一种探针卡槽盒的制作方法

本实用新型属于量子芯片检测设备领域，特别是一种探针卡槽盒。

背景技术：

量子芯片是量子计算机的基本构成单元，是以量子态的叠加效应为原理，以量子比特为信息处理的载体的处理器，量子芯片主要包含超导量子芯片、半导体量子芯片、量子点芯片、离子阱及nv(金刚石)色心等。

在之前申请的专利中提供了一种量子芯片测试装置，包括量子芯片放置台、探针装置和检测装置；述量子芯片放置台表面开有若干用于放置量子芯片的卡槽；所述探针装置包括用于安装所述量子芯片放置台的探针座、至少一对探针和探针移动装置，所述探针固定在所述探针移动装置上，并在所述探针移动装置的带动下移动至所述卡槽的上方并与放置在所述卡槽内的量子芯片接触；所述检测装置与所述探针电连接；其通过移动探针使得探针直接与量子芯片的极板接触的方式进行检测。

现有技术的问题在于，通过移动探针直接与量子芯片的极板接触，由于探针触头较小，与所述量子芯片表面的接触点比较细微，与量子芯片表面接触不够稳定，并且探针与量子芯片表面的接触压力不好控制，如果压力过大可能会对量子芯片造成结构损坏，同时，裸露的量子芯片容易受到外界环境的干扰。

技术实现要素：

本实用新型的目的是提供一种探针卡槽盒，以解决现有技术中的不足，它能够避免采用移动探针与量子芯片表面极板直接接触的方式对量子芯片进行检测，对量子芯片的检测更加安全、稳定。

一种探针卡槽盒，所述探针卡槽盒包括底板、盖板和连接器；

所述底板上开有若干用于放置量子芯片的卡槽；

所述盖板可拆卸盖在所述底板上开有卡槽的表面，所述盖板上与所述底板上的各所述卡槽相对位置处开有通孔；

各所述连接器分别可拆卸安装在所述盖板上的各所述通孔内，所述连接器远离底板的一端设有探针接头，靠近底板的一端设有一对接触针，各所述接触针在所述盖板盖合在所述底板上后，分别与放置在所述卡槽内的量子芯片的正极板和负极板接触并电连。

进一步的，所述底板和所述盖板均由绝缘材料制成。

进一步的，各所述卡槽为矩形沉槽。

进一步的，所述底板上的各所述卡槽以若干行若干列的形式均匀设置在所述底板的表面，其中：每一行中两相邻所述卡槽间的距离相等，每一列中两相邻所述卡槽间的距离相等。

进一步的，各所述卡槽均相对于每一行所述卡槽或者每一列所述卡槽的排列方向倾斜设置。

进一步的，所述底板的内部设有中空的腔体，所述底板远离所述卡槽的表面开有第一气孔，所述底板上各所述卡槽的底部开有第二气孔，所述第一气孔和所述第二气孔均与所述腔体连通。

进一步的，所述盖板与所述底板盖合后在同一侧铰接、与所述铰接的一侧相对的另一侧可拆卸连接。

进一步的，所述盖板与所述底板盖合后在与所述铰接的一侧相对的另一侧可拆卸连接的连接位置处分别设置第一磁铁和第二磁铁，所述第一磁铁和所述第二磁铁通过磁力连接。

进一步的，所述连接器为sma连接器。与现有技术相比，本实用新型提供了一种探针卡槽盒，通过在底板上开设放置量子芯片的卡槽，卡槽可以更好的对量子芯片进行限位，在底板上方设置盖板，盖板盖合在底板上，量子芯片在封闭的盒体内可以避免外界环境的干扰，在盖板上与卡槽相对位置处开设通孔，在通孔内安装连接器，连接器上的一对接触针与所述量子芯片的正极板和负极板接触导通，检测量子芯片时，只需将连接器的探针接头接通即可，相比直接使用探针与量子芯片表面的极板接触更加容易，同时避免了使用探针直接接触量子芯片的正极板和负极板时的接触压力对量子芯片表面造成的损坏。

