测试设备和测试系统的制作方法

[0001]
本发明涉及显示控制技术领域，尤其涉及一种测试设备和一种测试系统。


背景技术：

[0002]
在搭建较大的led显示屏时，通常是由多个箱体一个个拼接而成，搭建完成后再对led显示屏进行检测，测试led显示屏拼接是否正常，接收卡及箱体是否正常工作。现有技术中使用信号源输出设备通过发送卡连接接收卡和led显示屏，信号源输出设备可以输出简单的信号源至发送卡，使led显示屏显示测试画面。但信号源输出设备只能将信号源输出至发送卡，无法单独检测接收卡，同时，将信号源输出给发送卡再传输给接收卡，也无法准确定位是发送卡还是接收卡的问题。


技术实现要素：

[0003]
因此，为了克服现有技术中的缺陷和不足，本发明实施例提供一种测试设备和一种测试系统，以实现对接收卡的检测。
[0004]
一方面，本发明实施例提供的一种测试设备，包括：嵌入式处理器；发送卡电路，电连接所述嵌入式处理器；以及接收卡测试接口，电连接所述发送卡电路。
[0005]
本实施例采用嵌入式处理器连接发送卡电路和接收卡测试接口，使得测试设备可直接连接接收卡，测试设备发送信号源至接收卡供led显示屏显示，从而可实现对接收卡的检测。
[0006]
本发明的一个实施例中，所述发送卡电路包括：微处理器，电连接所述嵌入式处理器；可编程逻辑器件，电连接所述微处理器和所述嵌入式处理器，所述接收卡测试接口连接所述可编程逻辑器件；第一非易失性存储器，电连接所述微处理器和所述可编程逻辑器件。
[0007]
在本发明的一个实施例中，所述测试设备还包括第二非易失性存储器和/或输入源接口，所述第二非易失性存储器和/或所述输入源接口连接所述嵌入式处理器。
[0008]
在本发明的一个实施例中，所述测试设备还包括触控屏，电连接所述嵌入式处理器。
[0009]
在本发明的一个实施例中，所述接收卡测试接口包括第一接收卡测试接口和第二接收卡测试接口，所述第一接收卡测试接口和所述第二接收卡测试接口分别电连接所述可编程逻辑器件。
[0010]
在本发明的一个实施例中，所述测试设备还包括：输出选择电路，电连接在所述嵌入式处理器和所述可编程逻辑器件之间；发送卡测试接口，电连接所述输出选择电路。
[0011]
另一方面，本发明实施例提供的一种测试系统，包括：如前所述的测试设备；接收卡，电连接所述测试设备的所述接收卡测试接口。
[0012]
本实施例中的测试系统是采用测试设备连接接收卡，通过测试设备发送数据包、接收卡接收到数据包后判断是否响应，从而实现通路测试、定位通路中存在问题的接收卡。
[0013]
在本发明的一个具体实施例中，所述测试系统还包括：led显示屏，电连接所述接
收卡。
[0014]
再一方面，本发明实施例提供的一种测试系统，包括：如上述所述的测试设备；发送卡，电连接所述发送卡测试接口；接收卡，电连接所述发送卡；led显示屏，电连接所述接收卡。
[0015]
本实施例中的测试系统是采用测试设备连接发送卡，发送卡连接接收卡，接收卡连接led显示屏，通过测试设备发送信号源至发送卡使led显示屏进行显示，从而实现对发送卡的测试。
[0016]
又一方面，本发明实施例提供的一种测试系统，包括：如前所述的测试设备；接收卡，包括第一数据接口和第二数据接口，所述第一数据接口连接所述第一接收卡测试接口，所述第二数据接口连接所述第二接收卡测试接口。
[0017]
本实施例中的测试系统为测试设备通过第一接收卡测试接口和第二接收卡测试接口连接接收卡，形成通路，测试设备通过第一接收卡测试接口发送数据包，由第二接收卡测试接口接收数据包，通过对比发送数据包和接收数据包的差异，可计算出误码率，从而实现对通信质量的量化。
[0018]
综上所述，上述一个或多个技术方案可以具有以下优点或有益效果：通过嵌入式处理器连接发送卡电路和接收卡测试接口，使得测试设备可直接连接接收卡，测试设备发送信号源至接收卡使led显示屏显示，从而实现对接收卡的检测，简化了接收卡测试系统。其次，测试设备连接接收卡，通过测试设备发送数据包、接收卡接收到数据包后判断接收卡是否响应，从而实现通路中接收卡的测试，进一步定位通路中存在问题的接收卡。此外，通过测试设备连接发送卡，发送卡连接接收卡，接收卡连接led显示屏，通过测试设备发送信号源至发送卡使led显示屏进行显示，从而实现对发送卡的测试。再者，测试设备通过第一接收卡测试接口和第二接收卡测试接口连接接收卡，形成通路，测试设备通过第一接收卡测试接口发送数据包，由第二接收卡测试接口接收数据包，通过对比发送数据包和接收数据包的差异，可计算出误码率，从而实现对通信质量的量化。
附图说明
[0019]
