本申请涉及接触器,具体而言,涉及一种触头厚度计算方法、装置、设备及存储介质。
背景技术:
1、接触器是一种用于接通和切断交流、直流主电路和控制电路的自动控制电器,可运用于电动机作为控制对象,也可用于控制工厂设备、电热器以及各样电力机组等电力负载。
2、接触器的触头频繁吸合,容易产生电弧打火现象,触头表面会被烧出多个小坑,使得触头产生磨损,触头的磨损到达一定程度时,导致接触器失效。现有技术中,可通过在接触器内部安装位移传感器,通过位移传感器检测的位移情况判断触头的磨损情况,需要将接触器进行拆解后安装位移传感器,成本较高,技术难度较大,在实际应用过程中用户通常并不会将产品进行拆解。
技术实现思路
1、本发明的目的在于,针对上述现有技术的不足,提供一种触头厚度计算方法、装置、设备及存储介质,以解决现有技术中得到触头具体磨损情况成本较高、技术难度较大的技术问题。
2、为实现上述目的,本申请实施例采用的技术方案如下:
3、第一方面,本申请实施例提供一种触头厚度计算方法,该方法包括:
4、获取接触器中断电释放后的实际线圈电流波形;
5、从所述实际线圈电流波形中确定预设点位的电流值,所述预设点位为电流变化的转折点;
6、根据所述预设点位的电流值,采用预设对应关系,计算所述接触器的触头厚度,其中,所述预设对应关系为所述预设点位的电流值和触头厚度的对应关系。
7、可选地,所述根据所述预设点位的电流值,采用所述预设对应关系,计算所述接触器的触头厚度之前,还包括:
8、获取所述接触器在不同的多个触头厚度情况下,断电释放后的多组试验线圈电流波形;所述多个触头厚度为所述接触器的设定触头厚度在不同磨损情况下的厚度;
9、从所述多组试验线圈电流波形中确定所述预设点位的多组电流值;
10、对所述多个触头厚度以及所述预设点位的多组电流值进行曲线拟合,得到所述预设对应关系。
11、可选地,所述对所述多个触头厚度以及所述预设点位的多组电流值进行曲线拟合,得到所述预设对应关系,包括:
12、对所述预设点位的每组电流值进行计算,得到所述预设点位的一个参考电流值;
13、对所述多个触头厚度以及所述预设点位的多个参考电流值进行曲线拟合,得到所述预设对应关系。
14、可选地,所述对所述预设点位的每组电流值进行计算,得到所述预设点位的一个参考电流值,包括:
15、对所述预设点位的每组电流值进行异常电流值滤除;
16、根据滤除后的电流值,计算得到所述预设点位的一个参考电流值。
17、可选地,所述对所述多个触头厚度以及所述预设点位的多组电流值进行曲线拟合,得到所述预设对应关系之后,还包括:
18、获取所述接触器在触头无磨损情况下断电释放后的第一试验线圈电流波形;
19、从所述第一试验线圈电流波形中确定所述预设点位的第一电流值;
20、根据所述第一电流值对所述预设对应关系进行修正;
21、所述根据所述预设点位的电流值,采用所述预设对应关系,计算所述接触器的触头厚度,包括:
22、根据所述预设点位的电流值,采用修正后的预设对应关系,计算得到所述接触器的触头厚度。
23、可选地,所述从所述实际线圈电流波形中确定预设点位的电流值,包括:
24、从所述实际线圈电流波形中,确定第一预设点位的实际电流值,和第二预设点位的实际电流值,其中,所述第一预设点位为电流从下降到上升的变化转折点,所述第二预设点位为电流从上升到下降的变化转折点;
25、所述根据所述预设点位的电流值,采用所述预设对应关系,计算所述接触器的触头厚度,包括:
26、根据所述第一预设点位的实际电流值,和所述第二预设点位的实际电流值,采用所述预设对应关系,计算所述接触器的触头厚度;其中,所述预设对应关系为所述第一预设点位的电流值、所述第二预设点位的电流值和触头厚度的对应关系。
27、可选地,所述对所述多个触头厚度以及所述预设点位的多组电流值进行曲线拟合,得到所述预设对应关系之后,还包括:
28、获取所述接触器在无触头情况下断电释放后的第二试验线圈电流波形;
