多个元件的电气指标测试方法、装置及电子设备与流程

本发明涉及电子电路技术领域，尤其是涉及一种多个元件的电气指标测试方法、装置及电子设备。

背景技术：

相关技术中，在采用飞针设备对同一批次的大量电子元件或电路板的电气指标进行测试时，通常采用单个测量的方法，每次测试都需要进行夹持对准、坐标修正等一系列操作，效率较低，且人工成本较高。

技术实现要素：

有鉴于此，本发明的目的在于提供多个元件的电气指标测试方法、装置及电子设备，以提高对大量的待测元件的测量效率，降低人工成本。

第一方面，本发明实施例提供了一种多个元件的电气指标测试方法，包括：获取设定数量的待测元件；设定数量大于一；将设定数量的待测元件固定在设定的夹具上；通过飞针设备及图像采集设备对预先获取的待测元件的测试文件进行修正；基于修正后的测试文件，通过飞针设备对各个待测元件的设定的电气指标进行测试。

结合第一方面，本发明实施例提供了第一方面的第一种可能的实施方式，其中，上述夹具包括阵列测试夹具；设定数量的待测元件由阵列测试夹具固定；固定后的多个待测元件呈阵列式分布。

结合第一方面，本发明实施例提供了第一方面的第二种可能的实施方式，其中，通过飞针设备及摄像头对待测元件进行基准点对预先获取的待测元件的测试文件进行修正的步骤，包括：对当前待测元件进行基准点对准，得到对应的坐标校正参数；通过坐标校正参数对预先获取的当前待测元件的测试文件中的测试点的坐标信息进行修正；判断固定在夹具上的待测元件是否均通过基准点校准；如果否，按照设定的顺序将当前待测元件的下一个待测元件作为当前待测元件，继续执行对当前待测元件进行基准点对准的步骤，直至固定在夹具上的待测元件均通过基准点校准。

结合第一方面的第二种可能的实施方式，本发明实施例提供了第一方面的第三种可能的实施方式，其中，上述图像采集设备包括基于电荷耦合元件的摄像头；该摄像头用于采集图像；该飞针设备包括测针及电机；电机用于带动测针移动；摄像头固定在测针上；上述待测元件的测试文件中保存有待测元件的待测点的坐标信息；对当前待测元件进行基准点对准，得到对应的坐标校正参数的步骤，包括：通过电机带动测针移动，使得当前待测元件出现在摄像头采集的图像中；选取当前的待测元件中两个待测点作为第一基准点及第二基准点；确定第一基准点及第二基准点在在图像中的第一测试坐标及第二测试坐标；基于第一测试坐标、第二测试坐标及第一基准点及第二基准点在测试文件中的第一坐标信息及第二坐标信息，计算当前待测元件的当前坐标相对于测试文件中坐标信息的缩放量、平移量及旋转量；将缩放量、平移量及旋转量确定为坐标校正参数。

结合第一方面的第三种可能的实施方式，本发明实施例提供了第一方面的第四种可能的实施方式，其中，通过坐标校正参数对预先获取的当前待测元件的测试文件中的测试点的坐标信息进行修正的步骤，包括：基于平移量及旋转量依次对当前待测元件的测试文件中的测试点的坐标信息进行平移及旋转处理，得到修正后的测试文件。

第二方面，本发明实施例还提供一种多个元件的电气指标测试装置，包括：元件获取模块，用于获取设定数量的待测元件；设定数量大于一；元件固定模块，用于将设定数量的待测元件固定在设定的夹具上；修正模块，用于通过飞针设备及图像采集设备对预先获取的待测元件的测试文件进行修正；测试模块，用于基于修正后的测试文件，通过飞针设备对各个待测元件的设定的电气指标进行测试。

结合第二方面，本发明实施例提供了第二方面的第一种可能的实施方式，其中，上述修正模块还用于：对当前待测元件进行基准点对准，得到对应的坐标校正参数；通过坐标校正参数对预先获取的当前待测元件的测试文件中的测试点的坐标信息进行修正；判断固定在夹具上的待测元件是否均通过基准点校准；如果否，按照设定的顺序将当前待测元件的下一个待测元件作为当前待测元件，继续执行对当前待测元件进行基准点对准的步骤，直至固定在夹具上的待测元件均通过基准点校准。

