测试系统的制作方法

1.本技术涉及机械结构领域，特别是涉及一种测试系统。


背景技术：

2.挠性电路板又称“软板”，是用柔性的绝缘基材制成的印刷电路。挠性电路板作为5g产业链中的一种重要元件，其可以自由弯曲、卷绕、折叠，能够承受数百万次的动态弯曲而不损坏导线，且能够依照空间布局要求任意安排，并在三维空间任意移动和伸缩，从而达到元器件装配和导线连接的一体化等多重优点。所以挠性电路板被广泛应用在5g产业链中。挠性电路板上设置有多种规格的信号传输线，即信号传输线的宽度不同、厚度不同或者表面的处理不同。每一种信号传输线都会因为制作工艺的差别产生不同程度的损耗，而信号传输线的损耗与信号传输的质量有很大的关系，所以在挠性电路板上布设信号传输线之前需要对多种不同类型的信号传输线进行损耗测试，进而根据信号传输线在挠性电路板上不同的作用选择合适的信号传输线，从而提升挠性电路板的性能指标以及信号传输的质量。
3.现有技术大多使用网络分析仪对信号传输线进行损耗测试，信号传输线布设在挠性电路板上，网络分析仪通过连接器与挠性电路板上的信号传输线连接，网络分析仪通过连接器向信号传输线输入测试信号，然后再通过连接器接收经过信号传输线传输的测试信号，以根据测试信号得到信号传输线的损耗，但由于连接器与挠性电路板紧固连接，会使得挠性电路板变形，造成连接器与信号传输线接触不良，进而使得对信号传输线损耗的测试产生误差。


技术实现要素：

4.本技术实施例提供了一种测试系统，能够准确的测试不同类型的信号传输线的损耗，提升挠性电路板的性能指标以及信号传输的质量。
5.本技术提供了一种测试系统，包括：网络分析仪、一对射频探针以及支撑结构；
6.支撑结构，包括硬质板和支架；待测挠性电路板固定在硬质板上，待测挠性电路板包括多条不同规格的信号传输线；支架用于支撑硬质板，以使硬质板与射频探针的距离满足测试距离；
7.网络分析仪通过射频电缆与一对射频探针中的第一射频探针连接，向第一射频探针发送测试信号；
8.第一射频探针与待测挠性电路板上的信号传输线的输入端电连接，向信号传输线输入测试信号；一对射频探针中的第二射频探针与待测挠性电路板上的信号传输线的输出端电连接，从信号传输线的输出端接收通过信号传输线传输的测试信号。
9.网络分析仪与一对射频探针中的第二射频探针连接，从第二射频探针接收测试信号，测试信号用于网络分析仪确定信号传输线的损耗，测试信号用于网络分析仪确定信号传输线的损耗。
10.在其中一个实施例中，待测挠性电路板上还包括接地线，接地线与信号传输线布设在待测挠性电路板的同一面。
11.在其中一个实施例中，待测挠性电路板上还接地线，接地线与信号传输线布设在待测挠性电路板的不同面。
12.在其中一个实施例中，待测挠性电路板的四个角上设置有通孔，接地线通过通孔延伸至挠性电路板上设置有信号传输线的一面。
13.在其中一个实施例中，第一射频探针和第二射频探针均包括接地探头和信号探头。
14.在其中一个实施例中，第一射频探针的接地探头与待测挠性电路板第一端的接地线连接，第一射频探针的信号探头与待测挠性电路板第一端的信号传输线连接；第二射频探针的接地探头与待测挠性电路板第二端的接地线连接，第二射频探针的信号探头与待测挠性电路板第二端的信号传输线连接。
15.在其中一个实施例中，支架的数量至少包括两个，两个支架可以是支撑在硬质板的任一对角上或者支撑在硬质板的任一对边的中点上。
16.在其中一个实施例中，支架包括：安装件、支撑件和吸附件，
17.安装件，设置在支撑件的上表面，与支撑件可拆卸连接；
18.吸附件，设置在支撑件的下表面，与支撑件可拆卸连接，吸附件设置在测试台上。
19.在其中一个实施例中，安装件包括：夹持部、安装部和连接部，
20.夹持部，设置在安装部的上表面，与安装部活动连接；
21.连接部，设置在安装部的下表面，连接部的一端与安装部连接，另一端与支撑件连接。
22.在其中一个实施例中，支撑件包括至少两个支撑柱，单个支撑柱一端的端面上设置有安装凸台，另一端的端面设置有凹槽，凹槽的尺寸与安装凸台的尺寸相匹配，至少两个支撑柱叠设在一起，且相邻两个支撑柱中，一支撑柱的安装凸台能够安装于另一支撑柱的凹槽内。