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0020]
图1为本发明第一实施例提供的一种测试系统的结构示意图。
[0021]
图2为图1所示的测试设备的一种结构示意图。
[0022]
图3为本发明第一实施例提供的一种测试设备的另一结构示意图。
[0023]
图4为本发明第一实施例提供的另一种测试系统的结构示意图。
[0024]
图5为本发明第一实施例提供的一种测试设备的另一结构示意图。
[0025]
图6为本发明第一实施例提供的一种测试设备的再一结构示意图。
[0026]
图7为本发明第一实施例提供的一种测试设备的又一结构示意图。
[0027]
图8为本发明第二实施例提供的一种测试系统的结构示意图。
[0028]
图9为图8所示的测试设备的一种结构示意图。
[0029]
图10为本发明第三实施例提供的一种测试系统的结构示意图。
[0030]
图11为图10所示的测试设备的一种结构示意图。
具体实施方式
[0031]
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
[0032]
【第一实施例】
[0033]
参见图1，本发明第一实施例提供的一种测试系统包括：测试设备100和多个接收卡200，多个接收卡200与测试设备100串行连接(或称级联)。
[0034]
如图2所示，测试设备100例如包括嵌入式处理器110、发送卡电路120和接收卡测试接口130。发送卡电路120连接嵌入式处理器110，接收卡测试接口130连接发送卡电路120。嵌入式处理器110例如是arm(advanced risc machines)处理器，其具有体积小、低功耗、低成本、高性能等特点，可控制测试设备工作；接收卡测试接口130例如是以太网接口、光纤接口、同轴线缆接口，但本发明实施例并不以此为限。
[0035]
具体地，参见图3，发送卡电路120例如包括：可编程逻辑器件122和第一非易失性存储器123，第一非易失性存储器123连接嵌入式处理器110，可编程逻辑器件122连接第一非易失性存储器123和嵌入式处理器110，接收卡测试接口130连接可编程逻辑器件122。可编程逻辑器件122例如是现场可编程门阵列(field－programmable gate array，fpga)；第一非易失性存储器123例如是flash(flash eeprom，闪存)，但本发明实施例并不以此为限。
[0036]
如此一来，在上述测试系统中对接收卡200进行通路测试时，将接收卡200与测试设备100连接，多个接收卡200例如是串行连接(或称为级联)。操作人员控制测试设备100发送数据包至接收卡200，接收卡200接收所述数据包之后向测试设备100返回响应，当数据包传输至某一张接收卡200后测试设备100没有收到响应，则定位该接收卡200的通信存在问题，操作人员对此接收卡200进行检查。通过此系统实现了通路测试并可定位出通路中存在问题的接收卡。
[0037]
参见图4，本发明实施例提供的另一种测试系统，包括：测试设备100、接收卡200和led显示屏300，测试设备100连接接收卡200，接收卡200连接led显示屏300。测试设备100为如上述所述的测试设备100。此处的led显示屏300例如包括至少一个led灯板。具体地，在此测试系统中对接收卡200进行检测，通过测试设备100中的嵌入式处理器110发送测试指令，调用接收卡200的标准测试图像使其显示在led显示屏300上，通过判断led显示屏300上测试图像是否正常显示检测出接收卡200能否正常工作。当led显示屏300上测试图像显示正常时，表明接收卡200可正常工作；当led显示屏300上测试图像显示不正常时，表明接收卡200不能正常工作。其中接收卡200的标准测试图像例如为红色、绿色、蓝色等纯色图像及线条图像，但本发明实施例并不以此为限。另外，也可以通过测试设备100中的嵌入式处理器110调用自定义的图像或视频经过可编程逻辑器件122处理后，经过接收卡200发送至led显示屏300以供显示，通过判断led显示屏300上测试图像是否正常显示检测出接收卡200能否正常工作。
[0038]
具体地，参见图5，本发明实施例提供的测试设备100还包括微处理器121，微处理器121连接嵌入式处理器110，可编程逻辑器件122连接微处理器110和嵌入式处理器110，接收卡测试接口130连接可编程逻辑器件122，第一非易失性存储器123连接微处理器121和可编程逻辑器件122。微处理器121例如是mcu(micro control unit，微控制单元)；可编程逻辑器件122例如是现场可编程门阵列(field－programmable gate array，fpga)；第一非易失性存储器123例如是flash(flash eeprom，闪存)，但本发明实施例并不以此为限。此处也可以设置两个非易失性存储器，分别连接微处理器121和可编程逻辑器件122。