结合第一方面的第一种可能的实施方式，本发明实施例提供了第一方面的第二种可能的实施方式，其中，上述图像采集设备包括基于电荷耦合元件的摄像头；该摄像头用于采集图像；该飞针设备包括测针及电机；电机用于带动测针移动；摄像头固定在测针上；上述待测元件的测试文件中保存有待测元件的待测点的坐标信息；上述修正模块还用于：通过电机带动测针移动，使得当前待测元件出现在摄像头采集的图像中；选取当前的待测元件中两个待测点作为第一基准点及第二基准点；确定第一基准点及第二基准点在在图像中的第一测试坐标及第二测试坐标；基于第一测试坐标、第二测试坐标及第一基准点及第二基准点在测试文件中的第一坐标信息及第二坐标信息，计算当前待测元件的当前坐标相对于测试文件中坐标信息的缩放量、平移量及旋转量；将缩放量、平移量及旋转量确定为坐标校正参数。

第三方面，本发明实施例还提供一种电子设备，包括存储器、处理器，存储器中存储有可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时实现上述多个元件的电气指标测试方法。

第四方面，本发明实施例还提供一种机器可读存储介质，机器可读存储介质存储有机器可执行指令，机器可执行指令在被处理器调用和执行时，机器可执行指令促使处理器实现上述多个元件的电气指标测试方法。

本发明实施例带来了以下有益效果：

本发明实施例提供了一种多个元件的电气指标测试方法、装置及电子设备，获取设定数量的待测元件后，将设定数量的待测元件固定在设定的夹具上；通过飞针设备及图像采集设备对预先获取的待测元件的测试文件进行修正；基于修正后的测试文件，通过飞针设备对各个待测元件的设定的电气指标进行测试。该方式通过对多个待测元件的批量化夹持及校准，提高了对大量的待测元件的测量效率，降低了人工成本。

本发明的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述，或者，部分特征和优点可以从说明书推知或毫无疑义地确定，或者通过实施本发明的上述技术即可得知。

为使本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施方式，并配合所附附图，作详细说明如下。

附图说明

为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的一种多个元件的电气指标测试方法的流程图；

图2为本发明实施例提供的另一种多个元件的电气指标测试方法的流程图；

图3为本发明实施例提供的基准点的实际坐标与测量文件中的坐标信息组成的余弦定理应用示意图；

图4为本发明实施例提供的一种多个元件的电气指标测试装置的结构示意图；

图5为本发明实施例提供的一种电子设备的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合实施例对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

在飞针设备上对立体连接器的各项电气指标进行测试时，有时需要对同一批次的大量产品进行测试，由于每次测试都需要进行夹持、对准、坐标修正等一系列操作，一个一个的测试不仅耗时长，而且占用大量人工。基于此，本发明实施例提供了一种多个元件的电气指标测试方法、装置以及电子设备，可以应用于多个电子元件或电路板的测试。

为便于对本实施例进行理解，首先对本发明实施例所公开的一种多个元件的电气指标测试方法进行详细介绍。

参见图1所示的一种多个元件的电气指标测试方法的流程图，该方法包括以下步骤：

步骤s100，获取设定数量的待测元件；设定数量大于一。

上述待测元件通常为电子元件或电路板，包括多个待测点；多个待测元件可以为同一型号的元件；待测元件的各个待测点之间的连接关系是确定的；可以通过飞针设备测量各个待测点之间的连接关系，从而判断待测元件的电气指标是否正常，如理论上导通的各个待测点是否连接，而绝缘的待测点之间是否断开等。

步骤s102，将设定数量的待测元件固定在设定的夹具上。

上述夹具可以为根据待测元件的结构设置的；该夹具上可以容纳多个待测元件；当各个待测元件固定在设定的夹具上时，各个待测元件之间没有接触，不互相影响；上述固定过程可以通过机械手实现，也可以通过人为实现。

