汽车毫米波雷达紧缩场测试系统及方法与流程

1.本发明涉及雷达技术领域，尤指一种汽车毫米波雷达紧缩场测试系统及方法。


背景技术：

2.雷达，是英文radar的音译，源于radio detection and ranging的缩写，意思为“无线电探测和测距”，即用无线电的方式发现目标并测定它们的空间位置。因此，雷达也被称为“无线电定位”。雷达是利用电磁波探测目标的电子设备。雷达发射电磁波对目标进行照射并接收其回波，由此获得目标至电磁波发射点的距离、方位等信息。各种雷达的具体用途和结构不尽相同，但基本形式是一致的，包括：发射机、发射天线、接收机、接收天线，处理部分以及显示器。还有电源设备、数据录取设备、抗干扰设备等辅助设备。随着微电子等各个领域科学进步，雷达技术的不断发展，应用领域也不断拓展。
3.现代雷达的任务除了测量目标的距离、方位和仰角之外，还包括测量目标速度，毫米波雷达作为车载主动安全系统的主要传感器，对它的技术指标进行精准测量是研发、测试验证中必不可少的手段，其准确可靠的性能是保证车辆安全的基本要求。
4.目前，通用的办法是通过将毫米波雷达装配于测试的实车上布置测试场景，通过模拟不同状态的目标记录试验过程与试验结果以实现目的，这种测试方式虽然能够一定程度上实现对毫米波雷达的测试，但是操作繁琐会需要消耗较多的人力物力，尤其是需要进行大批量测试时，极大的增加了测试成本。此外，测试时容易产生误差，导致对车载毫米波雷达性能评价不准确。


技术实现要素：

5.本发明的目的是提供一种汽车毫米波雷达紧缩场测试系统及方法，有效解决现有毫米波雷达测试中存在的操作繁琐、测试成本高、测试数据容易出现误差等技术问题。
6.本发明提供的技术方案如下：
7.一种汽车毫米波雷达紧缩场测试系统，包括：
8.测试暗箱，置于所述测试暗箱内的底座及垂直于所述底座固定的固定杆；
9.置于所述底座表面的待测试毫米波雷达及固定于所述固定杆上的反射面，所述待测试毫米波雷达的信号发射方向朝向所述反射面；
10.置于所述测试暗箱内的溃源，表面设有朝向所述反射面设置的天线，所述天线用于接收所述待测试毫米波雷达发射后经由所述反射面反射的第一雷达测试信号；所述溃源用于根据所述第一雷达测试信号生成tx发射信号和rx接收信号，及用于发送模拟器产生的第二雷达测试信号和经由模拟器处理的rx接收信号；
11.置于所述测试暗箱外的模拟器，与所述溃源连接，用于对所述溃源生成的tx发射信号和rx接收信号进行处理，及用于生成第二雷达测试信号；
12.置于所述测试暗箱外的频谱设备，与所述模拟器连接，用于对模拟器处理后的tx发射信号进行频谱分析；及
13.置于所述测试暗箱外的控制终端，分别与所述待测试毫米波雷达、频谱设备及模拟器连接，用于控制汽车毫米波雷达紧缩场测试系统工作及解析测试数据。
14.在本技术方案中，在测试系统中设置反射面、溃源、模拟器、频谱设备等电子器件，并根据测试方案进行放置，在紧缩场内实现对待测试毫米波雷达的紧缩场测试，包括毫米波雷达的发射信号测试模式、自发自收测试模式及模拟目标物测试，无需人为搭建基于实车的测试场景，极大的节约了人力物力及测试时间，同时大大提高了测试数据的准确度。该紧缩场测试系统在搭建好之后，可以重复使用对大批量的毫米波雷达进行测试，简单方便。
15.进一步地，所述固定杆沿底座的中间位置进行设定，所述反射面的中心位置与所述底座的中心位置位于同一垂直方向上，且所述溃源表面的天线朝向所述反射面的中心位置设置。
16.进一步地，所述模拟器中包括混频器和信号产生器；
17.所述混频器用于对所述tx发射信号进行降频处理，并将降频后的tx发射信号发送至频谱设备；
18.所述混频器用于对所述rx接收信号进行降频处理后再升频，并将升频后的rx接收信号经由溃源表面的天线发送出去；
19.所述信号产生器用于生成模拟目标物的第二雷达测试信号，并经由溃源表面的天线发送出去。
