X射线检查装置的制作方法

本发明涉及对食品等被检查物照射x射线来进行被检查物的检查的x射线检查装置。

背景技术：

现有技术中，如专利文献1(特开2002-228761号公报)所公开那样地对食品等被检查物照射x射线来进行被检查物的检查的x射线检查装置已得到广泛应用。x射线检查装置对被检查物照射x射线，基于检测透过了被检查物的x射线而获得的检测数据来进行被检查物的检查。x射线检查装置例如检查混入作为被检查物的食品中的异物的有无。

技术实现要素：

发明要解决的技术问题

但是，在x射线检查装置的检查中，若未正确地进行x射线检查装置的使用前的设定，则有可能导致检查结果出现问题。作为例子，说明与作为被检查物的食品所包含的异物的检测信号相关的设定。在此，x射线检查装置在基于透过了被检查物的x射线的检测数据而获得的异物的检测信号电平超过规定的阈值时，判定为检测出异物。在该情况下，若x射线检查装置的用户将异物的检测信号电平的阈值设定得高，则即使异物混入被检查物中，也有可能无法检测出该异物。这样，若x射线检查装置的设定不恰当、或者在x射线检查装置的维护作业时等暂时变更了设定，则有可能导致检查结果出现问题，无法充分发挥x射线检查装置的性能。

本发明的目的在于提供能够抑制因在设定不恰当的情况下直接进行使用而导致检查结果出现问题的x射线检查装置。

用于解决技术问题的方案

本发明涉及的x射线检查装置具备检查部、设定部、存储部、判定部以及通知部。检查部使用对照射到被检查物的x射线进行检测而得到的检测数据来检查被检查物。设定部用于设定设定值，设定值用于检查部对被检查物的检查。存储部存储基于检测数据的检测值。判定部基于存储于存储部的检测值，判定通过设定部设定的设定值是否恰当。在判定部判定为设定值不恰当的情况下，通知部通知设定值不恰当。

本发明涉及的x射线检查装置基于被检查物的x射线透过图像等检测数据，获取规定的检测值。检测值例如是被检查物中包含的异物的检测信号电平。这种情况下，x射线检查装置的用户例如将作为被检查物中包含的异物的判定基准的检测值的阈值(异物检测阈值)设定为设定值(检查参数)。x射线检查装置基于检测值的统计数据，判定用户设定的设定值是否恰当，在不恰当的情况下，向用户通知该内容。由此，防止用户对设定值的误设定，因此用户能够使x射线检查装置的性能充分发挥来使用x射线检查装置。因此，该x射线检查装置能够抑制因在设定不恰当的情况下直接进行使用而导致检查结果出现问题。

另外，在本发明所涉及的x射线检查装置中，优选的是，判定部基于存储在存储部中的检测值，获取设定值的允许范围，在通过设定部设定的设定值不在允许范围内的情况下，判定部判定为设定值不恰当。

在这种情况下，x射线检查装置基于检测值的统计数据等，获取设定值的允许范围。x射线检查装置在所设定的设定值不在允许范围内的情况下，向用户通知用户所设定的设定值不恰当这一内容。因此，该x射线检查装置能够抑制因在设定不恰当的情况下直接进行使用而导致检查结果出现问题。

另外，优选的是，本发明涉及的x射线检查装置还具备停止部。在判定部判定为设定值不恰当的情况下，停止部停止检查部对被检查物的检查。

在这种情况下，x射线检查装置在用户所设定的设定值不恰当的情况下，向用户通知该内容，并且停止被检查物的检查。因此，该x射线检查装置能够强制地结束被检查物的不恰当的检查。

另外，优选的是，本发明涉及的x射线检查装置还具备变更部。在判定部判定为设定值不恰当的情况下，变更部变更设定值。

在这种情况下，x射线检查装置在用户所设定的设定值不恰当的情况下，向用户通知该内容，并且变更设定值。因此，该x射线检查装置能够自动地开始被检查物的恰当的检查。

另外，在本发明涉及的x射线检查装置中，优选的是，检查部基于多个检查基准检查被检查物。在这种情况下，优选的是，设定部能够按各个检查基准设定设定值。另外，优选的是，判定部按各个检查基准判定通过设定部设定的设定值是否恰当。

在这种情况下，x射线检查装置例如在检测被检查物中包含的异物的情况下，设定有检测对象的异物的每个尺寸范围的检查基准。x射线检查装置的用户能够按各个检查基准设定设定值。因此，该x射线检查装置即使在进行多种检查的情况下，也能够抑制因在设定不恰当的情况下直接进行使用而导致检查结果出现问题。

