1.一种测试结果展示方法，其特征在于，所述方法包括：
采集多个相同的pcb板上的各电子元件的性能参数；
识别每个所述pcb板上的各电子元件的性能参数是否存在异常；
对各出现异常的电子元件的异常数量分别进行统计，并根据统计数据生成表征各出现异常的电子元件的异常严重程度的信息；
将表征各出现异常的电子元件的异常严重程度的信息渲染至显示界面的第一显示区域展示，以及在所述显示界面的第二显示区域展示各出现异常的电子元件的异常排除参照信息。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据统计数据生成表征各出现异常的电子元件的异常严重程度的信息包括：
根据各出现异常的电子元件的数量，对各出现异常的电子元件进行降序排列；
根据排序结果，生成表征各出现异常的电子元件的异常严重程度的柱状统计图。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据统计数据生成表征各出现异常的电子元件的异常严重程度的信息包括：
根据各出现异常的电子元件的数量，确定各出现异常的电子元件的异常次数占比；
根据所述各出现异常的电子元件的异常次数占比，生成表征各出现异常的电子元件的异常严重程度的扇形统计图。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在所述显示界面的第二显示区域展示各出现异常的电子元件的异常排除参照信息包括：
根据各出现异常的电子元件的身份信息，获取各出现异常的电子元件的正常性能参数范围；
在所述显示界面的第二显示区域展示各出现异常的电子元件的身份信息及对应的正常性能参数范围、采集到的性能参数。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在所述显示界面的第二显示区域展示各出现异常的电子元件的异常排除参照信息包括：
根据各出现异常的电子元件的身份信息，获取各出现异常的电子元件的正常性能参数范围；
确定对每个出现异常的电子元件采集到的性能参数与正常性能参数范围的偏差；
根据所述偏差及预先设定的规则，生成每个出现异常的电子元件的异常排除方案；
在所述显示界面的第二显示区域展示各出现异常的电子元件的身份信息及对应的异常排除方案。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据所述偏差及预先设定的规则，生成每个出现异常的电子元件的异常排除方案包括：
如果所述偏差小于预设的第一阈值，则生成优化测试系统的异常排除方案；
如果所述偏差大于预设的第二阈值，则生成更换电子元件或重新焊接电子元件的异常排除方案。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
如果同一电子元件的异常数量超过预设的阈值时，生成告警信息；
将所述告警信息渲染至所述显示界面显示；同时锁定所述显示界面。
8.一种测试结果展示装置，其特征在于，所述装置包括：
参数采集单元，被配置成采集多个相同的pcb板上的各电子元件的性能参数；
异常识别单元，被配置成识别每个所述pcb板上的各电子元件的性能参数是否存在异常；
数据统计单元，被配置成对各出现异常的电子元件的异常数量分别进行统计，并根据统计数据生成各出现表征异常的电子元件的异常严重程度的信息；
信息展示单元，被配置成将表征各出现异常的电子元件的异常严重程度的信息渲染至显示界面的第一显示区域展示，以及在所述显示界面的第二显示区域展示各出现异常的电子元件的异常排除参照信息。
9.一种电子设备，其特征在于，包括：
存储器，其上存储有计算机程序；
处理器，用于执行所述存储器中的所述计算机程序，以实现权利要求1-7任一项所述的方法的步骤。
10.一种存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现权利要求1-7任一项所述的方法的步骤。
11.一种测试结果展示方法，其特征在于，所述方法包括：
采集多种不同的电子元件通过测试后获得的性能参数；
根据所述测试后获得的性能参数，对出现异常的所述电子元件的异常数量分别进行统计；
根据所述统计数据，生成表征所述出现异常的各种电子元件的异常严重程度的信息；
将表征所述出现异常的各种电子元件的异常严重程度的信息于显示界面展示；以及
根据所述测试后获得的性能参数，在所述显示界面展示所述出现异常的各种电子元件的异常排除参照信息。