一种色差仪的制作方法

1.本技术涉及颜色测量技术领域，尤其涉及一种色差仪。


背景技术：

2.色差仪是用来测量样品颜色与标准颜色的色差的仪器，色差仪在造纸、印刷、陶瓷、化工、纺织印染以及建材等行业有较为广泛的应用。
3.目前色差仪包括照明与观测系统、分光系统、光电检测系统以及电路控制系统等主要构成部分。在具体使用时，首先盒上校准盖，将校准白板放置在测量口对色差仪进行校准；然后取下校准盖，测量口对着样品进行测量。
4.但是，目前的色差仪的仪器测量口为开口，在测量具有腐蚀性的样品时，样品会对内部器件造成腐蚀，导致测量结果不准确。


技术实现要素：

5.本技术提供一种色差仪，以解决目前的色差仪的仪器测量口为开口，在测量腐蚀性的样品时，样品会对内部器件造成腐蚀，导致测量结果不准确的技术问题。
6.根据本技术的一个方面，提供了一种色差仪，包括：壳体和测量组件；
7.所述壳体内具有安装腔体，所述测量组件安装在所述安装腔体内，并与所述壳体连接；
8.所述测量组件的内部具有容纳腔体，所述容纳腔体被配置为容纳电气元件，所述容纳腔体具有光窗，所述光窗可透过光线；
9.所述光窗处设有透明防护件，所述透明防护件与所述光窗密封连接，以阻挡样品进入所述容纳腔体内。
10.在一种可能的设计方式中，所述测量组件包括：安装座和第一主板，所述安装座与所述壳体连接，所述第一主板位于所述安装座朝向所述安装腔体的一侧，并与所述安装座连接，所述第一主板与所述安装座合围形成所述容纳腔体；所述光窗形成在所述安装座上。
11.在一种可能的设计方式中，所述电气元件设置在所述第一主板上，所述电气元件包括发光体和收光体，所述发光体和所述收光体之间设有挡光件，所述挡光件与所述第一主板连接；所述挡光件用于阻挡所述发光体发出的光向所述收光体照射。
12.在一种可能的设计方式中，所述挡光件上具有光通孔，所述光通孔的两端分别与所述收光体和所述光窗相对，所述光通孔用于将所述样品反射的光线引导至所述收光体上。
13.在一种可能的设计方式中，所述发光体为多个，多个所述发光体环绕所述收光体均匀间隔设置。
14.在一种可能的设计方式中，所述安装座与所述第一主板之间设有第一密封件，所述安装座与所述第一主板通过所述第一密封件密封连接。
15.在一种可能的设计方式中，所述光窗处设有安装部，所述透明防护件安装在所述
安装部上。
16.在一种可能的设计方式中，所述安装部与所述透明防护件之间设有第二密封件，所述透明防护件与所述安装部通过所述第二密封件密封连接。
17.在一种可能的设计方式中，所述容纳腔体的内壁上设有反光层。
18.在一种可能的设计方式中，所述色差仪还包括校准盖，所述校准盖与所述壳体或所述测量组件卡接，所述校准盖装有校准白板，所述校准白板用于仪器校准。
19.本技术实施例中，通过将测量组件安装在壳体内的安装腔体内，并在测量组件的内部形成容纳腔体，容纳腔体上设置供光线透过的光窗，在光窗处设置透明防护件，且透明防护件与光窗密封连接；这样，安装腔体和容纳腔体可以将电气元件与外部环境隔离，电气元件被透明防护件密封保护，在对腐蚀性样品(例如会挥发腐蚀性气体的油漆板)进行测量时，透明防护件能够将腐蚀性气体隔绝在外，而测量的光线能够透过透明防护件从光窗照射到样品上，并被样品反射后从光窗和透明防护件回到容纳腔体内；在对具有腐蚀性的样品进行测量时，能够有效保护电气元件不被腐蚀损坏，能够提高测量准确度。
20.本技术的构造以及它的其他目的及有益效果将会通过结合附图进行详细说明，以保证对优选实施例的描述更加明显易懂。
附图说明
21.为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
22.图1是本技术实施例提供的色差仪的整体结构示意图；
23.图2是本技术实施例提供的色差仪的爆炸结构示意图；
24.图3是本技术实施例提供的色差仪另一视角的爆炸结构示意图；
25.图4是本技术实施例提供的色差仪的主视图；
26.图5是沿图4中a
‑
a线的等轴侧剖视图；
27.图6是图5中b处的局部放大视图；
28.图7是图4的爆炸结构示意图；
29.图8是沿图7中c
‑
c线的剖视图；
30.图9是本技术实施例提供的色差仪中的测量组件的剖视图。
31.附图标记说明：
32.10
‑
壳体；20
‑
测量组件；30
‑
电气元件；40
‑
透明防护件；50
‑
遮光体；
33.11
‑
安装腔体；12
‑
显示屏；13
‑
接口；14
‑
电源开关；15
‑
第二主板；21
‑
容纳腔体；22
‑
安装座；23
‑
第一主板；24
‑
挡光件；25
‑
第一密封件；26
‑
第二密封件；27
‑
反光层；31
‑
发光体；32
‑
收光体；51
‑
校准白板；
