用于电力设备的故障检测的方法与装置与流程

本实用电力系统领域，特别是用于电力设备的故障检测的方法与装置。

背景技术：

开关柜是电力系统中的重要的输配电装置，因此需要对于开关柜的运行情况进行实时监控。开关柜通常有各种接触点，例如梅花触头与静触头接触的位置、铜排连接外部设备的位置等，当电流流过接触点时，接触点会发热，因此国家标准中规定了接触点的最大允许发热温度和最大允许温升。由于制造、安装、运输或者长期运行等因素，接触点可能会触点氧化、变形松动等问题，当出现这些问题时，接触点的温升会超出规定的范围，造成开关柜的损坏。为了避免这些问题，通常需要对接触点的温升进行在线监测。具体地，当发现实际温升超过最大允许温升，则确定接触点出现故障。这里的温升指的是接触点的温度与环境温度之间的差值，环境温度一般通过放置于环境中的测温探头来获取。

由于开关柜在不同负载下，所产生的温度或者温升不是固定的，因此，采用统一的最大允许发热温度和允许温升来判断接触点是否出现故障，有可能出现误报的情况。

技术实现要素：

有鉴于此，本发明提出了用于电力设备的故障检测的方法，包括：

获取一个电力设备的三相上的一组同属性接触点各自的第一温升，每组所述同属性接触点为所述电力设备中相同位置对应的三个接触点；

从各所述第一温升中确定一个目标温升；

对所述目标温升进行修正，获取修正后的第二温升；

根据所述第二温升确定是否有所述同属性接触点是否发生故障。

通过横向比较一组同属性接触点各相的温升来确定该接触点哪一相出现故障，并在比较之前先对待比较的温升进行修正以使判断结果更加准确，这样的比较更加快速便捷，且准确性较好。

根据如上所述的方法，可选地，从各所述第一温升中确定一个目标温升，包括:从各第一温升中确定值最大的一个作为目标温升。先选出值最大的一个作为目标温升，能够简化计算量。

根据如上所述的方法，可选地，对所述目标温升进行修正，获取修正后的第二温升包括：

在所述剩余的两个第一温升中选择一个较大的作为基准温升；

根据如下公式获取修正后的第二温升δkcm：

其中，δkc为表示所述目标温升，ic表示所述目标温升对应的同属性接触点的一次电流，ib表示所述基准温升对应的同属性接触点的一次电流。

虽然相同位置上的各相电流差别不大，但是实际上还有存在一定的不平衡。为了排除这种不平衡对各同属性接触点的影响，需要对目标温升进行修正。

根据如上所述的方法，可选地，所述一次电流为当前采样周期内的一次电流的平均值。由于一次电流可能是实时变化的，采用一个采样周期内一次电流的平均值作为该周期内电力设备的一次电流，能够尽量获取准确的一次电流的值。

根据如上所述的方法，可选地，根据所述第二温升确定是否有所述同属性接触点是否发生故障包括：

将所述第二温升与所述基准温升进行比较，确定两者中较小的一个为第三温升，较大的一个为第四温升；

若所述第四温升大于所述第三温升与一个第一预设因子之和且所述第四温升大于所述第三温升与一个第二预设因子的乘积，则确定所述第四温升对应的同属性接触点出现故障。

这样确定出来的结果比较准确。

根据如上所述的方法，可选地，获取一个电力设备的同属性接触点对应的三相各自的第一温升包括：

获取一个初始的采样周期开始时一个电力设备的一个接触点的第五温升以及结束时的第六温升，所述接触点为所述电力设备的至少两个部件的接触位置；

获取一个电力设备的一阶惯性系统的时间常数；

根据所述第五温升、所述第六温升和所述时间常数，预测第x个采样周期结束时所述接触点的第一温升，x＝[ln]，其中l为正整数且l≥3，s为一个所述采样周期，n*s＝所述时间常数。

通过获取一个采样周期开始时和结束时的温升，对预设时间段之后的温度进行预测，这样能够快速确定预设时间段后的温升，例如温升稳定后的值作为第一温升，进而通过该预测的温升执行后续的一些操作，例如前述实施例中是否有同属性接触点发生故障的操作。

根据如上所述的方法，可选地，根据所述第五温升、所述第六温升和所述时间常数，预测第x个采样周期结束时所述接触点的第一温升，包括：

根据如下公式，确定所述接触点的第一温升t：

t＝(δkn-δkn-1*e^-1/n)/(1-e^-1/n)

