技术总结
本发明涉及一种平面波导阵列光栅解复用器的测试制具及其测试方法，其治具包括底座、竖直挡板、三维调节架、吸附组件和负压组件，竖直挡板设置在底座上，竖直挡板的上端设有定位治具，三维调节架滑动设置在底座上并位于竖直挡板的一侧，且当三维调节架滑动至与竖直挡板接触时，吸附组件将二者连接固定，竖直挡板上表面设有真空吸附治具，真空吸附治具的上表面设有条形槽，且条形槽内的一端底壁与负压组件连通。本发明通过吸附组件配合负压组件将待测平面博导阵列光栅解复用器固定于三维调节架上，并通过三维调节架来回移动，方便放入和取出，不容易在定位时发生破损，不会在测试结束后取出时发生碰撞导致破损，大大提高了测试效率，保证产品质量。
技术研发人员：余创;黄望隆
受保护的技术使用者：武汉驿路通科技股份有限公司
技术研发日：2019.11.08
技术公布日：2020.02.11