一种微米级别同心度检测器及其检测方法与流程

文档序号:21040570发布日期:2020-06-09 20:39阅读:472来源:国知局
一种微米级别同心度检测器及其检测方法与流程

本发明属于光纤适配器同心度检测装置技术领域,具体地,涉及一种微米级别同心度检测器及其检测方法。



背景技术:

随着5g通讯的高速发展,对于其设备的性能要求也越来越高,对于光纤适配器的陶瓷插芯与前盖的同心度要求也越来越高,以此来满足两根光纤在9μm的半径内进行更高要求的对接,在光传输中更低的损耗,更高的通过率,以此来满足5g高宽带下进行传输性能的要求,现有技术中光纤适配器的陶瓷插芯已经嵌入金属里面无法找到基准点来对其进行定位校准。陶瓷插芯更难于与适配前盖的外径进行同心度的测量,从而无法保证及测试出陶瓷插芯与前盖的同心度要求,造成适配器与另一端陶瓷插芯对接时出现错位,造成传输的性能低,出现传输数据的大量丢失。

因此,亟需一种微米级别同心度检测器及检测方法,以实现光纤适配器与陶瓷插芯的同心度的精确检测,保证数据传输质量。



技术实现要素:

为了解决上述技术问题,本发明提供了一种微米级别同心度检测器,包括水平旋转机构、表夹和千分表,所述水平旋转机构包括底板、轴承座和转轴,所述转轴通过轴承转动连接在轴承座上,所述轴承座连接在底板上,所述转轴的两端均伸出轴承座,且转轴的一端连接有旋转把手,另一端同轴插接有连接套筒,所述连接套筒内同轴插接有第一陶瓷插芯,所述第一陶瓷插芯远离连接套筒的一端与光纤适配器同轴连接,所述表夹通过螺栓连接在轴承座上,所述表夹上设有夹表孔和与夹表孔相对应的夹紧螺丝,所述千分表的表杆穿过夹表孔并被夹紧螺丝锁紧,所述千分表的表头与转轴的轴向相垂直,且千分表的表头与光纤适配器的前盖的外周相接触。

优选的,所述光纤适配器内设有陶瓷套筒和第二陶瓷插芯,所述陶瓷套筒的筒壁上沿长度方向设有开口,且陶瓷套筒的内径为1.246㎜,所述第一陶瓷插芯和第二陶瓷插芯的外径均为1.249mm,且第一陶瓷插芯和第二陶瓷插芯均与陶瓷套筒无间隙配合。保证光纤适配器的前盖与第一陶瓷插芯和第二陶瓷插芯的同心度测量的准确性。

本发明还包括能够使该微米级别同心度检测器正常使用的其它组件,均为本领域的常规技术手段。另外,本发明中未加限定的装置或组件均采用本领域中的常规技术手段。

作为本发明的另一方面,本发明提供了一种微米级别同心度检测器的检测方法,包括如下步骤:

1)从光纤适配器的前盖端外接第一陶瓷插芯,将第一陶瓷插芯插入光纤适配器的陶瓷套筒内,使第一陶瓷插芯与光纤适配器内的第二陶瓷插芯同心;

2)将第一陶瓷插芯远离光纤适配器的一端插入水平旋转机构的转轴上的连接套筒内,通过千分表的表头对光纤适配器的前盖的外周进行接触式测量;

3)通过转动旋转把手,使光纤适配器旋转一周,根据千分表的高度变化算出光纤适配器的前盖与第一陶瓷插芯和第二陶瓷插芯的同心度。

本发明通过在光纤适配器上外接一个与光纤适配器内部的第二陶瓷插芯同心的第一陶瓷插芯,并将外接的第一陶瓷插芯插接到水平旋转机构的转轴上的连接套筒内,转动旋转把手使光纤适配器旋转一周,通过水平旋转机构上的千分表对光纤适配器的前盖的外周进行测量,根据千分表的高度变化算出光纤适配器的前盖与第一陶瓷插芯和第二陶瓷插芯的同心度。

本发明的有益效果是,解决了光纤适配器的陶瓷插芯与前盖同心度无法测量的技术问题,使光纤适配器的陶瓷插芯与前盖同心度的真实数据能完全测量出,供生产制造提供改进方案及挑选出同心度大的不良品,保证了5g高速带宽下的光纤适配器的性能要求,通过本发明,使光纤适配器的陶瓷插芯与前盖的同心度测量能控制在5μm的高精度,且测量效率极高,一个小时可测量1200个左右。

附图说明

下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。

图1是本发明的整体结构示意图。

图2是图1中的g部结构局部放大示意图。

图3是本发明中光纤适配器的整体结构示意图。

图4是本发明中陶瓷套筒的立体结构示意图。

具体实施方式

下面结合本发明实施例中的附图以及具体实施例对本发明进行清楚地描述,在此处的描述仅仅用来解释本发明,但并不作为对本发明的限定。基于本发明中的实施例,本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,所做的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

实施例1

如图1~4所示,本发明提供了一种微米级别同心度检测器,包括水平旋转机构1、表夹2和千分表3,所述水平旋转机构1包括底板1-1、轴承座1-2和转轴1-3,所述转轴1-3通过轴承转动连接在轴承座1-2上,所述轴承座1-2连接在底板上1-1,所述转轴1-3的两端均伸出轴承座1-2,且转轴1-3的一端连接有旋转把手4,另一端同轴插接有连接套筒5,所述连接套筒5内同轴插接有第一陶瓷插芯6,所述第一陶瓷插芯6远离连接套筒5的一端与光纤适配器7相连接,所述表夹2通过螺栓连接在轴承座1-2上,所述表夹2上设有夹表孔2-1和与夹表孔相对应的夹紧螺丝2-2,所述千分表3的表杆穿过夹表孔2-1并被夹紧螺丝2-2锁紧,所述千分表3的表头与转轴1-3的轴向相垂直,且千分表3的表头与光纤适配器7的前盖的外周相接触。