其中，δkn-1为所述第五温升，δkn为所述第六温升。

本发明还提供一用于电力设备的故障检测的装置，包括：

一个获取单元，用于获取一个电力设备的三相上的一组同属性接触点各自的第一温升，每组所述同属性接触点为所述电力设备中相同位置对应的三个接触点；

一个第一确定单元，用于从各所述第一温升中确定一个目标温升；

一个修正单元，用于对所述目标温升进行修正，获取修正后的第二温升；

一个第二确定单元，用于根据所述第二温升确定是否有所述同属性接触点是否发生故障。

通过横向比较一组同属性接触点各相的温升来确定该接触点哪一相出现故障，并在比较之前先对待比较的温升进行修正以使判断结果更加准确，这样的比较更加快速便捷，且准确性较好。

根据如上所述的装置，可选地，所述第一确定单元具体用于：从各第一温升中确定值最大的一个作为目标温升。先选出值最大的一个作为目标温升，能够简化计算量。

根据如上所述的装置，可选地，所述修正单元具体用于：

在所述剩余的两个第一温升中选择一个较大的作为基准温升；

根据如下公式获取修正后的第二温升δkcm：

其中，δkc为表示所述目标温升，ic表示所述目标温升对应的同属性接触点的一次电流，ib表示所述基准温升对应的同属性接触点的一次电流。

虽然相同位置上的各相电流差别不大，但是实际上还有存在一定的不平衡。为了排除这种不平衡对各同属性接触点的影响，需要对目标温升进行修正。

根据如上所述的装置，可选地，所述一次电流为当前采样周期内的一次电流的平均值。由于一次电流可能是实时变化的，采用一个采样周期内一次电流的平均值作为该周期内电力设备的一次电流，能够尽量获取准确的一次电流的值。

根据如上所述的装置，可选地，所述第二确定单元具体用于：

将所述第二温升与所述基准温升进行比较，确定两者中较小的一个为第三温升，较大的一个为第四温升；

若所述第四温升大于所述第三温升与一个第一预设因子之和且所述第四温升大于所述第三温升与一个第二预设因子的乘积，则确定所述第四温升对应的同属性接触点出现故障。

这样确定出来的结果比较准确。

根据如上所述的装置，可选地，所述获取单元具体包括：

一个第一获取子单元，用于获取一个初始的采样周期开始时一个电力设备的一个接触点的第五温升以及结束时的第六温升，所述接触点为所述电力设备的至少两个部件的接触位置；

一个第二获取子单元，用于获取一个电力设备的一阶惯性系统的时间常数；

一个预测子单元，用于根据所述第五温升、所述第六温升和所述时间常数，预测第x个采样周期结束时所述接触点的第一温升，x＝[ln]，其中l为正整数且l≥3，s为一个所述采样周期，n*s＝所述时间常数。

通过获取一个采样周期开始时和结束时的温升，对预设时间段之后的温度进行预测，这样能够快速确定预设时间段后的温升，例如温升稳定后的值作为第一温升，进而通过该预测的温升执行后续的一些操作，例如前述实施例中是否有同属性接触点发生故障的操作。

根据如上所述的装置，可选地，所述预测子单元具体用于：

根据如下公式，确定所述接触点的第一温升t：

t＝(δkn-δkn-1*e^-1/n)/(1-e^-1/n)

其中，δkn-1为所述第五温升，δkn为所述第六温升。

本发明又提供一用于电力设备的故障检测的装置，包括：

至少一个存储器，其用于存储指令；

至少一个处理器，其用于根据所述存储器存储的指令执行前述中任一项所述的用于电力设备的故障检测的方法。

本发明再提供一可读存储介质，所述可读存储介质中存储有机器可读指令，所述机器可读指令当被一个机器执行时，所述机器执行根据前述任一项所述的用于电力设备的故障检测的方法。

附图说明

下面将通过参照附图详细描述本发明的优选实施例，使本领域的普通技术人员更清楚本发明的上述及其它特征和优点，附图中：

图1为根据本发明一实施例的用于电力设备的故障检测的方法的流程示意图。

图2为根据本发明另一实施例的用于电力设备的故障检测的方法的流程示意图。

图3为根据本发明一实施例的用于电力设备的故障检测的装置的结构示意图。

图4为根据本发明另一实施例的用于电力设备的故障检测的装置的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，以下举实施例对本发明进一步详细说明。

