一种遥控器测试电路的制作方法

文档序号:21751817发布日期:2020-08-07 17:33阅读:299来源:国知局
一种遥控器测试电路的制作方法

本申请涉及遥控器测试技术领域,特别涉及一种遥控器测试电路。



背景技术:

现在市场上的遥控器按键功能测试机都是采用红外发码测试,控制按键支架压下遥控器键,使遥控器发送红外码,同时用红外接收头接收红外码的方式实现测试,对于无线遥控器的无线发码测试,采用测试红外码的方式无法测试;且遥控器按键功能测试和工作电压稳定测试都是独立测试,一一进行测试时,需要很多的人力物力,测试成本较高。



技术实现要素:

本申请为了解决上述技术问题,提供了一种遥控器测试电路,所述电路至少包括控制单元、按键测试单元、电压测试单元、以及电源单元,所述控制单元包括用于与测试主机连接的主控芯片,所述按键测试单元连接在所述主控芯片的串行信号输出端连接,所述电压测试单元连接在所述主控芯片的采样电源输出端和开关电源输出端,所述电源单元分别与控制单元、按键测试单元、电压测试单元连接;所述按键测试单元、电压测试单元通过接收来自控制单元的信号进行遥控器测试。

可选地,所述按键测试单元至少包括:

串行输入电路,包括与所述主控芯片连接的串行输入芯片,用于接收并解析主控芯片传来的串行输入数据,生成至少一路电平信号;

反相输出电路,包括与所述串行输入芯片连接的反相输出芯片,用于接收所述电平信号,以控制用于检测待测遥控器的电磁阀的通断。

可选地,所述反相输出芯片设置有与所述串行输入芯片连接的电平信号输入端、与所述电源单元连接的第一电源输入端、以及与电磁阀控制线连接的反相输出端;所述反相输出电路通过接收所述电平信号,以控制所述反相输出端与第一电源输入端的通断。

可选地,所述反相输出电路还包括显示电路,所述显示电路一端连接在所述反相输出端,所述显示电路另一端连接与所述电源单元连接;所述显示电路包括相互串联的发光二极管和第一电阻、以及与发光二极管和第一电阻相并联的第一二极管。

可选地,所述显示电路还包括第一二极管,所述第一二极管与发光二极管和第一电阻相并联。

可选地,所述串行输入芯片、反相输出芯片的数量均为5个,每个所述串行输入芯片生成八路电平信号。

可选地,所述电源单元,包括:

第一电源电路,至少包括整流桥、第二二极管、第三二极管、以及第一电源芯片,用于接收并转换外接的交流电压,生成第一输出电源、第二输出电源;

第二电源电路,至少包括第二电源芯片,接收并转换来自所述第一电源电路传来的第一输出电源,生成第三输出电源。

可选地,所述电压测试单元包括:

供电电路:用于向待测遥控器输出至少一个供电电源;

开关电路,用于控制所述供电电路与待测遥控器通断。

可选地,所述供电电路包括与所述第一输出电源连接的采样芯片,所述采样芯片的输出端输出用于待测遥控器供电的供电电源,所述采样芯片的输出端和采样端连接有至少一个采样电路,所述采样电路包括依次连接的第一三极管、电位器,所述第一三极管的基极与所述主控芯片的采样电源输出端连接。

可选地,开关电路包括第二三极管、继电器,所述继电器设置有与所述供电电源连接的输入端、与待测遥控器连接的输出端、以及开关信号输入端;所述第二三极管的基极与所述主控芯片的开关电源输出端连接,集电极与所述开关信号输入端连接以控制所述继电器的输入端和输出端的通断,发射极接地。

本申请的一种遥控器测试电路,其有益效果在于:

(1)本申请集成按键测试及电压测试,提高测试效率,降低测试成本;

(2)本申请采用串行输入芯片、反相输出芯片,可通过串行信号同时对多按键的电磁阀控制线进行控制测试,且本申请可根据需要连接多个串行输入芯片、反相输出芯片,适用性广;

(3)本申请在反相输出芯片连接有显示电路,是本申请电路更加直观观察电磁阀的通断情况,且在显示电路上还设置防反二极管,对电路进行保护;

(4)本申请通过第一电源电路、第二电源电路同时多路输出电路,满足测试电路及待测遥控器供电。

附图说明

图1为本申请实施例的测试电路的流程框图;

