屏蔽膜电感治具及电阻检测装置的制作方法

本实用新型属于pcb板测试装置技术领域，尤其涉及一种屏蔽膜电感治具及电阻检测装置。

背景技术：

随着人们生活水平的提升，电子产品日益进入人们的日常生活中，电路板在手机、笔记本、pda等消费性电子产品中的使用极为广泛，电路板因制程较复杂，且工艺要求较高，容易出现电路板线路、功能等不良，若不良品组装到产品中，将严重影响该产品功能；因此在组装前需要对电路板进行鉴别。但是，现有的对电路板的电阻进行测试的技术容易受到外界电磁信号的影响，导致测试电阻值不精确，进而导致所测试的产品有缺陷，性能不稳定。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供一种屏蔽膜电感治具及电阻检测装置，旨在解决现有技术对电路板的测试容易受到外界电磁信号影响的技术问题。

为实现上述目的，本实用新型实施例提供的一种屏蔽膜电感治具，包括上治具模板、下治具模板、上屏蔽磁芯块、下屏蔽磁芯块和若干测试探针；所述上屏蔽磁芯块设置在所述上治具模板的底部，所述下屏蔽磁芯块设置在所述下治具模板顶部，所述上屏蔽磁芯块和所述下屏蔽磁芯块镜像设置，所述上屏蔽磁芯块和所述下屏蔽磁芯块压合时形成用于放置检测电路板且前后贯通的容纳腔，各所述测试探针均设置在所述下治具模板的底部，各所述测试探针的一端均穿过且伸出所述下屏蔽磁芯块上表面以用于与待测电路板导电，各所述测试探针的另一端伸出所述下治具模板下表面以用于与测试仪连接。

优选地，所述上屏蔽磁芯块和所述下屏蔽磁芯块均呈“凵”字型结构，“凵”字型结构的所述上屏蔽磁芯块和所述下屏蔽磁芯块压合时形成的所述容纳腔呈矩形。

优选地，所述上屏蔽磁芯块和所述下屏蔽磁芯块中均设置有用于平衡所述上屏蔽磁芯块和所述下屏蔽磁芯块受力的支撑凸台。

优选地，位于所述上屏蔽磁芯块的所述支撑凸台处于所述上屏蔽磁芯块的正中心位置，位于所述下屏蔽磁芯块的所述支撑凸台处于所述下屏蔽磁芯块的正中心位置。

优选地，所述上屏蔽磁芯块粘接于所述上治具模板的底部，所述下屏蔽磁芯块粘接于所述下治具模板的顶部。

优选地，所述上治具模板和所述下治具模板的面积均大于所述上屏蔽磁芯块和所述下屏蔽磁芯块的面积。

优选地，所述上屏蔽磁芯块和所述下屏蔽磁芯块的厚度均为3mm。

优选地，所述上屏蔽磁芯块和所述下屏蔽磁芯块均采用铁氧体制成。

优选地，所述上治具模板和所述下治具模板均采用不锈钢材料制成。

本实用新型实施例提供的屏蔽膜电感治具中的上述一个或多个技术方案至少具有如下技术效果之一：

将治具装在压床上，上治具模板装压床上部固定，下治具模板装压床下部固定，伸出下治具模板下表面的探针与测试仪器相连接，待测产品放在下屏蔽芯块上，压床上部下压，使得上治具模板与下治具模板压合，伸出下屏蔽磁芯块上表面的测试探针与产品接触，上治具模板与下治具模板压合的时候，上屏蔽磁芯块和下屏蔽磁芯块形成前后贯通的容纳腔，容纳腔包围产品的四周，使外界的电磁信号无法进入到容纳腔中，从而起到防干扰的目的，同时可以减少待侧区域内的信号扩散，从而达到所测试物体低阻值的精确度和准确性。保证了待测物体的稳定性安全性。

本实用新型还提供一种电阻检测装置，包括压床、低阻值测试仪和上述的屏蔽膜电感治具，所述屏蔽膜电感治具安装在所述压床上，各所述测试探针的另一端和所述低阻值测试仪连接。

本实用新型实施例提供的电阻检测装置中的上述一个或多个技术方案至少具有如下技术效果之一：

由于本实用新型的电阻检测装置采用了上述的屏蔽膜电感治具，在对产品进行电阻值检测的时候，所测试物体低阻值直接在低阻值测试仪上显示，屏蔽膜电感治具可以减少待侧区域内的信号扩散，从而达到所测试物体低阻值的精确度和准确性。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型实施例提供的屏蔽膜电感治具的结构示意图。

图2为图1提供的屏蔽膜电感治具的另一结构示意图。

图3为图1提供的屏蔽膜电感治具的分解示意图。

其中，图中各附图标记：

1—上治具模板2—下治具模板3—上屏蔽磁芯块

4—下屏蔽磁芯块5—测试探针6—产品

7—容纳腔8—支撑凸台。

具体实施方式

下面详细描述本实用新型的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本实用新型的实施例，而不能理解为对本实用新型的限制。

在本实用新型实施例的描述中，需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型实施例和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型实施例的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