本发明的电力设备具体可以是开关柜或者变压器，当然还可以是其它能采用本发明方法的设备。电力设备的接触点可以是两个部位的接触位置。下面以开关柜作为举例来进行具体说明。

开关柜一般都有三相。相同位置对应的同属性接触点有三个，每一个对应一相。相同位置指的是开关柜中相同部件与另外一个部件的接触位置，其具有三个接触点，分别对应着三相。若同属性接触点对应的三相均接触良好，未出现故障，则该三相的电阻和热阻应该相近，因此，温升也应该相近。因此，可以通过横向比较同属性接触点的温升能够快速确定哪一相出现了问题。

实施例一

本实施例提供用于开关柜的故障检测的方法，执行主体为用于开关柜的故障检测的装置，该装置可以集成于继电器中，也可以设置于电脑中，当然还可以单独设置，在此不再赘述。

如图1所示，为根据本实施例的用于开关柜的故障检测的方法，该方法包括：

步骤101，获取一个开关柜的三相上的一组同属性接触点各自的第一温升，每组同属性接触点为开关柜中相同位置对应的各接触点。

开关柜一般均具有三相，该三相上均具有至少一个相同位置。该相同位置例如为断路器的动触头与静触头的接触位置，铜排与套管的接触位置等等，在此不再赘述。动触头与静触头的接触位置对应着三相，铜排与套管的接触位置也对应着三相。本实施例的相同位置表示的是开关柜中相同部件与另外一个部件的接触位置，其具有三个接触点，分别对应着三相。相同位置上的三个接触点统称为一组同属性接触点。

由于同属性接触点在开关柜中的位置相同，一般来讲，其对应的温升也应该相同。因此，本发明通过比较同属性接触点各自的第一温升，来判断哪个同属性接触点出现故障。

本实施例的温升指的是接触点的温度值与环境温度之间的差值。

步骤102，从各第一温升中确定一个目标温升。

该目标温升可以根据实际需要确定，例如随机选取一个，或者选取各第一温升中值最大的一个作为目标温升，在此不再赘述。该目标温升是一组同属性接触点中的一个对应的第一温升，即三个第一温升中的一个。

当然，还可以先对各第一温升根据一次电流进行归一化，例如以其中一个第一温升作为基础，对其余两个第一温升执行归一化操作，然后从归一化的第一温升中确定一个目标温升，例如值最大的一个作为目标温升。

步骤103，对目标温升进行修正，获取修正后的第二温升。

虽然相同位置上的各相电流差别不大，但是实际上还有存在一定的不平衡。为了排除这种不平衡对各同属性接触点的影响，需要对目标温升进行修正。修正的方式有很多，例如取三个同属性接触点的电流的平均值，还可以通过拟合方式来对目标温升进行修正，在此不再赘述。

步骤104，根据第二温升确定是否有同属性接触点是否发生故障。

举例来说，若第二温升超过预设阈值，则可以确定该目标相对应的接触点发生故障。

由于一个开关柜所加的负载可能会不一样，因此会对应不同的工作电流，如果采用统一的预设阈值，很有可能会出现接触点已经出现故障但是没有判断出来的情况。因此，可以采用如下的方式来判断接触点是否发生故障：

将第二温升与基准温升进行比较，确定两者中较小的一个为第三温升，较大的一个为第四温升；

若第四温升大于第三温升与一个第一预设因子之和且第四温升大于第三温升与一个第二预设因子的乘积，则确定第四温升对应的同属性接触点出现故障。

举例来说，若第二温升与基准温升相比较之后，发现第二温升为值较小的一个，其作为第三温升，基准温升为值较大的一个，其作为第四温升。

第四温升大于第三温升与一个第一预设因子之和表示，第四温升与第三温升之间的差值大于第一预设因子，这样，第四温升对应的同属性接触点很有可能出现故障。由于一次电流很大时，各相之间的温升即使在正常接触状态下也会出现差值较大的情况，因此还需要进一步验证。第四温升大于第三温升与第一个第二预设因子的乘积，这意味着从比例上来说第四温升大于第三温升。这样，当满足上述两个条件时，能够确定第四温升对应的同属性接触点出现故障，确定出来的结果比较准确。