另外，在本发明涉及的x射线检查装置中，优选的是，检查部检测被检查物中包含的异物。

在这种情况下，x射线检查装置能够抑制在被检查物中包含有异物时却判定为在被检查物中不包含异物的不良情况的发生。

发明效果

本发明涉及的x射线检查装置能够抑制因在设定不恰当的情况下直接进行使用而导致检查结果出现问题。

附图说明

图1是表示本发明一实施方式的x射线检查装置10的外观的立体图。

图2是组装有x射线检查装置10的检查线100的简图。

图3是被检查物p的简要俯视图。

图4是x射线检查装置10的屏蔽箱11的内部的简图。

图5是表示由x射线线传感器14的x射线检测元件14a检测出的透过x射线量(检测量)的例子的图表。

图6是控制装置40的框图。

图7是表示被检查物p的透过图像的例子的图。

图8是表示异物检测部22b使用图像处理算法解析被检查物p的透过图像所得的结果的图表的一例。

图9是存储于统计数据存储部21b的异物检测信号电平的统计数据的一例。

图10是判定异物混入检查中使用的异物检测阈值是否恰当的处理的流程图。

图11是变形例a中的控制装置40的框图。

图12是在变形例b中检查参数判定部22d使用第一允许范围以及第二允许范围判定所设定的检查参数是否恰当的流程图。

图13是变形例c中的控制装置40的框图。

具体实施方式

参照附图说明本发明的实施方式。以下说明的实施方式是本发明的具体例之一，并不限定本发明的技术范围。

(1)x射线检查装置的整体结构

图1是表示本发明一实施方式的x射线检查装置10的外观的立体图。图2是组装有x射线检查装置10的检查线100的简图。检查线100进行被检查物p的检查。在检查线100中，被检查物p由前段传送机60传送至x射线检查装置10。在图2中，以箭头示出被检查物p的传送方向。

x射线检查装置10通过对由前段传送机60连续传送来的被检查物p照射x射线来进行被检查物p的合格与否判断。具体地说，x射线检查装置10进行被检查物p的异物混入检查，基于检查结果，将被检查物p分类为合格品或不合格品。异物混入检查是用于检测混入被检查物p中的异物的检查。在被检查物p是食品的情况下，异物例如是铁以及不锈钢等金属的小片。x射线检查装置10进行异物混入检查，将未混入有异物的被检查物p分类为合格品，将混入有异物的被检查物p分类为不合格品。

x射线检查装置10的检查结果被送至配置于x射线检查装置10的下游侧的分配机构70。分配机构70将在x射线检查装置10中被判断为合格品的被检查物p送往排出合格品的线传送机单元80。分配机构70将在x射线检查装置10中被判断为不合格品的被检查物p向不合格品排出方向90、91分配并从检查线100排出。

在本实施方式中，作为x射线检查装置10的检查对象的被检查物p是包装食品。图3是被检查物p的简要俯视图。被检查物p由多个内容物g、包装材料m1和分隔材料m2构成。内容物g是具有规定形状的食品。内容物g例如是圆筒形状的烘焙点心。包装材料m1是用于包装内容物g和分隔材料m2的袋状的塑料膜。分隔材料m2是在包装材料m1的内部用于以规定的个数为单位分隔多个内容物g的塑料盘。多个内容物g在包装材料m1的内部以相互不重叠的方式排列。

(2)x射线检查装置的详细说明

x射线检查装置10主要由屏蔽箱11、传送机单元12、x射线照射器13、x射线线传感器14、监视器30以及控制装置40构成。

(2-1)屏蔽箱

图4是x射线检查装置10的屏蔽箱11的内部的简图。屏蔽箱11是x射线检查装置10的壳体。如图1所示，屏蔽箱11在两侧面具有用于运入运出被检查物p的开口11a。开口11a用于从屏蔽箱11的外部向内部运入被检查物p以及从屏蔽箱11的内部向外部运出被检查物p。开口11a被屏蔽帘19覆盖。屏蔽帘19抑制x射线从屏蔽箱11的内部向外部泄漏。屏蔽帘19由含铅的橡胶成形。屏蔽帘19在运入运出被检查物p时被被检查物p推开。

在屏蔽箱11的内部收纳有传送机单元12、x射线照射器13、x射线线传感器14以及控制装置40等(参照图6)。在屏蔽箱11的正面上部配置有监视器30、钥匙的插入口以及电源开关等。

(2-2)传送机单元

传送机单元12是用于在屏蔽箱11的内部传送被检查物p的带式传送机。如图1所示，传送机单元12配置成贯通形成于屏蔽箱11的两侧面的开口11a。

如图4所示，传送机单元12主要具有传送机辊12c和环状的带12d。传送机辊12c由传送机马达12a驱动。通过传送机辊12c的驱动，带12d旋转，带12d上的被检查物p被传送。在图4中，以箭头示出被检查物p的传送方向。