步骤s104，通过飞针设备及图像采集设备对预先获取的待测元件的测试文件进行修正。

上述待测元件的测试文件为飞针设备对待测元件进行测试时需要用到的文件；该待测文件中保存了待测元件的各个待测点的坐标信息。该测试文件可以根据待测元件的原理图生成，也可以通过飞针设备对待测点坐标测量而得到。如果测试文件根据原理图生成，待测文件中保存的坐标信息可以正确地表示各个待测点之间的位置关系，但是通过飞针设备对待测元件进行测量时，该待测点在测针所在的坐标系的实际坐标与测试文件的坐标信息关系为缩放、平移和/或旋转；如果该测试文件由飞针设备测量得到，在进行多个数据同时测量时，该待测点在测针所在的坐标系的实际坐标与测试文件的坐标信息关系为平移和/或旋转。

因此，需要以待测元件在测针所在的坐标系的实际坐标对测试文件的坐标信息进行修正。首先，可以选取若干个测试点的实际坐标与其在测试文件中的坐标，通过坐标变换确定修正参数，再用该修正参数对该测试原件的其他测试点进行修正。

步骤s106，基于修正后的测试文件，通过飞针设备对各个待测元件的设定的电气指标进行测试；具体地，可以采用通用的飞针测试方法对待测元件的各个测试点之间的关系进行测试，记录各个测试点之间的关系，从而确定待测元件的设定的电气指标；上述电气指标可以为设定测试点的通断关系或稳定性等。

本发明实施例提供了一种多个元件的电气指标测试方法，获取设定数量的待测元件后，将设定数量的待测元件固定在设定的夹具上；通过飞针设备及图像采集设备对预先获取的待测元件的测试文件进行修正；基于修正后的测试文件，通过飞针设备对各个待测元件的设定的电气指标进行测试。该方式通过对多个待测元件的批量化夹持及校准，提高了对大量的待测元件的测量效率，降低了人工成本。

本发明实施例还提供另一种多个元件的电气指标测试方法，该方法在上述实施例所述方法的基础上实现；本实施例重点描述通过飞针设备及摄像头对待测元件进行基准点对预先获取的待测元件的测试文件进行修正的具体过程；如图2所示，该方法包括如下步骤：

步骤s200，获取设定数量的待测元件；设定数量大于一。

步骤s202，将设定数量的待测元件固定在设定的夹具上。

具体地，上述夹具可以阵列测试夹具；设定数量的待测元件由阵列测试夹具固定；固定后的多个待测元件呈阵列式分布。

步骤s204，对当前待测元件进行基准点对准，得到对应的坐标校正参数。

具体地，上述步骤s204通过飞针设备及图像采集设备实现。该图像采集设备可以为基于电荷耦合元件(charge-coupleddevice，ccd)的摄像头；该摄像头用于采集图像；该飞针设备包括测针及电机；电机用于带动测针移动；摄像头固定在测针上；上述待测元件的测试文件中保存有待测元件的待测点的坐标信息。上述步骤s204包括以下具体步骤：

步骤(1)，通过电机带动测针移动，使得当前待测元件出现在摄像头采集的图像中。

步骤(2)，选取当前的待测元件中两个待测点作为第一基准点及第二基准点；具体地，可以选取有一定距离的两个待测点作为基准点，以降低误差；在选取后，可以为第一基准点及第二基准点进行编号，分别为tp1及tp2。

步骤(3)，确定第一基准点及第二基准点在在图像中的第一测试坐标及第二测试坐标。

具体地，可以通过电机带动测针对准第一基准点的几何中心，通过测针与预设的基准点之间的x方向移动步距及y方向移动步距确定第一基准点的第一测试坐标；该基准点可以被设定为测针所在坐标系的零点，测针每移动一个步距时，其对应的移动距离已知，累积获取测针从零点移动到第一测试坐标的过程中经过的x方向移动步距及y方向移动步距，可以确定该第一基准点在测针所在坐标系的第一测试坐标；以同样的方式确定第二测试坐标；其中，第一基准点tp1的第一测试坐标可以表示为(xtp1′，ytp1′)，第二基准点tp2的第二测试坐标可以表示为(xtp2′，ytp2′)。

