一种测试控制电路、测试用具及测试系统的制作方法

1.本发明涉及测试技术领域，特别是涉及一种测试控制电路、测试用具及测试系统。


背景技术：

2.lpt(打印终端，line print terminal)接口一般用来连接打印机或扫描仪，采用有25引脚的db25接头进行lpt测试。db25接头是与lpt接口配对的常用连接器。
3.现有lpt测试方案由25引脚并口线和db25接头组成，测试lpt前，因为需要通过25引脚并口线将lpt接口和db25接头连接，所以测试效率不高，并且增设了25引脚并口线，从而消耗成本较高。


技术实现要素：

4.本发明实施方式旨在提供一种测试控制电路、测试用具及测试系统，能够节省测试成本并提高测试效率。
5.为解决上述技术问题，本发明实施方式采用的一个技术方案是：提供一种测试控制电路，应用于测试用具，所述测试用具与待测设备的待测接口连接，所述测试控制电路包括：
6.所述测试控制电路的第一端口与所述测试控制电路的第二十五端口短接，所述测试控制电路的第二端口与所述测试控制电路的第二十三端口短接，所述测试控制电路的第三端口与所述测试控制电路的第四端口短接，所述测试控制电路的第六端口与所述测试控制电路的第十九端口短接，所述测试控制电路的第八端口与所述测试控制电路的第二十一端口短接，所述测试控制电路的第十端口、第十二端口、第十四端口、第十六端口、第十八端口、第二十端口、第二十二端口及第二十四端口接地；其中，
7.所述测试控制电路的二十五个端口与所述待测接口的二十五个端口配对连接，所述待测设备用于测试所述待测接口的功能。
8.在一些实施例中，所述测试控制电路的第三端口作为数据端口。
9.在一些实施例中，所述测试控制电路的第一端口、第二端口、第六端口及第八端口作为控制端口。
10.在一些实施例中，所述测试控制电路的第十九端口、第二十一端口、第二十三端口及第二十五端口作为状态端口。
11.在一些实施例中，所述测试控制电路的第四端口作为报错端口。
12.为解决上述技术问题，本发明实施方式采用的另一个技术方案是：提供一种测试用具，包括第一测试区，
13.所述第一测试区包括第一测试接口和电路板，所述第一测试接口与待测接口连接，所述第一测试接口和如上所述的测试控制电路焊接于所述电路板。
14.在一些实施例中，还包括第二测试区，所述第一测试区和所述第二测试区之间在线路和布局上是独立的，所述第二测试区包括第二测试接口，所述第二测试接口与所述待
测接口连接，所述第二测试接口和如上所述的测试控制电路焊接于所述电路板。
15.在一些实施例中，所述第一测试接口为第一针距的母座。
16.在一些实施例中，所述第二测试接口为第二针距的母座。
17.为解决上述技术问题，本发明实施方式采用的又一个技术方案是：提供一种测试系统，包括待测设备和如上所述的测试用具，所述待测设备包括至少一个待测接口，所述测试用具与所述至少一个待测接口连接，所述待测设备用于测试所述待测接口的功能。
18.本发明实施例的有益效果：区别于现有技术的情况，本发明实施例提供的测试控制电路，应用于测试用具，所述测试用具与待测设备的待测接口连接，所述测试控制电路包括：所述测试控制电路的第一端口与所述测试控制电路的第二十五端口短接，所述测试控制电路的第二端口与所述测试控制电路的第二十三端口短接，所述测试控制电路的第三端口与所述测试控制电路的第四端口短接，所述测试控制电路的第六端口与所述测试控制电路的第十九端口短接，所述测试控制电路的第八端口与所述测试控制电路的第二十一端口短接，所述测试控制电路的第十端口、第十二端口、第十四端口、第十六端口、第十八端口、第二十端口、第二十二端口及第二十四端口接信号地；其中，所述测试控制电路的二十五个端口与所述待测接口的二十五个端口配对连接，所述待测设备用于测试所述待测接口的功能。本发明实施例通过测试用具直接与待测接口连接的方式检测待测接口的功能，从而节省了测试成本，提高了测试效率。
附图说明
19.一个或多个实施例通过与之对应的附图进行示例性说明，这些示例性说明并不构成对实施例的限定，附图中具有相同参考数字标号的元件表示为类似的元件，除非有特别申明，附图中的图不构成比例限制。
20.图1是本发明实施例提供的一种测试系统的结构示意图；
21.图2是本发明实施例提供的一种待测接口的结构示意图；
22.图3是本发明实施例提供的一种测试用具的结构示意图；
23.图4是本发明实施例提供的一种测试控制电路的结构示意图。
具体实施方式