图2为本申请实施例的主控芯片的示意图;

图3为本申请实施例的串行输入电路的电路图;

图4为本申请实施例的反相输出电路的电路图;

图5为本申请实施例的供电电路的电路图;

图6为本申请实施例的开关电路的电路图;

图7为本申请实施例的第一电源电路的电路图;

图8为本申请实施例的第二电源电路的电路图;

其中,1-控制单元,2-按键测试单元,3-电压测试单元,4-电源单元,21-串行输入电路,22-反相输出电路,31-供电电路,32-开关电路,41-第一电源电路,42-第二电源电路,mcu-主控芯片,y1-外部时钟,u1-串行输入芯片,outa~outh-电平信号输出端,di-数据输入端,shcp-数据输入时钟线,stcp-输出存储器锁存时钟线,oe-输出有效端,mr-主复位端,u2-反相输出芯片,in1~in8-电平信号输入端,out1~out8-反相输出端,d1-发光二极管,r1-第一电阻,d2-第一二极管,control1-电磁阀控制线,u3-采样芯片,+vdd-供电电源,q1-第一三极管,r2-电位器,u4-继电器,q2-第二三极管,power-与待测遥控器连接的输出端,u5-第一电源芯片,bd1-整流桥,d3-第二二极管,d4-第三二极管,u6-第二电源芯片。

具体实施方式

下面结合附图对本申请的较佳实施例进行详细阐述,以使本申请的优点和特征更易被本领域技术人员理解,从而对本申请的保护范围作出更为清楚的界定。

在如图1所示的实施例中,本申请提供了一种遥控器测试电路,电路至少包括所述电路至少包括控制单元1、按键测试单元2、电压测试单元3、以及电源单元4,所述控制单元1包括用于与测试主机连接的主控芯片mcu,所述按键测试单元2连接在所述主控芯片mcu的串行信号输出端连接,所述电压测试单元3连接在所述主控芯片mcu的采样电源输出端和开关电源输出端,所述电源单元4分别与控制单元1、按键测试单元2、电压测试单元3连接;所述按键测试单元2、电压测试单元3通过接收来自控制单元1的信号进行遥控器测试。

在本实施例中,本申请通过控制单元1接收来自测试主机的指令,通过控制按键测试单元2和电压测试单元3,对待测遥控器进行测试,电源单元4为控制单元1、按键测试单元2、电压测试单元3及待测遥控器进行供电,本申请集成按键测试及电压测试,提高测试效率,降低测试成本。

在一些实施例中,控制单元1与测试主机相连,其中,测试主机可以是pc电脑,主控芯片mcu可以是stm32f103rbt6芯片,也可以为其他能够实现测试功能的其他类型的芯片;在主控芯片mcu还连接有外部时钟y1(8mhz)晶振提供时钟源,外部时钟y1两端还连接有谐振电容,在主控芯片mcu上还多设置有多个电源输入端,电源输入端设置有滤波电容;主控芯片mcu还设置有调试接口j1,用于主控芯片mcu进行swd方式软件调试下载与调试主机进行连接;主控芯片mcu的复位端还可以连接复位电路,复位电路包括连接在复位端的电阻和电容,其中,电阻与外部电源连接,电容接地;主控芯片mcu通过数据输入端sxd、数据输出端rxd与pc电脑通信,接收控制pc电脑的串口命令,应答及反馈测试数据给pc电脑;在本申请中,通过主控芯片mcu,控制按键测试单元2及电压测试单元3进行测试,提高测试效率,降低测试成本。

在一些实施例中,按键测试单元2至少包括:

串行输入电路21,包括与主控芯片mcu连接的串行输入芯片u1,用于接收并解析主控芯片mcu传来的串行输入数据,生成至少一路电平信号;其中,串行输入芯片u1可以是74hc595芯片,串行输入芯片u1设置有数据输入端di、数据输入时钟线shcp、输出存储器锁存时钟线stcp、输出有效端oe、主复位端mr分别与主控芯片mcu的串行信号输出端,其中,串行信号输出端包括了与串行输入芯片u1相对应的mcu_data_in端、mcu_shcp端、mcu_sctp端、mcp_mr端、mcp_oe端连接获取串行输入数据;多个串行输入电路21可相互串联,依次串行输出和输入连接起来形成一个多位串行输入转并行输出的控制数据信号。

