技术特征：
1.一种微发光二极管的检测装置，用于对设置在原始基板上的微发光二极管进行检测，所述微发光二极管远离所述原始基板的底部包括电极区域及非电极区域，所述电极区域设置有第一触点和第二触点；其特征在于，所述检测装置包括：检测基板和检测电路，其中：所述检测基板上设置有粘结层，所述粘结层用于测试时与所述微发光二极管的非电极区域粘结；所述检测电路包括设置于所述粘结层上的电极组，所述电极组包括第一电极及第二电极，所述第一电极用于测试时与所述微发光二极管的第一触点接触，所述第二电极用于测试时与所述微发光二极管的第二触点接触。2.根据权利要求1所述的微发光二极管的检测装置，其特征在于，所述粘结层为柔性粘结层，所述第一电极和所述第二电极均为柔性电极；测试时所述微发光二极管嵌入到所述柔性粘结层中，所述第一触点嵌入到所述第一电极中，所述第二触点嵌入到所述第二电极中。3.根据权利要求1所述的微发光二极管的检测装置，其特征在于，所述粘结层中设置有凹陷区，所述第一电极和所述第二电极设置于所述凹陷区内。4.根据权利要求1所述的微发光二极管的检测装置，其特征在于，所述检测电路包括多个电极组，每个电极组包括平行且相对设置的条状的第一电极和条状的第二电极；且多个电极组中的各第一电极相互平行，多个电极组中的各第二电极相互平行。5.根据权利要求4所述的微发光二极管的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括位于各所述第一电极的第一端且与各所述第一电极的第一端连接的第一电极输入部，以及位于各所述第二电极的第一端且与各所述第二电极的第一端连接的第二电极输入部；所述第二电极输入部与所述第一电极输入部相对设置。6.根据权利要求1所述的微发光二极管的检测装置，其特征在于，所述第一电极和所述第二电极为具有弹性的金属走线。7.根据权利要求1所述的微发光二极管的检测装置，其特征在于，所述第一电极和所述第二电极由金属型碳纳米管膜制成。8.根据权利要求1所述的微发光二极管的检测装置，其特征在于，所述第一电极为p电极，所述第二电极为n电极。9.一种微发光二极管的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：将设置有微发光二极管的原始基板置于检测基板的粘结层上方，且所述微发光二极管的第一触点与设置在所述粘结层上的第一电极正对设置，所述微发光二极管的第二触点与设置在所述粘结层上的第二电极正对设置；下压原始基板，使所述第一触点与所述第一电极接触，所述第二触点与所述第二电极接触，所述微发光二极管的非电极区域与所述粘结层粘结；剥离所述原始基板，使所述原始基板与所述微发光二极管分离；对所述第一电极及所述第二电极施加检测电压，并观察所述微发光二极管的发光亮度。10.根据权利要求9所述的微发光二极管的检测方法，其特征在于，所述微发光二极管的检测方法还包括：
在对所述第一电极和所述第二电极施加检测电压进行检测的过程中，利用光电探测器对所述微发光二极管的发光亮度进行检测，并生成不良微发光二极管的分布图；基于上述不良微发光二极管的分布图，利用转印头对合格的微发光二极管进行转移。