一种发光二极管性能检测系统及检测方法与流程

本发明涉及电子检测技术领域，特别涉及一种发光二极管性能检测系统及检测方法。

背景技术：

发光二极管简称led，其根据化学性质有分为有机发光二极管oled和无机发光二极管led，可以高效的将电能转换为光能，因此，是现代社会一种被广泛使用的电子器件。

发光二极管在生产完成后，一般都需要进行检测，确认产品的性能和质量，而发光二极管通常体积较小，传统的检测方式费时费力，需要人工手动使用万用表对发光二极管进行检测，非常的不方便，且效率低下。

为此，我们提出了一种发光二极管性能检测系统及检测方法，可以快速高效的检测发光二极管的性能，且可以同时对多个发光二极管进行检测，降低了生产成本，提高了生产效率。

技术实现要素：

为了解决上述问题，本发明提供了一种发光二极管性能检测系统及检测方法，本发明可以快速高效的检测发光二极管的性能，且可以同时对多个发光二极管进行检测，降低了生产成本，提高了生产效率。

为了实现上述目的，本发明采用以下技术方案，包括放置箱和检测架，所述的放置箱内对称开设有放置槽，所述放置槽内的一端均开设有凹槽，所述放置槽内的一侧均固定连接有挡板，所述放置槽用于防止发光二极管，所述凹槽配合所述挡板可以防止发光二极管垂直落入放置槽内；

所述的放置箱的顶部开设有第一插槽，所述第一插槽内插设有旋转盘，所述旋转盘内对称开设有通槽，所述通槽均与所述放置槽对称设置并相连通，所述旋转盘的外侧开设有齿槽，所述放置箱的一侧固定连接有旋转电机，所述旋转电机的输出端固定连接有齿轮，所述齿轮与所述齿槽对称设置并相啮合，所述旋转盘的顶部设有限位块，所述限位块内开设有限位槽，所述限位块的底部对称固定连接有固定杆，所述固定杆的一端均固定连接在所述放置箱的顶部，所述旋转盘通过旋转可以将发光二极管落入放置槽内；

所述的检测架插设在所述放置箱的底部，所述检测架内插设有检测盘并活动连接，所述检测盘内对称开设有若干检测槽，所述检测槽的一端固定连接有固定套环，所述检测槽远离所述固定套环的一端为开放式结构，所述检测架的一侧对称固定连接有滑杆，所述滑杆上插设有活动板，所述活动板的底部对称开设有滑槽，所述滑槽内均插设有活动套环，所述活动板的底部一端固定连接有铜箔，所述铜箔与所述固定套环对称设置并相接触，所述活动板的顶部固定连接有万用表，所述万用表通过导线分别于所述铜箔和所述活动套环相连接。

此外，本发明还提供了一种发光二极管性能检测方法，由上述发光二极管性能检测系统配合完成，主要包括以下步骤；

s1、设备检查：在启用该发光二极管性能检测系统之前，对设备运行进行检查；

s2、放置发光二极管：将发光二极管放置在限位槽内，通过旋转盘的旋转，将发光二极管落入放置槽内；

s3、检测发光二极管：通过抽拉检测盘，将放置槽内的发光二极管落入检测槽内，操作活动板与检测盘相结合，通过活动套环将发光二极管抵紧在固定套环上，使用万用表进行检测即可；

s4、重复操作：将检测好的发光二极管取下后，重复操作s3即可。

作为本发明的一种优选技术方案，所述的放置箱的顶部对称固定连接有若干凸点，所述旋转盘的底部对称开设有若干卡槽，所述凸点均与所述卡槽对称设置，所述齿槽的高度高于所述齿轮的厚度，所述固定杆均为可伸缩式。

作为本发明的一种优选技术方案，所述限位槽的两侧对称开设有若干拨片。

作为本发明的一种优选技术方案，所述的活动板内固定连接有第一弹簧，所述第一弹簧的一端固定连接在所述活动套环上，所述第一弹簧为中空结构，所述第一弹簧内插设有导线。

作为本发明的一种优选技术方案，所述的检测架内对称固定连接有伸缩杆，所述伸缩杆远离所述检测架的一端固定连接有l型的卡板，所述卡板的顶部对称开设有若干窗口，所述窗口与所述检测槽对称设置，所述窗口均贯穿所述所述采用窗口均与所述放置槽交错设置，所述伸缩杆的外侧套设有第二弹簧，所述第二弹簧的两端均分别固定连接在所述检测架与所述卡板上。

作为本发明的一种优选技术方案，所述的固定套环与所述的活动套环相对应的一端均开设有漏斗槽。

本发明的有益效果在于：

1.本发明可以快速高效的检测发光二极管的性能，且可以同时对多个发光二极管进行检测，降低了生产成本，提高了生产效率。

2.本发明设计了旋转盘，旋转盘通过旋转的震动，使限位槽内的发光二极管通过通槽落入放置槽内，实现对发光二极管的整理码放，进一步提高了检测效率。

3.本发明设计了检测盘，检测盘通过检测槽可以同时承载将若干个发光二极管，通过与活动板的结合实现批量检测发光二极管的目的。

4.本发明设计了活动板，活动板通过滑槽和活动套环可以实现同时对多个不同长度的发光二极管进行固定，具有较高了灵活性。

附图说明

下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。

图1是本发明的放置箱的主视结构示意图；

图2是本发明的放置箱的底视结构示意图；

图3是本发明的放置箱的剖视结构示意图；

图4是本发明的检测架的主视结构示意图；

图5是本发明的检测架的底视结构示意图；

图6是本发明的检测盘的剖视结构示意图；

图7是本发明的活动板的剖视结构示意图；

图8是本发明的第一弹簧的局部剖视结构示意图。

具体实施方式

为了使本发明实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体图示，进一步阐述本发明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互结合。