24.下面结合具体实施例对本发明进行详细说明。以下实施例将有助于本领域的技术人员进一步理解本发明，但不以任何形式限制本发明。应当指出的是，对本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进。这些都属于本发明的保护范围。
25.为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。
26.需要说明的是，如果不冲突，本发明实施例中的各个特征可以相互结合，均在本技术的保护范围之内。另外，虽然在装置示意图中进行了功能模块划分，在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于装置中的模块划分，或流程图中的顺序执行所示出或描述的步骤。
27.除非另有定义，本说明书所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本说明书中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是用于限制本发明。本说明书所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
28.为了解决现有技术的lpt测试方案中检测工具繁琐的问题，本发明实施例提供了一种测试控制电路、测试用具及测试系统，整合了现有技术中的25引脚并口线和db25接头的功能，极大地提高了用户的工作效率。图1是本发明实施例提供的一种测试系统的结构示意图，请参阅图1。如图1所示，该测试系统400包括待测设备200和测试用具300，待测设备200包括至少一个待测接口100，测试用具300与至少一个待测接口100连接，待测设备200用于测试待测接口100的功能。
29.该测试用具300为本发明实施例提供的检测工具，且该测试用具300中焊接有本发明实施例提供的测试控制电路，该测试用具300能够辅助待测设备200对待测接口100进行功能检测，从而提高用户的工作效率。
30.该待测设备200一般为台式电脑等有待测接口且能够运行测试程序的设备。待测接口100为lpt接口，lpt接口一般用来连接打印机。本发明实施例提供的测试用具300用于检测待测设备200的待测接口100是否能够正常工作，是否能够正常执行其功能。
31.其中，待测设备200需要运行测试程序配合待试接口100与测试用具300的连接，从而完成测试工作。该测试程序预先配置于待测设备200中。值得说明的是，本发明实施例对测试程序的获取方式不作限定，任何现有的、将来的实施方式都可以应用到本公开提供的一个或多个实施例中。
32.在一些实施例中，可以在测试系统400中增加上位机(图未示)，该上位机中运行有测试程序，该上位机与待测设备200连接，该上位机用于配合待测设备200和测试用具300检测待测接口100的功能。
33.当需要检测待测接口100的功能时，待测设备200通过待测接口100与测试用具300连接，该待测设备200输出指令至待测设备200，待测设备200通过测试用具300的检测控制电路的控制，反馈检测数据至待测设备200，待测设备200通过分析该检测数据，获取待测设备200的待测接口100的是否能正常工作的信息。
34.具体的，该待测接口100包括二十五个端口，测试用具300也包括二十五个端口。当检测待测接口100的功能时，测试用具300与待测接口100的端口对应连通。
35.图2是本发明实施例提供的一种待测接口的结构示意图，请参阅图2。如图2所示，待测设备200含有的待测接口100包括二十五个端口，包括端口1、端口2、端口3、端口4、端口5、端口6、端口7、端口8、端口9、端口10、端口11、端口12、端口13、端口14、端口15、端口16、端口17、端口18、端口19、端口20、端口21、端口22、端口23、端口24及端口25。该待测接口100为2.54毫米针距的接口。
36.可以理解的是，传统的检测ltp接口的方案中，通过25针并口线，将待测设备200的待测接口100与db25公头连接，配合待测设备200的测试程序，对待测设备200的待测接口100的功能进行检测。可以理解的是，待测接口100包括2.54针距和2.0针距两种。然而，传统的检测方案中，使用25针并口线将待测设备200的待测接口100与db25公头连接以测试待测设备200的待测接口100的功能，25针并口线有一定长度不好收纳且显得臃肿，db25公头要