23.本技术实施例提供了一种测试系统，包括：网络分析仪、一对射频探针以及支撑结构；支撑结构，包括硬质板和支架；待测挠性电路板固定在硬质板上，待测挠性电路板包括多条不同规格的信号传输线；支架用于支撑硬质板，以使硬质板与射频探针的距离满足测试距离；网络分析仪通过射频电缆与一对射频探针中的第一射频探针连接，向第一射频探针发送测试信号；第一射频探针与待测挠性电路板上的信号传输线的输入端电连接，向信号传输线输入测试信号；一对射频探针中的第二射频探针与待测挠性电路板上的信号传输线的输出端电连接，从信号传输线的输出端接收通过信号传输线传输的测试信号，测试信号用于网络分析仪确定信号传输线的损耗。网络分析仪与一对射频探针中的第二射频探针连接，从第二射频探针接收测试信号。本技术提供的测试系统，使用硬质板承载待测挠性电路板，在测试时，支撑结构仅与硬质板连接，未接触待测挠性电路板，所以待测挠性电路板不会变形；同时，待测挠性电路板中的信号传输线与射频探针的探头接触连接，接触面积小，能够避免因与待测挠性电路板中的信号传输线接触面积大，使得接触面上的杂质不易被发现从而影响信号传输线损耗测试的准确性，本技术提供的测试系统能够更加准确地对待测挠性电路板上布设的信号传输线的损耗进行测试，进一步能够提升挠性电路板的性能
指标以及挠性电路板的信号传输质量。
附图说明
24.图1为一个实施例中测试系统的结构示意图；
25.图2为一个实施例中待测挠性电路板的结构示意图；
26.图3为另一个实施例中待测挠性电路板的结构示意图；
27.图4为一个实施例中支架的结构示意图；
28.图5为一个实施例中支撑柱的结构示意图；
29.图6为另一个实施例中支撑柱的结构示意图。
30.附图标记说明：
31.100、网络分析仪； 201、第一射频探针； 202、第二射频探针；
32.300、支撑结构；
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310、硬质板；
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320、支架；
33.330、安装件；
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331、夹持部；
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332、压接凸起；
34.333、限位槽；
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334、安装部；
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335、连接部；
35.340、支撑件；
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341、支撑柱；
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342、安装凸台；
36.343、凹槽；
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350、吸附件；
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401、接地线；
37.402、信号传输线； 403、通孔。
具体实施方式
38.为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。
39.挠性电路板又称“软板”，是用柔性的绝缘基材制成的印刷电路。挠性电路板作为5g产业链中的一种重要元件，其可以自由弯曲、卷绕、折叠，能够承受数百万次的动态弯曲而不损坏导线，且能够依照空间布局要求任意安排，并在三维空间任意移动和伸缩，从而达到元器件装配和导线连接的一体化等多重优点。所以挠性电路板被广泛应用在5g产业链中。挠性电路板上设置有多种规格的信号传输线，即信号传输线的宽度不同、厚度不同或者表面的处理不同。每一种信号传输线会因为制作工艺的差别产生不同程度的损耗，而信号传输线的损耗与信号传输的质量有很大的关系，所以在挠性电路板上布设信号传输线之前需要对多种不同类型的信号传输线进行损耗测试，进而根据信号传输线在挠性电路板上不同的作用来选择合适的信号传输线，从而提升挠性电路板的性能指标以及信号传输的质量。
40.示例性的，如图1所示，图1提供了一种测试系统，包括：网络分析仪100、一对射频探针以及支撑结构300；
41.支撑结构300，包括硬质板310和支架320；待测挠性电路板固定在硬质板310上，待测挠性电路板包括多条不同规格的信号传输线402；支架320用于支撑硬质板310，以使硬质板310与射频探针的距离满足测试距离；
42.网络分析仪100通过射频电缆与一对射频探针中的第一射频探针201连接，向第一射频探针201发送测试信号；