传送机单元12对被检查物p的传送速度根据由x射线检查装置10的用户即操作员输入的设定速度而变动。控制装置40基于设定速度，对传送机马达12a进行变频控制，控制被检查物p的传送速度。在传送机马达12a上装配有用于检测传送机单元12的传送速度并向控制装置40发送的编码器12b(参照图6)。

(2-3)x射线照射器

如图4所示，x射线照射器13配置在传送机单元12的上方。x射线照射器13向配置在被检查物p的下方的x射线线传感器14照射扇形的x射线(辐射光)。如图4所示，x射线的照射范围x相对于传送机单元12的传送面垂直，且在与传送机单元12传送被检查物p的传送方向正交的方向上扩展。即，从x射线照射器13照射的x射线在带12d的宽度方向上扩展。

(2-4)x射线线传感器

x射线线传感器14是对透过被检查物p以及传送机单元12的x射线即透过x射线进行检测的传感器。如图4所示，x射线线传感器14配置在传送机单元12的下方。x射线线传感器14主要由多个x射线检测元件14a构成。x射线检测元件14a沿与传送机单元12传送被检查物p的传送方向正交的方向呈直线状地水平配置。

x射线线传感器14检测透过x射线，并输出表示与检测到的透过x射线的强度相应的电压的x射线透过信号。根据x射线透过信号决定x射线图像(透过图像)的亮度(浓淡)。图5是表示由x射线线传感器14的x射线检测元件14a检测出的透过x射线量(检测量)的例子的图表。图表的横轴与各x射线检测元件14a的位置相对应。图表的横轴与同传送机单元12的传送方向正交的水平方向(带12d的宽度方向)的位置相对应。图表的纵轴表示由x射线检测元件14a检测出的透过x射线量(检测量)。在透过图像中，检测量多的地方显示得较亮(淡)，检测量少的地方显示得较暗(浓)。即，透过图像的明暗(浓淡)与透过x射线的检测量相对应。如图5所示，透过了内容物g的x射线的检测量比没有透过内容物g的x射线的检测量低。

x射线线传感器14还作为用于检测被检查物p通过扇状的x射线的照射范围x(参照图4)的时机的传感器发挥功能。即，在传送机单元12的带12d上传送的被检查物p来到x射线线传感器14的上方的位置(与照射范围x重叠的位置)时，x射线线传感器14输出表示规定阈值以下的电压的x射线透过信号(第一信号)。另外，x射线线传感器14在被检查物p通过了照射范围x时，输出表示超过规定阈值的电压的x射线透过信号(第二信号)。通过向控制装置40发送第一信号以及第二信号，从而检测照射范围x中有无被检查物p。

(2-5)监视器

监视器30是带有触摸面板功能的液晶显示器。监视器30作为x射线检查装置10的显示部以及输入部发挥功能。在监视器30上显示被检查物p的检查结果等。另外，在监视器30上显示用于输入与x射线检查装置10的初始设定以及被检查物p的合格与否判断相关的参数的画面等。

x射线检查装置10的操作员能够操作监视器30来输入检查参数以及动作设定信息等。检查参数是用于判定被检查物p的合格与否的参数。具体地说，检查参数是用于辨别包含于被检查物p中的内容物g以及混入被检查物p中的异物的透过x射线量的阈值等。动作设定信息是指被检查物p的检查速度以及传送机单元12的传送方向等信息。

监视器30与控制装置40连接，与控制装置40进行信号的收发。通过监视器30输入的检查参数以及动作设定信息存储在控制装置40的存储部21中。

(2-6)控制装置

控制装置40是主要由cpu、rom、ram以及hdd(硬盘)等构成的计算机。控制装置40具备未图示的显示控制电路、键输入电路以及通信端口等。显示控制电路是控制监视器30的数据显示的电路。键输入电路是取入操作员经由监视器30的触摸面板输入的键输入数据的电路。通信端口是使得能够与打印机等外部设备以及lan等网络连接的端口。

图6是控制装置40的框图。控制装置40主要具有存储部21和控制部22。控制装置40与传送机单元12、x射线照射器13、x射线线传感器14以及监视器30电连接。控制装置40与传送机单元12的传送机马达12a以及编码器12b电连接。控制装置40从编码器12b获取与传送机马达12a的转速相关的数据，并基于该数据计算被检查物p的移动距离。控制装置40接收从x射线线传感器14输出的x射线透过信号，检测传送机单元12的带12d上的被检查物p到达x射线的照射范围x的时机。

控制装置40基于透过x射线量(检测量)，辨别有无混入被检查物p中的异物，判定被检查物p的合格与否。控制装置40将未检测出异物的被检查物p判定为合格品，将检测出异物的被检查物p判定为不合格品。不合格品例如是金属片等异物与内容物g一起被包装材料m1包装起来的被检查物p。