20.在本技术方案中，通过混频器对tx发射信号和rx接收信号进行处理，实现毫米波雷达的发射信号测试模式和自发自收测试模式的测试，且通过信号产生器生成的信号对目标物进行模拟，实现雷达目标模拟测试，有效的利用测试暗箱内的空间完成各项测试，便于产线量产测试。
21.进一步地，所述混频器将所述tx发射信号降频至1.5～3ghz，将所述rx接收信号降频至1.5～3ghz后升频至76～81ghz。
22.进一步地，所述底座表面设置有一转台及用于控制所述转台转动的驱动装置，所述驱动装置分别与所述控制终端和转台电连接；所述待测试毫米波雷达置于所述转台表面，在预设的角度范围内带动测试毫米波雷达转动，实现对所述测试毫米波雷达水平方向及俯仰方向上的角度测试。
23.在本技术方案中，通过对转台的转动角度进行控制，实现对毫米波雷达的多角度测试，得到更加全面的测试结果，提高测试结果的可靠性。
24.进一步地，所述转台表面设置有用于感应是否放置有待测试毫米波雷达的第一传感器，所述第一传感器与所述控制终端连接；和/或
25.所述转台表面设置有用于感应转台角度的第二传感器，所述第一传感器与所述控制终端连接；和/或
26.所述溃源表面设置有用于感应其位置的第三传感器，所述第三传感器与所述控制终端连接。
27.本发明还提供了一种汽车毫米波雷达紧缩场测试方法，其特征在于，应用于上述汽车毫米波雷达紧缩场测试系统，所述汽车毫米波雷达紧缩场测试方法包括：
28.待测试毫米波雷达朝向反射面的方向发射第一雷达测试信号；
29.第一雷达测试信号到达发射面并反射；
30.溃源表面的天线接收经由反射面反射的第一雷达测试信号；
31.溃源根据接收的第一雷达测试信号生成tx发射信号和rx接收信号并发送至模拟器；
32.模拟器分别与溃源生成的tx发射信号和rx接收信号进行处理，并将处理后的tx发射信号发送至频谱设备，将处理后的rx接收信号经由天线发射出去；
33.频谱设备对模拟器处理后的tx发射信号进行频谱分析；
34.经由天线发射的处理后的rx接收信号到达发射面并反射；
35.待测试毫米波雷达接收反射面反射的rx接收信号发送至控制终端中进行分析。
36.在本技术方案中，在测试系统中设置反射面、溃源、模拟器、频谱设备等电子器件，并根据测试方案进行放置，在紧缩场内实现对待测试毫米波雷达的紧缩场测试，包括毫米波雷达的发射信号测试模式和自发自收测试模式，无需人为搭建基于实车的测试场景，极大的节约了人力物力及测试时间，同时大大提高了测试数据的准确度。该紧缩场测试系统在搭建好之后，可以重复使用对大批量的毫米波雷达进行测试，简单方便。
37.进一步地，所述模拟器分别与溃源生成的tx发射信号和rx接收信号进行处理，并将处理后的tx发射信号发送至频谱设备，将处理后的rx接收信号经由天线发射出去中，包括：
38.模拟器对所述tx发射信号进行降频处理，并将降频后的tx发射信号发送至频谱设备；
39.模拟器对所述rx接收信号进行降频处理后再升频，并将升频后的rx接收信号经由溃源表面的天线发送出去。
40.在本技术方案中，通过混频器对tx发射信号和rx接收信号进行处理，实现毫米波雷达的发射信号测试模式和自发自收测试模式的测试，有效的利用测试暗箱内的空间完成各项测试，便于产线量产测试。
41.进一步地，在所述模拟器对所述tx发射信号进行降频处理中，将所述tx发射信号降频至1.5～3ghz；
42.在所述模拟器对所述rx接收信号进行降频处理后再升频中，将所述rx接收信号降频至1.5～3ghz后升频至76～81ghz。
43.进一步地，所述待测试毫米波雷达朝向反射面的方向发射第一雷达测试信号之前，还包括：
44.控制转台于待测试毫米波雷达的水平方向和/或俯仰方向上转动预设角度；
45.所述待测试毫米波雷达接收反射面反射的rx接收信号发送至控制终端中进行分析之后，还包括：
46.判断是否针对该待测试毫米波雷达预设的转动角度均测试完成；
47.若是，结束测试；
48.若不是，控制转台于待测试毫米波雷达的水平方向和/或俯仰方向上转动至未测试角度并重新进入测试流程。
49.在本技术方案中，通过对转台的转动角度进行控制，实现对毫米波雷达的多角度测试，得到更加全面的测试结果，提高测试结果的可靠性。