根据本实施例，通过横向比较一组同属性接触点各相的温升来确定该接触点哪一相出现故障，并在比较之前先对待比较的温升进行修正以使判断结果更加准确，这样的比较更加快速便捷，且准确性较好。

实施例二

本实施例对实施例一的用于开关柜的故障检测的方法做进一步补充说明。

如图2所示，为根据本实施例的用于开关柜的故障检测的方法的流程示意图。该方法包括：

步骤201，获取一个开关柜的三相上的一组同属性接触点各自的第一温升，每组同属性接触点为开关柜中相同位置对应的各接触点。

该步骤与步骤101一致，在此不再赘述。

步骤202，从各第一温升中确定值最大的一个作为目标温升。

本实施例中，将三个第一温升中值最大的一个作为目标温升。如果一组同属性接触点的三个接触点有一个接触点出现故障，那么最有可能的就是温升值最大的一个接触点。先选出值最大的一个作为目标温升，能够简化计算量。

步骤203，在剩余的两个第一温升中选择一个较大的作为基准温升。

在步骤202中，可以首先排除各第一温升中值最小的一个。这是由于，接触不良会造成温升较高，首先排除第一温升中最小的一个即先排除出现故障可能性较小的一个，以简化算法。

当然，也可以先执行步骤202，再执行步骤203。例如，还可以是先选择出三个第一温升中最大的两个，然后再从最大的两个中选择出值较大的一个作为目标温升，值较小的一个作为基准温升。具体如何选择目标温升和基准温升没有先后顺序，只需要目标温升是三个第一温升中最大的一个，基准温升是三个第一温升值为中间的一个即可。

步骤204，根据如下公式获取修正后的第二温升δkcm：

其中，δkc为表示目标温升，ic表示目标温升对应的同属性接触点的一次电流，ib表示基准温升对应的同属性接触点的一次电流。

这里的一次电流可以是当前采样周期内的一次电流的平均值。举例来说，每隔一个采样周期，均可以执行步骤201-205，以持续监测是否有同属性接触点发生故障。该一次电流可以是当前周期内的一次电流的平均值，由于一次电流可能是实时变化的，采用一个采样周期内一次电流的平均值作为该周期内开关柜的一次电流，能够尽量获取准确的一次电流的值。

步骤205，根据第二温升确定是否有同属性接触点是否发生故障。

该步骤205与步骤104一致，在此不再赘述。

根据本实施例，将值最小的一个第一温升排除能够简化整个算法，且通过值在中间的第一温升对值最大的第一温升进行修正，能够尽量排除电流不平衡导致的三相之间的温升差别，进而使得判断结果更加准确。通过横向比较一组同属性接触点对应的三个温升，能够避免采用统一的阈值进行判断带来的缺陷。

实施例三

本实施例对前述实施例的方法做进一步补充说明。本实施例主要对如何获取前述各实施例中的第一温升做进一步补充说明，即前述的第一各温升均以预测的接触点的温升作为基础。

本实施例中，前述实施例的获取一个开关柜的同属性接触点对应的三相各自的第一温升包括：

a：获取一个初始的采样周期开始时一个开关柜的一个接触点的第五温升以及结束时的第六温升，接触点为开关柜的至少两个部件的接触位置；

b：获取一个开关柜的一阶惯性系统的时间常数；

c：根据第五温升、第六温升和时间常数，预测第x个采样周期结束时接触点的第一温升，x＝[ln]，其中l为正整数且l≥3，s为一个采样周期，n*s＝时间常数。

初始的采样周期是指需要获取第一温升和第二温升所对应的采样周期，该初始的采样周期并不一定是真正进行采样的第1个采样周期。该采样周期的时长可以根据实际需要设定，例如为20-30分钟。这里的第一温升可以视为接触点对应的稳定温升。

这里的一阶惯性系统指的是一次电流和温升的响应关系。一般情况下，若一次电流不变，采样周期到达3-5倍的时间常数时，该温升应该几乎到达一个稳定值。当然，也可以采样到8-9个小时之内的所有采样周期的一次电流，具体可以根据实际需要确定。该一阶惯性系统的时间常数是根据系统的参数能够预先获知的，例如为100分钟。