(2-6-1)存储部

存储部21存储检查参数、动作设定信息以及控制部22执行的各种程序。操作员使用监视器30的触摸面板功能输入检查参数和动作设定信息。

存储部21主要具有透过图像存储部21a、统计数据存储部21b以及检查参数存储部21c。

(a)透过图像存储部

透过图像存储部21a存储与由后述的透过图像生成部22a生成的透过图像相关的数据即检测数据。透过图像是基于由x射线线传感器14检测出的透过x射线量的x射线图像。

图7是表示被检查物p的透过图像的例子的图。在图7中，在被检查物p中混入有作为金属片的异物f。图7所示的透过图像由多个像素构成。透过图像的各像素具有多个浓度水平(level)中的一个。透过图像的各像素的浓度水平与x射线的检测量相对应。具体地说，像素的浓度水平越高，该像素中的x射线的检测量越低。在图7中，透过图像的浓度水平通过影线的间隔来表示。具体地说，某区域的影线的间隔越窄，构成该区域的像素的浓度水平越高。

如图7所示，被检查物p的透过图像包括与被检查物p中包含的内容物g、异物f、包装材料m1以及分隔材料m2各自相当的像素。内容物g与包装材料m1以及分隔材料m2相比，厚度更大，x射线更难以透过。因此，透过内容物g的x射线的检测量通常比透过包装材料m1以及分隔材料m2的x射线的检测量少。另外，作为金属的异物f与作为食品的内容物g相比，x射线更难以透过。因此，透过异物f的x射线的检测量通常比透过内容物g的x射线的检测量少。

在图7所示的被检查物p的透过图像中，相当于内容物g的像素显示得比相当于包装材料m1以及分隔材料m2的像素更暗(浓)，且相当于异物f的像素显示得比相当于内容物g的像素更暗(浓)。

(b)统计数据存储部

统计数据存储部21b记录与后述的异物检测部22b解析被检查物p的透过图像而取得的异物检测信号电平(level)相关的数据，将其作为异物检测信号电平的统计数据进行存储。异物检测信号电平及其统计数据的详情和利用方法见后述。

(c)检查参数存储部

检查参数存储部21c存储操作员使用后述的检查参数设定部22c设定的检查参数。检查参数的详情及利用方法见后述。

(2-6-2)控制部

控制部22通过执行在存储部21中存储的各种程序而具有透过图像生成部22a、异物检测部22b、检查参数设定部22c、检查参数判定部22d以及通知部22e的各功能。

(a)透过图像生成部

透过图像生成部22a基于由x射线线传感器14检测出的透过x射线量而生成x射线图像(透过图像)。具体地说，透过图像生成部22a以较短的时间间隔获取从x射线线传感器14的各x射线检测元件14a输出的x射线透过信号，并基于取得的x射线透过信号生成透过图像。即，透过图像生成部22a基于在被检查物p通过扇形的x射线的照射范围x(参照图4)时从各x射线检测元件14a输出的x射线透过信号，生成被检查物p的透过图像(参照图7)。照射范围x中有无被检查物p是根据x射线线传感器14输出的信号而判断的。

透过图像生成部22a将与从各x射线检测元件14a获得的透过x射线的强度(亮度)相关的各时间间隔的数据呈矩阵状地按时间序列进行拼接，生成被检查物p的透过图像。由透过图像生成部22a生成的透过图像作为检测数据存储在透过图像存储部21a中。

(b)异物检测部

异物检测部22b使用被检查物p的透过图像，检测混入被检查物p中的异物f，对被检查物p进行检查。异物检测部22b所使用的透过图像是由透过图像生成部22a生成并存储于透过图像存储部21a的检测数据。

异物检测部22b采用图像处理算法解析透过图像，在被检查物p中混入有异物f的情况下，检测出透过图像中包含的相当于异物f的区域。图像处理算法对透过图像进行加工，以便容易在透过图像中区分相当于异物f的区域以及相当于内容物g、包装材料m1和分隔材料m2的区域。图像处理算法例如基于透过x射线的强度较小的区域即低透过区域的面积、以及低透过区域与其周边区域之间的透过x射线的强度的变化等，对透过图像进行加工。在此，低透过区域是作为相当于x射线难以透过的金属制的异物f的区域的可能性较高的区域。

异物检测部22b能够根据检测对象的异物f的特性，使用多个图像处理算法来检测异物f。多个图像处理算法例如是适合不足1mm的微小的异物f的检测的算法、适合针状的异物f的检测的算法、以及适合面积较大的异物f的检测的算法。异物检测部22b根据检测对象的异物f的形状以及面积，使用多个图像处理算法各自来检测异物f。由此，异物检测部22b能够解析被检查物p的透过图像，检测混入被检查物p中的各种形状以及面积的异物f。

