一种芯片筛选装置的制作方法

本实用新型涉及集成电路测试技术领域，更具体地说，涉及一种芯片筛选装置。

背景技术：

现有的芯片筛选装置大多通过发光二极管来显示芯片引脚的好坏，大多使用一个发光二极管显示芯片引脚的好坏，即在测试芯片的引脚时发光二极管对应显示该引脚的好坏；存在着信息量低，往往还需要人工一个一个的记录，各引脚的状态不能一起显示。

技术实现要素：

本实用新型要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种电路简单，成本低，体积小的芯片筛选装置。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：

构造一种芯片筛选装置，包括具有引脚保护电路的待测芯片、第一多路开关、第二多路开关、微控制器、恒压电路和恒流电路以及电压比较电路；其中，所述第一多路开关的多个输出/输入端与所述第二多路开关的多个输出/输入端一一对应连接且还与所述待测芯片的多个引脚一对一连接；

所述恒压电路与电源连接用于输出2.5v的直流电，所述恒流电路与所述恒压电路连接用于输出300ua的电流，所述恒流电路还与所述电压比较电路和所述第二多路开关的公共输入/输出端连接；所述第一多路开关的公共输入/输出端接地；

所述电压比较电路的输出端与所述微控制器连接，所述微控制器的多个i/o端与所述第一多路开关的多个地址端和禁止端一对一连接，所述微控制器的多个i/o端还与所述第二多路开关的多个地址端和禁止端一对一连接；所述微控制器用于控制所述第一多路开关和所述第二多路开关的工作；

所述芯片筛选装置还包括lcd显示屏，所述lcd显示屏用于显示所述待测芯片的各引脚的所述引脚保护电路是否正常，所述lcd显示屏的rs端、rw端、e端、d0端、d1端、d2端、d3端、d4端、d5端和d6端以及d7端分别与所述微控制器的多个i/o端一一对应连接；所述lcd显示屏的vee端还连接有可调电阻，所述可调电阻用于调节所述lcd显示屏的亮度，所述可调电阻的1引脚与所述电源的正极连接且2引脚与所述lcd显示屏的vee端连接，所述可调电阻的3引脚接地。

本实用新型所述的芯片筛选装置，其中，所述恒压电路为三端稳压管，所述三端稳压管的in端与所述电源的正极连接，所述三端稳压管的adj端接地，所述三端稳压管的out端分别与所述恒流电路和所述电压比较电路连接；所述三端稳压管的in端与adj端并联有第一电容且所述三端稳压管的out端与adj端并联有第二电容；所述恒流电路包括第一电阻、第二电阻、第三电阻和第一三极管以及第二三极管；所述第一电阻和所述第二电阻均与所述三端稳压管的out端连接；所述第一电阻的另一端与所述第一三极管的发射极连接，所述第二电阻的另一端与所述第二三极管的发射极连接，所述第一三极管的基极与所述第二三极管的基极连接，所述第一三极管的发射极与所述第三电阻连接，所述第三电阻的另一端接地；所述第二三极管的集电极分别与所述电压比较电路和所述第二多路开关的公共输入/输出端连接。

本实用新型所述的芯片筛选装置，其中，所述电压比较电路包括第一电压比较器和第二电压比较器；所述第一电压比较器的反向输入端连接有第四电阻和第五电阻，所述第四电阻的另一端与所述三端稳压管的out端连接，所述第五电阻的另一端接地；所述第二电压比较器的同向输入端连接有第六电阻和第七电阻，所述第六电阻的另一端与所述三端稳压管的out端连接，所述第七电阻的另一端接地；所述第一电压比较器的同向输入端与所述第二电压比较器的反向输入端连接且还与所述第二三极管的集电极连接；

所述第一电压比较器的输出端连接有第一二极管，所述第一二极管的正极与所述第一电压比较器的输出端连接；所述第二电压比较器的输出端连接有第二二极管，所述第二二极管的正极与所述第二电压比较器的输出端连接；所述第一二极管的负极与所述第二二极管的负极连接且还连接有第八电阻，所述第八电阻的另一端连接有第三三极管，所述第三三极管的基极与所述第八电阻的另一端连接；所述第三三极管的集电极与所述电源的正极连接，所述第三三极管的发射极接地；所述第三三极管的集电极与所述微控制器的p1.7端连接。

本实用新型所述的芯片筛选装置，其中，所述微控制器还连接有蜂鸣器，所述蜂鸣器的负极与所述微控制器的p1.6端连接，所述蜂鸣器的正极连接有第九电阻，所述第九电阻的另一端与所述电源的正极连接。