43.第一射频探针201与待测挠性电路板上的信号传输线402的输入端电连接，向信号传输线402输入测试信号；一对射频探针中的第二射频探针202与待测挠性电路板上的信号传输线402的输出端电连接，从信号传输线402的输出端接收通过信号传输线402传输的测试信号。
44.网络分析仪100与一对射频探针中的第二射频探针202连接，从第二射频探针202接收测试信号，测试信号用于网络分析仪100确定信号传输线402的损耗。
45.其中，支撑结构300用于为待测挠性电路板提供支撑，便于射频探针更好的与待测挠性电路板上布设的信号传输线402接触连接，以对不同规格的信号传输线402进行准确的损耗测试。支撑结构300例如可以为一正方体、长方体、棱柱等，本技术对此不加以限定。支撑结构300的高度可以调节也可以是固定高度。待测待测挠性电路板可以是粘贴在硬质板310上，使得硬质板310能够很好的承载待测挠性电路板，便于在使用网络分析仪100以及射频探针对待测挠性电路板固进行测试时，待测挠性电路板不会发生位移，能够更准确的对待测挠性电路板进行测试。
46.硬质板310例如可以是pvc硬板、聚乙烯板、亚克力板、petg板材等，上述硬质板310质地轻，硬度高，耐火阻燃、抗腐蚀性强，不会对信号传输线402的测试带来干扰，运用在本技术，能够起到承载待测挠性电路板的作用，不会使待测挠性电路板产生变形，便于测试设备对待测挠性电路板进行测试。
47.网络分析仪100以及射频探针是对待测挠性电路板上的信号传输线402的损耗进行测试，所以待测挠性电路板上布设有信号传输线402，待测挠性电路板上可以是只有一条信号传输线402，也可以是有多条信号传输线402，多条信号传输线402的规格不同，即多条信号传输线402可以是宽度不同、厚度不同或者表面的处理不同。
48.示例性的，在需要对信号传输线402进行损耗测试时，首先，将待测信号传输线402布设在挠性电路板上，得到待测挠性电路板，因为挠性电路板的质地比较柔软，为了在测试的过程中，避免造成挠性电路板变形，导致对信号传输线402的损耗测试不准确，所以将待测挠性电路板粘贴在硬质板310上，以使射频探针中的第一射频探针201与待测挠性电路板上的信号传输线402的输入端连接，该连接是指射频探针的探头触及信号传输线402的端部，接触面积小；然后，网络分析仪100通过第一射频探针201将测试信号传输至信号传输线402，该测试信号可以是正弦波、方波、锯齿波等，第二射频探针202与待测挠性电路板上的信号传输线402的输出端连接，该连接也是指第二射频探针202的探头触及信号传输线402的端部，避免了与信号传输线402大面积的接触，第二射频探针202将经过信号传输线402传输后的测试信号接收并传回网络分析仪100，网络分析仪100可以是根据输出的测试信号的功率以及接收到的测试信号的功率的比值来确定该信号传输线402的损耗大小，其中，输出的测试信号的功率以及接收到的测试信号的功率的比值越趋近于零，则表示该信号传输线402的损耗越小。
49.本技术实施例提供的测试系统，包括：网络分析仪100、一对射频探针以及支撑结构300；支撑结构300，包括硬质板310和支架320；待测挠性电路板固定在硬质板310上，待测挠性电路板包括多条不同规格的信号传输线402；支架320用于支撑硬质板310，以使硬质板310与射频探针的距离满足测试距离；网络分析仪100通过射频电缆与一对射频探针中的第一射频探针201连接，向第一射频探针201发送测试信号；第一射频探针201与待测挠性电路
板上的信号传输线402的输入端电连接，向信号传输线402输入测试信号；一对射频探针中的第二射频探针202与待测挠性电路板上的信号传输线402的输出端电连接，从信号传输线402的输出端接收通过信号传输线402传输的测试信号。网络分析仪100与一对射频探针中的第二射频探针202连接，从第二射频探针202接收测试信号。本技术提供的测试系统，使用硬质板310承载待测挠性电路板，在测试时，支撑结构300仅与硬质板310连接，未接触待测挠性电路板，所以待测挠性电路板不会变形；同时，待测挠性电路板中的信号传输线402与射频探针的探头接触连接，接触面积小，避免与待测挠性电路板中的信号传输线402大面积接触，遮挡信号传输线402，不易发现接触面上的杂质，造成对信号传输线402的测试产生误差的情况出现，使得对待测挠性电路板上布设的信号传输线402的损耗测试更加的准确，进而能够提升挠性电路板的性能指标以及信号传输的质量。
50.在其中一个实施例中，待测挠性电路板上还包括接地线401，接地线401与信号传输线402布设在待测挠性电路板的同一面。