50.进一步地，在所述控制转台于待测试毫米波雷达的水平方向和/或俯仰方向上转
动预设角度之前，还包括检测转台表面是否放置有待测试毫米波雷达的步骤；和/或
51.在所述控制转台于待测试毫米波雷达的水平方向和/或俯仰方向上转动预设角度之后还包括判断转台是否转动到预设角度的步骤；和/或
52.在所述控制转台于待测试毫米波雷达的水平方向和/或俯仰方向上转动预设角度之前，还包括检测溃源是否处于预设方位的步骤。
53.进一步地，所述汽车毫米波雷达紧缩场测试方法中还包括模拟目标物进行测试的步骤，包括：
54.模拟器生成模拟目标物的第二雷达测试信号，并发送至溃源；
55.溃源表面的天线将第二雷达测试信号发送出去；
56.经由天线发射的第二雷达测试信号到达发射面并反射；
57.待测试毫米波雷达接收反射面反射的第二雷达测试信号发送至控制终端中进行分析。
58.在本技术方案中，在测试系统中设置反射面、溃源、模拟器、频谱设备等电子器件，并根据测试方案进行放置，在紧缩场内实现对待测试毫米波雷达的紧缩场测试，除了实现毫米波雷达的发射信号测试模式和自发自收测试模式的测试之外，同时实现模拟目标物的测试，无需人为搭建基于实车的测试场景，极大的节约了人力物力及测试时间，同时大大提高了测试数据的准确度。该紧缩场测试系统在搭建好之后，可以重复使用对大批量的毫米波雷达进行测试，简单方便。
59.进一步地，所述第二雷达测试信号中包括：目标物的速度、角度、距离及rcs；
60.在所述待测试毫米波雷达接收反射面反射的第二雷达测试信号发送至控制终端中进行分析之后，还包括：
61.控制终端将接收到的第二雷达测试信号与模拟器生成的第二雷达测试信号进行比对，并将结果进行显示。
62.在本技术方案中，通过比对控制终端将接收到的第二雷达测试信号与模拟器生成的第二雷达测试信号，对毫米波雷达的性能进行评价。
附图说明
63.下面将以明确易懂的方式，结合附图说明优选实施例，对上述特性、技术特征、优点及其实现方式予以进一步说明。
64.图1为本发明中汽车毫米波雷达紧缩场测试系统结构示意图；
65.图2为本发明中汽车毫米波雷达紧缩场测试方法一实施例流程示意图；
66.图3为本发明中汽车毫米波雷达紧缩场测试方法另一实施例流程示意图。
67.附图标记说明：
68.1-状态指示灯，2-显示屏，3-吸波材，4-反射面，5-天线，6-待测试毫米波雷达，7-馈源，8-上下升降门，9-底座，10-电源，11-工控机，12-模拟器，13-频谱设备。
具体实施方式
69.为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对照附图说明本发明的具体实施例。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本
领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图，并获得其他的实施例。
70.本发明的第一实施例，如图1所示，一种汽车毫米波雷达紧缩场测试系统，包括：测试暗箱，置于测试暗箱内的底座9及垂直于底座9固定的固定杆；置于底座9表面的待测试毫米波雷达6及固定于固定杆上的反射面4，待测试毫米波雷达6的信号发射方向朝向反射面4；置于测试暗箱内的溃源7，表面设有朝向反射面4设置的天线5，天线5用于接收待测试毫米波雷达6发射后经由反射面4反射的第一雷达测试信号；溃源7用于根据第一雷达测试信号生成tx发射信号和rx接收信号，及用于发送模拟器12产生的第二雷达测试信号和经由模拟器12处理的rx接收信号；置于测试暗箱外的模拟器12，与溃源7连接，用于对溃源7生成的tx发射信号和rx接收信号进行处理，及用于生成第二雷达测试信号；置于测试暗箱外的频谱设备13，与模拟器12连接，用于对模拟器12处理后的tx发射信号进行频谱分析；及置于测试暗箱外的控制终端(图中未示出)，分别与待测试毫米波雷达6、频谱设备13及模拟器12连接，用于控制汽车毫米波雷达紧缩场测试系统工作及解析测试数据。
