技术特征：
技术总结
本发明公开了一种基于并行光斑扫描的实时荧光辐射微分超分辨显微方法与装置，该方法将激光光束分成S偏振光和P偏振光，将S偏振光调制为圆偏振实心光斑，将P偏振光先调制成涡旋偏振光，再调制成圆偏振空心光斑；将实心光斑激发光和空心光斑激发光在物面上错开至少200nm以上；利用实心光斑激发光和空心光斑激发光对荧光样品同时进行二维扫描，得到由实心光斑调制得到的正共聚焦荧光强度图和由空心光斑调制得到的负共聚焦荧光强度图；将两幅荧光强度图进行移位匹配。由于采用两光斑同时扫描，相比于传统的荧光发射差分显微系统来回切换调制光斑的做法，其采样速度大于传统两倍，实现共焦扫描速度下超分辨动态显微效果，可明显提高成像速度。
技术研发人员：刘旭;张智敏;匡翠方;徐良;李海峰
受保护的技术使用者：浙江大学
技术研发日：2019.01.18
技术公布日：2019.04.16