51.其中，接地线401与信号传输线402相互配合使用，在测试信号传输过程中形成一条回路。接地线401与信号传输线402布设在待测挠性电路板的同一面，接地线401可以是包括两条，分别布设在信号传输线402的两侧，与信号传输线402的端面齐平，信号线与接地线401之间的距离与射频探针上探头之间的距离相适配，便于射频探针更好的与信号传输线402以及接地线401接触连通。
52.在其中一个实施例中，待测挠性电路板上还接地线401，接地线401与信号传输线402布设在待测挠性电路板的不同面。
53.其中，接地线401还可以与信号传输线402设置在挠性电路板的不同面，不同的待测挠性电路板能够满足不同的使用环境，以使用户根据信号传输线402在挠性电路板上的功能，选择合适的布设图形布设线路。
54.在其中一个实施例中，待测挠性电路板的四个角上设置有通孔403，接地线401通过通孔403延伸至挠性电路板上设置有信号传输线402的一面。
55.其中，通孔403可以是圆孔、方孔等形状，通孔403的尺寸与接地线401相适配，为了将不同面的接地线401从通孔403引到有信号传输线402的一面，便于射频探针的探头与接地线401以及通孔403接触连接，方便测试。
56.在其中一个实施例中，第一射频探针201和第二射频探针202均包括接地探头和信号探头。
57.其中，第一射频探针201与第二射频探针202的结构相同，均包括两根接地探头和一根信号探头，接地探头用于与待测挠性电路板上布设的接地线401接触连接，信号探头用于与待测挠性电路板上布设的信号传输线402接触连接，以便将测试信号传输至信号传输线402以及从信号传输线402输出。
58.在其中一个实施例中，第一射频探针201的接地探头与待测挠性电路板上接地线401的输入端连接，第一射频探针201的信号探头与待测挠性电路板上信号传输线402的输入端连接；第二射频探针202的接地探头与待测挠性电路板上接地线401的输出端连接，第二射频探针202的信号探头与待测挠性电路板上信号传输线402的输出端连接。
59.其中，第一射频探针201的接地探头以及信号探头分别与待测挠性电路板信号传输线402以及接地线401的输入端接触连接，将网络分析仪100输出的测试信号通过第一射
频探针201传输至信号传输线402的输入端；第二射频探针202的接地探头以及信号探头分别与待测挠性电路板上信号传输线402以及接地线401的输出端接触连接，以将经过信号传输线402传输的测试信号接收并传输回网络分析仪100，网络分析仪100根据输出的测试信号的功率以及接收到的测试信号的功率的比值判断该信号传输线402的损耗的大小。整个测试的过程不会引入干扰，使得对信号传输线402的损耗测试更加的准确。
60.在其中一个实施例中，支架320的数量至少包括两个，两个支架可以是支撑在硬质板的任一对角上或者支撑在硬质板的任一对边的中点上。
61.其中，支架320的数量至少为两个，两个支架320可以是设置在硬质板310的对侧角，也可以是设置在硬质板310的对侧侧边的中部，能够更好的起到支撑的作用。硬质板310的数量还可以是三个或者四个，三个支架320可以是设置在硬质板310三条相邻侧边的中部，四个支架320可以是设置在硬质板310的四个角，本技术对此不加以限定。用户能够根据实际的使用情况，灵活的设置支架320的数量，以适配更多的测试环境。支架320可以是正方体、长方体、圆柱体、棱柱等，支架320可以是与硬质板310通过卡接、螺栓连接、压接等连接方式连接在一起，本技术对此不加以限定。支架320的材质可以是合金、钢、铁等。
62.在其中一个实施例中，支架320包括：安装件330、支撑件340和吸附件350，
63.安装件330，设置在支撑件340的上表面，与支撑件340可拆卸连接；
64.吸附件350，设置在支撑件340的下表面，与支撑件340可拆卸连接，吸附件350设置在测试台上。
65.其中，安装件330用于与硬质板310连接，将硬质板310固定在预设的测试位置，便于射频探针和网络分析仪100对硬质板310上的待测挠性电路板进行测试。硬质板310可以是与安装件330通过卡接、螺栓连接、压接等方式连接，本技术对此不加以限定。
66.支撑件340可以是圆柱体、长方体、棱柱、正方体等结构，用于支撑安装件330，支撑件340高度可调，使得安装件330与测试台的高度可以根据用户需求改变，以便更好的对待测样品进行测试。支撑件340可以是包括多个支撑部，多个支撑部之间可拆卸，多个支撑部叠设在一起，可以是通过卡接的方式叠设在一起，也可以是通过螺纹连接的方式叠设在一起，本技术对此不加以限定。用户可以根据需求选择支撑部的数量。支撑件340还可以是螺旋套筒，螺旋套筒包括内套筒和外套筒，通过旋转外套筒使内套筒伸缩，改变支撑件340的高度；支撑件340还可以有其它的形状，本技术对此不加以限定。支撑件340的材质可以是合金、钢、铁等，支撑件340的材质可以是与安装件330相同，也可以与安装件330不同，本技术对此不加以限定。