[0039]
参见图6，本发明实施例提供的测试设备100还包括第二非易失性存储器150和/或输入源接口140，第二非易失性存储器150和输入源接口140与嵌入式处理器110连接，输入源接口140例如为usb(universal serial bus，通用串行总线)接口，具体例如为usb2.0接口、usb3.0接口，第二非易失性存储器150例如为rom(read-onlymemory，只读存储器)，用于存储数据。具体地，测试设备100可通过输入源接口140输入图像、视频等数据源，测试设备100也可将输入的数据源保存在第二非易失性存储器150中。通过输入源接口140和第二非易失性存储器150提供了视频源输入的多种方式，使得用户使用更为方便。
[0040]
值得一提的是，测试设备100还可以根据用户输入的分辨率大小生成并输出对应大小的测试画面，测试画面例如包括：纯色画面、渐变画面和网格线画面，纯色画面支持选择0-255共256级灰度，渐变支持0-32、0-64、0-128、0-255的灰度渐变，网格线为白色线条，可设置0-255级的灰度，两个网格线之间的间隔可根据用户实际需要进行设置。
[0041]
参见图7，本发明实施例提供的测试设备100还包括触控屏160，触控屏160连接嵌入式处理器110，操作人员可通过触控屏160对测试设备100进行控制操作，同时使操作可视化。触控屏160例如是lcd触控屏，其提供了简单、方便、自然的人机交互方式。
[0042]
【第二实施例】
[0043]
参见图8，本发明第二实施例提供的一种测试系统，包括：测试设备100、接收卡200，其中接收卡200包括第一数据接口202和第二数据接口204。第一数据接口202和第二数据接口204例如是以太网接口、光纤接口、同轴线缆接口等。
[0044]
如图9所示，图8中所示的测试设备100包括：嵌入式处理器110、微处理器121、可编程逻辑器件122、第一非易失性存储器122、第一接收卡测试接口132和第二接收卡测试接口134，微处理器121连接嵌入式处理器110，可编程逻辑器件122连接微处理器110和嵌入式处理器110，第一非易失性存储器123连接微处理器121和可编程逻辑器件122，第一接收卡测试接口132和第二接收卡测试接口134分别连接可编程逻辑器件122。嵌入式处理器110例如是arm(advanced risc machines)处理器，其具有体积小、低功耗、低成本、高性能等特点，可控制测试设备工作；微处理器121例如是mcu(micro control unit，微控制单元)；可编程逻辑器件122例如是现场可编程门阵列(field－programmable gate array，fpga)；第一非易失性存储器123例如是flash(flash eeprom，闪存)，但本发明实施例并不以此为限。
[0045]
在上述测试系统中进行误码率检测，具体地，接收卡200的第一数据接口202连接测试设备100的第一接收卡测试接口132，接收卡200的第二数据接口204连接测试设备100的第二接收卡测试接口134，测试设备100与接收卡200形成通路连接，接收卡200可为多个。在具体的应用场景中，操作人员搭建完led显示屏后，一个网口连接的所有接收卡200级联且与测试设备100连接形成通路，操作人员控制测试设备通过第一接收卡测试接口132发送
多个数据包，所述数据包通过接收卡200传输后返回测试设备100，测试设备100通过第二接收卡测试接口134接收所述数据包，通过计算发送数据包和接收数据包的数量得出误码率，具体计算公式为：误码率＝(发送数据包数量-接收数据包数量)/发送数据包数量。通过上述测试系统及测试方式，可对接收卡通路的通信质量进行检测，量化通信质量。
[0046]
另外，上述测试系统还可对接收卡200通路进行测试，当接收卡200为多个时，具体地，操作人员控制测试设备100通过第一接收卡测试接口132和第二接收卡测试接口134分别发送数据包至接收卡200，接收卡200接收所述数据包之后向测试设备100返回响应，当数据包传输至某一张接收卡200后测试设备100没有收到响应，则定位该接收卡200的通信存在问题，操作人员对此接收卡200进行检查。通过此方式对接收卡通路中的接收卡200进行检测，可同时对两张接收卡200进行检测，大大提高了接收卡通路中接收卡200的检测效率。进一步地，测试设备100还可以设置有多个接收卡测试接口，以用于同时测试多张接收卡，进一步提升检测效率。
