一种用于对讲机的耐久试验设备的制作方法

[0001]
本发明涉及对讲机生产技术领域，特别是涉及一种用于对讲机的耐久试验设备。


背景技术：

[0002]
在对讲机生产过程中，需要对即将出厂的对讲机进行抽检，测试该批次对讲机的耐久性。通常的，耐久性测试包括振动试验和冲击碰撞试验。其中，振动测试的试验方法有很多，实际操作中，对对讲机的振动试验可以采用周期性的垂直振动方法；冲击碰撞试验是对对讲机进行重复性的冲击累加。现有技术是将对讲机分为两批次，分别采用振动测试仪器和冲击测试仪器进行测试。但是，一方面，这两种仪器的价格较高，一定程度上增加了产品的生产成本和工厂的负担；另一方面，对于对讲机等单一产品，在实际测试中仅仅使用了振动测试仪器和冲击测试仪器的某一简单测试功能，仪器的其他更为复杂的功能并没有被真正使用，无异于大材小用，无形之中也是一种浪费。而且，由于振动测试和冲击碰撞测试都需要进行很长时间，振动测试仪器和冲击测试仪器长时间的运行需要消耗大量电能，不利于低碳环保。
[0003]
因此，如何设计一种用于对讲机的耐久试验设备，将振动测试和冲击碰撞测试合二为一，这是设计技术人员需要解决的技术问题。


技术实现要素：

[0004]
本发明的目的是克服现有技术中的不足之处，提供一种用于对讲机的耐久试验设备，将振动测试和冲击碰撞测试合二为一。
[0005]
本发明的目的是通过以下技术方案来实现的：
[0006]
一种用于对讲机的耐久试验设备，包括：设备支架、驱动装置、振动测试装置和冲击测试装置；
[0007]
所述设备支架包括振动支座和冲击支座，所述驱动装置安装于所述设备支架中部，所述振动测试装置设于所述振动支座上，所述冲击测试装置设于所述冲击支座上；
[0008]
所述驱动装置与所述振动测试装置驱动连接，所述驱动装置与所述冲击测试装置驱动连接。
[0009]
在其中一个实施例中，
[0010]
所述驱动装置包括：驱动电机、振动驱动件和冲击驱动件；所述振动驱动件和所述冲击驱动件分别设于所述驱动电机两端的输出轴上；
[0011]
所述振动测试装置包括：上振幅调节件、振动活动件和振动测试盘；所述振动活动件包括振动引导杆及套于所述振动引导杆上的振动辅助弹簧，所述振动引导杆通过所述振动辅助弹簧弹性活动设于所述振动支座上；所述上振幅调节件和所述振动测试盘分别设于所述振动引导杆的两端；
[0012]
所述振动驱动件上设有振动驱动珠，所述上振幅调节件设有与所述振动驱动珠配合的上振幅调节珠；
[0013]
所述冲击测试装置包括：下振幅调节件、冲击活动件和冲击测试锤；
[0014]
所述冲击活动件包括冲击引导杆及套于所述冲击引导杆上的冲击辅助弹簧，所述冲击引导杆通过所述冲击辅助弹簧弹性活动设于所述冲击支座上；所述下振幅调节件和所述冲击测试锤分别设于所述冲击引导杆的两端；
[0015]
所述冲击驱动件上设有冲击驱动珠，所述下振幅调节件设有与所述冲击驱动珠配合的下振幅调节珠；
[0016]
其中，所述振动引导杆上开设有振动锁合螺纹及上振幅调节螺纹，所述振动支座开设有与所述振动锁合螺纹配合的振动锁合螺纹孔，所述上振幅调节件开设有与所述上振幅调节螺纹配合的上振幅调节螺纹孔；
[0017]
其中，所述冲击引导杆上开设有冲击锁合螺纹及下振幅调节螺纹，所述冲击支座开设有与所述冲击锁合螺纹配合的冲击锁合螺纹孔，所述下振幅调节件开设有与所述下振幅调节螺纹配合的下振幅调节螺纹孔。
[0018]
在其中一个实施例中，所述振动驱动珠与所述上振幅调节珠均为半球体结构。
[0019]
在其中一个实施例中，所述振动驱动珠的数量为多个，多个所述振动驱动珠以所述振动驱动件的中心轴为中心呈环形阵列分布；所述上振幅调节珠的数量为多个，多个所述上振幅调节珠以所述上振幅调节件的中心轴为中心呈环形阵列分布。
[0020]
在其中一个实施例中，所述冲击驱动珠与所述下振幅调节珠均为半球体结构。
[0021]
在其中一个实施例中，所述冲击驱动珠的数量为多个，多个所述冲击驱动珠以所述冲击驱动件的中心轴为中心呈环形阵列分布；所述下振幅调节珠的数量为多个，多个所述下振幅调节珠以所述下振幅调节件的中心轴为中心呈环形阵列分布。
[0022]
在其中一个实施例中，所述用于对讲机的耐久试验设备还包括升降调节支撑架及升降调节装置，所述设备支架沿竖直方向滑动设于所述升降调节支撑架上，所述升降调节装置驱动所述设备支架在所述升降调节支撑架上往复升降。