图8是表示异物检测部22b使用图像处理算法对被检查物p的透过图像进行解析而得到的结果的图表的一例。图8相当于表示利用图像处理算法加工后的透过图像的数据。图表的横轴表示透过图像上的位置。在图8中，为了方便，将作为二维数据的透过图像上的位置表示为沿着图表的横轴的一维数据。图表的纵轴是被检查物p所包含的异物检测信号电平。异物检测信号电平从利用图像处理算法的透过图像的解析结果获取。如图8所示，在图表中存在异物检测信号电平的峰的情况下，在该峰的位置附近存在异物f的可能性较高。在此，异物检测信号电平的峰是指值比周围显著高的部分。相反地，在图表中不存在异物检测信号电平的峰的情况下，被检查物p中可能不包含异物f。

异物检测部22b基于异物检测信号电平的峰值，判定在被检查物p中是否混入有异物f。具体地说，在图8中异物检测信号电平的峰的极大值m超过由虚线表示的规定的阈值的情况下，异物检测部22b判定为在被检查物p中混入有异物f。通过以上的方法，异物检测部22b能够解析被检查物p的透过图像，对被检查物p中包含的异物f进行检测。

与异物检测部22b对透过图像进行解析而取得的异物检测信号电平相关的数据被记录在统计数据存储部21b中。每当对被检查物p的透过图像进行解析，异物检测部22b就将与异物检测信号电平相关的数据记录在统计数据存储部21b中。此时，统计数据存储部21b将与异物检测信号电平相关的数据作为统计数据进行存储。

图9是存储于统计数据存储部21b中的异物检测信号电平的统计数据的一例。在图9中示出了表示统计数据的正态分布曲线。该正态分布曲线是对多个透过图像进行解析而取得的异物检测信号电平的分布曲线。在此，“多个透过图像”意指例如100个以上的透过图像。图表的横轴表示异物检测信号电平。图表的纵轴表示对应的异物检测信号电平在统计数据上的出现频率。

(c)检查参数设定部

检查参数设定部22c是用于设定检查参数的程序，检查参数用于辨别被检查物p中包含的内容物g以及混入被检查物p中的异物f。操作员例如能够使用监视器30的触摸面板功能来输入各种检查参数。

以下，检查参数是异物检测阈值。异物检测阈值是异物检测信号电平的阈值。在异物检测信号电平的峰的极大值m超过异物检测阈值的情况下，异物检测部22b判定为在被检查物p中混入有异物f(参照图8)。

(d)检查参数判定部

检查参数判定部22d判定操作员通过检查参数设定部22c设定的检查参数是否恰当。在检查参数是异物检测阈值(异物检测信号电平的阈值)的情况下，检查参数判定部22d判定由操作员设定的异物检测阈值是否在规定的允许范围内。检查参数判定部22d在所设定的异物检测阈值处于允许范围内的情况下，判定为该异物检测阈值恰当，在所设定的异物检测阈值不在允许范围内的情况下，判定为该异物检测阈值不恰当。

在以正态分布曲线表示异物检测信号电平的统计数据的情况下，检查参数判定部22d使用μ+3σ以下的范围作为异物检测阈值的允许范围。在此，μ表示正态分布曲线的平均，σ表示正态分布曲线的标准偏差。检查参数判定部22d基于存储于统计数据存储部21b中的异物检测信号电平的统计数据，计算μ以及σ。在图9中，作为异物检测阈值的允许范围，示出了μ+3σ以下的范围。在该情况下，例如，在操作员通过检查参数设定部22c设定的异物检测阈值大于允许范围的上限值μ+3σ的情况下，检查参数判定部22d判定为所设定的异物检测阈值不在允许范围内，因此是不恰当的。

在此，对在被检查物p中混入有异物f且操作员所设定的异物检测阈值为μ+5σ的情况下异物检测部22b是否能够基于图8所示的数据检测出异物f进行说明。不过，操作员不是将异物检测阈值直接设定为“μ+5σ”，而是设定为数值。在图8所示的图表中，示出了异物检测信号电平的峰。在图8中，将阈值μ+3σ以及阈值μ+5σ示为横向的虚线。在图8中，异物检测信号电平的峰的极大值m比操作员所设定的阈值μ+5σ低。因此，由于异物检测信号电平的峰的极大值m未超过阈值μ+5σ，因此异物检测部22b错误地判定为在被检查物p中并未混入异物f。另一方面，在相同的条件下，在操作员所设定的异物检测阈值为μ+3σ的情况下，在图8中，异物检测信号电平的峰的极大值m高于操作员所设定的阈值μ+3σ。因此，由于异物检测信号电平的峰的极大值m超过阈值μ+3σ，因此异物检测部22b正确地判定为在被检查物p中混入有异物f。