该步骤a与步骤b无执行顺序，可以先后执行，也可以同时执行。

由于一般情况下3-5倍的时间常数温升就可以达到一定的稳定值，可选地，l的取值范围进一步是3-5。[]表示取整，可以根据实际需要向上取整或向下取整。一个采样周期表示的是一个采样周期对应的时间长度，当然也就是初始的采样周期的时间常数。由于将当前时间点对应的采样周期作为初始的采样周期，因此，一次电流对应的也就是该初始的采样周期内的一次电流，例如该初始的采样周期内的一次电流的平均值。实际运用中，可以通过设定s来确定n的值为正整数，例如时间常数为100分钟，s可以为25分钟，这样n就是4。假设l＝5，x就是20，这样相当于500分钟，即8个多小时。

本实施例中，可以根据第五温升和第六温升确定下一个采样结束时的第一预测温升，接着根据第六温升和第一预测温升确定再下一个采样周期结束时的第二预测温升，然后根据第一预测温升和第二预测温升再次确定之后一个采样周期结束时的第三预测温升，如此往复，直到确定出第x个采样周期结束时接触点的第一温升。具体可以根据第五温升和第六温升的升温趋势来确定下一个采样周期的升温趋势。该第一温升可以看作为所预测出的接触点对应的稳定温升。

具体举例来说，可以根据如下公式确定接触点的第一温升t：

t＝(δkn-δkn-1*e^-1/n)/(1-e^-1/n)

其中，δkn-1为第五温升，δkn为第六温升。

本发明可以重复执行步骤a至步骤c。例如每隔1分钟重复执行步骤a至步骤c，这样可以一直预测相应预设时间段后的温升，以实现对开关柜的接触点的温升的实时监控。更为具体地，采样过程中，从一个采样周期开始重复执行步骤101至步骤103，n代表第n个采样周期，δkn为第n个采样周期对应的温升，δkn-1为第n-1个采样周期对应的温升，任意一个第n-1个采样周期均可以看作本发明的初始的采样周期，进而执行后续的步骤，以持续预设开关柜的接触点的温升，进而对其温升进行监控。

对于每个同属性接触点，均可以采用本实施例的方法获得预测的第一温升，并将该预测的第一温升确定为同属性接触点对应的稳定温升。

本发明还有很多其他方式来确定各采样周期结束时的预测温升，在此不再赘述。

根据本发明，通过获取一个采样周期开始时和结束时的温升，对预设时间段之后的温度进行预测，这样能够快速确定预设时间段后的温升，例如温升稳定后的值作为第一温升，进而通过该预测的温升执行后续的一些操作，例如前述实施例中是否有同属性接触点发生故障的操作。

实施例四

本实施例提供一用于开关柜的故障检测的装置，用于执行实施例一的用于开关柜的故障检测的装置。

如图3所示，为根据本实施例的用于开关柜的故障检测的装置的结构示意图。该装置包括一个获取单元301、一个第一确定单元302、一个修正单元303和一个第二确定单元304。

其中，获取单元301用于获取一个开关柜的三相上的一组同属性接触点各自的第一温升，每组同属性接触点为开关柜中相同位置对应的三个接触点；第一确定单元302用于从各第一温升中确定一个目标温升；修正单元303用于对目标温升进行修正，获取修正后的第二温升；第二确定单元304用于根据第二温升确定是否有同属性接触点是否发生故障。

可选地，第一确定单元302具体用于：从各第一温升中确定值最大的一个作为目标温升。

可选地，修正单元303具体用于：

在剩余的两个第一温升中选择一个较大的作为基准温升；

根据如下公式获取修正后的第二温升δkcm：

其中，δkc为表示目标温升，ic表示目标温升对应的同属性接触点的一次电流，ib表示基准温升对应的同属性接触点的一次电流；

可选地，一次电流为当前采样周期内的一次电流的平均值。

可选地，第二确定单元304具体用于：

将第二温升与基准温升进行比较，确定两者中较小的一个为第三温升，较大的一个为第四温升；

若第四温升大于第三温升与一个第一预设因子之和且第四温升大于第三温升与一个第二预设因子的乘积，则确定第四温升对应的同属性接触点出现故障。

本实施例的各个单元的工作方法与前述实施例相同，在此不再赘述。

根据本实施例，通过横向比较一组同属性接触点各相的温升来确定该接触点哪一相出现故障，并在比较之前先对待比较的温升进行修正以使判断结果更加准确，这样的比较更加快速便捷，且准确性较好。

