技术特征：
1.一种测试控制电路，其特征在于，应用于测试用具，所述测试用具与待测设备的待测接口连接，所述测试控制电路包括：所述测试控制电路的第一端口与所述测试控制电路的第二十五端口短接，所述测试控制电路的第二端口与所述测试控制电路的第二十三端口短接，所述测试控制电路的第三端口与所述测试控制电路的第四端口短接，所述测试控制电路的第六端口与所述测试控制电路的第十九端口短接，所述测试控制电路的第八端口与所述测试控制电路的第二十一端口短接，所述测试控制电路的第十端口、第十二端口、第十四端口、第十六端口、第十八端口、第二十端口、第二十二端口及第二十四端口接地；其中，所述测试控制电路的二十五个端口与所述待测接口的二十五个端口配对连接，所述待测设备用于测试所述待测接口的功能。2.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述测试控制电路的第三端口作为数据端口。3.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述测试控制电路的第一端口、第二端口、第六端口及第八端口作为控制端口。4.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述测试控制电路的第十九端口、第二十一端口、第二十三端口及第二十五端口作为状态端口。5.根据权利要求1任一项所述的电路，其特征在于，所述测试控制电路的第四端口作为报错端口。6.一种测试用具，其特征在于，包括第一测试区，所述第一测试区包括第一测试接口和电路板，所述第一测试接口与待测接口连接，所述第一测试接口和权利要求1-5任一项所述的测试控制电路焊接于所述电路板。7.根据权利要求6所述的测试用具，其特征在于，还包括第二测试区，所述第一测试区和所述第二测试区之间在线路和布局上是独立的，所述第二测试区包括第二测试接口，所述第二测试接口与所述待测接口连接，所述第二测试接口和权利要求1-5任一项所述的测试控制电路焊接于所述电路板。8.根据权利要求7所述的测试用具，其特征在于，所述第一测试接口为第一针距的母座。9.根据权利要求6所述的测试用具，其特征在于，所述第二测试接口为第二针距的母座。10.一种测试系统，其特征在于，包括待测设备和权利要求6-9任一项所述的测试用具，所述待测设备包括至少一个待测接口，所述测试用具与所述至少一个待测接口连接，所述待测设备用于测试所述待测接口的功能。
技术总结
本发明涉及测试技术领域，尤其涉及一种测试控制电路、测试用具及测试系统。测试控制电路应用于测试用具，测试用具与待测设备的待测接口连接，测试控制电路的第一端口与第二十五端口短接，测试控制电路的第二端口与第二十三端口短接，测试控制电路的第三端口与第四端口短接，测试控制电路的第六端口与第十九端口短接，测试控制电路的第八端口与测试控制电路的第二十一端口短接，其中，测试控制电路的二十五个端口与待测接口的二十五个端口配对连接，待测设备用于测试待测接口的功能。本发明通过测试用具直接与待测接口连接的方式检测待测设备的功能，从而节省了测试成本，提高了测试效率。效率。效率。
技术研发人员：幸力 程匹克
受保护的技术使用者：深圳宝新创科技股份有限公司
技术研发日：2022.01.17
技术公布日：2022/5/6