探头置于测量点位，根据光探头位置转动Chanel旋钮(如图3)，操作繁琐；且测试盒只能装载一片测试片，更换器件需要重新开盒更换。

技术实现要素：

为此，需要提供一种新的液晶显示装置寿命检测装置，用于解决现有的OLED寿命测试仪使用操作繁琐，线路易损坏的问题。

为实现上述目的，发明人提供了一种液晶显示装置寿命检测装置，包括：

光探头载台，设置有用于接收光源的光探头；

旋转载台，设置于所述光探头载台下方，包括旋转轴和两个以上用于放置检测物的载物台，所述载物台位于同一圆周上，所述旋转轴位于所述圆周中心，用于驱动所述载物台绕圆心旋转所述光探头下方。

进一步的，所述旋转载台包括四个载物台，所述四个载物台在所述圆周上等间距设置。

进一步的，所述光探头载台上具有两个以上的测试点开口，所述光探头连接于移动机构，所述移动机构用于移动光探头至各测试点开口。

进一步的，所述两个以上的测试点开口位于同一圆周上，所述移动机构包括位于所述圆周中心的旋转轴，所述光探头连接于所述旋转轴上，由所述旋转轴旋转至各测试点开口。

进一步的，所述旋转轴为中空轴，所述光探头的线束穿过旋转轴内的中空部。

进一步的，还包括电源探针，设置于所述光探头载台下表面，用于对所述检测物供电。

区别于现有技术，上述技术方案提供了一种液晶显示装置寿命检测装置，其中，旋转载台上具有多个用于放置检测物的载物台，在旋转轴的带动各载物台依次转动至光探头下方进行检测，该液晶显示装置寿命检测装置的自动化程度高，操作简单方便，有效提高了检测效率，以及无需零时组装，有效避免了线路损坏。

附图说明

图1为具体实施方式所述液晶显示装置寿命检测装置的结构示意图；

图2为具体实施方式所述旋转载台的俯视图；

图3为具体实施方式所述光探头载台的俯视图；

图4为具体实施方式所述光探头及旋转轴的示意图；

附图标记说明：

1、旋转载台；

11、载台；

111、载物台；

12、旋转轴；

2、光探头载台；

21、载台；

211、测试点开口；

22、旋转轴；

221、通道；

23、光探头；

231、光探头线束；

24、导轨；

25、电源探针；

26、驱动电机；

3、检测物(即液晶显示器)；

具体实施方式

为详细说明技术方案的技术内容、构造特征、所实现目的及效果，以下结合具体实施例并配合附图详予说明。

请参阅图1至图4，本实施例提供了一种液晶显示装置寿命检测装置。该液晶显示装置寿命检测装置用于检测液晶显示屏的发光亮度，直而计算显示器的寿命，该检测装置特别适用于OLED显示器的寿命检测。

如图1所示，所述液晶显示装置寿命检测装置包括：

光探头载台2，设置有用于接收光源的光探头23；其中，所述光探头可以为高敏光电传感器，又称为光电倍增管，其可将接收到的光信号转换为对应的电信号，电信号的电压或电流与光信号的强度相关。

旋转载台1，设置于所述光探头载台2下方，包括旋转轴12和载台11，如图2所示，所述载台11上设置有两个以上用于放置检测物3的载物台111，所述载物台111位于同一圆周上，所述旋转轴12位于所述圆周中心，用于驱动所述载物台111绕圆心旋转所述光探头23下方。

其中，所述旋转轴12可通过齿轮或同步带等传动件连接于驱动电机，由驱动电机旋转旋转轴12旋转。

为了减少外界光线的检测精度的影响，在所述光探头载台2上设置有测试点开口211，检测时所述光探头23位于测试点开口211正上方。在检测时，所述检测物3(即液晶显示器)放置于所述载物台111上，旋转轴12带动载物台111旋转至光探头23正下方，所述检测物3(即液晶显示器)通电产生的光线通过所述测试点开口211被光探头23接收。

当当前检测物3检测完毕后，旋转轴12旋转一定角度，使载台11上的另一检测物3旋转至测试点开口211正下方进行检测。

如图2所示，在本实施方式中，所述旋转载台1包括四个载物台111，所述四个载物台111在所述圆周上等间距设置，即每个载物台111相距90度的圆周角。因此所述旋转轴12每旋转90度即可将另一检测物3旋转轴光探头以及测试点开口211正下方。当然，在其他实施方式中，所述旋转载台1上所述载物台111的数量可以根据需要设置为2个、3个或其他数量。

如图3所示，考虑到检测的准确性，在一实施方式中，在所述光探头载台的载台21上具有两个以上的测试点开口211，其中，所述光探头23连接于移动机构，所述移动机构用于移动光探头23至各测试点开口211，从而对可同一检测物3上不同位置进行亮度检测，并且可根据各测试点检测到的亮度计算其寿命。

如图3所示，所述光探头载台的载台21上具有四个测试点开口211，并且所述测试点开口211位于同一圆周上，所述移动机构包括位于所述圆周中心的旋转轴22，所述光探头23连接于所述旋转轴22上，由所述旋转轴22旋转至各测试点开口211。如图4所示，所述光探头23设置于所述旋转轴22上，所述旋转轴22连接有驱动电机26，驱动电机26带动所述旋转轴22以及光探头23旋转。在检测每一检测物3时，所述旋转轴22可按同一个方向旋转，依次带动所述光探头23旋转至每一个测试点开口211进行检测。

如图4所示，其中，所述旋转轴22为中空轴，其内部具有通道221，所述光探头的线束231沿旋转轴内的通道221设置。这样将光探头的线束231沿旋转轴内的通道221设置，可以减小光探头的线束231在旋转时的磨损。

而为了进一步提高检测准确性，所述光探头载台2可以设置为升降式结构，当所述载物台111到位时(即旋转至测试点开口211正下方时)，可降低所述光探头载台2高度，使其贴近检测物3表面，而当所述载物台111旋转时，可升高所述光探头载台2，以防止光探头载台2与检测物3摩擦或碰撞。具体的，如图1和图3所示，所述光探头载台2可连接于竖直方向的导轨24，并可在驱动装置的驱动下沿所述竖直方向的导轨24上下滑动，从而实现光探头载台2的升降。其中，所述驱动装置可以驱动电机，驱动电机通过同步带等传动件与所述光探头载台2连接，驱动光探头载台2升降。

如图1所示，在所述光探头载台2的下表面还设置有电源探针26，电源探针26连接于电源，用于给检测物3供电。当所述载物台111以及其上的检测物3旋转至测试点开口211正下方时，所述光探头载台2下降，从而使电源探针26与检测物3的电源输入端口连接，为检测物3使上电发亮。通过所述电源探针26在检测时自动对所述检测物3上电，从而进一步提高检测效率。

需要说明的是，尽管在本文中已经对上述各实施例进行了描述，但并非因此限制本实用新型的专利保护范围。因此，基于本实用新型的创新理念，对本文所述实施例进行的变更和修改，或利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，直接或间接地将以上技术方案运用在其他相关的技术领域，均包括在本实用新型的专利保护范围之内。