步骤(4)，基于第一测试坐标、第二测试坐标及第一基准点及第二基准点在测试文件中的第一坐标信息及第二坐标信息，计算当前待测元件的当前坐标相对于测试文件中坐标信息的缩放量、平移量及旋转量。

上述第一基准点及第二基准点的第一坐标信息及第二坐标信息可以在测试文件中查询得到。其中，第一基准点tp1的第一坐标信息可以表示为(xtp1，ytp1)，第二基准点tp2的第二坐标信息可以表示为(xtp2，ytp2)。

上述缩放量可以通过以下公式计算得到：

其中，l为上述缩放量。

上述平移量包括基准点的实际位置相对于文件中位置平移的x方向以及y方向的偏距可以通过以下公式计算得到：

xoffset＝xtp1′-l×xtp1

yoffset＝ytp1′-l×ytp1

其中，xoffset为上述x方向的偏距，yoffset为上述y方向的偏距。当测试文件也为飞针设备测试得到，上述缩放量l为1，上述偏距的公式可以表示为：

xoffset＝xtp1′-xtp1

yoffset＝ytp1′-ytp1

上述旋转量为基于某一个基准点的旋转角度，以第一个基准点为例，上述旋转量可以通过余弦定理确定，余弦定理的原理如图3所示，具体通过下述公式计算得到：

其中，a，b及c分别表示图3中的三角形a边、b边及c边的长度；从而可以根据余弦定理计算得到cosθ的值，具体如下：

确定立体连接器的旋转方向，只需要对比tp2′与tp2两点的y向坐标大小即可，当ytp2′<ytp2时认为基片为顺时针旋转，否则为逆时针旋转。

步骤(5)，将缩放量、平移量及旋转量确定为坐标校正参数。

步骤s206，通过坐标校正参数对预先获取的当前待测元件的测试文件中的测试点的坐标信息进行修正；具体地，基于缩放量、平移量及旋转量依次对当前待测元件的测试文件中的测试点的坐标信息进行平移及旋转处理，得到修正后的测试文件。

步骤s208，判断固定在夹具上的待测元件是否均通过基准点校准；如果否，执行步骤s210；如果是，执行步骤s212。

步骤s210，按照设定的顺序将当前待测元件的下一个待测元件作为当前待测元件，执行步骤s204；上述顺序可以为待测元件在夹具上的排列顺序等。

步骤s212，基于修正后的测试文件，通过飞针设备对各个待测元件的设定的电气指标进行测试。

上述多个元件的电气指标测试方法，获取设定数量的待测元件后，将设定数量的待测元件固定在设定的夹具上；分别获取待测元件对应的坐标校正参数后，基于坐标校正参数对测试文件进行修正；基于修正后的测试文件，通过飞针设备对各个待测元件的设定的电气指标进行测试。该方式通过对多个待测元件的批量化夹持及校准，提高了对大量的待测元件的测量效率，降低了人工成本。

本发明实施例还提供了一种用于立体连接器的阵列测试实现方法，该方法基于上述实施例实现。立体连接器为一种陶瓷多层立体电路基板，其上的焊盘引脚分布于不同高度的平面上，用于电子器件之间的电路连接，其测试文件由飞针设备测试得到，因此采用上述方法对大量立体连接器进行测试时，其坐标校正参数中不包括缩放量。

在飞针设备上对立体连接器的各项电气指标进行测试时，有时需要对同一批次的大量产品进行测试，由于每次测试都需要进行夹持、对准、坐标修正等一系列操作，一个一个的测试不仅耗时长，而且占用大量人工。本发明实施例提出了一种阵列测试的实现方法，可以同时对夹持在特定阵列测试夹具上的多个产品进行测试，减少了人工干预的时间，提高了设备的运行效率。

