一种设备佩戴检测方法、装置、设备及可读存储介质与流程

本申请涉及可穿戴设备技术领域，特别是涉及一种设备佩戴检测方法、装置、可穿戴设备及可读存储介质。

背景技术：

在生活中越来越常见智能化的可穿戴设备，如头戴式耳机、安全帽、智能手环、vr设备等。对可穿戴设备进行佩戴状态检测，是实现功能多样化，提升用户体验的一个重要环节。例如，在头戴式耳机中设置佩戴检测装置，检测耳机佩戴动作，以实现佩戴动作控制播放的是否暂停。

为了减少生产设计成本和节省结构设计空间，单通道方案是佩戴状态检测的首选，即在可穿戴设备中装置一个电容传感器，并根据检测到的电容传感器的电容量变化，判断耳机佩戴动作。但是，通过单电容传感器方案进行佩戴检测，其佩戴动作检测通过传统阈值判断的方法检测准确度不高，易出现误判问题，影响用户体验。

综上所述，如何提高可穿戴设备佩戴检测的准确率等问题，是目前本领域技术人员急需解决的技术问题。

技术实现要素：

本申请的目的是提供一种设备佩戴检测方法、装置、可穿戴设备及可读存储介质，可提高可穿戴设备的佩戴状态检测的准确率。

为解决上述技术问题，本申请提供如下技术方案：

一种设备佩戴检测方法，包括：

获取可穿戴设备中的电容传感器的电容值和基值；

计算所述电容值与所述基值的差值绝对值；

利用所述差值绝对值确定所述可穿戴设备的佩戴状态。

优选地，利用所述差值绝对值确定所述可穿戴设备的佩戴状态，包括：

判断所述差值绝对值是否大于佩戴阈值；

如果是，则确定所述可穿戴设备处于佩戴状态；

如果否，则确定所述可穿戴设备处于未佩戴状态。

优选地，在采集多组所述电容值和所述基值时，计算所述电容值与所述基值的差值绝对值，包括：

计算当前采集周期内，各个所述基值的均值；

分别计算每一个所述电容值与所述均值的差值绝对值。

优选地，利用所述差值绝对值确定所述可穿戴设备的佩戴状态，包括：

分别为各个所述电容值设置标志位；

在所述电容值对应的差值绝对值大于佩戴阈值时，所述标志位置1；

在所述电容值对应的差值绝对值小于等于所述佩戴阈值时，所述标志位置0；

统计各个所述标志位，并利用统计结果确定所述可穿戴设备的佩戴状态。

优选地，所述利用统计结果确定所述可穿戴设备的佩戴状态，包括：

获取所述可穿戴设备的初始状态；

若所述初始状态为未佩戴，则在全部所述标志位均为1时，确定所述可穿戴设备处于已佩戴状态；

若所述初始状态为已佩戴，则在全部所述标志位均为0时，确定所述可穿戴设备处于未佩戴状态。

优选地，还包括：

判断所述基值是否超出预设范围；

如果是，则将所述基值恢复为固定值。

优选地，还包括：

在确定所述可穿戴设备处于未佩戴状态时，判断所述差值绝对值是否小于预设微调阈值；

如果是，则将所述基值更新为所述电容值。

一种设备佩戴检测装置，包括：

电容数据采集模块，用于获取可穿戴设备中的电容传感器的电容值和基值；

电容数据计算模块，用于计算所述电容值与所述基值的差值绝对值；

佩戴状态确定模块，用于利用所述差值绝对值确定所述可穿戴设备的佩戴状态。

一种可穿戴设备，包括：

电容传感器，用于在不同佩戴情况下，变化电容值；

电容检测芯片，用于获取所述电容传感器的电容值和基值；

存储器，用于存储计算机程序；

处理器，用于执行所述计算机程序时实现如上述设备佩戴检测方法的步骤。

一种可读存储介质，所述可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述设备佩戴检测方法的步骤。