71.在本实施方式中，在紧缩场测试系统中设置反射面4，用以对待测试毫米波雷达6发射的第一雷达测试信号进行反射；反射的第一雷达测试信号被天线5接收后，经过溃源7中的环路器进行环形链路处理分成两路，对于tx信号链路，模拟器12对tx发射信号进行处理后发送至频谱设备13进行频谱分析；对于rx信号链路，模拟器12对rx接收信号处理后经由天线5发射出去。经由天线5发射的处理后的rx接收信号到达发射面并反射；待测试毫米波雷达6接收反射面4反射的rx接收信号发送至控制终端中进行分析，实现对毫米波雷达发射信号测试模式和自发自收测试模式的测试。
72.在模拟目标物测试模式中，模拟器12生成模拟目标物的第二雷达测试信号并发送至溃源7；溃源7表面的天线5将第二雷达测试信号发送出去；经由天线5发射的第二雷达测试信号到达发射面并反射；待测试毫米波雷达6接收反射面4反射的第二雷达测试信号发送至控制终端中进行分析。
73.具体，频谱设备13对接收到的rx接收信号的中心频率、带宽、杂散等参数进行分析。控制终端对返回的rx接收信号的角度、rcs(雷达散射截面积)等进行分析。控制终端对接收到的第二雷达测试信号的目标物的速度、角度、距离、rcs等参数进行分析。使用的天线5根据待测试毫米波雷达6进行选定，能够接收发射相应的测试信号均包括在本实施例中。
74.对于待测试毫米波雷达6、反射面4和溃源7的相互位置关系，这里同样不做具体限定，只要待测试毫米波雷达6发射的第一雷达测试信号能够达到反射面4，且经由反射面4反射的第一雷达测试信号能够被溃源7上的天线5接收即可。对测试数据的分析可以根据系统的设定测试标准，只要该测试标准与真实的测试数据存在关联关系即可。
75.在本实施例中，控制终端还与待测试毫米波雷达6连接(通过usb-can线)，待测试毫米波雷达6在控制终端的控制下发射第一雷达测试信号，进入测试流程。另外，控制终端还分别与模拟器12和频谱设备13连接，模拟器12在控制终端的控制下生成第二雷达测试信号，实现对目标物的模拟。频谱设备13在对接收到的rx接收信号进行分析及待测试毫米波雷达6在接收到反射面4反射的rx接收信号和第二雷达测试信号后，均将相应的信息反馈至控制终端，以此控制终端对相应的信号进行分析显示后进行存储记录。在对接收到的第二雷达测试信号进行处理时，将接收到的第二雷达测试信号与模拟器12生成的第二雷达测试
信号进行比对分析，并将log数据形成图标。
76.此外，在该紧缩场测试系统中还包括贴于测试暗箱四壁的用于吸附杂波的暗室贴吸波材料3、用于显示控制终端对接收到的rx接收信号和第二雷达测试信号分析结果的显示屏2、与各电子器件连接的电源10、设置于测试暗箱上用于放置待测试毫米波雷达6的上下升降门8、状态指示灯1、用于散热的风扇等。具体，当需要放置待或取出测试毫米波雷达时，开启上下升降门8；放置好或取出后，关闭上下升降门8。在一实例中，状态指示灯1包括绿灯、黄灯和红灯，其中，绿灯表示设备正常运行状态，黄色表示待命状态，红色表示故障状态，在其他实例中，还可以通过其他形式对设备的运行进行指示，这里不做具体限定。
77.在该缩场测试系统中，集中设置反射面4、溃源7、模拟器12、频谱设备13等电子器件，并根据测试方案进行放置，实现对待测试毫米波雷达6的紧缩场测试，包括毫米波雷达的发射信号测试模式、自发自收测试模式及模拟目标物测试，无需人为搭建基于实车的测试场景，极大的节约了人力物力及测试时间，同时大大提高了测试数据的准确度。
78.对上述实施例进行改进得到本实施例，在本实施例中，固定杆沿底座9的中间位置进行设定，反射面4的中心位置与底座9的中心位置位于同一垂直方向上，且溃源7表面的天线5朝向反射面4的中心位置设置，以提高紧缩场测试系统的准确性。
79.对上述实施例进行改进得到本实施例，在本实施例中，模拟器12中包括混频器和信号产生器；其中，混频器用于对tx发射信号进行降频处理，并将降频后的tx发射信号发送至频谱设备13；混频器用于对rx接收信号进行降频处理后再升频，并将升频后的rx接收信号经由溃源7表面的天线5发送出去；信号产生器用于生成模拟目标物的第二雷达测试信号，并经由溃源7表面的天线5发送出去。