该方法可以作为一个功能模块添加于飞针工控软件中，其具体方法如下：

1.将需要测试的同一型号的立体连接器夹持在阵列测试专用夹具上。

2.分别对每一个夹持好的立体连接器进行基准点对准，基准点对准的方法为：在图形界面选取两个基准点tp1和tp2并提取其在文件中的位置坐标(xtp1，ytp1)和(xtp2，ytp2)，打开固定于用于校准的一号探针上的ccd相机图像，通过图像找到tp1在立体连接器上的实际位置并记录其坐标(xtp1′，ytp1′)其和测试文件中记录的位置之间的差值即可得出立体连接器实际位置相对于文件中位置平移的x向以及y向的偏距，计算公式如下所示：

xoffset＝xtp1′-xtp1

yoffset＝ytp1′-ytp1

找到基准点tp1的实际位置后，通过文件中tp1和tp2两点之间的位置求出tp2相对于tp1的位置插值并控制电机将相机移动到tp2文件中相对于tp1的位置并记录坐标(xtp2，ytp2)，移动电机找到tp2的实际位置并记录坐标(xtp2′，ytp2′)，通过此组数据求出待测立体连接器绕基准点tp1旋转的角度θ，如下图所示：

其中a、b、c分别为这个三角形的三条边，由于三点的坐标已知，即可用如下公式计算出这三条边的长度：

已知三角形三边长度，即可用余弦定理求出cosθ的值，并且用cosθ的值求出sinθ，所用公式如下：

确定立体连接器的旋转方向，只需要对比tp2′与tp2两点的y向坐标大小即可，当ytp2′<ytp2时认为基片为顺时针旋转，否则为逆时针旋转。选取圆心坐标为(xtp1，ytp1)且旋转角度为θ时候，在这两种情况下，基片上每一点实际坐标(x,y)与从测试文件中提取后经过平移修正的坐标(x0+xoffset,y0+yoffset)之间映射关系修正矩阵分别为：

(1)：待测基板顺指针旋转时：

(2)：待测基板逆指针旋转时：

将修正矩阵站看即可得到可用于测试的坐标修正公式：

(1)待测基板顺指针旋转时：

x＝(x0+xoffset-xtp1)×cosθ+(y0+yoffset-ytp1)×sinθ+xtp1-xccdoffset；

y＝(y0+yoffset-ytp1)×cosθ-(x0+xoffset-xtp1)×sinθ+ytp1-yccdoffset；

(2)待测基板逆指针旋转时：

x＝(x0+xoffset-xtp1)×cosθ-(y0+yoffset-ytp1)×sinθ+xtp1-xccdoffset；

y＝(y0+yoffset-ytp1)×cosθ+(x0+xoffset-xtp1)×sinθ+ytp1-yccdoffset；

(x,y)即为飞针设备在实际测试时所扎针测试测试点坐标值，xccdoffset、xccdoffset为ccd相机图像中心和探针实际扎针位置之间的偏距。

3.重复第二步，对夹持好的每一个待测产品进行基准点对准操作，系统自动记录针对于每一个待测产品的坐标校正参数。

4.控制飞针软件对夹持好的一批立体连接器按顺序开始进行测试，测试完成后自动生成每个已测产品的测试结果文件。

该方式通过对多个待测元件的批量化夹持及校准，提高了对大量的待测元件的测量效率，降低了人工成本。

对应于上述多个元件的电气指标测试方法实施例，本发明实施例还提供一种多个元件的电气指标测试装置，如图4所示，该装置包括：元件获取模块400，用于获取设定数量的待测元件；设定数量大于一；元件固定模块402，用于将设定数量的待测元件固定在设定的夹具上；修正模块404，用于通过飞针设备及图像采集设备对预先获取的待测元件的测试文件进行修正；测试模块406，用于基于修正后的测试文件，通过飞针设备对各个待测元件的设定的电气指标进行测试。

具体地，上述夹具包括阵列测试夹具；设定数量的待测元件由阵列测试夹具固定；固定后的多个待测元件呈阵列式分布。

进一步地，上述修正模块还用于：对当前待测元件进行基准点对准，得到对应的坐标校正参数；通过坐标校正参数对预先获取的当前待测元件的测试文件中的测试点的坐标信息进行修正；判断固定在夹具上的待测元件是否均通过基准点校准；如果否，按照设定的顺序将当前待测元件的下一个待测元件作为当前待测元件，继续执行对当前待测元件进行基准点对准的步骤，直至固定在夹具上的待测元件均通过基准点校准。