应用本申请实施例所提供的方法，获取可穿戴设备中的电容传感器的电容值和基值；计算电容值与基值的差值绝对值；利用差值绝对值确定可穿戴设备的佩戴状态。考虑到在不同环境因素(如湿度、温度)下，可穿戴设备中的电容传感器的电容量会因环境因素变化而变化。而此时若仅基于当前的电容量与固定佩戴阈值进行比较，会出现误判的情况。因此，在方法中，在进行佩戴状态检测时，同时采集电容传感器的电容值和基值，并计算出电容值和基值之间的差值绝对值，即如果佩戴状态发生变化，该差值绝对值会出现较大的跳变，且在佩戴状态相对稳定的情况下，该差值绝对值也会保持在相对稳定的范围内。因此，在本方法中，可直接利用该差值绝对值确定出可穿戴设备的佩戴状态，可降低环境因素带来的影响，可提高佩戴状态检测的准确率。

相应地，本申请实施例还提供了与上述设备佩戴检测方法相对应的设备佩戴检测装置、可穿戴设备和可读存储介质，具有上述技术效果，在此不再赘述。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例中一种设备佩戴检测方法的实施流程图；

图2为本申请实施例中一种设备佩戴检测方法中基值调优跟踪示意图；

图3为本申请实施例中一种设备佩戴检测方法的具体实施示意图；

图4为本申请实施例中一种设备佩戴检测装置的结构示意图；

图5为本申请实施例中一种可穿戴设备的结构示意图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案，下面结合附图和具体实施方式对本申请作进一步的详细说明。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

实施例一：

请参考图1，图1为本申请实施例中一种设备佩戴检测方法的流程图，该方法包括以下步骤：

诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。

s101、获取可穿戴设备中的电容传感器的电容值和基值。

其中，可穿戴设备可具体为体积上能够容纳电容传感器和电容数据采集器件的可以穿戴的设备，如头戴式耳机、头盔(安全帽)、vr设备等。

电容数据采集器件即为能够采集电容传感器的电容值和基值的器件即可，如可具体为iqs620即容性、霍尔和感性传感器芯片，iqs620为一种多功能容性、霍尔效应和感性传感器芯片，针对那些需要任何或全部此类技术的应用器件(或称之为芯片)。

若采用iqs620对电容传感器采集电容数据时，basevalue是传感器芯片内部设置的一个初始值，其输出basevalue即基值。其中，形变指佩戴动作改变了电容的参数，使得电容传感器的电容值发生变化。

具体的，当采用iqs620采集电容值和基值时，iqs620输出的basevalue即基值，iqs620输出的targetvalue即电容值。

s102、计算电容值与基值的差值绝对值。

采集到电容值和基值之后，便可计算出电容值与基值的差值绝对值。

优选地，考虑到电容传感器在所处的环境突变，如佩戴者流汗，或因佩戴者佩戴部位出现瘙痒，而拨动可穿戴设备导致电容值发生突变，而使得差值绝对值出现不合理的变化，进而导致佩戴检测结果出错。为了解决这种偶发电容值变化而导致出现误判的情况，可采用采集多组电容值和基值的方式进行佩戴检测。在采集多组电容值和基值时，具体的佩戴检测实现过程，包括：

步骤一、计算当前采集周期内，各个基值的均值；

步骤二、分别计算每一个电容值与均值的差值绝对值。

在本实施例中，可设置每一次检测对应的采集周期，该采集周期可具体为采集指定组数的电容值和基值所耗时间。在本实施例中，可采用两组或两组以上的数据进行综合判定。具体的，当采集到多组不同时刻对应的电容值与基值时，可先计算出这多个基值对应的均值，然后计算出各个时刻对应的电容值与均值对应的差值绝对值。

s103、利用差值绝对值确定可穿戴设备的佩戴状态。

当差值绝对值较小时，可确定出该可穿戴设备的电容传感器未因佩戴动作导致电容值变化；当差值绝对值较大时，则可确定出该可穿戴设备的电容传感器因佩戴，电容传感器的参数产生变化，导致电容值发生较大变化。可见，利用该差值绝对值即可确定出该可穿戴设备的佩戴状态。