80.在本实施方式中，通过混频器对tx发射信号和rx接收信号进行处理，实现毫米波雷达的发射信号测试模式和自发自收测试模式的测试，且通过信号产生器生成的信号对目标物进行模拟，实现雷达目标模拟测试，有效的利用测试暗箱内的空间完成各项测试，便于产线量产测试。具体，混频器将tx发射信号降频至1.5～3ghz(吉赫)，将rx接收信号降频至1.5～3ghz后升频至76～81ghz。
81.对上述实施例进行改进得到本实施例，在本实施例中，底座9表面设置有一转台及用于控制转台转动的驱动装置，驱动装置分别与控制终端和转台电连接；待测试毫米波雷达6置于转台表面，在预设的角度范围内带动测试毫米波雷达转动，实现对测试毫米波雷达水平方向及俯仰方向上的角度测试。
82.在本实施方式中，对转台的结构不做具体限定，可以通过自由组合的方式设置待测试毫米波雷达6水平方向及俯仰方向上的转轴，实现对待测试毫米波雷达6的转动。要说明的是，这里的转动方向是针对待测试毫米波雷达6来说的，当待测试毫米波雷达6应用于车上时，其水平方向和俯仰方向上的性能均需保证，故在测试时需要对这些角度进行测试。在一实例中，通过转台实现待测试雷达水平
±
60
°
、俯仰
±
30
°
的性能测试，在测试过程中，通过控制终端控制转台转动，每次转台转动的角度由测试需求进行决定，如水平转动3
°
和/或俯仰转动3
°
等，这里不做具体限定。
83.在一实施例中，为了实现对测试系统的精确控制，在转台表面设置有用于感应是否放置有待测试毫米波雷达的与控制终端连接的第一传感器，当该第一传感器感应到待测试雷达置于转台表面，通知控制终端进入测试流程，否则不做动作。
84.在另一实施例中，在转台表面设置有用于感应转台角度且与控制终端连接的第二传感器。在控制终端控制转台转动之前或之后，都可以通过第二传感器获取转台的当前位置，实现对待测试毫米波雷达位置的精确控制。
85.在另一实施例中，溃源底部同样设置一转台，并于溃源上设置有用于感应其位置且与控制终端连接的第三传感器。在测试之前，可以通过第三传感器获取溃源的当前位置，便于控制终端对其位置进行控制，实现对待测试毫米波雷达性能的精确测量。
86.在上述实施例中，为了实现控制终端对紧缩场测试系统的控制，还配置有plc(programmable logic controller，可编程逻辑控制器)控制器和positioner控制器，控制终端经过usb-can控制plc控制器、positioner控制器(plc控制器、positioner控制器形成工控机11)、模拟器12及转台上的待测试毫米波雷达6，plc控制器控制风扇、测试暗箱内的上下升降门8、状态指示灯1、第一传感器、第二传感器及第三传感器，positioner控制器用于控制放置待测试毫米波雷达6的转台、溃源7上的转台及模拟器12。
87.在控制过程中，以发射信号测试模式为例，控制终端通过plc控制器控制上下升降门8打开，将待测试毫米波雷达6置于转台表面，之后控制终端通过plc控制器控制上下升降门8关闭。控制终端通过positioner控制器控制转台转动一定角度后，进一步控制待测试毫米波雷达6发射第一雷达测试信号，第一雷达测试信号到达发射面并反射；溃源7表面的天线5接收经由反射面4反射的第一雷达测试信号，该信号经过溃源7中的环路器分成tx发射信号和rx接收信号。tx发射信号经过模拟器12降频后进入频谱设备13，频谱设备13对降频后的tx发射信号分析后，将分析数据反馈至控制终端，控制终端对接收到的信号进行分析并记录。最后，控制终端通过plc控制器控制上下升降门8打开，将待测试毫米波雷达6取出后进一步控制上下升降门8关闭，完成对对待测试雷达的tx发射信号测试。
88.本发明还提供了一种汽车毫米波雷达紧缩场测试方法，应用于上述汽车毫米波雷达紧缩场测试系统，如图2所示，该汽车毫米波雷达紧缩场测试方法包括：
