密封型红外测温镜头的制作方法

本发明属于红外测温技术领域，具体涉及一种密封型红外测温镜头。

背景技术：

高压开关是电网的重要设备，能够保证电网的安全运行，在电网出现故障时能够及时对电网进行保护。高压开关中的触头是断路器和隔离开关的重要零件，当触头接触不良时接触电阻会变大，在负载电路时会产生过热现象，从而引起高压开关故障，甚至导致贯穿性放电，造成重大经济损失。

由于触头安装在高压开关内部，被sf6气体和外壳所包围，并且不能够破坏开关内部绝缘，因此对于触头的温度测试和监测存在很大难度，目前尚未有能够直接测量触头温度并进行监测的设备和方法。近些年由于高压开关温升而引起的故障日渐增多，触头的发热是其主要的一种，为此很有必要对于触头温度进行监测。

相关技术中，对于高压开关触头温度的监测没有直接手段，在变电站经常才用的方法是通过监测回路电阻而间接监测高压开关的温升。另一种则采用热成像仪器对高压开关外壳进行温度测量，以估测内部触头温度和温升情况。以上两种方法均存在操作性差，测量不准确，影响因素多等缺点。

技术实现要素：

有鉴于此，本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供一种密封型红外测温镜头，以解决现有技术中对高压开关外壳进行测量从而估测内部触头温度的操作性差、测量不准确以及影响因素多的问题。

为实现以上目的，本发明采用如下技术方案：一种密封型红外测温镜头，包括：法兰、晶体片以及回形密封圈；

所述法兰包括圆柱筒体部和六棱柱筒体部，所述圆柱筒体部与所述六棱柱筒体部连接，所述圆柱筒体部的内径与所述六棱柱筒体部的内径相同，所述圆柱筒体部的外径小于所述六棱柱筒体部的外径；

所述晶体片固定于所述回形密封圈中，所述回形密封圈过盈配合安装在所述圆柱筒体部内。

进一步的，还包括：

螺纹密封件，用于封装所述圆柱筒体部远离所述六棱柱筒体部的一端；

所述螺纹密封件与所述圆柱筒体部螺纹连接；

所述螺纹密封件为中空结构。

进一步的，所述法兰内侧设有：

用于支撑所述回形密封圈的挡片，所述挡片设有孔洞。

进一步的，所述六棱柱筒体部与所述圆柱筒体部连接的一端外侧设有：

端面密封槽。

进一步的，还包括：

凹槽密封圈，所述凹槽密封圈与所述端面密封槽配合。

进一步的，所述晶体片采用：

高透过率、低衰减的材料制成。

进一步的，所述晶体片采用：

氟化钡材料制成。

进一步的，回形密封圈采用：

渐开线自力型反向密封圈。

进一步的，所述回形密封圈采用三元乙丙胶材料制成。

进一步的，所述法兰采用316不锈钢材料制成。

本发明采用以上技术方案，能够达到的有益效果包括：

本申请采用不锈钢法兰、晶体片以及回形密封圈，将本申请提供的密封型红外测温镜头安装在高压开关外壳上，采用高透过率低衰减的晶体片，能够使得触头温度的红外波几乎不衰减的被温度传感器检测，通过非接触的方式保证高压开关设备的绝缘和密封性不受影响，同时又能保证隔着晶体片检测时测量数据的准确性。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1为本发明一种密封型红外测温镜头的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将对本发明的技术方案进行详细的描述。显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所得到的所有其它实施方式，都属于本发明所保护的范围。

本申请采用红外原理测量高压开关触头温度解决了测量不准确以及操作性差的问题，但是采用红外原理测量高压开关触头温度，有几个问题需要解决：

高压开关上需要开口，这需要解决内部气体泄漏问题，因为高压开关内部充有sf6气体，并且具有一定的压强，要求安装的红外测温装置气密性好，防止气体向外渗漏，本申请中镜头采用氟化钡材料，高透射率低衰减，这样避免采用其它材料造成对红外线产生反射，漫散射导致测量不够准确的现象。