具体的，在实际检测过程中，可设置一个佩戴阈值，用于检测可穿戴设备是否因佩戴动作而使得电容传感器的电容值发生较大变化，其具体数值大小可通过对可穿戴设备的在不同的佩戴情况下(包括佩戴和未佩戴)进行数据采集分析而确定，如进行多组佩戴测试下，记录佩戴产生的多组相互独立的电容值与基值，进行统计各组电容值和基值对应的测试差值绝对值，取其最小值；或求得多组测试差值绝对值的均值，以该均值的90％(或其他比值，如80％)作为佩戴阈值。例如，最终确定后的佩戴阈值可具体为120，当然也可为其他数值，如100或115等数值。相应地，佩戴状态确定过程，包括：

步骤一、判断差值绝对值是否大于佩戴阈值；

步骤二、如果是，则确定可穿戴设备处于佩戴状态；

步骤三、如果否，则确定可穿戴设备处于未佩戴状态。

也就是说，当计算得到的差值绝对值为x，则可通过比较x与佩戴阈值120，确定出可穿戴设备的佩戴状态。即当x大于120，则确定可穿戴设备处于佩戴状态；当x小于等于120，则确定可穿戴设备处于未佩戴状态。

优选地，为了提高检测准确率，基于多组电容值和基值进行佩戴状态检测时，相应地，利用差值绝对值确定可穿戴设备的佩戴状态，可具体包括：

步骤一、分别为各个电容值设置标志位；

步骤二、在电容值对应的差值绝对值大于佩戴阈值时，标志位置1；

步骤三、在电容值对应的差值绝对值小于等于佩戴阈值时，标志位置0；

步骤四、统计各个标志位，并利用统计结果确定可穿戴设备的佩戴状态。

其中，标志位即标记与电容值对应的差值绝对值与判断阈值的对应关系。即，当差值绝对值大于佩戴阈值时，则将该标志位置1；当差值绝对值小于或等于佩戴阈值时，则将该标志为置0。最终统计各个标志位的数值情况，便可确定出可穿戴设备的佩戴状态。

其中，步骤四可具体为：

步骤1、获取可穿戴设备的初始状态；

步骤2、若初始状态为未佩戴，则在全部标志位均为1时，确定可穿戴设备处于已佩戴状态；

步骤3、若初始状态为已佩戴，则在全部标志位均为0时，确定可穿戴设备处于未佩戴状态。

其中，可穿戴设备的初始状态可为已佩戴或未佩戴。当初始状态为未佩戴，可仅在全部标志位均为1时，确定可穿戴设备处于已佩戴状态，否则确定可穿戴设备仍然处于未佩戴状态。

当可穿戴设备的初始状态为已佩戴状态，可仅在全部标志为均为0时，确定可穿戴设备处于未佩戴状态，否则确定可穿戴设备仍然处于佩戴状态。

当然，在本申请实施例的具体实施时，差值绝对值大于佩戴阈值时，则将该标志位置0；当差值绝对值小于或等于佩戴阈值时，则将该标志为置1，最终基于标志位确定可穿戴设备是否佩戴的具体实现可参照与此，在此不再一一赘述。

确定可穿戴设备是否佩戴，可基于该可穿戴设备设置具体的功能，实现相应的操作。例如，当可穿戴设备为头戴式耳机，在检测到当前处于未佩戴状态可暂停耳机播放声音，而检测到处于已佩戴状态继续耳机播放声音；当可穿戴设备为头盔，在检测到当前处于未佩戴状态可通过闪烁警示灯或输出报警提示声音的方式及时提醒佩戴头盔。

应用本申请实施例所提供的方法，获取可穿戴设备中的电容传感器的电容值和基值；计算电容值与基值的差值绝对值；利用差值绝对值确定可穿戴设备的佩戴状态。考虑到在不同环境因素(如湿度、温度)下，可穿戴设备中的电容传感器的电容量会因环境因素变化而变化。而此时若仅基于当前的电容量与固定佩戴阈值进行比较，会出现误判的情况。因此，在方法中，在进行佩戴状态检测时，同时采集电容传感器的电容值和基值，并计算出电容值和基值之间的差值绝对值，即如果佩戴状态发生变化，该差值绝对值会出现较大的跳变，且在佩戴状态相对稳定的情况下，该差值绝对值也会保持在相对稳定的范围内。因此，在本方法中，可直接利用该差值绝对值确定出可穿戴设备的佩戴状态，可降低环境因素带来的影响，可提高佩戴状态检测的准确率。

