一种芯片检测记录分析仪的制作方法

本实用新型属于芯片检测设备技术领域，具体涉及一种芯片检测记录分析仪。

背景技术：

芯片（半导体元件产品的统称）又称集成电路、微电路、微芯片、晶片，在电子学中是一种将电路（主要包括半导体设备，也包括被动组件等）小型化的方式，并时常制造在半导体晶圆表面上，将电路制造在半导体芯片表面上的集成电路又称薄膜集成电路，另有一种厚膜集成电路是由独立半导体设备和被动组件，集成到衬底或线路板所构成的小型化电路。现阶段，在芯片生产和加工的过程中，需要对芯片成品进行检测分析，现有的芯片检测记录分析仪，在使用过程中，不能很好地根据需要进行调节。

因此针对这一现状，迫切需要设计和生产一种芯片检测记录分析仪，以满足实际使用的需要。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供一种芯片检测记录分析仪，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种芯片检测记录分析仪，包括置物座、调节机构、支撑机构、驱动机构和本体，所述置物座左半部和右半部的中心均开设有调节槽，且置物座上半部开设有两组的调节轨道，且两组调节轨道均与调节槽连通，调节槽的中心设有穿过两组调节轨道的调节机构，且调节机构上半部的内周之间设有放置于置物座顶部的工件，所述置物座顶部靠近调节轨道的两侧分别与支撑机构两侧的底部固定焊接，所述支撑机构的内周设有驱动机构，且支撑机构顶部设有本体。

优选的，所述调节机构包括驱动电机、丝杆、螺母座和夹板，所述驱动电机的底座与置物座的侧面固定焊接，且驱动电机的输出轴贯穿置物座，输出轴贯穿置物座的一端通过联轴器与丝杆的一端连接，且丝杆的另一端通过焊接的轴承座与调节槽的内周转动连接，所述丝杆两端的外周设有方向相反的螺纹，且丝杆两端的外周均套设有螺母座，两组所述螺母座的顶部均一体成型有滑块，两组滑块分别与对应的调节轨道滑动连接，且两组滑块的顶部均固定焊接有夹板。

优选的，所述支撑机构包括倒u形的支撑座和纵向直线电机，所述支撑座的下方设有两组对称的纵向直线电机，且两组纵向直线电机的底座均与置物座的顶部固定焊接，所述支撑座两侧弯折部的底端分别与对应的纵向直线电机的移动部固定焊接，且支撑座顶部的中心通过紧固件安装有本体。

优选的，所述驱动机构包括驱动板、横向直线电机和伸缩杆，所述驱动板的底部与横向直线电机的底座固定焊接，且驱动板的上方设有两组关于本体对称的伸缩杆，两组所述伸缩杆的固定端分别与支撑机构的支撑座顶部的两侧固定焊接，两组所述伸缩杆的驱动端均贯穿支撑座，且两组驱动端贯穿支撑座的底端分别与驱动板顶部的两侧固定焊接。

优选的，所述调节机构的两组夹板之间设有放置于置物座顶部的工件，所述驱动机构的横向直线电机的移动部通过紧固件安装有本体的探针。

本实用新型的技术效果和优点：该芯片检测记录分析仪，通过驱动电机的工作，由输出轴带动丝杆转动，使螺母座移动，同时通过滑块与调节轨道滑动连接，螺母座由滑块带动夹板移动，调节两组夹板之间的距离，并两组夹板对工件进行夹持，从而根据工件的尺寸进行调节并限位；通过伸缩杆的工作，由驱动端带动驱动板向下移动，调节探针与工件之间的竖直距离，从而根据工件的厚度进行调节，适应不同的工件；通过横向直线电机的工作，由移动部带动探针移动，从而根据需要检测的横向位置进行调节，同时通过纵向直线电机的工作，由移动部带动支撑座移动，调节探针所处的纵向位置，从而根据需要检测的纵向位置进行调节，该芯片检测记录分析仪，能够根据需要进行调节，同时能够适应不同的工件。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型使用时的剖视图；

图3为本实用新型的图1中a处结构的放大图。

图中：1置物座、2调节机构、3支撑机构、4驱动机构、5本体、6驱动电机、7丝杆、8螺母座、9夹板、10支撑座、11纵向直线电机、12驱动板、13横向直线电机、14伸缩杆。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