如图1至图8所示，一种发光二极管性能检测系统及检测方法，包括放置箱1和检测架2，放置箱1内对称开设有放置槽11，放置槽11内的一端均开设有凹槽12，放置槽11内的一侧均固定连接有挡板13，放置槽11用于放置发光二极管，凹槽12配合挡板13可以防止发光二极管垂直落入放置槽11内；

放置箱1的顶部开设有第一插槽14，第一插槽14内插设有旋转盘3，旋转盘3内对称开设有通槽31，通槽31均与放置槽11对称设置并相连通，旋转盘3的外侧开设有齿槽32，放置箱1的一侧固定连接有旋转电机15，旋转电机15的输出端固定连接有齿轮16，齿轮16与齿槽32对称设置并相啮合，旋转盘3的顶部设有限位块4，限位块4内开设有限位槽41，限位块4的底部对称固定连接有固定杆42，固定杆42的一端均固定连接在放置箱1的顶部，旋转盘3通过旋转可以实现对发光二极管的整理，通槽31用于连通放置槽11，旋转电机15通过齿轮16带动旋转盘3进行旋转，限位块4内的限位槽41用于对发光二极管进行限位，用于配合旋转盘3对发光二极管的整理；

检测架2插设在放置箱1的底部，检测架2内插设有检测盘21并活动连接，检测盘21内对称开设有若干检测槽22，检测槽22的一端固定连接有固定套环23，检测槽22远离固定套环23的一端为开放式结构，检测架2的一侧对称固定连接有滑杆24，滑杆24上插设有活动板5，活动板5的底部对称开设有滑槽51，滑槽51内均插设有活动套环52，活动板5的底部一端固定连接有铜箔53，铜箔53与固定套环23对称设置并相接触，活动板5的顶部固定连接有万用表54，万用表54通过导线分别于铜箔53和活动套环52相连接，检测架2用于检测盘21的活动，固定套环23配合活动套环52可以实现对发光二极管两极的固定，滑杆24用于活动板5的移动，活动板5通过移动带动活动套环52在滑槽51内移动，实现对不同长度的发光二极管的固定，铜箔53用于连接固定套环23。

此外，本发明还提供了一种发光二极管性能检测方法，由上述发光二极管性能检测系统配合完成，主要包括以下步骤；

s1、设备检查：在启用该发光二极管性能检测系统之前，对设备运行进行检查；

s2、放置发光二极管：将发光二极管放置在限位槽41内，通过旋转盘3的旋转，将发光二极管落入放置槽11内；

s3、检测发光二极管：通过抽拉检测盘21，将放置槽41内的发光二极管落入检测槽22内，操作活动板5与检测盘21相结合，通过活动套环52将发光二极管抵紧在固定套环23上，使用万用表54进行检测即可；

s4、重复操作：将检测好的发光二极管取下后，重复操作s3即可。

放置箱1的顶部对称固定连接有若干凸点17，旋转盘3的底部对称开设有若干卡槽33，凸点17均与卡槽33对称设置，齿槽32的高度高于齿轮16的厚度，固定杆42均为可伸缩式，凸点17配合卡槽33可以实现旋转盘3在旋转中产生振动，提高对发光二极管的整理，齿槽32的高度高于齿轮16的厚度用于在振动时齿轮16不会产生卡齿，可伸缩式的固定杆42用于配合旋转盘3的振动。

限位槽41的两侧对称开设有若干拨片43，拨片43用于在旋转盘3旋转时，对发光二极管进行拨动，提高整理效果。

活动板5内固定连接有第一弹簧55，第一弹簧的一端固定连接在活动套环52上，第一弹簧55为中空结构，第一弹簧55内插设有导线，第一弹簧55用于提高活动套环52的夹持效果，中空结构的第一弹簧55内插设有导线可以避免导线在收放时产生相互缠绕。

检测架2内对称固定连接有伸缩杆25，伸缩杆25远离检测架2的一端固定连接有l型的卡板26，卡板26的顶部对称开设有若干窗口27，窗口27与检测槽22对称设置，窗口27均贯穿采用窗口27均与放置槽11交错设置，伸缩杆25的外侧套设有第二弹簧28，第二弹簧28的两端均分别固定连接在检测架2与卡板26上，伸缩杆25配合第二弹簧28可以实现卡板26的活动，通过卡板26的活动可以使窗口27与放置槽11相连通，使发光二极管落入检测槽22内，通过卡板26的回位，对放置槽11进行封闭，避免发光二极管掉落。

固定套环23与的活动套环52相对应的一端均开设有漏斗槽29，漏斗槽29可以提高对发光二极管的引脚的夹持，防止发光二极管的引脚弯曲影响夹持效果。

以上显示和描述了本发明的基本原理、主要特征和优点。本行业的技术人员应该了解，本发明不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中的描述的只是说明本发明的原理，在不脱离本发明精神和范围的前提下，本发明还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本发明范围内。本发明要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。