29、从所述第二试验线圈电流波形中确定所述预设点位的第二电流值;
30、根据所述第一电流值和所述第二电流值对所述预设对应关系进行修正;
31、所述根据所述预设点位的电流值,采用所述预设对应关系,计算所述接触器的触头厚度,包括:
32、根据所述预设点位的电流值,采用修正后的预设对应关系,计算得到所述接触器的触头厚度。
33、第二方面,本申请实施例提供一种触头厚度计算装置,包括:
34、获取模块,用于获取接触器中断电释放后的实际线圈电流波形;
35、确定模块,用于从所述实际线圈电流波形中确定预设点位的电流值,所述预设点位为电流变化的转折点;
36、计算模块,用于根据所述预设点位的电流值,采用预设对应关系,计算所述接触器的触头厚度,其中,所述预设对应关系为所述预设点位的电流值和触头厚度的对应关系。
37、第三方面,本申请实施例提供一种计算机设备,包括:存储介质和处理器,所述存储介质存储有所述处理器可执行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现上述第一方面的一种触头厚度计算方法。
38、第四方面,本申请实施例提供一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被读取并执行时,实现上述第一方面的一种触头厚度计算方法。
39、相对现有技术而言,本申请具有以下有益效果:
40、本申请提供的一种触头厚度计算方法、装置、设备及存储介质,通过获取接触器中断电释放后的实际线圈电流波形,从实际线圈电流波形中确定预设点位的电流值,预设点位为电流变化的转折点,根据预设点位的电流值,采用预设对应关系,计算接触器的触头厚度,其中,预设对应关系为预设点位的电流值和触头厚度的对应关系,本申请通过测量的实际线圈电流波形中预设点位的电流值可计算得到接触器的触头厚度,根据多个触头厚度可以得到触头的磨损情况,不需要将接触器进行拆解,技术难度较小,也不需要在每个接触器内部安装其他设备,降低了成本,同时,在接触器内部安装其他设备时,得到触头磨损情况的方法仅限于安装其他设备的接触器,适用范围较小,而本申请中的计算触头厚度的方法适用于所有使用电路板对线圈激励进行整流的接触器,适用范围较大。
1.一种触头厚度计算方法,其特征在于,所述方法包括:
2.根据权利要求1所述的触头厚度计算方法,其特征在于,所述根据所述预设点位的电流值,采用所述预设对应关系,计算所述接触器的触头厚度之前,还包括:
3.根据权利要求2所述的触头厚度计算方法,其特征在于,所述对所述多个触头厚度以及所述预设点位的多组电流值进行曲线拟合,得到所述预设对应关系,包括:
4.根据权利要求3所述的触头厚度计算方法,其特征在于,所述对所述预设点位的每组电流值进行计算,得到所述预设点位的一个参考电流值,包括:
5.根据权利要求2所述的触头厚度计算方法,其特征在于,所述对所述多个触头厚度以及所述预设点位的多组电流值进行曲线拟合,得到所述预设对应关系之后,还包括:
6.根据权利要求1所述的触头厚度计算方法,其特征在于,所述从所述实际线圈电流波形中确定预设点位的电流值,包括:
7.根据权利要求5所述的触头厚度计算方法,其特征在于,所述对所述多个触头厚度以及所述预设点位的多组电流值进行曲线拟合,得到所述预设对应关系之后,还包括:
8.一种触头厚度计算装置,其特征在于,包括:
9.一种计算机设备,其特征在于,包括:存储介质和处理器,所述存储介质存储有所述处理器可执行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现上述权利要求1-7中任一项所述的触头厚度计算方法。
10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被读取并执行时,实现上述权利要求1-7中任一项所述的触头厚度计算方法。