这样，根据操作员所设定的异物检测阈值，异物检测部22b有可能无法正确地判定在被检查物p中是否混入有异物f。检查参数判定部22d基于异物检测信号电平的统计数据，获取异物检测阈值的允许范围，在操作员所设定的异物检测阈值处于该允许范围内的情况下，判定为该异物检测阈值是恰当的，在操作员所设定的异物检测阈值不在该允许范围内的情况下，判定为该异物检测阈值不恰当。

通常，若将异物检测阈值设定得较高，则即使在被检查物p中并未混入有异物f但却判定为检测到异物f的误检测的发生减少。但是，有可能在被检查物p中混入有异物f而却未检测出该异物f。相反地，若将异物检测阈值设定得较低，则在被检查物p中混入有异物f的情况下，该异物f的检测灵敏度提高。但是，有可能即使在被检查物p中并未混入异物f也判定为检测到异物f的误检测的发生增多。由此，需要根据被检查物p以及异物f的特性等恰当地设定异物检测阈值。检查参数判定部22d能够基于异物检测信号电平的统计数据，获取异物检测阈值的恰当范围即允许范围。因此，检查参数判定部22d具有抑制异物f的误检测的功能。

(e)通知部

在检查参数判定部22d判定为操作员所设定的检查参数即异物检测阈值不恰当的情况下，通知部22e向操作员通知该内容。具体地说，通知部22e在监视器30的液晶显示器上显示通过检查参数设定部22c设定的检查参数即异物检测阈值不在检查参数判定部22d所取得的允许范围内这一内容。例如，监视器30的液晶显示器显示“异物检测信号电平的阈值不恰当。”、“请将异物检测信号电平的阈值设定得较低。”以及“有可能无法检测出异物。”等消息。

(3)x射线检查装置的动作

接下来，对x射线检查装置10的控制装置40判定基于被检查物p的透过图像检测被检查物p所包含的异物f的异物混入检查中所使用的异物检测阈值是否恰当的处理进行说明。图10是判定异物混入检查中使用的异物检测阈值是否恰当的处理的流程图。

在步骤s1中，在x射线检查装置10开始异物混入检查之前，设定检查参数。检查参数用于辨别混入被检查物p中的异物f。在此，检查参数是从接下来在步骤s2中生成的透过图像的解析结果获取的异物检测阈值(异物检测信号电平的阈值)。在该情况下，异物检测部22b为了判定在被检查物p中是否混入有异物f而使用异物检测阈值作为检查参数。异物检测阈值在异物混入检查开始前预先设定为默认的值、或者由x射线检查装置10的操作员使用检查参数设定部22c进行设定。

在步骤s2中，生成被检查物p的透过图像。具体地说，透过图像生成部22a为了在接下来的步骤s3中创建统计数据而生成足够数量的透过图像。

在步骤s3中，创建与在步骤s2中生成的足够数量的透过图像相关的统计数据。具体地说，统计数据存储部21b记录与异物检测部22b对透过图像进行解析而获得的异物检测信号电平相关的数据并将其作为异物检测信号电平的统计数据加以存储(参照图9)。

在步骤s4中，基于在步骤s3中创建的统计数据，获取检查参数的允许范围。具体地说，检查参数判定部22d基于异物检测信号电平的统计数据，获取异物检测阈值的允许范围。

在步骤s5中，判定在步骤s1中设定的检查参数是否处于在步骤s4中取得的检查参数的允许范围内。具体地说，检查参数判定部22d判定所设定的异物检测阈值是否在允许范围内。在异物检测阈值不在允许范围内的情况下，进入步骤s6。在异物检测阈值处于允许范围内的情况下，进入步骤s8。

在步骤s6中，通知检查参数不在允许范围内这一内容。具体地说，通知部22e将在步骤s1中所设定的检查参数即异物检测阈值不恰当这一内容显示于监视器30的液晶显示器。

在步骤s7中，设定检查参数。具体地说，在步骤s6中通知了异物检测阈值不恰当这一内容的情况下，x射线检查装置10的操作员使用检查参数设定部22c再次设定异物检测阈值。在步骤s7中再次设定的异物检测阈值在步骤s5中被再次判定是否处于允许范围内。

在步骤s8中，实施被检查物p的检查。具体地说，异物检测部22b使用在步骤s1中设定的异物检测阈值，进行被检查物p的异物混入检查。在被检查物p的异物混入检查中，生成被检查物p的透过图像。因此，在被检查物p的异物混入检查中，也可以根据需要转移到步骤s3，基于生成的透过图像再次创建统计数据。通过再次创建统计数据，在步骤s4中获取检查参数的更恰当的允许范围。