[0023]
在其中一个实施例中，所述升降调节装置为丝杆结构。
[0024]
在其中一个实施例中，所述用于对讲机的耐久试验设备还包括升降调节置物台，所述升降调节置物台位于所述冲击测试装置的下方。
[0025]
本发明的用于对讲机的耐久试验设备，将振动测试和冲击碰撞测试合二为一。
附图说明
[0026]
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0027]
图1为本发明的用于对讲机的耐久试验设备的平面示意图；
[0028]
图2为图1所示用于对讲机的耐久试验设备的立体结构示意图；
[0029]
图3为用于对讲机的耐久试验设备的振动测试装置的结构示意图；
[0030]
图4为用于对讲机的耐久试验设备的冲击测试装置的结构示意图；
[0031]
图5为图1所示用于对讲机的耐久试验设备的局部剖视图；
[0032]
图6为振动测试装置、冲击测试装置与驱动装置脱离状态的示意图；
[0033]
图7为调节振动测试装置振幅时上振幅调节件与振动驱动件之间距离变化的示意图；
[0034]
图8为调节冲击测试装置振幅时冲击驱动件与下振幅调节件之间距离变化的示意图；
[0035]
图9为本发明用于对讲机的耐久试验设备的另一种实施方式的结构示意图。
具体实施方式
[0036]
为了便于理解本发明，下面将参照相关附图对本发明进行更全面的描述。附图中给出了本发明的较佳实施方式。但是，本发明可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施方式。相反地，提供这些实施方式的目的是使对本发明的公开内容理解的更加透彻全面。
[0037]
需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。
[0038]
除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
[0039]
如图1所示，本发明公开一种用于对讲机的耐久试验设备10，包括：设备支架100、驱动装置200、振动测试装置300和冲击测试装置400。振动测试装置300用于对对讲机进行振动测试，冲击测试装置400用于对对讲机进行冲击碰撞测试，驱动装置200为振动测试装置300和冲击测试装置400提供了动力。
[0040]
具体地，如图2所示，设备支架100包括振动支座110和冲击支座120，驱动装置200安装于设备支架中部，振动测试装置300设于振动支座110上，冲击测试装置400设于冲击支座120上。驱动装置200与振动测试装置300驱动连接，驱动装置200与冲击测试装置400驱动连接。
[0041]
具体地，如图2所示，驱动装置200包括：驱动电机210、振动驱动件220和冲击驱动件230。其中，驱动电机210为双轴电机，具有两根异侧的输出轴，振动驱动件220设于驱动电机210一端的输出轴上，冲击驱动件230设于驱动电机210另一端的输出轴上。
[0042]
具体地，如图3所示，振动测试装置300包括：上振幅调节件310、振动活动件320和振动测试盘330。振动活动件320包括振动引导杆321及套于振动引导杆321上的振动辅助弹簧322，振动引导杆321通过振动辅助弹簧322弹性活动设于振动支座110上。上振幅调节件310和振动测试盘330分别设于振动引导杆320的两端。振动驱动件220驱动上振幅调节件310，为与上振幅调节件310连接的振动活动件320提供往复振动的动力。振动测试盘330用于放置待测的对讲机。
[0043]
要特别说明的是，振动驱动件220上设有环形阵列的振动驱动珠221，上振幅调节件310设有与振动驱动珠221配合的上振幅调节珠311(如图1所示)。振动引导杆321上开设有上振幅调节螺纹3211，上振幅调节件310开设有与上振幅调节螺纹3211配合的上振幅调
节螺纹孔312(如图3所示)。通过调节上振幅调节螺纹3211和上振幅调节螺纹孔312的配合程度，可以调节振动驱动珠221与上振幅调节珠311之间的相对位置，进而调节振动测试装置300的振幅，具体操作在下文设计原理中进行阐述。
[0044]