[0047]
【第三实施例】
[0048]
参见图10，本发明第三实施例提供的一种测试系统包括：测试设备100、发送卡400、接收卡200和led显示屏300，发送卡400连接测试设备100，接收卡200连接发送卡400，led显示屏300连接接收卡200。
[0049]
如图11所示，测试设备100包括：嵌入式处理器110、微处理器121、可编程逻辑器件122、第一非易失性存储器122、接收卡测试接口130、输出选择电路170和发送卡测试接口180，微处理器121连接嵌入式处理器110，可编程逻辑器件122连接微处理器110和嵌入式处理器110，第一非易失性存储器123连接微处理器121和可编程逻辑器件122，接收卡测试接口130连接可编程逻辑器件122，输出选择电路170连接在嵌入式处理器110和可编程逻辑器件122之间，发送卡测试接口180连接输出选择电路170。输出选择电路170例如是hdmi switch(high definition multimedia interface switch，高清多媒体接口开关)，实现单输入多输出接口时的单输出选择；或者输出选择电路170例如是hdmi(high definition multimedia interface，高清多媒体接口)一分二输出电路，实现单输入多输出，将单输入的信号源复制后实现多输出。嵌入式处理器110例如是arm(advanced risc machines)处理器，其具有体积小、低功耗、低成本、高性能等特点，可控制测试设备工作；微处理器121例如是mcu(micro control unit，微控制单元)；可编程逻辑器件122例如是现场可编程门阵列(field－programmable gate array，fpga)；第一非易失性存储器123例如是flash(flash eeprom，闪存)，但本发明实施例并不以此为限。
[0050]
在上述测试系统中进行发送卡400检测，具体地，操作人员控制测试设备100通过嵌入式处理器110发送测试图像至发送卡400，发送卡400将测试图像传输给接收卡200使led显示屏进行显示，通过判断led显示屏300上测试图像是否正常显示检测出发送卡400能否正常工作。当led显示屏300上测试图像显示正常时，表示发送卡400可正常工作；当led显示屏300上测试图像显示不正常时，表示发送卡400不能正常工作。当然，在此测试系统中，接收卡200需保证可正常工作。通过上述测试系统及测试方式，使得测试设备可代替pc，实现脱机检测发送卡。
[0051]
此外，可以理解的是，前述各个实施例仅为本发明的示例性说明，在技术特征不冲突、结构不矛盾、不违背本发明的发明目的前提下，各个实施例的技术方案可以任意组合、
搭配使用。
[0052]
在本发明所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的系统，装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多路单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
[0053]
作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多路网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
[0054]
另外，在本发明各个实施例中的各功能单元/模块可以集成在一个处理单元/模块中，也可以是各个单元/模块单独物理存在，也可以两个或两个以上单元/模块集成在一个单元/模块中。上述集成的单元/模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用硬件加软件功能单元/模块的形式实现。
[0055]
上述以软件功能单元/模块的形式实现的集成的单元/模块，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。上述软件功能单元存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)的一个或多个处理器执行本申请各个实施例所述方法的部分步骤。
[0056]
最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。