34.211
‑
光窗；212
‑
安装部；241
‑
光通孔。
具体实施方式
35.为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施例
中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
36.在本技术实施例的描述中，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本技术的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。
37.在本技术中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
38.在本技术中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
39.在本技术的描述中，需要理解的是，术语“内”、“外”、“上”、“底”、“前”、“后”等指示的方位或者位置关系(若有的话)为基于附图1所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或者暗示所指的装置或者元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
40.下面，结合本技术说明书附图对本技术实施例提供的色差仪作进一步详细说明。
41.图1是本技术实施例提供的色差仪的整体结构示意图，图2是本技术实施例提供的色差仪的爆炸结构示意图，图3是本技术实施例提供的色差仪另一视角的爆炸结构示意图，图4是本技术实施例提供的色差仪的主视图，图5是沿图4中a
‑
a线的等轴侧剖视图，图6是图5中b处的局部放大视图，图7是图4的爆炸结构示意图，图8是沿图7中c
‑
c线的剖视图，图9是本技术实施例提供的色差仪中的测量组件的剖视图。
42.参照图1、图3和图9所述，本技术实施例提供的一种色差仪，包括：壳体10和测量组件20。壳体10内具有安装腔体11，测量组件20安装在安装腔体11内，并与壳体10连接。
43.具体的，本技术实施例中，壳体10可以是硬质塑胶壳或者金属外壳。其中，壳体10可以是一体成型，也可以是多个侧壁合围形成。在壳体10内部形成有安装腔体11，安装腔体11可以是与壳体10一体成型得到，例如在对壳体10进行注塑成型时，将安装腔体11一体成型。当然，安装腔体11也可以是在壳体10成型后，通过二次加工的方式得到。
44.本技术实施例中，测量组件20可以安装在安装腔体11内，具体可以通过螺钉、螺栓或者螺杆等固定件固定在安装腔体11内。例如，在安装腔体11的侧壁上设置螺纹柱，测量组件20上形成安装孔或者螺纹柱，螺钉、螺栓或者螺杆等固定件通过螺纹柱连接测量组件20和壳体10。
45.在一些可能的方式中，测量组件20也可以是通过卡接的方式与壳体10连接固定。
46.参照图9所示，本技术实施例中，测量组件20的内部具有容纳腔体21，容纳腔体21
被配置为容纳电气元件30，容纳腔体21具有光窗211，光窗211可透过光线。
47.具体的，电气元件30发出的光可以经过光窗211照射出容纳腔体21，在经过样品对光进行吸收反射后，光能够从光窗211反射回容纳腔体211内，并被电气元件30接收。从而实现对样品颜色的测量。
48.光窗211处设有透明防护件40，透明防护件40与光窗211密封连接，以阻挡样品进入容纳腔体21内。
49.具体的，透明防护件40可以是透明玻璃、钢化玻璃、石英玻璃或者透明亚克力板等材料制成。
50.可选的，透明防护件40可以通过粘贴的方式固定在光窗211处。在一些可能的方式中，透明防护件40也可以通过螺钉、螺栓或者螺杆等固定在光窗211处。
51.本技术实施例中，通过将测量组件20安装在壳体10内的安装腔体11内，并在测量组件20的内部形成容纳腔体21，容纳腔体21上设置供光线透过的光窗211，在光窗211处设置透明防护件40，且透明防护件40与光窗211密封连接；这样，安装腔体11和容纳腔体21就可以将电气元件30与外部环境隔离，并被透明防护件40密封保护，在对腐蚀性样品(例如会挥发腐蚀性气体的油漆板)进行测量时，透明防护件40能够将腐蚀性气体隔绝在外，而测量的光线能够透过透明防护件40从光窗211照射到样品上，并被样品反射后从光窗211和透明防护件40回到容纳腔体21内；在对具有腐蚀性的样品进行测量时，能够有效保护电气元件30不被腐蚀损坏，能够提高测量准确度。
52.可选的，参照图5、图6图8和图9所示，本技术实施例中，测量组件20包括：安装座22和第一主板23，安装座22与壳体10连接，第一主板23位于安装座22朝向安装腔体11的一侧，并与安装座22连接，第一主板23与安装座22合围形成容纳腔体21；光窗211形成在安装座22上。
