一种电容探针外观检测系统的制作方法

技术领域：

本实用新型涉及电容探针外观检测技术领域，尤其涉及一种电容探针外观检测系统。

背景技术：
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电容探针作为电容的一部分在投入使用前需对其外观进行检测，剔除有划伤、压痕等残次品，目前对电容探针处检测主要还是以人工检测为主，人工检测效率低、精度差。

公开于该背景技术部分的信息仅仅旨在增加对本实用新型的总体背景的理解，而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域一般技术人员所公知的现有技术。

技术实现要素：
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本实用新型的目的在于提供一种电容探针外观检测系统，从而克服上述现有技术中的缺陷。

为实现上述目的，本实用新型提供了一种电容探针外观检测系统，包括输送线、电容夹具、面光源、同轴光源、工业相机和电脑控制器，所述电容夹具设置在输送线上，所述面光源设置在电容夹具下方，所述同轴光源设置在电容夹具上方，所述工业相机设置在同轴光源上方，所述工业相机、电容夹具均与电脑控制器相连。

所述同轴光源上方设置有高亮增透镜，侧面设置有吸光布。

所述工业相机、同轴光源和面光源的中心线在同一条线上。

所述工业相机采用远心镜头。

与现有技术相比，本实用新型具有如下有益效果：

本实用新型通过通过电容夹具夹住电容并进行输送，检测方便；采用面光源从电容底部补光，同时采用同轴光源从电容顶部探针处进行补光，光照亮度和均匀性更高、反光度更低，从而可以获取电容探针处清晰的图像以便分析处理；本实用新型结构简单，检测方便。

附图说明：

图1为本实用新型的一种电容探针外观检测系统的示意图；

附图标记为：1-输送线、2-电容夹具、3-面光源、4-同轴光源、41-高亮增透镜、42-吸光布、5-工业相机、6-电脑控制器、7-电容。

具体实施方式：

下面对本实用新型的具体实施方式进行详细描述，但应当理解本实用新型的保护范围并不受具体实施方式的限制。

除非另有其它明确表示，否则在整个说明书和权利要求书中，术语“包括”或其变换如“包含”或“包括有”等等将被理解为包括所陈述的元件或组成部分，而并未排除其它元件或其它组成部分。

如图1所示，一种电容探针外观检测系统，包括输送线1、电容夹具2、面光源3、同轴光源4、工业相机5和电脑控制器6，所述电容夹具2设置在输送线1上，所述面光源3设置在电容夹具2下方，所述同轴光源4设置在电容夹具2上方，所述工业相机5设置在同轴光源4上方，所述工业相机5、电容夹具2均与电脑控制器6相连。

所述同轴光源4上方设置有高亮增透镜41，侧面设置有吸光布42。

所述工业相机5、同轴光源4和面光源3的中心线在同一条线上。

所述工业相机5采用远心镜头。

实施时，电容夹具2夹住电容7，电容7的探针朝上，电脑控制器6控制电容夹具2沿输送线1移动，当电容夹具2移动到面光源3上方位置时，面光源3从电容7底部对电容7进行补光，同轴光源4从电容7上方探针处进行补光，工业相机5从同轴光源4上方高亮增透镜41处获取电容7上方探针处的图像，再将该图像发送到电脑控制器6进行分析识别以剔除探针处有缺陷的产品；其中高亮增透镜41及吸光布42的设置可提高光照的集中性，以便获取清晰的图像；本实用新型结构简单，可有效提高检测效率及检测精度。

前述对本实用新型的具体示例性实施方案的描述是为了说明和例证的目的。这些描述并非想将本实用新型限定为所公开的精确形式，并且很显然，根据上述教导，可以进行很多改变和变化。对示例性实施例进行选择和描述的目的在于解释本实用新型的特定原理及其实际应用，从而使得本领域的技术人员能够实现并利用本实用新型的各种不同的示例性实施方案以及各种不同的选择和改变。本实用新型的范围意在由权利要求书及其等同形式所限定。

技术特征：

1.一种电容探针外观检测系统，其特征在于：包括输送线、电容夹具、面光源、同轴光源、工业相机和电脑控制器，所述电容夹具设置在输送线上，所述面光源设置在电容夹具下方，所述同轴光源设置在电容夹具上方，所述工业相机设置在同轴光源上方，所述工业相机、电容夹具均与电脑控制器相连。

2.根据权利要求1所述的一种电容探针外观检测系统，其特征在于：所述同轴光源上方设置有高亮增透镜，侧面设置有吸光布。

3.根据权利要求1所述的一种电容探针外观检测系统，其特征在于：所述工业相机、同轴光源和面光源的中心线在同一条线上。

4.根据权利要求1所述的一种电容探针外观检测系统，其特征在于：所述工业相机采用远心镜头。

技术总结
本实用新型公开了一种电容探针外观检测系统，包括输送线、电容夹具、面光源、同轴光源、工业相机和电脑控制器，所述电容夹具设置在输送线上，所述面光源设置在电容夹具下方，所述同轴光源设置在电容夹具上方，所述工业相机设置在同轴光源上方，所述工业相机、电容夹具均与电脑控制器相连。本实用新型通过通过电容夹具夹住电容并进行输送，检测方便；采用面光源从电容底部补光，同时采用同轴光源从电容顶部探针处进行补光，光照亮度和均匀性更高、反光度更低，从而可以获取电容探针处清晰的图像以便分析处理；本实用新型结构简单，检测方便。

技术研发人员：邹逸
受保护的技术使用者：无锡赛默斐视科技有限公司
技术研发日：2019.12.24
技术公布日：2020.10.09