实施例五

本实施例对前述实施例的用于开关柜的故障检测的装置进行补充说明。

本实施例的用于开关柜的故障检测的装置中，获取单元301具体包括一个第一获取子单元3011、一个第二获取子单元3012和一个预测子单元3013。

其中，第一获取子单元3011用于获取一个初始的采样周期开始时一个开关柜的一个接触点的第五温升以及结束时的第六温升，接触点为开关柜的至少两个部件的接触位置；第二获取子单元3012用于获取一个开关柜的一阶惯性系统的时间常数；一个预测子单元3013用于根据第五温升、第六温升和时间常数，预测第x个采样周期结束时接触点的第一温升，x＝[ln]，其中l为正整数且l≥3，s为一个采样周期，n*s＝时间常数。

可选地，预测子单元3013具体用于：

根据如下公式，确定接触点的第一温升t：

t＝(δkn-δkn-1*e^-1/n)/(1-e^-1/n)

其中，δkn-1为第五温升，δkn为第六温升。

本实施例的各个单元的工作方法与前述实施例相同，在此不再赘述。

根据本发明，通过获取一个采样周期开始时和结束时的温升，对预设时间段之后的温度进行预测，这样能够快速确定预设时间段后的温升，例如温升稳定后的值作为第一温升，进而通过该预测的温升执行后续的一些操作，例如前述实施例中是否有同属性接触点发生故障的操作。

本发明还提供另一用于开关柜的故障检测的装置。该装置包括至少一个存储器和至少一个处理器。其中，存储器用于存储指令。处理器用于根据存储器存储的指令执行前述任意实施例所描述的用于开关柜的故障检测的方法。

本发明的实施例还提供一种可读存储介质。该可读存储介质中存储有机器可读指令，机器可读指令当被一个机器执行时，机器执行前述任意实施例所描述的用于开关柜的故障检测的方法。

该可读介质上存储有机器可读指令，该机器可读指令在被处理器执行时，使处理器执行前述的任一种方法。具体地，可以提供配有可读存储介质的系统或者装置，在该可读存储介质上存储着实现上述实施例中任一实施例的功能的软件程序代码，且使该系统或者装置的计算机或处理器读出并执行存储在该可读存储介质中的机器可读指令。

在这种情况下，从可读介质读取的程序代码本身可实现上述实施例中任何一项实施例的功能，因此机器可读代码和存储机器可读代码的可读存储介质构成了本发明的一部分。

可读存储介质的实施例包括软盘、硬盘、磁光盘、光盘(如cd-rom、cd-r、cd-rw、dvd-rom、dvd-ram、dvd-rw、dvd+rw)、磁带、非易失性存储卡和rom。可选择地，可以由通信网络从服务器计算机上或云上下载程序代码。

本领域技术人员应当理解，上面公开的各个实施例可以在不偏离发明实质的情况下做出各种变形和修改。因此，本发明的保护范围应当由所附的权利要求书来限定。

需要说明的是，上述各流程和各系统结构图中不是所有的步骤和单元都是必须的，可以根据实际的需要忽略某些步骤或单元。各步骤的执行顺序不是固定的，可以根据需要进行调整。上述各实施例中描述的装置结构可以是物理结构，也可以是逻辑结构，即，有些单元可能由同一物理实体实现，或者，有些单元可能分由多个物理实体实现，或者，可以由多个独立设备中的某些部件共同实现。

以上各实施例中，硬件单元可以通过机械方式或电气方式实现。例如，一个硬件单元或处理器可以包括永久性专用的电路或逻辑(如专门的处理器，fpga或asic)来完成相应操作。硬件单元或处理器还可以包括可编程逻辑或电路(如通用处理器或其它可编程处理器)，可以由软件进行临时的设置以完成相应操作。具体的实现方式(机械方式、或专用的永久性电路、或者临时设置的电路)可以基于成本和时间上的考虑来确定。

上文通过附图和优选实施例对本发明进行了详细展示和说明，然而本发明不限于这些已揭示的实施例，基与上述多个实施例本领域技术人员可以知晓，可以组合上述不同实施例中的代码审核手段得到本发明更多的实施例，这些实施例也在本发明的保护范围之内。