本实用新型所述的芯片筛选装置，其中，所述芯片筛选装置还包括模式设置电路和启动/关闭开关以及复位开关，所述模式设置电路与所述微控制器连接用于设置所述微控制器控制所述第一多路开关的一个或多个输出/输入端与公共输入/输出端进行导通或断开和设置所述微控制器控制所述第二多路开关的一个或多个输出/输入端与公共输入/输出端进行导通或断开；所述启动/关闭开关以及所述复位开关均与所述微控制器连接，所述启动/关闭开关用于启动或关闭对所述待测芯片的测试，所述复位开关用于清除所述模式设置电路对所述微控制器的设置。

本实用新型的有益效果在于：在对特定的待测芯片的各引脚的引脚保护电路进行vdd测试时，通过微控制器控制第一多路开关使与待测芯片的vdd引脚相对应的一个输出/输入端与公共输入/输出端进行连通，使待测芯片的vdd端接地；之后通过微控制器控制第二多路开关的多个输出/输入端轮流与公共输入/输出端进行连通，使通过恒压电路和恒流电路输出的2.5v300ua的直流电通过不同的待测芯片的引脚输入至待测芯片，其中，第二多路开关与待测芯片的vdd端和vss端相对应的两个输出/输入端禁止与公共输入/输出端进行连通，即导通后测试无意义；

而后通过电压比较电路进行比较判断通过恒压电路和恒流电路输出的2.5v300ua的直流电在通过待测芯片的不同的引脚输入至待测芯片之后的电压是否高于开路电压或低于短路电压，满足其中一个条件则电压比较电路输出报警信号给微控制器，即待测芯片的被测引脚出现开路故障或短路故障，微控制器控制lcd显示屏进行引脚故障的显示，若两个条件均不满足则电压比较电路无输出，即待测芯片的被测引脚正常，微控制器控制lcd显示屏进行引脚引脚正常的显示；

在对特定的待测芯片的各引脚的引脚保护电路进行vss测试时，与vdd测试几乎相同，区别就是由第二多路开关将通过恒压电路和恒流电路输出的2.5v300ua的直流电通过待测芯片的vss端输入至待测芯片，由第一多路开关的多个输出/输入端轮流与公共输入/输出端进行连通，即对待测芯片的多个引脚进行轮流接地，其中，待测芯片的vdd端继续保持接地；

而后通过电压比较电路进行比较判断通过恒压电路和恒流电路输出的2.5v300ua的直流电在通过待测芯片的vss端输入至待测芯片之后的电压是否高于开路电压或低于短路电压，满足其中一个条件则电压比较电路输出报警信号给微控制器，即待测芯片的被测引脚出现开路或短路故障，微控制器控制lcd显示屏进行引脚故障的显示，若两个条件均不满足则电压比较电路无输出，即待测芯片的被测引脚正常，微控制器控制lcd显示屏进行引脚引脚正常的显示；

其中，对于待测芯片各引脚的测试数据应预置在微控制器中，以实现自动测试，或还微控制器可以通过模式设置电路进行控制达到对待测芯片的检测目的；并且还可以通过调节可调电阻调节lcd显示屏的亮度，使用lcd显示屏进行引脚故障的显示智能化程度更高，同时显示的信息量大；实现电路简单，成本低，体积小，使用方便，适用性广泛。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将结合附图及实施例对本实用新型作进一步说明，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的部分实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他附图：

图1是本实用新型较佳实施例的芯片筛选装置的电路图；

图2是本实用新型较佳实施例的lcd显示屏的电路图。

具体实施方式

为了使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述，显然，所描述的实施例是本实用新型的部分实施例，而不是全部实施例。基于本实用新型的实施例，本领域普通技术人员在没有付出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型的保护范围。

本实用新型较佳实施例的芯片筛选装置如图1所示，同时参阅图2；包括具有引脚保护电路的待测芯片(图中未显示)或集成电路(图中未显示)、第一多路开关u3、第二多路开关u4、微控制器u6、恒压电路10和恒流电路20以及电压比较电路30；第一多路开关u3的多个输出/输入端与第二多路开关u4的多个输出/输入端一一对应连接且还与待测芯片的多个引脚一对一连接；其中，通过公知常识我们可以知道引脚保护电路是由两个串联的二极管够成，第一个二极管的正极与第二个二极管的负极连接且节点处与待测芯片的引脚连接(附图未示出)，第一个二极管的负极接vdd端，第二个二极管的正极接vss端；且二极管的压降一般取0.7v左右；

