一种模块化交错布局的金属探测仪的制作方法

本实用新型涉及金属探测仪技术领域，特别是一种模块化交错布局的金属探测仪。

背景技术：

金属探测仪主要用于无纺布、纺织品、卫生材料原料的金属杂质检测用。

当探测仪用于检测大幅宽材料时，只能将探测仪做大，但缺点在于整个幅宽内出现金属杂质时，只能发出单一报警信号，无法判断金属杂质在幅宽方向上的位置。采用多组直线连续拼接方式，金属杂质幅宽横向定位时，在两个接缝处，无法做到没有检测盲区，并且相邻的天线会相互影响无法精确判读金属杂质的出现，探测仪交接处的检测精度和探测仪中心位置无法保证一致。

为此我们研发了一种模块化交错布局的金属探测仪，用以解决以上缺点。

技术实现要素：

本实用新型目的是为了克服现有技术的不足而提供一种模块化交错布局的金属探测仪，具有金属探测模块交错布局可选择性，提高检测的精确性，提高检测的完整性等优点。

为达到上述目的，本实用新型采用的技术方案是：一种模块化交错布局的金属探测仪，包括至少两组交错设置的金属探测模块，所述金属探测模块包括一发射线圈、一第一接收线圈与一第二接收线圈，所述发射线圈设置在所述第一接收线圈与所述第二接收线圈的中间位置处，所述第一接收线圈、所述第二接收线圈与所述发射线圈平行设置，并且通过树脂粘接，所述金属探测模块通过绝缘屏蔽料粘接成金属探测仪。

优选的，所述发射线圈、所述第一接收线圈与所述第二接收线圈的长度相等，所述金属探测模块的所述发射线圈与所述第一接收线圈的最短距离等于所述第二接收线圈与所述第一接收线圈的最短距离。

优选的，所述第一接收线圈的一端处与相邻的所述第二接收线圈的一端处位于所述金属探测模块长度方向的最短距离为l1，所述第一接收线圈的另一端处与相邻的所述第二接收线圈的一端处位于所述金属探测模块长度方向的最短距离为l2，l1>0，并且l2>0。

优选的，所述第一接收线圈的一端处与相邻的所述第二接收线圈的一端处位于所述金属探测模块宽度方向的最短距离为l4，所述第一接收线圈的另一端处与相邻的所述第二接收线圈的一端处位于所述金属探测模块宽度方向的最短距离为l0，l0>0，并且l4>0。

优选的，所述金属探测模块的所述发射线圈与所述第一接收线圈的最短距离小于等于l4。

由于上述技术方案的运用，本实用新型与现有技术相比具有下列优点：

1.根据检测幅宽不同，采用不同数量交错设置的金属探测模块，可以适用不同宽度的材料检测需求；

2.可以把金属杂质的位置定位到发出报警信号的单一金属探测模块内，相对于整体金属探测仪来说，大大缩小了定位金属杂质的范围；

3.每个金属探测模块采用前后交错布局，每个模块之间的相互干扰很小，每个位置的检测精度水平相当，不留检测死角盲区；

4.通过编码器读取材料生产速度，匹配单片机记录金属杂质的纵坐标，同时配合单个金属探测模块的报警数据，可以较为精确的定位金属杂质。

附图说明

附图1为本实用新型所述金属探测仪的结构示意图。

其中：10、金属探测模块；11、发射线圈；12、第一接收线圈；13、第二接收线圈；15、树脂；

20、金属探测仪；25、绝缘屏蔽料。

具体实施方式

下面结合附图及具体实施例对本实用新型作进一步的详细说明。

附图1中，一种模块化交错布局的金属探测仪，包括至少两组交错设置的金属探测模块10，金属探测模块10包括一发射线圈11、一第一接收线圈12与一第二接收线圈13，发射线圈11、第一接收线圈12与第二接收线圈13在金属探测模块10长度方向的长度相同。

发射线圈11设置在第一接收线圈12与第二接收线圈13的中间位置处。第一接收线圈12、第二接收线圈13与发射线圈11平行设置，并且通过树脂15粘接，金属探测模块10通过绝缘屏蔽料25粘接成金属探测仪20。

发射线圈11、第一接收线圈12与第二接收线圈13的长度相等。金属探测模块10的发射线圈11与第一接收线圈12的最短距离等于第二接收线圈13与第一接收线圈12的最短距离。