附图说明

图1是本实用新型实施例一种探针卡槽盒的立体结构示意图；

图2是图1中所述盖板和所述底板盖合后的结构示意图；

图3是本实用新型另一种实施例一种探针卡槽盒的立体结构示意图。

具体实施方式

下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本实用新型，而不能解释为对本实用新型的限制。

实施例1

结合附图1和图2，本实用新型的实施例1提供了一种探针卡槽盒，所述探针卡槽盒包括底板10、盖板20和连接器30；所述底板10上开有若干用于放置量子芯片的卡槽11；

所述盖板20可拆卸盖在所述底板10上开有卡槽11的表面，所述盖板20上与所述底板10上的各所述卡槽11相对位置处开有通孔(图未示)；各所述连接器30分别可拆卸安装在所述盖板20上的各所述通孔内，所述连接器30远离底板10的一端设有探针接头31，靠近底板10的一端设有一对接触针32，各所述接触针32在所述盖板20盖合在所述底板10上后，分别与放置在所述卡槽11内的量子芯片的正极板和负极板接触并电连。

与现有技术相比，本实用新型提供了一种探针卡槽盒，通过在底板上开设放置量子芯片的卡槽，卡槽可以更好的对量子芯片进行限位，在底板上方设置盖板，盖板盖合在底板上，量子芯片在封闭的盒体内可以避免外界环境的干扰，在盖板上与卡槽相对位置处开设通孔，在通孔内安装连接器，连接器上的一对接触针与所述量子芯片的正极板和负极板接触导通，检测量子芯片时，只需将连接器的探针接头接通即可，相比直接使用探针与量子芯片表面的极板接触更加容易，同时避免了使用探针直接接触量子芯片的正极板和负极板时的接触压力对量子芯片表面造成的损坏。

具体的，所述底板10和所述盖板20均由绝缘材料制成，通过采用绝缘材料可以有效保障量子芯片在测试时不受干扰。

实施例2

结合附图1和图2，本实施例2提供了一种探针卡槽盒，其在是实施例1的基础上，进一步的，所述卡槽11为矩形沉槽，考虑到目前量子芯片的形状大都为矩形，从而设置成矩形沉槽可以更好的将量子芯片进行限位，从而提高所述连接器30上的所述接触针32与量子芯片上极板接触位置定位的精准程度。

更进一步的，所述底板10上的各所述卡槽11以若干行若干列的形式均匀设置在所述底板10的表面，其中：每一行中两相邻所述卡槽11间的距离相等，每一列中两相邻所述卡槽11间的距离相等，如此设置，一是提高底板10容纳量子芯片数量的能力，二是均匀间隔便于后期加装自动化设备时可能更好的控制移动进给量，三是降低制作成本。

更进一步的，如图1所示，各所述卡槽11均相对于每一行所述卡槽11或者每一列所述卡槽11的排列方向倾斜设置，通过倾斜排布设置，相较于边沿平行设置，可以大大方便量子芯片的放入和取出。

实施例3

结合附图1、图2和图3，本实施例3提供了一种探针卡槽盒，其在实施例2的基础上，进一步的：

所述底板10的内部设有中空的腔体(图未示)，所述底板10远离所述卡槽11的表面开有第一气孔(图未示)，所述底板10上各所述卡槽11的底部开有第二气孔12，所述第一气孔和所述第二气孔12均与所述腔体连通，如此设置的好处在于，当配合使用风机时，将风机的吸风管的进风口与所述第二气孔12连通，启动风机，在所述腔体内形成负压，即可将放置于所述卡槽11上的量子芯片更好的吸附在所述卡槽11内。

实施例4

本实施例4提供了一种探针卡槽盒，其在实施例3的基础上，进一步的：

所述盖板20与所述底板10盖合后在同一侧铰接、与所述铰接的一侧相对的另一侧可拆卸连接，设置铰接连接，可以方便所述盖板20在所述底板10上的盖合。

更进一步的，所述盖板20与所述底板10盖合后在与所述铰接的一侧相对的另一侧可拆卸连接的连接位置处分别设置第一磁铁(图未示)和第二磁铁(图未示)，所述第一磁铁和所述第二磁铁通过磁力连接，方便使用。

更进一步的，所述连接器30是sma连接器，针对量子芯片采用sma连接器，性能更加稳定，需要说明的是，本实用新型所述连接器30并不限于sma连机器，任何能够实现量子芯片与检测装置连接的连接器均可以作为本实用新型所述连接器30的具体实施结构。

以上依据图式所示的实施例详细说明了本实用新型的构造、特征及作用效果，以上所述仅为本实用新型的较佳实施例，但本实用新型不以图面所示限定实施范围，凡是依照本实用新型的构想所作的改变，或修改为等同变化的等效实施例，仍未超出说明书与图示所涵盖的精神时，均应在本实用新型的保护范围内。