技术特征：
1.一种检测结构，其特征在于，包括：检测件，所述检测件设有检测面，光线通过所述检测面进入所述检测件；第一移动块，所述检测件与所述第一移动块相连接；驱动件，所述驱动件与所述第一移动块相连接；第一轨道，所述第一轨道相对所述检测面倾斜设置，所述第一移动块能够沿着所述第一轨道移动。2.根据权利要求1所述的检测结构，其特征在于，检测结构还包括定位件和第二移动块，所述定位件与所述第二移动块相连接，所述第二移动块能够沿着所述第一轨道移动。3.根据权利要求2所述的检测结构，其特征在于，还包括连接块，所述驱动件的输出端与所述连接块连接，所述连接块与所述第一移动块相连接，且所述连接块与所述第二移动块相连接。4.根据权利要求1所述的检测结构，其特征在于，还包括连接块，第一调整块和第二调整块，所述第一调整块与所述第一移动块相连接，所述检测件与所述第二调整块相连接，所述第一调整块沿着高度方向设有调整滑道，所述第二调整块沿着高度方向设有若干个定位孔，所述定位孔能够通过紧固件定位在所述调整滑道的任意位置。5.根据权利要求1所述的检测结构，其特征在于，还包括底座，所述底座上设有斜面，所述第一轨道沿着所述斜面设置，且所述第一轨道从高到低在所述斜面上延伸。6.根据权利要求3所述的检测结构，其特征在于，还包括底座、输出块、识别结构、第一识别件和第二识别件，所述第一轨道设置在所述底座上，所述输出块的一端与所述驱动件相连接，所述输出块的另一端与所述连接块相连接，所述识别结构连接于所述输出块上，所述第一识别件和所述第二识别件分别与所述底座相连接，所述第一识别件和所述第二识别件均能够识别所述识别结构，所述第一识别件与所述驱动件电连接，所述第二识别件与所述驱动件电连接。7.根据权利要求6所述的检测结构，其特征在于，所述底座上还设有第二轨道，所述第一轨道和所述第二轨道平行设置，所述第一识别件和所述第二识别件能够在所述第二轨道上移动。8.根据权利要求6所述的检测结构，其特征在于，还包括丝杆，所述丝杆与所述驱动件的输出端相连接，所述丝杆能够贯穿所述输出块，且所述输出块能够与所述丝杆的工作部相连接。9.一种芯片检测机构，其特征在于，包括探针和如权利要求1至8中任意一项所述的检测结构，所述探针用于对芯片进行检测。10.根据权利要求9所述的芯片检测机构，其特征在于，还包括移动平台，所述移动平台位于所述检测结构的下方，所述移动平台用于承载芯片以及移动芯片的位置。
技术总结
本实用新型公开了一种检测结构和芯片检测机构。检测结构包括检测件、第一移动块、驱动件、第一轨道，检测件设有检测面，光线通过检测面进入检测件，检测件与第一移动块相连接，驱动件与第一移动块相连接，第一轨道相对检测面倾斜设置，第一移动块能够沿着第一轨道移动。由于第一轨道倾斜设置，所以当检测件通过第一移动块在第一轨道移动时，可以通过第一驱动件驱动第一检测件完成上下方向和水平方向等两个方向的移动，相较于相关技术，节省了驱动件的数量。本实用新型还公开了一种芯片检测机构，包括上述检测结构。包括上述检测结构。包括上述检测结构。
技术研发人员：陈秋龙 张晋 刘东成
受保护的技术使用者：深圳市盛世智能装备有限公司
技术研发日：2020.12.09
技术公布日：2021/12/27