第一接收线圈12的一端处与相邻的第二接收线圈13的一端处位于金属探测模块10长度方向的最短距离为l1。第一接收线圈12的另一端处与相邻的第二接收线圈13的一端处位于金属探测模块10长度方向的最短距离为l2。l1>0，并且l2>0。

第一接收线圈12的一端处与相邻的第二接收线圈13的一端处位于金属探测模块10宽度方向的最短距离为l4。第一接收线圈12的另一端处与相邻的第二接收线圈13的一端处位于金属探测模块10宽度方向的最短距离为l0。l0>0，并且l4>0。金属探测模块10的发射线圈11与第一接收线圈12的最短距离小于等于l4，或者大于等于l4。

相邻的两组金属探测模块10有效检测区域有少许交错布置，保证没有盲区。当被检材料通过金属探测模块10上方时，如果出现金属杂质，发射线圈11发射的电场强度被第一接收线圈12与第二接收线圈13接收，接收的数值就会出现差异值，此时就能做出判断，被检材料有金属杂质出现。在两组金属探测模块10接缝处，有一部分交错区域，保证检测区域没有盲区，并且相邻金属探测模块10的线圈相隔一定的距离并且中间通过绝缘屏蔽料25填充，不同模块相互间的信号不会相互影响，每个模块都是统一标准标定过，所以每个模块的每个位置的检测精度都能保持高度一致，保证金属杂质的检出精度均匀一致。

以上仅是本实用新型的具体应用范例，对本实用新型的保护范围不构成任何限制。凡采用等同变换或者等效替换而形成的技术方案，均落在本实用新型权利保护范围之内。

技术特征：

1.一种模块化交错布局的金属探测仪，其特征在于：包括至少两组交错设置的金属探测模块(10)，所述金属探测模块(10)包括一发射线圈(11)、一第一接收线圈(12)与一第二接收线圈(13)，所述发射线圈(11)设置在所述第一接收线圈(12)与所述第二接收线圈(13)的中间位置处，所述第一接收线圈(12)、所述第二接收线圈(13)与所述发射线圈(11)平行设置，并且通过树脂(15)粘接，所述金属探测模块(10)通过绝缘屏蔽料(25)粘接成金属探测仪(20)。

2.根据权利要求1所述模块化交错布局的金属探测仪，其特征在于，所述发射线圈(11)、所述第一接收线圈(12)与所述第二接收线圈(13)的长度相等，所述金属探测模块(10)的所述发射线圈(11)与所述第一接收线圈(12)的最短距离等于所述第二接收线圈(13)与所述第一接收线圈(12)的最短距离。

3.根据权利要求2所述模块化交错布局的金属探测仪，其特征在于，所述第一接收线圈(12)的一端处与相邻的所述第二接收线圈(13)的一端处位于所述金属探测模块(10)长度方向的最短距离为l1，所述第一接收线圈(12)的另一端处与相邻的所述第二接收线圈(13)的一端处位于所述金属探测模块(10)长度方向的最短距离为l2，l1>0，并且l2>0。

4.根据权利要求3所述模块化交错布局的金属探测仪，其特征在于，所述第一接收线圈(12)的一端处与相邻的所述第二接收线圈(13)的一端处位于所述金属探测模块(10)宽度方向的最短距离为l4，所述第一接收线圈(12)的另一端处与相邻的所述第二接收线圈(13)的一端处位于所述金属探测模块(10)宽度方向的最短距离为l0，l0>0，并且l4>0。

5.根据权利要求4所述模块化交错布局的金属探测仪，其特征在于，所述金属探测模块(10)的所述发射线圈(11)与所述第一接收线圈(12)的最短距离小于等于l4。

技术总结
本实用新型涉及一种模块化交错布局的金属探测仪，包括至少两组交错设置的金属探测模块，所述金属探测模块包括一发射线圈、一第一接收线圈与一第二接收线圈，所述发射线圈设置在所述第一接收线圈与所述第二接收线圈的中间位置处，所述第一接收线圈、所述第二接收线圈与所述发射线圈平行设置，并且通过树脂粘接，所述金属探测模块通过绝缘屏蔽料粘接成金属探测仪。本实用新型涉及的模块化交错布局的金属探测仪具有金属探测模块交错布局可选择性，提高检测的精确性，提高检测的完整性等优点。

技术研发人员：吕江明;刘耀斌
受保护的技术使用者：苏州赛瑞郦祺光电科技有限公司
技术研发日：2020.03.27
技术公布日：2020.09.29