(4)特征

x射线检查装置10进行基于被检查物p的透过图像检测被检查物p中包含的异物f的异物混入检查。在异物混入检查中，在根据被检查物p的透过图像得到的异物检测信号电平的峰的极大值m比异物检测阈值高的情况下，x射线检查装置10判定为在被检查物p中混入有异物f(参照图8)。如接下来所说明的那样，x射线检查装置10具有当在异物混入检查中使用的异物检测阈值的设定不恰当时通知这一内容的功能。x射线检查装置10的操作员能够再次设定被指出为不恰当的异物检测阈值。

具体地说，x射线检查装置10基于对被检查物p的多个透过图像进行解析而得到的与异物检测信号电平相关的数据，创建异物检测信号电平的统计数据(参照图9)。x射线检查装置10基于异物检测信号电平的统计数据，获取异物检测阈值的允许范围。x射线检查装置10判定用于被检查物p的异物混入检查的异物检测阈值是否在允许范围内。在异物检测阈值不在允许范围内的情况下，x射线检查装置10将异物检测阈值的设定不恰当这一内容通知给操作员。

由此，因为防止x射线检查装置10的操作员对异物检测阈值进行不恰当的设定以及误设定，所以操作员能够使x射线检查装置10的性能充分发挥来使用x射线检查装置10。例如，x射线检查装置10能够抑制尽管在被检查物p中含有异物f但却被判定为在被检查物p中不含有异物f的误检测的发生。因此，x射线检查装置10能够抑制因在设定不恰当的情况下直接进行使用而导致检查结果出现问题。

(5)变形例

以上，说明了本发明的一实施方式，但本发明并不局限于上述实施方式，可在不脱离发明的主旨的范围内进行各种变更。

(5-1)变形例a

图11是本变形例中的控制装置40的框图。如图11所示，控制装置40的控制部22也可以通过执行存储于存储部21的各种程序而进一步具有检查停止部22f的功能。在检查参数判定部22d判定为操作员所设定的检查参数不恰当的情况下，检查停止部22f停止异物检测部22b对被检查物p的异物混入检查。

这种情况下，在操作员所设定的检查参数不恰当的情况下，x射线检查装置10能够向操作员通知该内容，并且强制地停止被检查物p的检查。因此，本变形例的x射线检查装置10在有可能进行被检查物p的不恰当的检查的情况下，强制地结束该检查，从而能够抑制因在设定不恰当的情况下直接进行使用而导致检查结果出现问题。

在本变形例中，在实施方式所涉及的图10的步骤s7中，也可以是检查停止部22f强制地停止被检查物p的检查而取代x射线检查装置10的操作员使用检查参数设定部22c再次设定检查参数。

(5-2)变形例b

在实施方式中，检查参数判定部22d基于异物检测信号电平的统计数据，获取异物检测阈值的一个允许范围。但是，检查参数判定部22d也可以基于异物检测信号电平的统计数据，获取异物检测阈值的多个允许范围。接下来，说明在变形例a的x射线检查装置10中，检查参数判定部22d获取第一允许范围以及第二允许范围这两个允许范围，并基于这两个允许范围来判定所设定的检查参数是否恰当的处理。第二允许范围是与第一允许范围不同的范围。

图12是检查参数判定部22d使用第一允许范围以及第二允许范围来判定操作员所设定的检查参数是否恰当的流程图。

在图12中示出了步骤s11～s18。步骤s11～s13分别是与图10所示的实施方式的步骤s1～s3相同的处理。

在步骤s14中，获取检查参数的两个允许范围。具体地说，如上所述，检查参数判定部22d基于异物检测信号电平的统计数据，获取检查参数(异物检测阈值)的第一允许范围以及第二允许范围。在此，第一允许范围是μ+3σ以下的范围，第二允许范围是比第一允许范围宽的μ+4σ以下的范围。

在步骤s15a中，判定在步骤s11中设定的检查参数是否处于在步骤s14中取得的检查参数的第一允许范围内。在检查参数不在第一允许范围内的情况下，进入步骤s15b。在检查参数处于第一允许范围内的情况下，进入步骤s18。

在步骤s15b中，判定在步骤s11中设定的检查参数是否处于在步骤s14中取得的检查参数的第二允许范围内。在检查参数不在第二允许范围内的情况下，进入步骤s19。在检查参数处于第二允许范围内的情况下，进入步骤s16。

在步骤s16中，与实施方式的步骤s6同样地，通知检查参数不在允许范围内这一内容。具体地说，通知部22e将在步骤s11中设定的检查参数即异物检测阈值不恰当这一内容显示于监视器30的液晶显示器。