所述光纤适配器7内设有陶瓷套筒7-1和第二陶瓷插芯7-2,所述陶瓷套筒7-1的筒壁上沿长度方向设有开口,且陶瓷套筒7-1的内径为1.246㎜,所述第一陶瓷插芯6和第二陶瓷插芯7-2的外径均为1.249mm,且第一陶瓷插芯6和第二陶瓷插芯7-2均与陶瓷套筒7-1无间隙配合;保证光纤适配器7的前盖与第一陶瓷插芯6和第二陶瓷插芯7-2的同心度测量的准确性。

本发明通过在光纤适配器7上外接一个与光纤适配器7内的第二陶瓷插芯7-2同心的第一陶瓷插芯6,并将外接的第一陶瓷插芯6连接到水平旋转机构1的转轴1-3上的连接套筒5内,转动旋转把手4使光纤适配器7旋转一周,通过水平旋转机构1上的千分表3对光纤适配器7的前盖的外周进行测量,根据千分表3的高度变化算出光纤适配器7的前盖与第一陶瓷插芯6和第二陶瓷插芯的同心度。

实施例2

参阅图1~4,本发明还提供了一种基于实施例1的微米级别同心度检测器的检测方法,包括如下步骤:

1)从光纤适配器7的前盖端外接第一陶瓷插芯6,将第一陶瓷插芯6插入光纤适配器7的陶瓷套筒7-1内,使第一陶瓷插芯6与光纤适配器7内的第二陶瓷插芯同心;

2)将第一陶瓷插芯6远离光纤适配器7的一端插入水平旋转机构1的转轴1-3上的连接套筒5内,通过千分表3的表头对光纤适配器7的前盖的外周进行接触式测量;

3)通过转动旋转把手4,使光纤适配器7旋转一周,根据千分表3的高度变化算出光纤适配器7的前盖与第一陶瓷插芯6和第二陶瓷插芯7-2的同心度。

以上已经描述了本发明的实施例,上述说明是示例性的,并非穷尽性的,并且也不限于所披露的实施例。在不偏离所说明实施例的范围和精神的情况下,对于本技术领域的普通技术人员来说许多修改和变更都是显而易见的。



技术特征:

1.一种微米级别同心度检测器,其特征在于:包括水平旋转机构、表夹和千分表,所述水平旋转机构包括底板、轴承座和转轴,所述转轴通过轴承转动连接在轴承座上,所述轴承座连接在底板上,所述转轴的两端均伸出轴承座,且转轴的一端连接有旋转把手,另一端同轴插接有连接套筒,所述连接套筒内同轴插接有第一陶瓷插芯,所述第一陶瓷插芯远离连接套筒的一端与光纤适配器同轴连接,所述表夹通过螺栓连接在轴承座上,所述表夹上设有夹表孔和与夹表孔相对应的夹紧螺丝,所述千分表的表杆穿过夹表孔并被夹紧螺丝锁紧,所述千分表的表头与转轴的轴向相垂直,且千分表的表头与光纤适配器的前盖的外周相接触。

2.根据权利要求1所述的微米级别同心度检测器,其特征在于:所述光纤适配器内设有陶瓷套筒和第二陶瓷插芯,所述陶瓷套筒的筒壁上沿长度方向设有开口,且陶瓷套筒的内径为1.246㎜,所述第一陶瓷插芯和第二陶瓷插芯的外径均为1.249mm,且第一陶瓷插芯和第二陶瓷插芯均与陶瓷套筒无间隙配合。

3.基于权利要求2所述的微米级别同心度检测器的检测方法,其特征在于,包括如下步骤:

1)从光纤适配器的前盖端外接第一陶瓷插芯,将第一陶瓷插芯插入光纤适配器的陶瓷套筒内,使第一陶瓷插芯与光纤适配器内的第二陶瓷插芯同心;

2)将第一陶瓷插芯远离光纤适配器的一端插入水平旋转机构的转轴上的连接套筒内,通过千分表的表头对光纤适配器的前盖的外周进行接触式测量;

3)通过转动旋转把手,使光纤适配器旋转一周,根据千分表的高度变化算出光纤适配器的前盖与第一陶瓷插芯和第二陶瓷插芯的同心度。


技术总结
本发明涉及一种微米级别同心度检测器及其检测方法,包括水平旋转机构、表夹和千分表,水平旋转机构包括底板、轴承座和转轴,转轴通过轴承转动连接在轴承座上,转轴的两端均伸出轴承座,且转轴的一端连接有旋转把手,另一端插设有连接套筒,连接套筒内插设有第一陶瓷插芯,第一陶瓷插芯远离连接套筒的一端与光纤适配器相连接,表夹连接在轴承座上,表夹上设有夹表孔和与夹表孔相对应的夹紧螺丝,千分表的表杆穿过夹表孔并被夹紧螺丝锁紧,千分表的表头与转轴的轴向相垂直,千分表的表头与光纤适配器的前盖外周相接触,转轴旋转一周,根据千分表的高度变化算出光纤适配器的前盖与其内的陶瓷插芯的同心度,检测精度和效率高。

技术研发人员:李向阳;游俊裕;高永涛
受保护的技术使用者:河南鑫宇光科技股份有限公司
技术研发日:2020.04.24
技术公布日:2020.06.09
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1