串行输入电路22,包括与串行输入芯片u1连接的反相输出芯片u2,用于接收电平信号,以控制用于检测待测遥控器的电磁阀的通断。

在本实施例中,本申请采用串行输入芯片u1、反相输出芯片u2,可通过串行信号同时对多按键的电磁阀控制线control1进行控制测试,且本申请可根据需要连接多个串行输入芯片u1、反相输出芯片u2,适用性广。

在上述实施例的一种实施方式中,反相输出芯片u2设置有与串行输入芯片u1连接的电平信号输入端in1~in8、与电源单元4连接的第一电源输入端com、以及与电磁阀控制线control1连接的反相输出端out1~out8;串行输入电路22通过接收电平信号,以控制反相输出端out1~out8与第一电源输入端out1~out8的通断;反相输出芯片u2可以是8位达林顿晶体管阵列芯片,反相输出芯片u2的一个电平信号输出端对应一个反相输出端,8位的达林顿晶体管阵列芯片即有8个电平信号输入端和对应的反相输出端,在反相输出芯片u2中,电平信号输入端相当于一个控制第一电源输入端com与反相输出端的通断的开关,当电平信号输入端为高电平时,第一电源输入端com与反相输出端导通,反相输出端输出低电平,从而控制电磁阀进行工作;在本实施例中,第一电源输入端与电源单元4的第一输出电源连接。

在上述实施例的一种实施方式中,串行输入电路22还包括显示电路,显示电路一端连接在反相输出端out1~out8,显示电路另一端连接与电源单元4连接;显示电路包括相互串联的发光二极管d1和第一电阻r1、以及与发光二极管d1和第一电阻r1相并联的第一二极管d2。当反相输出芯片u2设置有多个反相输出端时,每个反相输出端均连接有一个显示电路。在本实施例中,反相输出端为低电平时,显示电路导通,发光二极管d1点亮,电磁阀工作;反相输出端为低电平时,显示电路不导通,发光二极管d1熄灭,电磁阀不工作;本申请在反相输出芯片u2连接有显示电路,是本申请电路更加直观观察电磁阀的通断情况。

在上述实施例的一种实施方式中,显示电路还包括第一二极管d2,第一二极管d2与发光二极管d1和第一电阻r1相并联;通过设置第一二极管d2,防止电磁阀断开时产生的反电势对电路造成影响或元器件损坏。

在上述实施例的一种实施方式中,串行输入芯片u1、反相输出芯片u2的数量均为5个,每个串行输入芯片u1生成八路电平信号;反相输出芯片u2可以是8位达林顿晶体管阵列芯片,反相输出芯片u2的一个电平信号输出端对应一个反相输出端,连接起来形成一个40位串行输入转并行输出的控制数据信号;可同时连接40路电磁阀控制信号线;同时对40个按遥控器按键进行测试,在本实施例中,串行输入芯片设置有outa、outb、outc、outd、oute、outf、outg、outh的八个电平信号输出端,对应的反相输出芯片u2设置有in1、in2、in3、in4、in5、in6、in7、in8八个电平信号输入端,八个电平信号输入端分别与out1、out2、out3、out4、out5、out6、out7、out8八个反相输出端一一对应。

在一些实施例中,电源单元4,包括:

第一电源电路41,至少包括整流桥bd1、第二二极管d3、第三二极管d4、以及第一电源芯片u5,用于接收并转换外接的交流电压,生成第一输出电源、第二输出电源;