53.具体的，本技术实施例中，安装座22是用来安装第一主板23并与壳体10连接的部件。安装座22可以采用与壳体10相同或者不同的材料制成。在安装座22上可以形成有槽口或者是凹槽，而第一主板23可以安装在槽口或者凹槽的开口处，从而第一主板23和安装座22合围以在槽口或者凹槽处形成容纳腔体21。
54.可选的，第一主板23可以是集成电路板或者印制电路板(printed circuit board，pcb)。在集成电路板或者pcb板上集成有电路或信号线。本技术实施例中，可在壳体10内设置电池(例如锂电池)，电池与第一主板23电性连接，以便对第一主板23进行供电。
55.可选的，电池可以是干电池或者可充电电池，在电池为可充电电池时，参照图3所述，可以在壳体10的一侧设置接口13，接口13可以是充电接口，充电线通过该接口13对可充电电池进行充电。
56.在一些可能的方式中，接口13也可以是充电和数据接口的结合(例如type
‑
c接口)。这样，可以从接口13对可充电电池进行充电，也可以从接口13传输数据(例如将色差仪内的数据导出，或者，向色差仪内倒入数据等)。
57.可以理解的是，为避免在不使用色差仪进行测量时的不必要耗电，参照图4所示，本技术实施例中，可以在壳体10的一侧设置电源开关14，电源开关14电连接在可充电电池与第一主板23之间。
58.参照图5、图6和图9所示，本技术实施例中，电气元件30设置在第一主板23上，电气
元件30包括发光体31和收光体32，发光体31和收光体32之间设有挡光件24，挡光件24与第一主板23连接；挡光件24用于阻挡发光体31发出的光向收光体32照射。
59.具体的，本技术实施例中，发光体31可以是能够发出白光或者混合光的光源。在具体实现时，发光体31可以是发光二极管(light emitting diode，led)，led光源发出的白光通过光窗211和透明防护件40后照射到样品上，样品会对白光或者混合光中的各色光线进行吸收，而无法吸收的光线会被样品反射，从而表现出样品的颜色。
60.可选的，本技术实施例中，收光体32可以是对颜色敏感的颜色探测器或者色彩感应器等。当发光体31发出的白光或者混合光被样品吸收后的反射光反射到收光体32上时，收光体32能够输出所接收到的光线的光强度，光强度经单片机计算后得到颜色值lab。
61.需要说明的是，由于led发出的光通常为发散型的光线，为避免led发出的光直接照射在收光体32上，对收光体32接收样品的反射光造成干扰，本技术实施例中，在发光体31和收光体32之间设置有挡光件24。挡光件24可以是由遮光材料制成，例如不透光的塑料。或者，在挡光件24的周壁上可以涂覆遮光涂层。
62.可选的，挡光件24可以设置在第一主板23上，挡光件24也可以设置在安装座22上，并在安装座22与第一主板23连接后，挡光件24朝向第一主板23的一端与第一主板23密闭连接。在具体实现时，可以在第一主板23和挡光件24之间设置密封垫(例如遮光海绵、遮光圈或者硅胶圈等)。
63.可选的，参照图1、图2和图8所示，本技术实施例中，在安装腔体11远离测量组件20的一端还设置有显示屏12，显示屏12可以用来显示测量结果(例如显示样品的颜色值lab、样品颜色与标准颜色的色差值，或者样品的色号等)。
64.其中，显示屏12可以是液晶显示屏或者触摸屏等，在显示屏12上可以显示各种物理或者虚拟控制按键，从而对第一主板23进行控制，以便对样品进行测量。
65.可选的，参照图5和图8所示，本技术实施例中，在显示屏12朝向安装腔体11的一侧还设置有第二主板15，第二主板15与第一主板23一样可以是集成电路板或者pcb板。在第二主板15上可以集成有控制芯片，控制芯片可以是中央处理器(central processing unit，cpu)、微控制单元(microcontroller unit，mcu)或者是现场可编程门阵列(field
‑
programmable gate array，fpga)等。控制芯片与第一主板23上的电气元件30电信号连接，以便对电气元件30进行控制。
66.在具体实现时，第一主板23和第二主板15可以通过通讯总线电信号连接。在一些可能的方式中，也可以分别在第一主板23和第二主板15上设置通讯芯片(例如无线通讯芯片)，以便第一主板23和第二主板15信号连接。
67.进一步的，参照图6、图8和图9所述，本技术实施例中，在挡光件24上形成有光通孔241，光通孔241的两端分别与收光体32和光窗211相对，光通孔241用于将样品反射的光线引导至收光体32上。
