技术特征：
1.一种可准确获取被检物品尺寸信息的太赫兹成像系统，其包括太赫兹光学装置、探测器和图像识别处理装置，所述探测器设置于所述太赫兹光学装置的像方一侧，所述探测器与图像识别处理装置电控连接，其特征在于：在所述太赫兹光学装置与探测器之间、且在所述太赫兹光学装置的像方焦点处设置有一孔径光阑。2.根据权利要求1所述的一种可准确获取被检物品尺寸信息的太赫兹成像系统，其特征在于：所述探测器设置于所述太赫兹光学装置的像方一侧、且与所述太赫兹光学装置呈角度设置，所述太赫兹光学装置与所述探测器之间、且在所述太赫兹光学装置的像方焦点处设有反射镜，所述反射镜为一孔径光阑。3.根据权利要求2所述的一种可准确获取被检物品尺寸信息的太赫兹成像系统，其特征在于：所述太赫兹光学装置的光路中心与探测器的探测成像平面平行，所述反射镜与所述太赫兹光学装置的中心呈45
°
斜向设置。4.根据权利要求1～3中任一所述的一种可准确获取被检物品尺寸信息的太赫兹成像系统，其特征在于：其还包括显示装置，所述显示装置与所述图像识别处理装置电控连接。5.权利要求1～3所述的太赫兹成像系统获取被检物品尺寸信息的方法，其特征在于：在图像识别处理装置内进行参数预设，所述参数为太赫兹光学装置的设计放大率β，太赫兹光学装置连续获取移动中的被检物品本身辐射出的太赫兹辐射信号，并将获取的太赫兹辐射信号经由孔径光阑聚集到位于像平面位置处的探测器上进行物品成像；探测器探测并接收由所述太赫兹光学装置及孔径光阑聚集的太赫兹辐射信号，并将太赫兹辐射信号传给图像识别处理装置；所述图像识别处理装置对接收到的太赫兹辐射信号进行滤波、放大、采样及数字图像处理并识别测量物品的成像尺寸信息y’，再根据预设的太赫兹光学装置的设计放大率β，计算得到被检物品尺寸信息y＝y’/β。
技术总结
本发明提供了一种可准确获取被检物品尺寸信息的太赫兹成像系统，其能解决现有系统存在的安检物品的甄别准确率低的问题；探测器设置于太赫兹光学装置的像方一侧，探测器与图像识别处理装置电控连接，在太赫兹光学装置与探测器之间、且在太赫兹光学装置的像方焦点处设置有一孔径光阑；获取物品尺寸时，先预设太赫兹光学装置的设计放大率β，太赫兹光学装置连续获取移动中的被检物品本身辐射出的太赫兹辐射信号、并将获取的太赫兹辐射信号经由孔径光阑聚集到位于像平面位置处的探测器上进行物品成像；图像识别处理装置识别测量物品的成像尺寸信息y’，再根据预设的太赫兹光学装置的设计放大率β，计算得到被检物品尺寸信息y＝y’/β。/β。/β。
技术研发人员：袁毅 臧元章 侯丽伟 周德亮 谢巍 潘鸣
受保护的技术使用者：江苏亨通太赫兹技术有限公司
技术研发日：2022.08.19
技术公布日：2022/11/22