通过手动焊接相应的引脚，手动焊接前还要拧开db25公头的固定螺丝，焊接完成后又需要拧紧固定螺丝，费时费力并且效率不高，25针并口线和db25公头都需要单独购买，成本较高。并且，如果想要检测2.54针距的待测接口100和2.0针距的待测接口100，需要分别设置两种与待测接口100匹配的25针并口线，不够便捷且浪费成本。
37.基于上述情况，为了增加待测设备200的待测接口100出厂检测的便利性，本发明实施例提供了一种测试用具300，能兼容2.54毫米针距和2.0毫米针距的待测接口，以进行出厂检测。该测试用具300通过设置2.54毫米针距和2.0毫米针距的接口，能与待测设备200的待测接口100相互匹配，即能进行信号的传输。该测试用具300能将经待测接口100的端口输出的信号回传至待测接口100的端口，进过待测设备200的分析，待测设备200可以根据检测到的回传的信号确定该待测设备200的待测接口100的功能是否正常。
38.具体的，下面结合附图，对本发明实施例作进一步阐述。
39.本发明实施例提供了一种测试用具，请参阅图3，图3是本发明实施例提供的一种测试用具的结构示意图。如图3所示，该测试用具300包括第一测试区，该第一测试区包括第一测试接口301和电路板302，第一测试接口301与待测接口100连接，第一测试接口301和下述的测试控制电路焊接于电路板。该第一测试接口301包括二十五个端口，该第一测试接口301的二十五个端口与待测接口100的二十五个端口匹配。
40.在一些实施例中，第一测试接口为第一针距的母座。其中，第一针距可以为2.54毫米。
41.在此实施例中，该第一测试接口301与图2中的待测接口100匹配，检测时，将第一测试接口301的四角与待测接口100的四角对齐，并将第一测试接口301的与待测接口100中上排的12个端口和下排的13个端口分别对齐，然后接入即可。
42.图4是本发明实施例提供的一种测试控制电路的结构示意图，请参阅图4。该测试控制电路，应用于测试用具300，测试用具300与待测设备200的待测接口100连接，如图4所示，该测试控制电路包括二十五个端口。测试控制电路的第一端口与测试控制电路的第二十五端口短接，测试控制电路的第二端口与测试控制电路的第二十三端口短接，测试控制电路的第三端口与测试控制电路的第四端口短接，测试控制电路的第六端口与测试控制电路的第十九端口短接，测试控制电路的第八端口与测试控制电路的第二十一端口短接，测试控制电路的第十端口、第十二端口、第十四端口、第十六端口、第十八端口、第二十端口、第二十二端口及第二十四端口接地；其中，测试控制电路的二十五个端口与待测接口100用于测试待测接口的功能。
43.结合图2和图4对本发明实施例的测试用具连接方式进行描述，本发明实施例中，待测接口的二十五个端口、测试用具中的第一测试接口的二十五个端口及测试控制电路的二十五个端口一一对应。例如，待测接口100的端口1与测试用具中第一测试接口的第一端口连接，测试用具中第一测试接口的第一端口与测试控制电路的第一端口焊接；待测接口100的端口2与测试用具中第一测试接口的第二端口连接，测试用具中第一测试接口的第二端口与测试控制电路的第二端口焊接；待测接口100的端口3与测试用具中第一测试接口的第三端口连接，测试用具中第一测试接口的第三端口与测试控制电路的第三端口焊接，依次类推。
44.需要说明的是，因为本发明实施例中，待测接口的二十五个端口、测试用具中的第
一测试接口的二十五个端口及测试控制电路的二十五个端口一一对应，所以本发明实施例中，待测接口、测试用具及测试控制电路的对应端口的作用相同。
45.本发明实施例提供的测试控制电路应用于测试用具，测试用具与待测设备的待测接口连接，测试控制电路的第一端口与第二十五端口短接，测试控制电路的第二端口与第二十三端口短接，测试控制电路的第三端口与第四端口短接，测试控制电路的第六端口与第十九端口短接，其中，测试控制电路的二十五个端口与待测接口的二十五个端口配对连接，待测设备用于测试待测接口的功能。本发明通过测试用具直接与待测接口连接的方式检测待测设备的待测接口的功能，从而节省了测试成本，提高了测试效率。
46.上述测试控制电路中的二十五个端口、第一测试接口的二十五个即待测接口的二十五个端口对应，以测试控制电路的端口为例，测试控制电路的二十五个端口分为三大类，即数据端口、状态端口以及控制端口，数据端口用于传输数据信息，状态端口用于传输状态信息，控制端口用于传输控制信息。