下面结合附图介绍本申请实施例中提供的一个具体的密封型红外测温镜头。

如图1所示，本申请实施例中提供的密封型红外测温镜头，包括：法兰1、晶体片2以及回形密封圈3；

所述法兰1包括圆柱筒体部11和六棱柱筒体部12，所述圆柱筒体部11与所述六棱柱筒体部12连接，所述圆柱筒体部11的内径与所述六棱柱筒体部12的内径相同，所述圆柱筒体部11的外径小于所述六棱柱筒体部12的外径；

所述晶体片2固定于所述回形密封圈3中，所述回形密封圈3过盈配合安装在所述圆柱筒体部11内。

密封型红外测温镜头的工作原理为：将晶体片2放置在回形密封圈3中，回形密封圈3与圆柱筒体部11过盈配合，使得回形密封圈3与晶体片2放置进圆柱筒体部11后紧密结合，并具有一定的接触弹性压力，从而解决了密封性问题。其中，圆柱筒体部11远离六棱柱筒体部12的一端与高压开关连接，六棱柱筒体部12远离圆柱筒体部11的一端连接测温传感器，其中六棱柱筒体部12内侧设有用于与测温传感器连接的传感器螺纹。

具体的，因为高压开关内部充有sf6气体，并且具有一定的压强，高压开关在与本申请提供的密封型红外测温镜头组装时，借助高压开关内部气体压强，能够使得晶体片2紧压在法兰1内，在晶体片2能承受的最大压强下，内部压强越大，越牢固，密封效果越好。

一些实施例中，本申请提供的封型红外测温镜头，还包括：

螺纹密封件4，用于封装所述圆柱筒体部11远离所述六棱柱筒体部12的一端；

所述螺纹密封件4与所述圆柱筒体部11螺纹连接；

所述螺纹密封件4为中空结构。

具体的，螺纹密封件4能够进一步将所述回形密封圈3固定，同时，增加密封性。其中，螺纹密封件4为中空结构的圆柱体，其外侧设有外螺纹，所述螺纹密封件4与所述圆柱筒体部11螺纹连接，增加密封型红外测温镜头的密封性。

优选的，所述法兰1内侧设有

用于支撑所述回形密封圈3的挡片5，所述挡片5设有孔洞。

具体的，所述挡片5与螺纹密封件4分别设置在回形密封圈3的两端，用于固定回形密封圈3，挡片5设有孔洞，以免遮挡晶体片2的透过率。

如图1所示，所述六棱柱筒体部12与所述圆柱筒体部11连接的一端外侧设有：

端面密封槽6。

本申请提供的密封型红外测温镜头还包括：

凹槽密封圈7，所述凹槽密封圈7与所述端面密封槽6配合。

具体的，凹槽密封圈7与所述端面密封槽6配合可增加所述密封型红外测温镜头的密封型，防止法兰1内气体的溢出。

优选的，所述晶体片2采用：

高透过率、低衰减的材料制成。

具体的，采用高透过率、低衰减的材料能够降低对红外线的反射或者漫反射的问题，提高温度测量的准确率。

优选的，本申请中晶体片2采用氟化钡材料制成。

优选的，本申请中提供的回形密封圈3采用：

渐开线自力型反向密封圈。

具体的，采用渐开线自力型反向密封圈能够增强回形密封圈3与法兰1之间的密封型。

优选的，所述回形密封圈3采用三元乙丙胶材料制成。

优选的，所述法兰1采用不锈钢材料制成。

综上所述，本发明提供一种密封型红外测温镜头，采用不锈钢法兰、晶体片以及回形密封圈，将本申请提供的密封型红外测温镜头安装在高压开关外壳上，采用高透过率低衰减的晶体片，能够使得触头温度的红外波几乎不衰减的被温度传感器检测，通过非接触的方式保证高压开关设备的绝缘和密封性不受影响，同时又能保证测量数据在隔着玻璃测试时的准确性。

可以理解的是，上述提供的方法实施例与上述的密封型红外测温镜头实施例对应，相应的具体内容可以相互参考，在此不再赘述。

本领域内的技术人员应明白，本申请的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器和光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的密封型红外测温镜头。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令密封型红外测温镜头的制造品，该指令密封型红外测温镜头实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。