68.具体的，光通孔241位于收光体32和光窗211之间，光通孔241轴线的延长线分别与收光体32和光窗211的轴线共线。
69.可选的，本技术实施例中光通孔241的纵截面可以是呈锥型，其中大口端可以朝向光窗241，小口端朝向收光体32。这样，光通孔241能够将更多的样品反射光导向至收光体32上，以便收光体32能够接收到更多的样品反射光，能够提高测量精度。
70.可选的，在光通孔241的内壁上可以涂覆吸光涂层，这样能够避免样品反射光以外的光线经光通孔内壁反射到收光体32上，能够提高测量的精度。
71.参照图6、图8和图9所示，本技术实施例中，发光体31为多个，多个发光体31环绕收光体32均匀间隔设置。
72.进一步的，参照图9所示，本技术实施例中，在容纳腔体21的内壁上设有反光层27。
73.具体的，本技术实施例中，反光层27可以是漫反光涂层，也可以是漫反光膜。
74.通过设置多个发光体31，能够使得发光体31发出的光均匀照射到反光层27，光线经反光层27反射后，光线进一步均化，反射光线通过挡光件24和容纳腔体21的侧壁之间的间隙照射向样品，经样品反射后从光通孔241照射到收光体32上。
75.进一步的，参照图6和图9所示，本技术实施例中，在安装座22与第一主板23之间设有第一密封件25，安装座22与第一主板23通过第一密封件25密封连接。
76.具体的，本技术实施例中，第一密封件25可以是密封圈(例如硅胶圈或者橡胶圈等)。在具体安装时，可以在安装座22朝向第一主板23的端面上设置凹槽，将密封件嵌入凹槽内，然后将第一主板23固定到安装座22上后，第一主板23的板面压合在密封圈上，从而实现密封。
77.可选的，第一密封件25也可以是密封胶。例如，在安装座22朝向第一主板23的端面上涂上密封胶后，将第一主板23粘接在安装座22上，从而实现密封。
78.进一步的，参照图9所述，本技术实施例中，在光窗211处设有安装部212，透明防护件40安装在安装部212上。
79.具体的，本技术实施例中，安装部212可以是设置在光窗211内侧的安装台阶，将透明防护件40安装在该安装台阶上，在一些可能的方式中，安装部212可以是在光窗211外侧设置的凹槽，透明防护件40上设置插接件，透明防护件40通过插接件插入凹槽内，从而实现安装连接。
80.可选的，安装部212也可以就是光窗211的内侧壁，在具体安装时，在光窗211的内侧壁上涂覆粘接剂(例如环氧树脂或者酚醛树脂等)，透明防护件40的周壁通过粘接剂与光窗211的内侧壁粘接。
81.可选的，参照图6和图9所示，本技术实施例中，安装部212与透明防护件40之间设有第二密封件26，透明防护件40与安装部212通过第二密封件26密封连接。
82.具体的，第二密封件26的材料与第一密封件25可以相同，也可以不同。例如，第一密封件25可以是橡胶圈，而第二密封件26可以是硅胶圈。在一些可能的方式中，第二密封件26可以是硅胶垫片。当然，第二密封件26也可以是密封胶。
83.进一步的，参照图3、图4和图7所示，本技术实施例提供的色差仪还包括校准盖50，校准盖50与壳体10或测量组件20卡接，遮光盖50装有校准白板51，校准白板51用于仪器校准。
84.具体的，本技术实施例中，校准盖50与壳体10可以是相同的材质。校准盖50可以连接在壳体10上，在一些可能的示例中，校准盖50可以连接在测量组件20上(图3和图7中以校准盖50连接在测量组件20上作为示例示出)。
85.在具体实现时，可以在测量组件20的安装座22的周壁上设置卡槽，在校准盖50的内侧壁上设置卡扣，通过卡扣和卡槽进行卡接。更具体的，卡槽可以是旋转式卡槽，校准盖
50通过旋拧的方式与安装座22卡接。
86.可以理解的是，当校准盖50与壳体10卡接时，可以在壳体10的内侧壁设置卡槽，而在校准盖50的外侧壁设置卡扣，从而实现校准盖50与壳体10的卡接。
87.可选的，校准盖50与壳体10或者测量组件20也可以通过螺纹的方式连接。
88.在校准盖50内设置有校准白板51，校准白板51可以是纯白色的一块标准色板，在每次测量前，可以通过对校准白板进行测量，从而对电气元件30进行校准，校准后取下校准盖50，再对样品进行测量，提高测量精度。
89.以上所述，仅为本技术的具体实施方式，但本技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本技术揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本技术的保护范围之内。因此，本技术的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。