恒压电路10与电源连接用于输出2.5v的直流电，恒流电路20与恒压电路10连接用于输出300ua的电流，恒流电路20还与电压比较电路30和第二多路开关u4的公共输入/输出端连接；第一多路开关u3的公共输入/输出端接地；

电压比较电路30的输出端与微控制器u6连接，微控制器u6的多个i/o端与第一多路开关u3的多个地址端和禁止端一对一连接，微控制器u6的多个i/o端还与第二多路开关u4的多个地址端和禁止端一对一连接；微控制器u6用于控制第一多路开关u3和第二多路开关u4的工作；

芯片筛选装置还包括lcd显示屏lcd1，lcd显示屏lcd1用于显示待测芯片的各引脚的引脚保护电路是否正常，lcd显示屏lcd1的rs端、rw端、e端、d0端、d1端、d2端、d3端、d4端、d5端和d6端以及d7端分别与微控制器u6的多个i/o端一一对应连接；lcd显示屏lcd1的vee端还连接有可调电阻rv3，可调电阻rv3用于调节lcd显示屏lcd1的亮度，可调电阻rv3的1引脚与电源的正极连接且2引脚与lcd显示屏lcd1的vee端连接，可调电阻rv3的3引脚接地。在对特定的待测芯片的各引脚的引脚保护电路进行vdd测试时，通过微控制器u6控制第一多路开关u3使与待测芯片的vdd引脚相对应的一个输出/输入端与公共输入/输出端进行连通，使待测芯片的vdd端接地；之后通过微控制器u6控制第二多路开关u4的多个输出/输入端轮流与公共输入/输出端进行连通，使通过恒压电路10和恒流电路20输出的2.5v300ua的直流电通过不同的待测芯片的引脚输入至待测芯片，其中，第二多路开关u4与待测芯片的vdd端和vss端相对应的两个输出/输入端禁止与公共输入/输出端进行连通，即导通后测试无意义；

而后通过电压比较电路30进行比较判断通过恒压电路10和恒流电路20输出的2.5v300ua的直流电在通过待测芯片的不同的引脚输入至待测芯片之后的电压是否高于开路电压(1.5v)或低于短路电压(0.2v)，满足其中一个条件则电压比较电路30输出报警信号给微控制器u6，即待测芯片的被测引脚出现开路故障或短路故障，微控制器u6控制lcd显示屏lcd1进行引脚故障的显示，若两个条件均不满足则电压比较电路30无输出，即待测芯片的被测引脚正常，微控制器u6控制lcd显示屏lcd1进行引脚引脚正常的显示；

在对特定的待测芯片的各引脚的引脚保护电路进行vss测试时，与vdd测试几乎相同，区别就是由第二多路开关u4将通过恒压电路10和恒流电路20输出的2.5v300ua的直流电通过待测芯片的vss端输入至待测芯片，由第一多路开关u3的多个输出/输入端轮流与公共输入/输出端进行连通，即对待测芯片的多个引脚进行轮流接地，其中，待测芯片的vdd端通过第一多路开关u3控制继续保持接地或空闲；

而后通过电压比较电路30进行比较判断通过恒压电路10和恒流电路20输出的2.5v300ua的直流电在通过待测芯片的vss端输入至待测芯片之后的电压是否高于开路电压或低于短路电压，满足其中一个条件则电压比较电路30输出报警信号给微控制器u6，即待测芯片的被测引脚出现开路或短路故障，微控制器u6控制lcd显示屏lcd1进行引脚故障的显示，若两个条件均不满足则电压比较电路30无输出，即待测芯片的被测引脚正常，微控制器u6控制lcd显示屏lcd1进行引脚引脚正常的显示；

其中，微控制器u6可以与外部控制电路进行连接以实现对待测芯片的检测以及获取反馈信息(包括芯片故障信息和芯片正常信息)或通过模式设置电路50进行控制实现对待测芯片的检测目的；并且还可以通过调节可调电阻rv3调节lcd显示屏lcd1的亮度，使用lcd显示屏lcd1进行引脚故障的显示智能化程度更高，同时显示的信息量大；实现电路简单，成本低，体积小，使用方便，适用性广泛。

如图1所示，恒压电路10为三端稳压管u1，三端稳压管u1的in端与电源的正极连接，三端稳压管u1的adj端接地，三端稳压管u1的out端分别与恒流电路20和电压比较电路30连接；三端稳压管u1的in端与adj端并联有第一电容c2且三端稳压管u1的out端与adj端并联有第二电容c1；与电压比较电路30的相匹配。