67.吸附件350可以是吸盘等吸附结构，其能够吸附于测试台上固定待测样品固定部的位置，一方面可以提高支撑件340的稳定性，另一方面便于根据挠性电路板的尺寸及位置调节支撑件340的位置，提高调节位置的方便程度。
68.在其中一个实施例中，安装件330包括：夹持部331、安装部334和连接部335，
69.夹持部331，设置在安装部334的上表面，与安装部334活动连接；
70.连接部335，设置在安装部334的下表面，连接部335的一端与安装部334连接，另一端与支撑件340连接。
71.其中，夹持部331用于夹持固定板，夹持部331的一侧边上设置有压接凸起332，安装部334朝向压接凸起332的侧边设置有限位槽333，当压接凸起332与限位槽333彼此靠近
时，能够夹持住固定板的边缘，且利用限位槽333可以限制固定板与支架320的位置，避免压接凸起332与限位槽333彼此靠近的过程中，固定板发生位移，影响后续的测试。
72.安装部334可以是一长方体结构，安装部334的中间部位开设有一通孔403，通孔403内设置有调节螺母，调节螺杆与一端与调节螺母螺纹连接，另一端贯穿安装部334与夹持部331连接，通过转动调节螺母能够改变调节螺杆进入通孔403的长度，从而使得夹持部331与安装部334彼此靠近或者远离。
73.连接部335设置在安装部334的下表面，其可以是一安装凸台342，安装凸台342的形状与支撑件340中支撑部的形状相适配，便于通过连接部335将支撑件340与安装件330连接起来，可以是通过卡接的方式连接起来，也可以是通过螺纹连接的方式连接起来，本技术对此不加以限定。
74.在其中一个实施例中，支撑件340包括至少两个支撑柱341，单个支撑柱341一端的端面上设置有安装凸台342，另一端的端面设置有凹槽343，凹槽343的尺寸与安装凸台342的尺寸相匹配，至少两个支撑柱341叠设在一起，且相邻两个支撑柱341中，一支撑柱341的安装凸台342能够安装于另一支撑柱341的凹槽343内。
75.其中，每一个支撑件340包括至少两个支撑柱341，该支撑柱341靠近安装件330的一面上可以是设置有凹槽343，该凹槽343的形状与连接部335的安装凸台342的形状相适配，便于安装件330的连接部335的安装凸台342嵌入凹槽343，以使安装件330与支撑件340稳定连接，也可以是安装件330的连接部335上设置凹槽343，支撑部靠近安装件330的一面上设置安装凸台342，本技术对此不加以限定。当支撑件340包括多个支撑柱341时，每一个支撑柱341可以是在其中一个表面上设置有安装凸台342，另一表面上设置有凹槽343，以使多个支撑柱341之间通过安装凸台342嵌入凹槽343的方式稳固连接。凹槽343以及安装凸台342的外表上可以是设置有相适配的螺纹，二者可以通过螺纹连接的方式连接，凹槽343以及安装凸台342也可以是光滑表面，二者通过将安装凸台342卡接进入凹槽343的方式连接，本技术对此不加以限定。多个支撑柱341的高度可以设置成相同，也可以设置为不同，用户可以根据自己的需求选择合适高度的支撑柱341形成支撑件340，使得本技术提供的测试系统能够应用在不同的测试环境中。
76.以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
77.以上实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。
78.在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。
79.此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。
80.在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
81.在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
82.需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“上”、“下”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。