需要说明的是，基于上述实施例，本申请实施例还提供了相应的改进方案。在优选/改进实施例中涉及与上述实施例中相同步骤或相应步骤之间可相互参考，相应的有益效果也可相互参照，在本文的优选/改进实施例中不再一一赘述。

优选地，考虑到受到环境温度、佩戴方式等因素影响，电容传感器芯片输出的基值数据会发生变化，当获取准确的电容量时，基值数据的变化会使差值绝对值偏大或偏小，直接影响最终检测结果。为了减小基值数据变化造成误判的风险，提高检测准确性，本申请基于上述实施例一的基础上提出了基值自动跟踪和基值自动调优方式。具体调优方式包括：

关于基值自动调优，具体为判断基值是否超出预设范围；如果是，则将基值恢复为固定值。

即，在本方式中，还可设置一个基值对应的范围，基值对应的固定值。当采集得到的基值超出预设范围后，可将该基值恢复为固定值。其中，基值范围可为(750，850)，基值对应固定值可为800。当然，在实际应用中，基值范围和基值对应的固定值，还可根据具体采用的电容传感器的型号、环境情况而具体设定。

关于基值自动跟踪，具体为在确定可穿戴设备处于未佩戴状态时，判断差值绝对值是否小于预设微调阈值；如果是，则将基值更新为电容值。基值调整之后用于下次检测，提高检测准确率。

即，在本方式中，还可预设一个微调阈值，在确定可穿戴设备处于未佩戴状态时，在差值绝对值小于预设微调阈值时，直接将基值更新为电容值。

在实际应用中，可将上述两种基值调优方式结合起来进行应用。例如，设定未佩戴：doff，佩戴：don。而doff状态下电容量数值根据电路设计大约为800左右。don状态下电容量数值会有所不同。

正常doff状态下检测数据：(电容量，基值)为(793，799)，差值为3小于120(即佩戴阈值)判断为doff，且差值绝对值小于阈值15(即微调阈值)，调整基值为此时电容量数值793。

正常don状态下检测数据；(电容量，基值)为(653，794)，差值为141大于120判断为don；

如果读出(电容量，基值)为(733，853)，此时超出基值范围750-850，基值调整为800。

其中，将基值设置为固定值或电容值，可具体为向传感器采集设备发送指令，将基值更改为固定值或电容值。如此，便可解决基值因环境变化而变化，从而导致检测结果不准确的问题。

实施例二：

为便于本领域技术人员更好地理解本申请实施例所提供的设备佩戴检测方法，下面以可穿戴设备为头戴式耳机(本文中同耳机)，电容数据采集器件为电容传感器芯片，如iqs620的应用场景为例，对该设备佩戴检测方法进行详细说明。

在耳机装置单一电容传感器条件下，减小误判断，提高佩戴检测的准确率，可提高电容传感器芯片输出数据的准确性，有更好的检测准度，提高佩戴体验感。

在本实施例中，targetvalue表示头戴式耳机中的主处理器芯片获取的电容传感器的电容参数，即电容量，电容量的值与佩戴状态和电子设计有关，如未佩戴状态下与基值基本一致。

请参考图2，图2为本申请实施例中一种设备佩戴检测方法中基值调优跟踪示意图；basevalue为在传感器芯片内部设置的一个初始值，称为基值，受温度、湿度等环境的影响有所变化，同时，这个数值对检测灵敏度也有一定的影响。

其中，minvalue和maxvalue为对基值要求的上下门限，其数值由佩戴检测电路决定；defaultbasevalue根据电路设计得到的一个固定电容值；a为基值处理中的一个阈值，由电容检测装置的设计决定大小，相对于佩戴状态检测的阈值比较小。