在步骤s17中，与实施方式的步骤s7同样地设定检查参数。具体地说，在步骤s16中通知了异物检测阈值不恰当这一内容的情况下，x射线检查装置10的操作员使用检查参数设定部22c再次设定异物检测阈值。在步骤s17中再次设定的异物检测阈值在步骤s15a中被再次判定是否处于第一允许范围内。

在步骤s18中，实施被检查物p的检查。具体地说，异物检测部22b使用在步骤s11中设定的异物检测阈值，进行被检查物p的异物混入检查。在被检查物p的异物混入检查中，生成被检查物p的透过图像。因此，与实施方式同样地，在被检查物p的异物混入检查中，也可以根据需要转移到步骤s13，基于生成的透过图像再次创建统计数据。

在步骤s19中，停止检查被检查物p。具体地说，检查停止部22f强制地停止异物检测部22b对被检查物p的异物混入检查。在异物混入检查停止后，x射线检查装置10的操作员也可以使用检查参数设定部22c再次设定异物检测阈值。

本变形例的检查参数判定部22d通过使用异物检测阈值的多个允许范围，从而能够在检查参数不恰当的情况下，根据检查参数进行不同的处理。例如，在图12所示的处理中，在作为检查参数的异物检测阈值为μ+3σ以下的情况下，判定为检查参数恰当，实施被检查物p的异物混入检查(步骤s18)。另外，在检查参数大于μ+3σ且为μ+4σ以下的情况下，判定为检查参数不恰当，通知检查参数不在允许范围内这一内容(步骤s16)。另外，在检查参数大于μ+4σ的情况下，判定为检查参数不恰当，并强制地停止被检查物p的异物混入检查(步骤s19)。因此，本变形例的x射线检查装置10通过使用检查参数的多个允许范围，从而能够采取与检查参数的设定值相应的恰当的应对。

(5-3)变形例c

图13是本变形例中的控制装置40的框图。如图13所示，控制装置40的控制部22也可以通过执行存储于存储部21的各种程序而进一步具有检查参数变更部22g的功能。在检查参数判定部22d判定为操作员所设定的检查参数不恰当的情况下，检查参数变更部22g自动地变更检查参数的设定值。

这种情况下，在操作员所设定的检查参数不恰当的情况下，x射线检查装置10能够向操作员通知该内容，并且自动地变更检查参数。因此，x射线检查装置10能够在设定了恰当的检查参数的状态下自动地实施被检查物p的检查。

在本变形例中，检查参数变更部22g也可以依据规定的基准自动地变更检查参数。例如，在判定为操作员所设定的检查参数不恰当的情况下，检查参数变更部22g也可以通过使该检查参数增减规定值来变更检查参数。在该情况下，检查参数判定部22d也可以再次判定由检查参数变更部22g变更后的检查参数是否恰当。

另外，在本变形例中，检查参数变更部22g也可以自动地变更检查参数，以使其处于检查参数判定部22d所取得的检查参数的允许范围内。

另外，在本变形例中，也可以在实施方式所涉及的图10的步骤s7以及变形例b所涉及的图12的步骤s17中，使检查参数变更部22g自动地变更检查参数，来取代x射线检查装置10的操作员使用检查参数设定部22c再次设定检查参数。

(5-4)变形例d

在x射线检查装置10中，异物检测部22b能够基于多个检查基准来检查被检查物p。在这种情况下，优选的是，x射线检查装置10的操作员能够使用检查参数设定部22c按各个检查基准设定检查参数。另外，优选的是，检查参数判定部22d按各个检查基准判定操作员所设定的检查参数是否恰当。

在此，所谓检查基准是指被检查物p的检查方法，例如是异物检测部22b为了对透过图像进行解析而使用的图像处理算法。在这种情况下，优选的是，操作员能够使用检查参数设定部22c针对异物检测部22b所使用的图像处理算法各自设定检查参数。

在本变形例的x射线检查装置10中，异物检测部22b根据检测对象的异物f的形状以及面积，使用多个图像处理算法各自来检测异物f。这种情况下，操作员例如为了检测被检查物p所包含的异物f，能够针对适合检测对象的异物f的形状以及面积的各图像处理算法设定检查参数。由此，x射线检查装置10能够根据检测对象的异物f的特性来获取检查参数的最佳允许范围，因此能够高精度地检测各种形状以及面积的异物f。因此，即使在根据异物f的形状及面积实施各种异物混入检查的情况下，本变形例的x射线检查装置10也能够抑制因在设定不恰当的情况下直接进行使用而导致检查结果出现问题。

附图标记说明

10x射线检查装置

21b统计数据存储部(存储部)

22b异物检测部(检查部)

22c检查参数设定部(设定部)

22d检查参数判定部(判定部)

22e通知部

22f检查停止部(停止部)

22g检查参数变更部(变更部)

p被检查物

在先技术文献

专利文献

专利文献1：特开2002-228761号公报