一种对低压电器进行温升测试的方法与流程

文档序号:34105950发布日期:2023-05-10 20:00阅读:49来源:国知局
一种对低压电器进行温升测试的方法与流程

本发明涉及低压电器检测,更具体地,涉及一种对低压电器进行温升测试的方法。


背景技术:

1、计量箱、塑料外壳式断路器、空气断路器是重要的电能计量用设备,配合智能电能表完成电能计量与配送。根据国家市场监督管理总局发布的《市场监管总局关于优化强制性产品认证目录的公告》(2020年第18号),计量箱、塑料外壳式断路器、空气断路器均属于低压电器类别,应根据相关要求进行温升试验,以确保在实际运行时的安全。

2、然而,各地电力公司在进行设备采购时,并非总是购置全套低压电器,往往会根据自身实际需要,选择其中部分种类设备,由此导致在进行成套设备的温升试验时,因内部电路不完整,缺少进线断路器、电能表、出线断路器等功能组件,试验电路无法达到通路,试验无法开展,进而引起设备质量管控方面的困难。

3、因此,需要一种技术,以实现对低压电器进行温升测试。


技术实现思路

1、本发明技术方案提供一种对低压电器进行温升测试的方法,以解决如何对低压电器进行温升测试的问题。

2、为了解决上述问题,本发明提供了一种对低压电器进行温升测试的方法,所述方法包括:

3、建立测试装置,所述测试装置包括第一装置、第二装置、以及测量电路;

4、所述第一装置用于代替电能表接入测量电路,所述第二装置用于代替进线开关或出线开关接入测量电路;

5、将电源装置以及温升测试装置接入测量电路;

6、基于所述测量电路,按照预定的试验步骤,对所述第一装置和第二装置进行温升试验。

7、优选地,当所述第一装置代替电能表连接过盈配合式插件端子时,应视过盈配合式插件端子的直径包括:φ7.5mm、φ8.5mm。

8、优选地,当所述第一装置代替电能表连接间隙配合式插件端子时,选择对应规格的短接所述第二装置,通过紧固螺丝以使得连接可靠。

9、优选地,当所述第二装置代替进线开关或出线开关时,应视bvr导线或bv导线的线径包括:16mm2、25mm2、35mm2。

10、优选地,当所述第二装置代替进线开关或出线开关时,在计量箱内电路与测量电路之间接入第二装置,所述第二装置通过螺纹孔拧入螺栓进行压接紧固,形成可靠的电流通路。

11、优选地,所述测量电路的承载的电流规格包括:40a、60a、80a或100a。

12、优选地,所述第一装置为u型结构,截面积为矩形,u型结构的两端在截面开圆形孔径,孔深度至少为25mm;u型结构两端表面各开两个孔进行攻丝,并且贯穿一侧表面至截面孔。

13、优选地,所述第二装置为长方体结构,截面积为矩形,在截面开通孔贯穿,在表面一侧两端开两个孔进行攻丝,并且贯穿一侧表面至截面孔。

14、优选地,所述测量电路为闭环回路。

15、本发明技术方案提供了一种对低压电器进行温升测试的方法,方法包括:建立测试装置,测试装置包括第一装置、第二装置、以及测量电路;第一装置用于代替电能表接入测量电路,第二装置用于代替进线开关或出线开关接入测量电路;将电源装置以及温升测试装置接入测量电路;基于所述测量电路,按照预定的试验步骤,对所述第一装置和第二装置进行温升试验。本发明技术方案解决了在缺少进线开关(塑壳断路器)或出线开关(微型断路器)时,通过将本发明设计的短接装置接入电路代替缺失的低压元件,模拟所代替元件的散热特性,同时形成闭环回路,保证温升试验的顺利开展。



技术特征:

1.一种对低压电器进行温升测试的方法,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,当所述第一装置代替电能表连接过盈配合式插件端子时,应视过盈配合式插件端子的直径包括:φ7.5mm、φ8.5mm。

3.根据权利要求1所述的方法,当所述第一装置代替电能表连接间隙配合式插件端子时,选择对应规格的短接所述第二装置,通过紧固螺丝以使得连接可靠。

4.根据权利要求1所述的方法,当所述第二装置代替进线开关或出线开关时,应视bvr导线或bv导线的线径包括:16mm2、25mm2、35mm2。

5.根据权利要求1所述的方法,当所述第二装置代替进线开关或出线开关时,在计量箱内电路与测量电路之间接入第二装置,所述第二装置通过螺纹孔拧入螺栓进行压接紧固,形成可靠的电流通路。

6.根据权利要求1所述的方法,所述测量电路的承载的电流规格包括:40a、60a、80a或100a。

7.根据权利要求1所述的方法,所述第一装置为u型结构,截面积为矩形,u型结构的两端在截面开圆形孔径,孔深度至少为25mm;u型结构两端表面各开两个孔进行攻丝,并且贯穿一侧表面至截面孔。

8.根据权利要求1所述的方法,所述第二装置为长方体结构,截面积为矩形,在截面开通孔贯穿,在表面一侧两端开两个孔进行攻丝,并且贯穿一侧表面至截面孔。

9.根据权利要求1所述的方法,所述测量电路为闭环回路。


技术总结
本发明公开了一种对低压电器进行温升测试的方法,所述方法包括:建立测试装置,所述测试装置包括第一装置、第二装置、以及测量电路;所述第一装置用于代替电能表接入测量电路,所述第二装置用于代替进线开关或出线开关接入测量电路;将电源装置以及温升测试装置接入测量电路;基于所述测量电路,按照预定的试验步骤,对所述第一装置和第二装置进行温升试验。

技术研发人员:熊素琴,邹和平,郭建宁,李扬,成达,赵兵,林繁涛,李求洋,李龙涛,高天予,王雅涛,赵越,李禹凡,陈思禹,许佳佳,杨巍,谭琛,赵立涛,孙南南,岳云奇,秦程林
受保护的技术使用者:中国电力科学研究院有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/1/12
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