89.s11待测试毫米波雷达朝向反射面的方向发射第一雷达测试信号；
90.s12第一雷达测试信号到达发射面并反射；
91.s13溃源表面的天线接收经由反射面反射的第一雷达测试信号；
92.s14溃源根据接收的第一雷达测试信号生成tx发射信号和rx接收信号并发送至模拟器；
93.s15模拟器分别与溃源生成的tx发射信号和rx接收信号进行处理，并将处理后的tx发射信号发送至频谱设备，将处理后的rx接收信号经由天线发射出去；
94.s16频谱设备对模拟器处理后的tx发射信号进行频谱分析；
95.s17经由天线发射的处理后的rx接收信号到达发射面并反射；
96.s18待测试毫米波雷达接收反射面反射的rx接收信号发送至控制终端中进行分析。
97.在本实施方式中，在紧缩场测试系统中设置反射面，用以对待测试毫米波雷达发射的第一雷达测试信号进行反射；反射的第一雷达测试信号被天线接收后，经过溃源中的环路器进行环形链路处理分成两路，对于tx信号链路，模拟器对tx发射信号进行处理后发送至频谱设备进行频谱分析；对于rx信号链路，模拟器对rx接收信号处理后经由天线发射出去。经由天线发射的处理后的rx接收信号到达发射面并反射；待测试毫米波雷达接收反
射面反射的rx接收信号发送至控制终端中进行分析，实现对毫米波雷达发射信号测试模式和自发自收测试模式的测试。
98.具体，频谱设备对接收到的rx接收信号的中心频率、带宽、杂散等参数进行分析。控制终端对返回的rx接收信号的角度、rcs(雷达散射截面积)等进行分析。使用的天线根据待测试毫米波雷达进行选定，能够接收发射相应的测试信号均包括在本实施例中。
99.在本实施例中，控制终端还与待测试毫米波雷达连接(通过usb-can线)，待测试毫米波雷达在控制终端的控制下发射第一雷达测试信号，进入测试流程。频谱设备在对接收到的rx接收信号进行分析及待测试毫米波雷达在接收到反射面反射的rx接收信号后，均将相应的信息反馈至控制终端，以此控制终端对相应的信号进行分析显示后进行存储记录。
100.此外，在应用的紧缩场测试系统中还包括贴于测试暗箱四壁的用于吸附杂波的暗室贴吸波材料、用于显示控制终端对接收到的rx接收信号的显示屏、与各电子器件连接的电源、设置于测试暗箱上用于放置待测试毫米波雷达的上下升降门、状态指示灯、用于散热的风扇等。具体，当需要放置待或取出测试毫米波雷达时，开启上下升降门；放置好或取出后，关闭上下升降门。在一实例中，状态指示灯包括绿灯、黄灯和红灯，其中，绿灯表示设备正常运行状态，黄色表示待命状态，红色表示故障状态，在其他实例中，还可以通过其他形式对设备的运行进行指示，这里不做具体限定。
101.在该缩场测试方法中，集中设置反射面、溃源、模拟器、频谱设备等电子器件，并根据测试方案进行放置，实现对待测试毫米波雷达的紧缩场测试，包括毫米波雷达的发射信号测试模式、自发自收测试模式及模拟目标物测试，无需人为搭建基于实车的测试场景，极大的节约了人力物力及测试时间，同时大大提高了测试数据的准确度。
102.对上述实施例进行改进得到本实施例，模拟器分别与溃源生成的tx发射信号和rx接收信号进行处理，并将处理后的tx发射信号发送至频谱设备，将处理后的rx接收信号经由天线发射出去中，包括：模拟器对tx发射信号进行降频处理，并将降频后的tx发射信号发送至频谱设备；模拟器对rx接收信号进行降频处理后再升频，并将升频后的rx接收信号经由溃源表面的天线发送出去。
103.通过混频器对tx发射信号和rx接收信号进行处理，实现毫米波雷达的发射信号测试模式和自发自收测试模式的测试，有效的利用测试暗箱内的空间完成各项测试，便于产线量产测试。具体，混频器将tx发射信号降频至1.5～3ghz，将rx接收信号降频至1.5～3ghz后升频至76～81ghz。