其中步骤s201获取电容传感器的检测数据，包括电容值targetvalue和基值basevalue。

该方法中，由主处理芯片获取电容传感器的检测数据，该检测数据为该电容传感器的检测信号进行采样得到的数据。

在获取到检测数据后转到步骤s202，首先对basevalue进行判断。具体的，如果basevalue在预设的基值范围内，basevalue保持不变，直接转到步骤s204处理，如果超出预设的范围，则转移到步骤s203，对basevalue进行处理，使其恢复为固定的电容值defaultbasevalue，主处理芯片发送指令到电容传感器芯片，对寄存器数值进行修改。步骤s202对基值和电容值的比较和步骤s203对基值的处理为基值的自动调优方案。

其中，步骤s202和步骤s203的处理为基值的自动调优方案，其中预设范围的下限minvalue和上限maxvalue根据检测电路选择的合适数值，固定电容值defaultbasevalue根据具体的检测电路和检测灵敏度的要求选择其数值大小。

当基值处理转移到步骤s204处，对处理之后的基值和获取的电容值作差值，如果差值的绝对值小于阈值，对基值赋予此时的电容量数值，主处理芯片发送指令到传感器芯片，对寄存器数值进行修改，也就是步骤s205的操作。步骤s204对基值和电容值的比较和步骤s205对基值的处理为基值的自动跟踪方案。

通过执行上述步骤对基值进行处理，可使基值不会有大的波动，而保持一个相对稳定的范围。基值的稳定保证了通过比较电容量和基值判断佩戴状态检测方法的准确性。

如图3所示，设备佩戴状态检测流程如下：

当发生改变佩戴状态操作时，主处理芯片检测到有佩戴状态的改变，并记录下初始佩戴状态，如步骤s301。接着执行步骤s302获取电容传感器连续的三个检测数据，包括电容量：targetvalue1，targetvalue2，targetvalue3和基值basevalue1，basevalue2，basevalue3。

此时主处理芯片获取到检测数据，但是对佩戴状态的改变不做出判决，转移执行到步骤s303，即取三个基值basevalue1，basevalue2，basevalue3的平均值basevalue，然后电容量targetvalue1，targetvalue2，targetvalue3分别与basevalue作差值绝对值，其差值绝对值大于所设定阈值，标志位flag为1，反之flag为0。

步骤s304执行完之后得到三个状态标志位，步骤s305根据标志位判断当前佩戴状态，具体的，若全部标志位flag为1表示戴上状态，否若全部标志位flag为0表示摘下状态。优选地，步骤s306还可以结合步骤s301记录的初始佩戴状态和步骤s305得到的当前佩戴状态判断佩戴状态是否改变，如下分别对初始状态为摘下和戴上两种状态进行说明：

初始状态为摘下状态，若得到的三个标志位flag1，flag2，flag3都为1，表明当前耳机佩戴状态为戴上状态，此时主处理芯片认定佩戴状态的改变有效，判定耳机为戴上状态。若得到的三个标志位flag1，flag2，flag3有一个不为1，判定当前耳机佩戴状态为摘下状态，不做出佩戴状态改变的判断；

初始状态为戴上状态，若得到的三个标志位flag1，flag2，flag3都为0，表明当前耳机佩戴状态为摘下状态，此时主处理芯片认定佩戴状态的改变有效，判定耳机为摘下状态。若得到的三个标志位flag1,flag2,flag3有一个不为0，判定当前耳机佩戴状态为戴上状态，不做出佩戴状态改变的判断。

以上对佩戴状态改变的判断方法，可有效避免耳机耳套位置沾水、汗渍或者耳机放置于桌面或金属导体上等一些极端应用情况下的误佩戴或误脱落在佩戴检测时出现的误判问题，可提高耳机佩戴检测的准确度。

可见，本申请提供的耳机佩戴检测方法，通过对基值数据的处理和佩戴状态改变检测的多点判断，可以有效的检测耳机的佩戴状态以及佩戴状态是否发生改变。在不改变耳机单一电容传感器装置的条件下，提高了佩戴检测性能，有效的降低了佩戴检测方案的耳机的生产成本。

