1.一种日历寿命的测试方法，其特征在于，所述测试方法包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述的日历寿命的测试方法，其特征在于，85％<c％≤101％；优选地，c％为99％-100％。
3.根据权利要求1或2所述的日历寿命的测试方法，其特征在于，所述充放电循环处理包括如下步骤：
4.根据权利要求3所述的日历寿命的测试方法，其特征在于，所述充放电循环处理还满足如下1)-6)中的至少一项：
5.根据权利要求1-4中任一所述的日历寿命的测试方法，其特征在于，对照电芯的测试步骤和/或待测电芯的测试步骤的实际日历寿命测试包括如下步骤：
6.根据权利要求5所述的日历寿命的测试方法，其特征在于，所述实际日历寿命测试还满足如下(1)-(3)中至少一项：
7.根据权利要求6所述的日历寿命的测试方法，其特征在于，所述实际日历寿命测试中的测试步骤满足如下a-e中的至少一项：
8.根据权利要求5-7中任一所述的日历寿命的测试方法，其特征在于，
9.根据权利要求8所述的日历寿命的测试方法，其特征在于，100倍a1与a2之比为1:9-9:1；和/或，10倍b1与b2之比为1:9-9:1。
10.根据权利要求1-9中任一所述的日历寿命的测试方法，其特征在于，待测电芯的测试步骤中还包括在存储时间至少为120天时，将待测电芯在实际日历寿命测试过程中容量保持率与实际日历寿命测试中的存储总时间的相关性进行多项式拟合，得到式(iii)所示的模型，y3＝a3x32+b3x3+c3(iii)；其中y3为容量保持率，x3为实际的存储总时间，a3、b3、c3为拟合参数；根据模型计算容量保持率达到70-85％时对应的测试时间为循环寿命t2。