具体地，如图4所示，冲击测试装置400包括：下振幅调节件410、冲击活动件420和冲击测试锤430。其中，冲击活动件420包括冲击引导杆421及套于冲击引导杆421上的冲击辅助弹簧422，冲击引导杆421通过冲击辅助弹簧422弹性活动设于冲击支座120上；下振幅调节件410和冲击测试锤430分别设于冲击引导杆421的两端。冲击驱动件230驱动下振幅调节件410，为与下振幅调节件410连接的冲击活动件420提供往复冲击的动力。待测的对讲机放置于冲击测试锤430下方。
[0045]
要特别说明的是，冲击驱动件230上设有环形阵列的冲击驱动珠231，下振幅调节件410设有与冲击驱动珠231配合的下振幅调节珠411(如图1所示)。冲击引导杆421上开设有下振幅调节螺纹4211，下振幅调节件410开设有与下振幅调节螺纹4211配合的下振幅调节螺纹孔412。与振动测试装置300振幅的调节原理相同，通过调节下振幅调节螺纹4211和下振幅调节螺纹孔412的配合程度，调节冲击驱动珠231与下振幅调节珠411的相对位置，进而调节冲击测试装置400的振幅。
[0046]
下面对用于对讲机的耐久试验设备10的工作原理进行阐述：
[0047]
就振动测试装置300而言，振动驱动件220随着驱动电机210的转动而转动，由于振动活动件320上设有振动辅助弹簧322，在振动辅助弹簧322的抵持作用下，振动驱动件220与上振幅调节件310相互接触，实现驱动装置200与振动测试装置300驱动连接。由于振动驱动件220上设有振动驱动珠221，上振幅调节件310设有上振幅调节珠311，因此在振动驱动件220转动过程中，上振幅调节珠311将沿着振动驱动珠221的轮廓线不断地跃升和下降，进而驱动振动活动件320和振动测试盘330做往复垂直振动。待测的对讲机放置于振动测试盘330上，因此对讲机将随着振动测试盘330的振动而振动，达到振动测试的效果；
[0048]
就冲击测试装置400而言，冲击驱动件230随着驱动电机210的转动而转动，由于冲击活动件420上设有冲击辅助弹簧422，在冲击辅助弹簧422的压持作用下，冲击驱动件230与下振幅调节件410相互接触，实现驱动装置200与冲击测试装置400驱动连接。由于冲击驱动件230上设有冲击驱动珠231，下振幅调节件410设有下振幅调节珠411，因此在冲击驱动件230转动过程中，下振幅调节珠411将沿着冲击驱动珠231的轮廓线不断地跃升和下降，从而驱动冲击引导杆421和冲击测试锤430做往复冲击运动。由于待测的对讲机放置于冲击测试锤430下方，冲击测试锤430的往复冲击运动将不断击打对讲机，从而起到冲击碰撞测试的效果。
[0049]
下面对用于对讲机的耐久试验设备10的设计原理进行说明解释：
[0050]
驱动电机210为双轴电机，可以同时驱动振动测试装置300和冲击测试装置400，如此，便可以同时进行振动测试和冲击碰撞测试，在一定程度上提高了测试效率；而且振动测试装置300和冲击测试装置400由同一电机驱动，即实现了节能又节约了测试的空间；
[0051]
振动引导杆321上开设有上振幅调节螺纹3211，上振幅调节件310开设有上振幅调节螺纹孔312(如图3所示)，工作时，请参阅图7，振动引导杆321与上振幅调节件310相互螺合，通过左旋或右旋上振幅调节件310，使得上振幅调节件310靠近或远离振动引导杆321，从而调节上振幅调节珠311和振动驱动珠221之间的距离，改变上振幅调节珠311和振动驱
动珠221相对运动的轮廓线，如此，便可调节振动测试装置300的振幅；
[0052]
类似的，冲击引导杆421上开设有下振幅调节螺纹4211，下振幅调节件410开设有下振幅调节螺纹孔412(如图4所示)，工作时，请参阅图8，通过左旋或右旋下振幅调节件410，使得下振幅调节件410靠近或远离冲击引导杆421，从而调节下振幅调节珠411和冲击驱动珠231之间的距离，改变下振幅调节珠411和冲击驱动珠231相对运动的轮廓线，如此，便可调节冲击测试装置400的振幅；
[0053]
要说明的是，通过改变驱动电机210的转速，可以调节振动测试装置300和冲击测试装置400的频率；
[0054]