47.在一些实施例中，测试控制电路的第三端口作为数据端口。测试控制电路的第一端口、第二端口、第六端口及第八端口作为控制端口。测试控制电路的第十九端口、第二十一端口、第二十三端口及第二十五端口作为状态端口。测试控制电路的第四端口作为报错端口。
48.表1是本发明实施例提供的一种测试控制电路的端口含义表，请参阅表1。如表1所示，进一步的，对于上述测试控制电路的不同端口，具有不同的含义。
49.具体的端口含义请参见下表1：
50.引脚序号引脚描述引脚序号引脚描述1选通19回答3数据位021忙5数据位123缺纸7数据位225选择9数据位32进纸信号11数据位44报错13数据位56初始化15数据位68选择输入17数据位710～24信号地
51.表1
52.其中，引脚序号i代表测试控制电路的第i端口，引脚描述代表第i端口的端口含义。
53.需要说明的是，上述i为大于等于1的正整数，其用于表示对引脚序号和端口的标号。
54.如表1所示，测试控制电路的第三端口、第五端口、第七端口、第九端口、第十一端口、第十三端口、第十五端口及第十七端口均作为数据端口。测试控制电路的第一端口、第二端口、第六端口及第八端口作为控制端口，第一端口为选通作用，第二端口为进纸信号作用，第六端口为初始化作用，第八端口为选择输入作用。测试控制电路的第十九端口、第二十一端口、第二十三端口及第二十五端口作为状态端口，第十九端口为回答作用，第二十一
端口为提醒忙碌状态的作用，第二十三端口为提醒缺纸的作用，第二十五端口为选择的作用。测试控制电路的第四端口作为报错端口，有报错的作用。
55.通过在待测设备中编写测试程序，以实现回路循环发送数据至待测设备，待测设备通过判断发送和接收到的数据是否一致来判断该回路是否正常，即该待测设备的待测接口的功能是否正常。
56.综上，上述一种测试控制电路的优点主要是仅采用测试用具的二十五个端口与待测接口的二十五个端口配对连接，即可配合待测设备中的测试程序测试待测设备的待测接口的功能，简化了测试用具，提高了测试效率。
57.本发明实施例中提供的测试系统400通过测试用具300直接与待测接口100连接的方式检测待测设备200的待测接口100的功能，从而避免了使用25引脚并口线和db25接头，节省了测试成本，提高了测试效率。
58.在一些实施例中，如图3所示，测试用具300还包括第二测试区，第一测试区和第二测试区之间在线路和布局上是独立的，第二测试区包括第二测试接口303，第二测试接口303与待测接口100连接，第二测试接口303和上述的测试控制电路焊接于电路板302。
59.可以理解的是，在一些实施例中，第二测试接口为第二针距的母座，该第二针距可以为2.0毫米的针距。从而，使得测试用具300既能检测2.54毫米针距的待测接口，又能检测2.0毫米针距的待测接口，使得该测试用具300的应用范围更广。
60.需要说明的是，本发明实施例中的第一测试接口301和第二测试接口303的针距可以设置为其它针距。
61.本发明实施例提供了一种测试用具300，该测试用具300通过设置2.54毫米针距和2.0毫米针距的接口，能兼容2.54毫米针距和2.0毫米针距的待测接口。并且通过测试用具300直接与待测接口100连接的方式检测待测设备200的待测接口100的功能，从而避免了使用25引脚并口线和db25接头，节省了测试成本，提高了测试效率。
62.综上所述，本发明实施例提供了一种测试控制电路、测试用具及测试系统，测试系统包括测试用具，测试控制电路应用于测试用具，运用本发明实施例提供的测试用具检测待测设备时，只需将测试用具与待测设备连接并配合待测设备中的测试程序即可。避免了传统的检测方案中使用25针并口线而显得累赘的问题，节约测试成本，节省测试时间，并且本发明实施例提供的测试用具和待测接口的连接不需拧开或拧紧螺丝，检测效率高。并且通过测试用具直接与待测接口连接的方式检测待测设备的待测接口的功能，从而避免了使用25引脚并口线和db25接头，节省了测试成本，提高了测试效率。测试用具300通过设置2.54毫米针距和2.0毫米针距的接口，能兼容2.54毫米针距和2.0毫米针距的待测接口，应用范围更广。
63.最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；在本发明的思路下，以上实施例或者不同实施例中的技术特征之间也可以进行组合，步骤可以以任意顺序实现，并存在如上所述的本发明的不同方面的许多其它变化，为了简明，它们没有在细节中提供；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本技术各实施例技术方案的范围。