技术特征：
技术总结
本发明公开了一种全波段超低反射表面膜层厚度计算方法，用于计算物质表面超低反射膜层的最佳厚度。本发明得到最佳超低反射表面膜层厚度dmin，相邻物质折射率n1、n2以及入射光实现超低反射的最大波长λmax的对应关系，即该超低反射膜层厚度理论计算方法适用于气‑固、液‑固、固‑固等界面全波段超低反射膜层厚度的计算，可以与实验结果完美对应，对于确定物质表面超低反射膜层厚度具有重要指导意义。
技术研发人员：刘立强;王晓临
受保护的技术使用者：山东建筑大学
技术研发日：2019.05.31
技术公布日：2019.10.01