一种建筑测量用电子经纬仪的制作方法

本实用新型涉及建筑测量技术领域，尤其是涉及一种建筑测量用电子经纬仪。

背景技术：

施工测量即各种工程在施工阶段所进行的测量工作。其主要任务是在施工阶段将设计在图纸上的建筑物的平面位置和高程，按设计与施工要求，以一定的精度测设（放样）到施工作业面上，作为施工的依据，并在施工过程中进行一系列的测量控制工作，以指导和保证施工按设计要求进行，施工测量是直接为工程施工服务的，它既是施工的先导，又贯穿于整个施工过程，其中建筑测量设备包括电子经纬仪，使用者在使用电子经纬仪时，需要多次的转动电子经纬仪望远镜，但因为传统的电子经纬仪底座体积较小，电子经纬仪被旋转时十分的不稳定，容易出现倾斜的情况导致测量出现误差，并且因为采用望远镜进行测量，望远镜中的光学对点器容易受到外界的光照干扰，同样导致出现测量的误差。

技术实现要素：

本实用新型要解决的技术问题是：传统的电子经纬仪底座体积较小，电子经纬仪被旋转时十分的不稳定，容易出现倾斜的情况导致测量出现误差，并且因为采用望远镜进行测量，望远镜中的光学对点器容易受到外界的光照干扰，同样导致出现测量的误差，针对现有技术存在的问题，提供了一种建筑测量用电子经纬仪。

本实用新型要解决的技术问题采用以下技术方案来实现：一种建筑测量用电子经纬仪，所述建筑测量用电子经纬仪包括：

底座，所述底座外壁呈环绕开有滑道，且底座顶端中心固定连接有转轴；

测量仪，所述测量仪位于底座正上方，且测量仪左右两侧下方对称固定连接有侧杆，所述侧杆内侧均固定有与其为一体的滑块，且滑块位于滑道内并与滑道滑动连接，所述测量仪前端左右两侧均开有卡口，且测量仪前端左右两侧并位于开口左右两端均开有开口；

挡板，所述挡板的数量与开口的数量相同，且挡板分别位于开口内并与开口滑动连接，所述挡板后端均固定连接有挡块，且挡板前端均插接有连接柱，所述连接柱前端均固定连接有拉块，且拉块后端左右两侧均嵌接有磁柱。

优选的，所述转轴插接于测量仪下方中心，且测量仪通过转轴与底座转动连接。

优选的，所述侧杆呈“l”形状，且侧杆环绕于底座左右两侧。

优选的，所述测量仪内侧设置有望远镜，且望远镜左右两侧均套接有转芯，所述转芯外侧均插接于测量仪内壁，且转芯与测量仪转动连接。

优选的，所述开口的宽度为0.4cm-0.8cm，且挡块和拉块的宽度均大于开口的宽度。

优选的，所述连接柱与开口滑动连接，且磁柱插接于卡口。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

使用者使用过程中，如果使用者需要调整望远镜的左右角度，那么使用者可旋转测量仪整体，通过两个侧杆呈对称支撑测量仪，侧杆跟随测量仪旋转而进行转动，滑块同时在滑道内进行滑动，滑块呈“t”形状，滑块可起到良好的定位效果，保证侧杆转动时充分的稳定性，侧杆的形状为一个直角，防止测量仪倾倒，提高稳定的同时增加测量精度。

如果测量环境处于光线较强的状态下，可将拉块向测量仪方向压入，使用者压入拉块直至挡板退出开口，磁柱可插入到卡口当中并将卡口吸附，拉块即无法进入到开口当中，两块挡板分别位于望远镜的左右两侧，挡板均呈弧形状，可对望远镜起到遮光的效果，提高光学对点器对点时的准确性，增加测量仪测量数据的精确度。

附图说明

图1为本实用新型的整体结构装配示意图；

图2为本实用新型的底座结构示意图；

图3为本实用新型的侧杆结构示意图；

图4为本实用新型的挡板结构示意图。

图中标记：底座1、滑道101、转轴102、测量仪2、侧杆201、滑块202、望远镜3、转芯301、卡口302、开口303、挡板4、挡块401、连接柱5、拉块501、磁柱502。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，下面结合附图和具体实施例对本实用新型进行详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

如图1-图4所示，一种建筑测量用电子经纬仪，所述建筑测量用电子经纬仪包括：

底座1，所述底座1外壁呈环绕开有滑道101，且底座1顶端中心固定连接有转轴102；

测量仪2，所述测量仪2位于底座1正上方，且测量仪2左右两侧下方对称固定连接有侧杆201，所述侧杆201内侧均固定有与其为一体的滑块202，且滑块202位于滑道101内并与滑道101滑动连接，所述测量仪2前端左右两侧均开有卡口302，且测量仪2前端左右两侧并位于开口303左右两端均开有开口303，使用者在使用测量仪2进行测量工作时，可先将测量仪2放置到指定的测量起点位置，确认底座1被放置平稳后，使用者即可开始对建筑进行测量工作，所述测量仪2内侧设置有望远镜3，且望远镜3左右两侧均套接有转芯301，所述转芯301外侧均插接于测量仪2内壁，且转芯301与测量仪2转动连接，使用者使用过程中，可上下转动望远镜3，望远镜3通过转芯301与测量仪2进行转动连接，从而调整望远镜3的测量角度，所述转轴102插接于测量仪2下方中心，且测量仪2通过转轴102与底座1转动连接，且如果使用者需要调整望远镜3的左右角度，那么使用者可旋转测量仪2整体，测量仪2在转轴102上转动，通过两个侧杆201呈对称支撑测量仪2，侧杆201跟随测量仪2旋转而进行转动，滑块202同时在滑道101内进行滑动，滑块202呈“t”形状，滑块202可起到良好的定位效果，保证侧杆201转动时充分的稳定性，侧杆201的形状为一个直角，防止测量仪2倾倒，提高稳定的同时增加测量精度，望远镜3内部安装有光学对点器以及测微器系统，望远镜3通过光学对点器对参照物进行测量，并且由测微器对盘度进行校正；

挡板4，所述挡板4的数量与开口303的数量相同，且挡板4分别位于开口303内并与开口303滑动连接，所述挡板4后端均固定连接有挡块401，且挡板4前端均插接有连接柱5，所述连接柱5前端均固定连接有拉块501，且拉块501后端左右两侧均嵌接有磁柱502，所述连接柱5进入与开口303滑动连接，且磁柱502插接于卡口302，如果测量环境处于光线较强的状态下，使用者在操控测量仪2时，可将拉块501向测量仪2方向压入，同时挡板4在开口303当中后退，连接柱5会进入到开口303内，使用者压入拉块501直至挡板4退出开口303，同时磁柱502位于卡口302的正前方，磁柱502由磁金属制成，而测量仪2由钢铁金属制成，磁柱502可插入到卡口302当中并将卡口302吸附，所述开口303的宽度为0.4cm-0.8cm，且挡块401和拉块501的宽度均大于开口303的宽度，拉块501即无法进入到开口303当中，从而稳定好连接柱5，挡板4被推出后，两块挡板4分别位于望远镜3的左右两侧，挡板4均呈弧形状，可对望远镜3起到遮光的效果，提高光学对点器对点时的准确性，增加测量仪2测量数据的精确度，使用者在后期不需要使用挡板4时，可将拉块501向前拉动，连接柱5从开口303中移出，挡板4重新进入到开口303内，将挡板4收回，通过挡块401可挡住挡板4，防止挡板4脱离开口303。

以上仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，应当指出的是，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。