第二电源电路42,至少包括第二电源芯片u6,接收并转换来自第一电源电路41传来的第一输出电源,生成第三输出电源。

在本实施例中,本申请通过第一电源电路41、第二电源电路42同时多路输出电路,满足测试电路及待测遥控器供电。

在上述实施例的一种实施方式中,第一电源电路41至少包括整流桥bd1、第二二极管d3、第三二极管d4、以及第一电源芯片u5;整流桥bd1的输入端外接交流电压,整流桥bd1输出端连接有相互并联的第二二极管d3、第三二极管d4,并交流电压通过第二二极管d3、第三二极管d4转换为第一输出电源;第一电源芯片u5连接在第一输出电源上,并将输入的第一输出电源转换生成第二输出电源;在本实施例中,整流桥bd1的输入端与交流的9v电压连接,经过整流桥bd1整流后,再经过并联的第二二极管d3、第三二极管d4变成第一输出电源,电压为12v。第一电源芯片u5的电源输入端连接在第一输出电源上,且通过第一电源芯片u5稳压转换为第二输出电源对外进行输电;在本实施例中,第一电源电路41还设置有整流电路411和整流电路412,整流电路411、整流电路412分别连接在第一电源芯片u5的输入端和输出端,整流电路411、整流电路412包括至少一个电容和至少一个电阻,用于滤波负载,稳定电路。

在上述实施例的一种实施方式中,第一电源电路41的第一输出电源连接有第二电源电路42,第二电源电路42包括第二电源芯片u6,第二电源芯片u6将第一输出电路传来的12v电压稳定转换为3.3v电压为主控芯片mcu供电。在本实施例中,第二电源电路还设置整流电路421,整流电路421设置在第二电源芯片的输出端,整流电路421设置有至少一个电容和至少一个电阻,用于滤波负载,稳定电路。

在一些实施例中,电压测试单元3包括:

供电电路31,用于向待测遥控器输出至少一个供电电源;

开关电路31,用于控制供电电路31与待测遥控器通断。

在上述实施例的一种实施方式中,供电电路31包括与第一输出电源连接的采样芯片u3,采样芯片u3的输出端输出用于待测遥控器供电的供电电源,采样芯片u3的输出端和采样端连接有至少一个采样电路,采样电路包括依次连接的第一三极管q1、电位器r2,第一三极管q1的基极与主控芯片mcu的采样电源输出端连接。其中,采样芯片u3可以是型号为lm2576的芯片,采样芯片u3包括输入端、输出端、以及采样端,在本实施例中,采样电路可以为第一采样电路311、第二采样电路312两路采样电路;第二电源芯片u6的输出端和采样端连接了相互并联的第一采样电路311和第二采样电路312,第一采样电路311包括依次连接的第一三极管q1、电位器r2,第一三极管q1的基极与主控芯片mcu的第一采样电源输出端连接,其中,第一采样电路的第一三极管q1的基极连接的电压为3.3v。第一采样电路311同样包括依次连接的第一三极管q1、电位器r2,第一三极管q1的基极与主控芯片mcu的第二采样电源输出端连接,其中,第二采样电路312的第一三极管q1的基极连接的电压为2.3v。在本实施例中,通过主控芯片mcu对采样电路输出不同的电压值及电位器r2进行调节,使采样芯片u3采样不同的电压值,从而转换成不同的电压值的待测控制器的供电电压;以对待测遥控器进行电压稳定性测试。供电电路31还设置整流电路313,整流电路313连接在采样芯片的输入端,整流电路313设置有至少一个电容和至少一个电阻,用于滤波负载,稳定电路。

在上述实施例的一种实施方式中,开关电路31包括第二三极管q2、继电器u4,继电器u4设置有与供电电源连接的输入端、与待测遥控器连接的输出端power、以及开关信号输入端;第二三极管q2的基极与主控芯片mcu的开关电源输出端连接,集电极与开关信号输入端连接以控制继电器u4的输入端和输出端的通断,发射极接地。在本实施例中,主控芯片mcu的开关电源输出端输出电平信号,以通过开关电路31控制供电路与待测遥控器的通断。

本申请的一种遥控器测试电路,集成按键测试及电压测试,提高测试效率,降低测试成本;采用串行输入芯片u1、反相输出芯片u2,可通过串行信号同时对多按键的电磁阀控制线control1进行控制测试,且本申请可根据需要连接多个串行输入芯片u1、反相输出芯片u2,适用性广;在反相输出芯片u2连接有显示电路,是本申请电路更加直观观察电磁阀的通断情况,且在显示电路上还设置防反二极管,对电路进行保护;且通过第一电源电路41、第二电源电路42同时多路输出电路,满足测试电路及待测遥控器供电。

上面结合附图对本申请的实施方式作了详细说明,但是本申请并不限于上述实施方式,在本领域普通技术人员所具备的知识范围内,还可以在不脱离本申请宗旨的前提下作出各种变化。

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