如图1所示，恒流电路20包括第一电阻r1、第二电阻r2、第三电阻r3和第一三极管q2以及第二三极管q1；第一电阻r1和第二电阻r2均与三端稳压管u1的out端连接；第一电阻r1的另一端与第一三极管q2的发射极连接，第二电阻r2的另一端与第二三极管q1的发射极连接，第一三极管q2的基极与第二三极管q1的基极连接，第一三极管q2的发射极与第三电阻r3连接，第三电阻r3的另一端接地；第二三极管q1的集电极分别与电压比较电路30和第二多路开关u4的公共输入/输出端连接；以输出300ua的电流确保待测芯片出现短路时不会发生危险。

如图1所示，电压比较电路30包括第一电压比较器u2:a和第二电压比较器u2:b；第一电压比较器u2:a的反向输入端连接有第四电阻r9和第五电阻r5，第四电阻r9的另一端与三端稳压管u1的out端连接，第五电阻r5的另一端接地；第二电压比较器u2:b的同向输入端连接有第六电阻r10和第七电阻r6，第六电阻r10的另一端与三端稳压管u1的out端连接，第七电阻r6的另一端接地；第一电压比较器u2:a的同向输入端与第二电压比较器u2:b的反向输入端连接且还与第二三极管q1的集电极连接；以使第一电压比较器u2:a的反向输入端得到1.5v电压，第二电压比较器u2:b的同向输入端得到0.2v的电压；以对通过恒压电路10输出的2.5v直流电在输入至待测芯片之后进行基准比较；

第一电压比较器u2:a的输出端连接有第一二极管d1，第一二极管d1的正极与第一电压比较器u2:a的输出端连接；第二电压比较器u2:b的输出端连接有第二二极管d2，第二二极管d2的正极与第二电压比较器u2:b的输出端连接；第一二极管d1的负极与第二二极管d2的负极连接且还连接有第八电阻r12，第八电阻r12的另一端连接有第三三极管q3，第三三极管q3的基极与第八电阻r12的另一端连接；第三三极管q3的集电极与电源的正极连接，第三三极管q3的发射极接地；第三三极管q3的集电极与微控制器u6的p1.7端连接；电路简单，成本低，满足微控制器u6对高低电平的识别需求。

如图1所示，微控制器u6还连接有蜂鸣器buz1，蜂鸣器buz1的负极与微控制器u6的p1.6端连接，蜂鸣器buz1的正极连接有第九电阻r16，第九电阻r16的另一端与电源的正极连接；在测试时待测芯片的任一一个引脚出现短路或断路，微控制器u6蜂鸣器buz1发出几秒钟的蜂鸣声。

如图1所示，芯片筛选装置还包括模式设置电路50和启动/关闭开关k2以及复位开关k1，模式设置电路50与微控制器u6连接用于设置微控制器u6控制第一多路开关u3的一个或多个输出/输入端与公共输入/输出端进行导通或断开和设置微控制器u6控制第二多路开关u4的一个或多个输出/输入端与公共输入/输出端进行导通或断开；模式设置电路50包括8个点动开关和1个闸刀开关；

需要使第一多路开关u3或第二多路开关u4的输出/输入端与公共输入/输出端进行持续连通时，需要在对应的闸刀状态下长按几秒与第一多路开关u3或第二多路开关u4的输出/输入端对应的点动开关；即设定vdd测试或vss测试状态下待测芯片对应的引脚接地或接通2.5v300ua的直流电；

而例如：可以设置在闸刀开关开启的情况下触动点动开关时，该点动开关与第一多路开关u3相对应的输出/输入端轮流与公共输入/输出端进行连通(点动)；在闸刀关闭的情况下触动点动开关时，该点动开关与第二多路开关u4相对应的输出/输入端轮流与公共输入/输出端进行连通(点动)；实现对第一多路开关u3和第二多路开关u4的控制；即手动对待测芯片的每个引脚进行vdd测试或vss测试；

启动/关闭开关k2以及复位开关k1均与微控制器u6连接，启动/关闭开关k2用于启动或关闭对待测芯片的测试，即在待测芯片对应的引脚接地或接通2.5v300ua的直流电之后，按下启动/关闭开关k2微控制器u6自动控制第一多路开关或第二多路开关对待测芯片的引脚进行轮流测试，再次按下启动/关闭开关k2则关闭对待测芯片的测试；复位开关k1用于清除模式设置电路50对微控制器的设置，即清楚通过模式设置电路50设定vdd测试或vss测试状态下待测芯片对应的引脚接地或接通2.5v300ua的直流电的设置。

应当理解的是，对本领域普通技术人员来说，可以根据上述说明加以改进或变换，而所有这些改进和变换都应属于本实用新型所附权利要求的保护范围。