在具体实现过程中，上述图像采集设备可以为基于电荷耦合元件的摄像头；该摄像头用于采集图像；该飞针设备包括测针及电机；电机用于带动测针移动；摄像头固定在测针上；上述待测元件的测试文件中保存有待测元件的待测点的坐标信息；上述修正模块还用于：通过电机带动测针移动，使得当前待测元件出现在摄像头采集的图像中；选取当前的待测元件中两个待测点作为第一基准点及第二基准点；确定第一基准点及第二基准点在在图像中的第一测试坐标及第二测试坐标；基于第一测试坐标、第二测试坐标及第一基准点及第二基准点在测试文件中的第一坐标信息及第二坐标信息，计算当前待测元件的当前坐标相对于测试文件中坐标信息的缩放量、平移量及旋转量；将缩放量、平移量及旋转量确定为坐标校正参数。

进一步地，上述修正模块还用于：基于平移量及旋转量依次对当前待测元件的测试文件中的测试点的坐标信息进行平移及旋转处理，得到修正后的测试文件。

本发明实施例提供的多个元件的电气指标测试装置，与上述实施例提供的多个元件的电气指标测试装置具有相同的技术特征，所以也能解决相同的技术问题，达到相同的技术效果。

本发明实施例还提供了一种电子设备，参见图5所示，该电子设备包括处理器130和存储器131，该存储器131存储有能够被处理器130执行的机器可执行指令，该处理器130执行机器可执行指令以实现多个元件的电气指标测试方法。

进一步地，图5所示的电子设备还包括总线132和通信接口133，处理器130、通信接口133和存储器131通过总线132连接。

其中，存储器131可能包含高速随机存取存储器(ram，randomaccessmemory)，也可能还包括非不稳定的存储器(non-volatilememory)，例如至少一个磁盘存储器。通过至少一个通信接口133(可以是有线或者无线)实现该系统网元与至少一个其他网元之间的通信连接，可以使用互联网，广域网，本地网，城域网等。总线132可以是isa总线、pci总线或eisa总线等。所述总线可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。为便于表示，图5中仅用一个双向箭头表示，但并不表示仅有一根总线或一种类型的总线。

处理器130可能是一种集成电路芯片，具有信号的处理能力。在实现过程中，上述方法的各步骤可以通过处理器130中的硬件的集成逻辑电路或者软件形式的指令完成。上述的处理器130可以是通用处理器，包括中央处理器(centralprocessingunit，简称cpu)、网络处理器(networkprocessor，简称np)等；还可以是数字信号处理器(digitalsignalprocessing，简称dsp)、专用集成电路(applicationspecificintegratedcircuit，简称asic)、现成可编程门阵列(field-programmablegatearray，简称fpga)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。可以实现或者执行本发明实施例中的公开的各方法、步骤及逻辑框图。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。结合本发明实施例所公开的方法的步骤可以直接体现为硬件译码处理器执行完成，或者用译码处理器中的硬件及软件模块组合执行完成。软件模块可以位于随机存储器，闪存、只读存储器，可编程只读存储器或者电可擦写可编程存储器、寄存器等本领域成熟的存储介质中。该存储介质位于存储器131，处理器130读取存储器131中的信息，结合其硬件完成前述实施例的方法的步骤。

本发明实施例还提供了一种机器可读存储介质，该机器可读存储介质存储有机器可执行指令，该机器可执行指令在被处理器调用和执行时，该机器可执行指令促使处理器实现上述多个元件的电气指标测试方法，具体实现可参见方法实施例，在此不再赘述。

本发明实施例所提供的多个元件的电气指标测试方法及装置和电子设备的计算机程序产品，包括存储了程序代码的计算机可读存储介质，所述程序代码包括的指令可用于执行前面方法实施例中所述的方法，具体实现可参见方法实施例，在此不再赘述。

所述功能如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：u盘、移动硬盘、只读存储器(rom，read-onlymemory)、随机存取存储器(ram，randomaccessmemory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

最后应说明的是：以上所述实施例，仅为本发明的具体实施方式，用以说明本发明的技术方案，而非对其限制，本发明的保护范围并不局限于此，尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，其依然可以对前述实施例所记载的技术方案进行修改或可轻易想到变化，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改、变化或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明实施例技术方案的精神和范围，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。