振动引导杆321上开设有振动锁合螺纹323(如图3所示)，振动支座110开设有振动锁合螺纹孔111(如图5所示)。振动锁合螺纹323与振动锁合螺纹孔111配合，可以实现振动测试装置300与驱动装置200的离合，具体操作如下：当不进行振动测试时，将振动引导杆321推至振动支座110，并对振动引导杆321做旋转动作，使得振动锁合螺纹323螺合于振动锁合螺纹孔111，此时，振动辅助弹簧322将被压缩并收容于振动锁合螺纹孔111内，这样，便将振动引导杆321固接与振动支座110上，实现了振动测试装置300与驱动装置200的分离(如图6所示)；当进行振动测试时，只需旋转振动引导杆321，使振动锁合螺纹323与振动锁合螺纹孔111脱离，振动辅助弹簧322将为振动引导杆321提供复位力，使得上振幅调节件310重新与振动驱动件220相互接触，实现驱动连接；
[0055]
类似的，冲击引导杆421上开设有冲击锁合螺纹423(如图4所示)，冲击支座120开设有冲击锁合螺纹孔121(如图5所示)。冲击锁合螺纹423与冲击锁合螺纹孔121配合，可以实现冲击测试装置400与驱动装置200的离合，具体操作如下：当不进行冲击碰撞测试时，将冲击引导杆421推至冲击支座120，并对冲击引导杆421做旋转动作，使冲击锁合螺纹423螺合于冲击锁合螺纹孔121，此时，冲击辅助弹簧422将被压缩并收容于冲击锁合螺纹孔121内，这样，便将冲击引导杆421固接于冲击支座120上，实现了冲击测试装置400与驱动装置200的分离(如图6所示)；当进行冲击碰撞测试时，只需旋转冲击引导杆421，使冲击锁合螺纹423与冲击锁合螺纹孔121脱离，冲击辅助弹簧422将为冲击引导杆421提供复位力，使得下振幅调节件410重新与冲击驱动件230相互接触，实现驱动连接。
[0056]
要说明的是，振动辅助弹簧322和冲击辅助弹簧422分别套接于振动活动件320和冲击活动件420上可以产生以下益处：其一，可以保证振动辅助弹簧322和冲击辅助弹簧422各方向的受力均匀；其二，可以矫正振动活动件320和冲击活动件420的运动方向；其三，弹簧结构易压缩，在实现振动测试装置300、冲击测试装置400和驱动装置200的过程中，仅需将振动辅助弹簧322和冲击辅助弹簧422压缩收容，无需进行拆装，高效便捷；其四，弹簧结构可以迅速完成动能与势能之间的转换，因此可以高效的传递振幅与频率。
[0057]
在本实施例中，振动驱动珠221与上振幅调节珠311采用半球体结构(如图1所示)，振动驱动珠221的数量为多个，多个振动驱动珠221以振动驱动件220的中心轴为中心呈环形阵列分布；上振幅调节珠331的数量为多个，多个上振幅调节珠331以上振幅调节件310的中心轴为中心呈环形阵列分布；类似的，冲击驱动珠231与下振幅调节珠411也采用采用半球体结构(如图1所示)，冲击驱动珠231的数量为多个，多个冲击驱动珠231以冲击驱动件230的中心轴为中心呈环形阵列分布；下振幅调节珠411的数量为多个，多个下振幅调节珠411以下振幅调节件410的中心轴为中心呈环形阵列分布。如此，可以使上振幅调节珠311和
下振幅调节珠411更加顺滑的沿着振动驱动珠221或冲击驱动珠231的轮廓线跃升和下降，做有规律的垂直振动，减少卡顿现象。
[0058]
要特别说明的是，优选的，振动驱动珠221、上振幅调节珠311、冲击驱动珠231与下振幅调节珠411采用半球体结构，这样设计，可以更好的配合上振幅调节件310和下振幅调节件410，使振动测试装置300和冲击测试装置400的振幅调节效果更加明显。
[0059]
在本实施例中，如图9所示，用于对讲机的耐久试验设备10还包括升降调节支撑架500、升降调节装置600以及升降调节置物台700。设备支架100沿竖直方向滑动设于升降调节支撑架500上，升降调节装置600可以驱动设备支架100在升降调节支撑架500上实现往复升降。优选的，升降调节装置600为丝杆结构。如此，便可以通过旋转升降调节装置600的把手610，实现设备支架100的垂直移动，调节冲击测试装置400与升降调节支撑架500之间的间隙。升降调节置物台700位于冲击测试装置400的下方，进行冲击碰撞测试时，将待测的对讲机放置在升降调节置物台700上，这样，可以通过升降调节置物台700的高度，便可调节冲击测试装置400与待测对讲机之间的距离。
[0060]
在某些实施例中，升降调节置物台700上设有收容凹槽(图中未示)，用于收容放置待测的对讲机，防止对讲机在冲击碰撞测试中受力发生位移。
[0061]
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。