104.对上述实施例进行改进得到本实施例，在本实施例中，待测试毫米波雷达朝向反射面的方向发射第一雷达测试信号之前，还包括：控制转台于待测试毫米波雷达的水平方向和/或俯仰方向上转动预设角度；待测试毫米波雷达接收反射面反射的rx接收信号发送至控制终端中进行分析之后，还包括：判断是否针对该待测试毫米波雷达预设的转动角度均测试完成；若是，结束测试；若不是，控制转台于待测试毫米波雷达的水平方向和/或俯仰方向上转动至未测试角度并重新进入测试流程。
105.在本实施方式中，底座表面设置有一转台及用于控制转台转动的驱动装置，驱动装置分别与控制终端和转台电连接；待测试毫米波雷达置于转台表面，在预设的角度范围内带动测试毫米波雷达转动，实现对测试毫米波雷达水平方向及俯仰方向上的角度测试，且只有预设的每个角度均测试完成，才完成测试，退出测试流程。要说明的是，这里的转动
方向是针对待测试毫米波雷达来说的，当待测试毫米波雷达应用于车上时，其水平方向和俯仰方向上的性能均需保证，故在测试时需要对这些角度进行测试。在一实例中，通过转台实现待测试雷达水平
±
60
°
、俯仰
±
30
°
的性能测试，在测试过程中，通过控制终端控制转台转动，每次转台转动的角度由测试需求进行决定，如水平转动3
°
和/或俯仰转动3
°
等，这里不做具体限定。
106.对上述实施例进行改进得到本实施例，在本实施例中，在控制转台于待测试毫米波雷达的水平方向和/或俯仰方向上转动预设角度之前，还包括检测转台表面是否放置有待测试毫米波雷达的步骤；和/或
107.在控制转台于待测试毫米波雷达的水平方向和/或俯仰方向上转动预设角度之后还包括判断转台是否转动到预设角度的步骤；和/或
108.在控制转台于待测试毫米波雷达的水平方向和/或俯仰方向上转动预设角度之前，还包括检测溃源是否处于预设方位的步骤。
109.在一实施例中，为了实现对测试系统的精确控制，在转台表面设置有用于感应是否放置有待测试毫米波雷达的与控制终端连接的第一传感器，当该第一传感器感应到待测试雷达置于转台表面，通知控制终端进入测试流程，否则不做动作。
110.在另一实施例中，在转台表面设置有用于感应转台角度且与控制终端连接的第二传感器。在控制终端控制转台转动之前或之后，都可以通过第二传感器获取转台的当前位置，实现对待测试毫米波雷达位置的精确控制。
111.在另一实施例中，溃源底部同样设置一转台，并于溃源上设置有用于感应其位置且与控制终端连接的第三传感器。在测试之前，可以通过第三传感器获取溃源的当前位置，便于控制终端对其位置进行控制，实现对待测试毫米波雷达性能的精确测量。
112.对上述实施例进行改进得到本实施例，在本实施例中，汽车毫米波雷达紧缩场测试方法中除了包括发射信号测试和自发自收测试步骤外，还包括模拟目标物进行测试的步骤，如图3所示，包括：
113.s21模拟器生成模拟目标物的第二雷达测试信号，并发送至溃源；
114.s22溃源表面的天线将第二雷达测试信号发送出去；
115.s23经由天线发射的第二雷达测试信号到达发射面并反射；
116.s24待测试毫米波雷达接收反射面反射的第二雷达测试信号发送至控制终端中进行分析。
117.在本实施例中，模拟器生成模拟目标物的第二雷达测试信号并发送至溃源；溃源表面的天线将第二雷达测试信号发送出去；经由天线发射的第二雷达测试信号到达发射面并反射；待测试毫米波雷达接收反射面反射的第二雷达测试信号发送至控制终端中进行分析。控制终端对接收到的第二雷达测试信号的目标物的速度、角度、距离、rcs等参数进行分析，且控制终端对相应的信号进行分析显示后进行存储记录。在对接收到的第二雷达测试信号进行处理时，将接收到的第二雷达测试信号与模拟器生成的第二雷达测试信号进行比对分析，并将log数据形成图标。
118.在本实施例中，通过混频器对tx发射信号和rx接收信号进行处理，实现毫米波雷达的发射信号测试模式和自发自收测试模式的测试，且通过信号产生器生成的信号对目标物进行模拟，实现雷达目标模拟测试，有效的利用测试暗箱内的空间完成各项测试，便于产
线量产测试。
119.应当说明的是，上述实施例均可根据需要自由组合。以上所述仅是本发明的优选实施例，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。