除非单独定义指出的方向外，本文涉及的上、下、左、右、前、后、内和外等方向均是以本实用新型所示的图中的上、下、左、右、前、后、内和外等方向为准，在此一并说明。

本实用新型提供了如图1-3所示的一种芯片检测记录分析仪，包括置物座1、调节机构2、支撑机构3、驱动机构4和本体5，所述置物座1左半部和右半部的中心均开设有调节槽，且置物座1上半部开设有两组的调节轨道，且两组调节轨道均与调节槽连通，调节槽的中心设有穿过两组调节轨道的调节机构2，且调节机构2上半部的内周之间设有放置于置物座1顶部的工件（图中未画出），所述置物座1顶部靠近调节轨道的两侧分别与支撑机构3两侧的底部固定焊接，所述支撑机构3的内周设有驱动机构4，且支撑机构3顶部设有本体5，本体5可选为苏州伊欧陆系统集成有限公司生产的summit200型检测仪，通过本体5的工作，由探针对工件进行检测处理，并对检测的数据进行记录分析。

具体的，所述调节机构2包括驱动电机6、丝杆7、螺母座8和夹板9，驱动电机6可选为深圳市鼎弘传动设备有限公司生产的zd型正反转电机，所述驱动电机6的底座与置物座1的侧面固定焊接，且驱动电机6的输出轴贯穿置物座1，输出轴贯穿置物座1的一端通过联轴器与丝杆7的一端连接，且丝杆7的另一端通过焊接的轴承座与调节槽的内周转动连接，所述丝杆7两端的外周设有方向相反的螺纹，且丝杆7两端的外周均套设有螺母座8，两组所述螺母座8的顶部均一体成型有滑块，两组滑块分别与对应的调节轨道滑动连接，且两组滑块的顶部均固定焊接有夹板9，通过驱动电机6的工作，由输出轴带动丝杆7转动，使螺母座8移动，同时通过滑块与调节轨道滑动连接，螺母座8由滑块带动夹板9移动，调节两组夹板9之间的距离，并两组夹板9对工件进行夹持，从而根据工件的尺寸进行调节并限位。

具体的，所述支撑机构3包括倒u形的支撑座10和纵向直线电机11，所述支撑座10的下方设有两组对称的纵向直线电机11，且两组纵向直线电机11的底座均与置物座1的顶部固定焊接，所述支撑座10两侧弯折部的底端分别与对应的纵向直线电机11的移动部固定焊接，且支撑座10顶部的中心通过紧固件（图中未画出，可根据实际需要选择螺栓、螺钉等）安装有本体5，通过横向直线电机13的工作，由移动部带动探针移动，从而根据需要检测的横向位置进行调节，同时通过纵向直线电机11的工作，由移动部带动支撑座10移动，调节探针所处的纵向位置，从而根据需要检测的纵向位置进行调节。

具体的，所述驱动机构4包括驱动板12、横向直线电机13和伸缩杆14，所述驱动板12的底部与横向直线电机13的底座固定焊接，横向直线电机13和纵向直线电机11均可选为深圳市博奥自动化设备有限公司生产的bo-126型直线往复电机，且驱动板12的上方设有两组关于本体5对称的伸缩杆14，伸缩杆14可选为佛山市禅城区聚金机械厂生产的slel505型电动伸缩杆，两组所述伸缩杆14的固定端分别与支撑机构3的支撑座10顶部的两侧固定焊接，两组所述伸缩杆14的驱动端均贯穿支撑座10，且两组驱动端贯穿支撑座10的底端分别与驱动板12顶部的两侧固定焊接，通过伸缩杆14的工作，由驱动端带动驱动板12向下移动，调节探针与工件之间的竖直距离，从而根据工件的厚度进行调节，使探针与工件接触。

具体的，所述调节机构2的两组夹板9之间设有放置于置物座1顶部的工件，所述驱动机构4的横向直线电机13的移动部通过紧固件安装有本体5的探针，探针可选为深圳市沃肯科技有限公司生产的mm126515型探针，本体5、驱动电机6、纵向直线电机11、横向直线电机13和伸缩杆14均与外部的驱动电源电性连接，可通过安装控制器进行调控，控制器可选为基恩士kv-7500型可编程控制器。

工作原理，该芯片检测记录分析仪，需要使用时，将工件放置于置物座1顶部的中心，同时打开驱动电机6，通过驱动电机6的工作，由输出轴带动丝杆7转动，使螺母座8移动，同时通过滑块与调节轨道滑动连接，螺母座8由滑块带动夹板9移动，调节两组夹板9之间的距离，并两组夹板9对工件进行夹持，从而根据工件的尺寸进行调节并限位，限位完成后，打开横向直线电机13和纵向直线电机11，通过横向直线电机13的工作，由移动部带动探针移动，从而根据需要检测的横向位置进行调节，同时通过纵向直线电机11的工作，由移动部带动支撑座10移动，调节探针所处的纵向位置，从而根据需要检测的纵向位置进行调节，调节完成后，打开伸缩杆14，通过伸缩杆14的工作，由驱动端带动驱动板12向下移动，调节探针与工件之间的竖直距离，从而根据工件的厚度进行调节，使探针与工件接触，并通过本体5的工作，由探针对工件进行检测处理。

最后应说明的是：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换,凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。