一种圆柱形电子器件外表面缺陷检测系统的制作方法

技术领域：

本实用新型涉及电子器件外表面缺陷检测技术领域，尤其涉及一种圆柱形电子器件外表面缺陷检测系统。

背景技术：
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电子器件在生产投入使用前需进行各项表面缺陷检测，圆柱形电子器件通常需要对外表面检测，现有的检测方式通常采用人眼观察或者采用相机从侧面获取图像再通过图像分析软件进行分析，人眼观察检测效率低、精度差，现有的相机获取图像不完整，从而检测精度不高。

公开于该背景技术部分的信息仅仅旨在增加对本实用新型的总体背景的理解，而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域一般技术人员所公知的现有技术。

技术实现要素：
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本实用新型的目的在于提供一种圆柱形电子器件外表面缺陷检测系统，从而克服上述现有技术中的缺陷。

为实现上述目的，本实用新型提供了一种圆柱形电子器件外表面缺陷检测系统，包括工业相机、同轴光源、辊筒一、辊筒二、测试台和电脑控制器，所述辊筒一、辊筒二设置在测试台上，所述圆柱形电子器件放置在辊筒一和辊筒二上方交接处，所述辊筒一、辊筒二分别连接有电机一和电机二，所述同轴光源设置在辊筒一、辊筒二上方，所述工业相机设置在同轴光源上方，所述工业相机、电机一、电机二均与电脑控制器连接。

所述测试台上设置有推动装置，所述推动装置包括气缸和伸缩杆，所述气缸驱动伸缩杆，所述推动装置与电脑控制器也连接。

所述工业相机、同轴光源和圆柱形电子器件的中心线为一条线。

与现有技术相比，本实用新型具有如下有益效果：

本实用新型通过将圆柱形电子器件放置在辊筒一和辊筒二上方交接处，通过电机一、电机二驱动辊筒一和辊筒二转动带动圆柱形电子器件转动，从而使得圆柱形电子器件侧面展开成一张平面图形，工业相机从上方可获取连续的平面图形进而进行分析检测，从而避免漏检的问题；本实用新型结构简单，检测方便。

附图说明：

图1为本实用新型的一种圆柱形电子器件外表面缺陷检测系统的示意图；

图2为本实用新型的一种圆柱形电子器件外表面缺陷检测系统的部分俯视图；

附图标记为：1-工业相机、2-同轴光源、3-辊筒一、4-辊筒二、5-测试台、6-电脑控制器、7-圆柱形电子器件、8-电机一、9-电机二、10-推动装置、101-气缸、102-伸缩杆。

具体实施方式：

下面对本实用新型的具体实施方式进行详细描述，但应当理解本实用新型的保护范围并不受具体实施方式的限制。

除非另有其它明确表示，否则在整个说明书和权利要求书中，术语“包括”或其变换如“包含”或“包括有”等等将被理解为包括所陈述的元件或组成部分，而并未排除其它元件或其它组成部分。

如图1-2所示，一种圆柱形电子器件外表面缺陷检测系统，包括工业相机1、同轴光源2、辊筒一3、辊筒二4、测试台5和电脑控制器6，所述辊筒一3、辊筒二4设置在测试台5上，所述圆柱形电子器件7放置在辊筒一3和辊筒二4上方交接处，所述辊筒一3、辊筒二4分别连接有电机一8和电机二9，所述同轴光源2设置在辊筒一3、辊筒二4上方，所述工业相机1设置在同轴光源2上方，所述工业相机1、电机一8、电机二9均与电脑控制器6连接。

所述测试台5上设置有推动装置10，所述推动装置10包括气缸101和伸缩杆102，所述气缸101驱动伸缩杆102，所述推动装置10与电脑控制器6也连接。

所述工业相机1、同轴光源2和圆柱形电子器件7的中心线为一条线。

实施时，将圆柱形电子器件7放置在辊筒一3和辊筒二4上方交接处，电脑控制器6控制电机一8、电机二9开启，驱动辊筒一3、辊筒二4，从而带动圆柱形电子器件7转动，同轴光源2从圆柱形电子器件7上方进行补光，工业相机1从同轴光源2上方获取圆柱形电子器件7侧面连续的图像，这些图像形成一张完整的平面图形，工业相机1再将图像传递到电脑控制器6由控制器进行分析，当检测完成时，由电脑控制器6控制推动装置10开启，推动装置10的伸缩杆推动圆柱形电子器件7，使得圆柱形电子器件7从辊筒一3、辊筒二4上取走；本实用新型结构简单、自动化程度高，可以有效提高检测效率及检测精度。

前述对本实用新型的具体示例性实施方案的描述是为了说明和例证的目的。这些描述并非想将本实用新型限定为所公开的精确形式，并且很显然，根据上述教导，可以进行很多改变和变化。对示例性实施例进行选择和描述的目的在于解释本实用新型的特定原理及其实际应用，从而使得本领域的技术人员能够实现并利用本实用新型的各种不同的示例性实施方案以及各种不同的选择和改变。本实用新型的范围意在由权利要求书及其等同形式所限定。

技术特征：

1.一种圆柱形电子器件外表面缺陷检测系统，其特征在于：包括工业相机、同轴光源、辊筒一、辊筒二、测试台和电脑控制器，所述辊筒一、辊筒二设置在测试台上，所述圆柱形电子器件放置在辊筒一和辊筒二上方交接处，所述辊筒一、辊筒二分别连接有电机一和电机二，所述同轴光源设置在辊筒一、辊筒二上方，所述工业相机设置在同轴光源上方，所述工业相机、电机一、电机二均与电脑控制器连接。

2.根据权利要求1所述的一种圆柱形电子器件外表面缺陷检测系统，其特征在于：所述测试台上设置有推动装置，所述推动装置包括气缸和伸缩杆，所述气缸驱动伸缩杆，所述推动装置与电脑控制器也连接。

3.根据权利要求1所述的一种圆柱形电子器件外表面缺陷检测系统，其特征在于：所述工业相机、同轴光源和圆柱形电子器件的中心线为一条线。

技术总结
本实用新型公开了一种圆柱形电子器件外表面缺陷检测系统，包括工业相机、同轴光源、辊筒一、辊筒二、测试台和电脑控制器，所述辊筒一、辊筒二设置在测试台上，所述圆柱形电子器件放置在辊筒一和辊筒二上方交接处，所述辊筒一、辊筒二分别连接有电机一和电机二，所述同轴光源设置在辊筒一、辊筒二上方，所述工业相机设置在同轴光源上方，所述工业相机、电机一、电机二均与电脑控制器连接。本实用新型可获取圆柱形电子器件侧面连续的平面图形进而进行分析检测，从而避免漏检的问题结构简单，可有效提高检测效率和检测精度。

技术研发人员：邹逸
受保护的技术使用者：无锡赛默斐视科技有限公司
技术研发日：2019.12.25
技术公布日：2020.10.09