技术特征：
技术总结
本发明实施例提供一种材料表面态二次谐波产生的时间分辨测量装置，包括：反射谱系统和计算机；反射谱系统用于从反射光谱中分离获得二次谐波信号以及与探测光同频率的反射信号；计算机用于处理同频率的反射信号以及二次谐波信号，获取具有中心对称晶体结构材料的动力学过程；其中，同频率的反射信号用于反映材料的体态特征，二次谐波信号用于反映材料的表面态特征。本发明实施例通过利用同频率的反射信号反映材料的体态特征，以及利用二次谐波信号反映的材料的表面态特征等原理，从而能够研究或观察具有中心对称晶体结构材料的各种相互作用的动力学过程。
技术研发人员：宋海英;张秀;刘世炳;刘海云
受保护的技术使用者：北京工业大学
技术研发日：2019.02.20
技术公布日：2019.05.28