新型评片尺的制作方法

本实用新型涉及无损检测技术领域，具体来说，是一种评片尺。

背景技术：

射线评片尺是射线检测底片评定中的重要工具，是一种带有标准信息的尺子，被应用于承压设备的无损检测，包括承压设备(容器,筒体)及压力管道熔化焊对接接头射线检测质量分级。如今当下市面的评片尺各式各样，但无一例外，在射线检测评片过程中发现细小肉眼难以准确判断的缺陷时仍需要借助自备的放大镜观察判断，这将极大的影响底片评定的速度效率。

技术实现要素：

本实用新型的目的是提供新型评片尺，解决传统评片尺难以观察细小缺陷的缺点。

本实用新型的目的是这样实现的：新型评片尺，包括：

透明的、依需求印刷有不同标准信息的主体尺身，其一侧边设有尺寸刻度线，并在检测时贴近被检测对象；

转轴；

具有镜柄的放大镜，镜柄末端通过转轴转动连接在主体尺身的其中一板面上，并在检测时所述放大镜朝向检测人员；

其中，检测时所述放大镜正对主体尺身的尺寸刻度线，且所述放大镜的活动范围覆盖主体尺身的尺寸刻度线。

进一步地，所述镜柄设置为可伸缩调节的杆状结构。

进一步地，所述主体尺身设置为矩形板结构。

进一步地，所述主体尺身的尺寸刻度线设置于其中一个长边侧。

进一步地，所述转轴靠近主体尺身的另一个长边侧，且靠近主体尺身的一个直角侧。

进一步地，所述转轴的旋转轴线垂直于主体尺身。

本实用新型的有益效果在于：

1、放大镜的镜柄不仅可以旋转，还可以伸缩调节，使用方便，以使放大镜的活动、观察范围能够方便地覆盖主体尺身的尺寸刻度线；

2、整体体积小，收纳方便；

3、底片评定中可随时灵活使用放大镜，利用放大镜放大观察细小缺陷，以及主体尺身的尺寸刻度线，以便提高底片评定的速度、效率。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图。

图中，1主体尺身，2放大镜，3镜柄，4转轴。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本实用新型进一步说明。本实施例中被检测对象为射线检测底片。

如图1所示，新型评片尺，包括：

透明的、依需求印刷有不同标准信息的主体尺身1，其一侧边设有尺寸刻度线，并在检测时贴近被检测对象；

转轴4，转轴4的旋转轴线垂直于主体尺身1；

具有镜柄3的放大镜2，镜柄3末端通过转轴4转动连接在主体尺身1的其中一板面上，并在检测时放大镜2朝向检测人员；

其中，检测时放大镜2正对主体尺身1的尺寸刻度线，且放大镜2的活动范围覆盖主体尺身1的尺寸刻度线，以便观测。

上述镜柄3设置为可伸缩调节的杆状结构，镜柄3可以是形同天线一样的多级调节杆状结构；也可以是至少两段节伸缩杆结构，可以用紧固件锁定调节后的长度。可伸缩调节的杆状结构可以是其他公知的结构形式。

上述主体尺身1设置为矩形板结构，主体尺身1的尺寸刻度线设置于其中一个长边侧，转轴4靠近主体尺身1的另一个长边侧，且靠近主体尺身1的一个直角侧。

在检测时，将主体尺身1贴合被检测对象，伸展镜柄3，并旋转镜柄3，使得放大镜2正对主体尺身1的尺寸刻度线，并放大观察被检测对象的细小缺陷，利用主体尺身1的尺寸刻度线检测、比对细小缺陷的大小；在不使用时，可以收缩镜柄3，并将镜柄3旋转到便于收拢的位置，从而将整个评片尺收起来。

以上是本实用新型的优选实施例，本领域普通技术人员还可以在此基础上进行各种变换或改进，在不脱离本实用新型总的构思的前提下，这些变换或改进都应当属于本实用新型要求保护范围之内。

技术特征：

1.新型评片尺，其特征在于，包括：

透明的、依需求印刷有不同标准信息的主体尺身(1)，其一侧边设有尺寸刻度线，并在检测时贴近被检测对象；

转轴(4)；

具有镜柄(3)的放大镜(2)，镜柄(3)末端通过转轴(4)转动连接在主体尺身(1)的其中一板面上，并在检测时所述放大镜(2)朝向检测人员；

其中，检测时所述放大镜(2)正对主体尺身(1)的尺寸刻度线，且所述放大镜(2)的活动范围覆盖主体尺身(1)的尺寸刻度线。

2.根据权利要求1所述的新型评片尺，其特征在于：所述镜柄(3)设置为可伸缩调节的杆状结构。

3.根据权利要求1所述的新型评片尺，其特征在于：所述主体尺身(1)设置为矩形板结构。

4.根据权利要求3所述的新型评片尺，其特征在于：所述主体尺身(1)的尺寸刻度线设置于其中一个长边侧。

5.根据权利要求4所述的新型评片尺，其特征在于：所述转轴(4)靠近主体尺身(1)的另一个长边侧，且靠近主体尺身(1)的一个直角侧。

6.根据权利要求1-5中任意一项所述的新型评片尺，其特征在于：所述转轴(4)的旋转轴线垂直于主体尺身(1)。

技术总结
本实用新型涉及无损检测技术领域的新型评片尺，包括：透明的、依需求印刷有不同标准信息的主体尺身，其一侧边设有尺寸刻度线，并在检测时贴近被检测对象；转轴；具有镜柄的放大镜，镜柄末端通过转轴转动连接在主体尺身的其中一板面上，并在检测时放大镜朝向检测人员；其中，检测时放大镜正对主体尺身的尺寸刻度线，且放大镜的活动范围覆盖主体尺身的尺寸刻度线。从而解决了传统评片尺难以观察细小缺陷的缺点。

技术研发人员：黄旭日;詹军;颜丰;陈文琦;张平辉
受保护的技术使用者：上海宝冶工程技术有限公司;上海宝冶集团有限公司
技术研发日：2020.09.24
技术公布日：2021.04.06