在本实用新型实施例中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型实施例中的具体含义。

在本实用新型的一个实施例中，如图1～3所示，提供一种屏蔽膜电感治具，包括上治具模板1、下治具模板2、上屏蔽磁芯块3、下屏蔽磁芯块4和若干测试探针5；所述上屏蔽磁芯块3设置在所述上治具模板1上，所述下屏蔽磁芯块4设置在所述下治具模板2上，所述上屏蔽磁芯块3和所述下屏蔽磁芯块4镜像设置，所述上屏蔽磁芯块3和所述下屏蔽磁芯块4压合时形成用于放置检测产品且前后贯通的容纳腔7，各所述测试探针5均设置在所述下治具模板2中，各所述测试探针5的一端均穿过且伸出所述下屏蔽磁芯块4上表面以用于与待测产品6导电，各所述测试探针5的另一端伸出所述下治具模板2下表面以用于与测试仪连接。

具体地，将治具装在压床上，上治具模板1装压床上部固定，下治具模板2装压床下部固定，伸出下治具模板2下表面的探针与测试仪器相连接，待测产品6放在下屏蔽磁芯块4上，压床上部下压，使得上治具模板1与下治具模板2压合，伸出下屏蔽磁芯块4上表面的测试探针5与产品6接触，上治具模板1与下治具模板2压合的时候，上屏蔽磁芯块3和下屏蔽磁芯块4形成前后贯通的容纳腔7，容纳腔7包围产品6的四周，使外界的电磁信号无法进入到容纳腔7中，从而起到防干扰的目的，同时可以减少待侧区域内的信号扩散，从而达到所测试物体低阻值的精确度和准确性。保证了待测物体的稳定性安全性。

在本实用新型的另一个实施例中，如图2～3所示，所述上屏蔽磁芯块3和所述下屏蔽磁芯块4均呈“凵”字型结构，“凵”字型结构的所述上屏蔽磁芯块3和所述下屏蔽磁芯块4压合时形成矩形的容纳腔7。

具体地，呈“凵”字型结构的上屏蔽磁芯块3和下屏蔽磁芯块4的安装面为平面，使得更加快速方便地对上屏蔽磁芯块3和下屏蔽磁芯块4安装或者拆卸，降低工作的难度，提高工作效率，且形成的容纳腔7为矩形形状，与产品6形状相适配，防止产品6在检测过程中位移导致检测结果不精确，进一步提高了屏蔽膜电感治具的检测精确度。

在本实用新型的另一个实施例中，如图2～3所示，所述上屏蔽磁芯块3和所述下屏蔽磁芯块4中分别设置有用于平衡所述上屏蔽磁芯块3和所述下屏蔽磁芯块4受力的支撑凸台8。

具体地，由于产品6设有落空位置，上屏蔽磁芯块3和下屏蔽磁芯块4对应产品6的落空位置设置支撑凸台8，在上屏蔽磁芯块3和下屏蔽磁芯块4压合的时候，能够平衡上屏蔽磁芯块3和下屏蔽磁芯块4之间的受力，避免上屏蔽磁芯块3和下屏蔽磁芯块4的某个位置受力较大，延长了治具的使用寿命。

在本实用新型的另一个实施例中，如图1～3所示，所述上治具模板1和所述下治具模板2的面积均大于所述上屏蔽磁芯块3和所述下屏蔽磁芯块4。

具体地，由于上治具模板1和下治具模板2的面积均大于上屏蔽磁芯块3和下屏蔽磁芯块4的面积，在压合的时候，在满足将产品6包围在容纳腔7的情况下，防止上屏蔽磁芯块3和下屏蔽磁芯块4受到较大的压力，影响上屏蔽磁芯块3和下屏蔽磁芯块4的使用寿命。

在本实用新型的另一个实施例中，所述上屏蔽磁芯块3和所述下屏蔽磁芯块4的厚度均为3mm，具体地，在上屏蔽磁芯块3和所述下屏蔽磁芯块4压合的时候，保证容纳腔7包围产品6的四周，满足屏蔽作用的同时，采用适和的厚度，避免使用过多的材料，导致投入的成本增加。

在本实用新型的另一个实施例中，所述上屏蔽磁芯块和所述下屏蔽磁芯块均采用铁氧体材料制成。具体地，铁氧体是一种具有亚铁磁性的金属氧化物，具备很好的屏蔽外接电磁信号的作用。

在本实用新型的另一个实施例中，所述上治具模板1和所述下治具模板2均采用不锈钢材料制成。具体地，不锈钢具有耐空气、蒸汽、水等弱腐蚀介质或具有不锈性的功能，能够延长上治具模板1和下治具模板2的使用寿命。

本实用新型还提供一种电阻检测装置，包括压床、低阻值测试仪和上述的屏蔽膜电感治具，所述屏蔽膜电感治具安装在所述压床上，各所述测试探针的另一端和所述低阻值测试仪连接。

具体地，由于本实用新型的电阻检测装置采用了上述的屏蔽膜电感治具，在对产品进行电阻值检测的时候，所测试物体低阻值直接在低阻值测试仪上显示，屏蔽膜电感治具可以减少待侧区域内的信号扩散，从而达到所测试物体低阻值的精确度和准确性。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。