实施例三：

相应于上面的方法实施例，本申请实施例还提供了一种设备佩戴检测装置，下文描述的设备佩戴检测装置与上文描述的设备佩戴检测方法可相互对应参照。

参见图4所示，该装置包括以下模块：

电容数据采集模块101，用于获取可穿戴设备中的电容传感器的电容值和基值；

电容数据计算模块102，用于计算电容值与基值的差值绝对值；

佩戴状态确定模块103，用于利用差值绝对值确定可穿戴设备的佩戴状态。

应用本申请实施例所提供的装置，获取可穿戴设备中的电容传感器的电容值和基值；计算电容值与基值的差值绝对值；利用差值绝对值确定可穿戴设备的佩戴状态。考虑到在不同环境因素(如湿度、温度)下，可穿戴设备中的电容传感器的电容量会因环境因素变化而变化。而此时若仅基于当前的电容量与固定佩戴阈值进行比较，会出现误判的情况。因此，在装置中，在进行佩戴状态检测时，同时采集电容传感器的电容值和基值，并计算出电容值和基值之间的差值绝对值，即如果佩戴状态发生变化，该差值绝对值会出现较大的跳变，且在佩戴状态相对稳定的情况下，该差值绝对值也会保持在相对稳定的范围内。因此，在本装置中，可直接利用该差值绝对值确定出可穿戴设备的佩戴状态，可降低环境因素带来的影响，可提高佩戴状态检测的准确率。

在本申请的一种具体实施方式中，佩戴状态确定模块103，具体用于判断差值绝对值是否大于佩戴阈值；如果是，则确定可穿戴设备处于佩戴状态；如果否，则确定可穿戴设备处于未佩戴状态。

在本申请的一种具体实施方式中，电容数据计算模块102，具体用于在采集多组电容值和基值时，计算当前采集周期内，各个基值的均值；分别计算每一个电容值与均值的差值绝对值。

在本申请的一种具体实施方式中，佩戴状态确定模块103，具体用于分别为各个电容值设置标志位；在电容值对应的差值绝对值大于佩戴阈值时，标志位置1；在电容值对应的差值绝对值小于等于佩戴阈值时，标志位置0；统计各个标志位，并利用统计结果确定可穿戴设备的佩戴状态。

在本申请的一种具体实施方式中，佩戴状态确定模块103，具体用于获取可穿戴设备的初始状态；若初始状态为未佩戴，则在全部标志位均为1时，确定可穿戴设备处于已佩戴状态；若初始状态为已佩戴，则在全部标志位均为0时，确定可穿戴设备处于未佩戴状态。

在本申请的一种具体实施方式中，基值自动调优模块，用于判断基值是否超出预设范围；如果是，则将基值恢复为固定值。

在本申请的一种具体实施方式中，基值自动跟踪模块，用于在确定可穿戴设备处于未佩戴状态时，判断差值绝对值是否小于预设微调阈值；如果是，则将基值更新为电容值。

实施例四：

相应于上面的方法实施例，本申请实施例还提供了一种可穿戴设备，下文描述的一种可穿戴设备与上文描述的一种设备佩戴检测方法可相互对应参照。

参见图5所示，该可穿戴设备包括：

电容传感器d1，用于在不同佩戴情况下，变化电容值；

电容检测芯片d2，用于获取所述电容传感器的电容值和基值；

存储器d3，用于存储计算机程序；

处理器d4，用于执行所述计算机程序时实现如上述设备佩戴检测方法的步骤。

上文所描述的设备佩戴检测方法中的步骤可以由可穿戴设备的结构实现。

实施例五：

相应于上面的方法实施例，本申请实施例还提供了一种可读存储介质，下文描述的一种可读存储介质与上文描述的一种设备佩戴检测方法可相互对应参照。

一种可读存储介质，可读存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述方法实施例的设备佩戴检测方法的步骤。

该可读存储介质具体可以为u盘、移动硬盘、只读存储器(read-onlymemory，rom)、随机存取存储器(randomaccessmemory，ram)、磁碟或者光盘等各种可存储程序代码的可读存储介质。

专业人员还可以进一步意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本申请的范围。