一种芯片频率检测方法、装置及电子设备与流程

文档序号:32998783发布日期:2023-01-18 00:41阅读:来源:国知局

技术特征:
1.一种芯片频率检测方法,应用于包含有rc振荡器的待测芯片,其特征在于,包括:输出测试信号至若干个待测芯片,以使所述若干个待测芯片输出目标振荡信号;在若干个rc振荡器的振荡周期中分别设置若干个振荡采集窗口;在各个振荡采集窗口中,以标准时钟为计数信号,计算相应目标振荡信号在所述振荡采集窗口中的振荡次数;以所述振荡次数作为相应振荡采集窗口的振荡频率,对各个振荡采集窗口的振荡频率进行统计,获得相应rc振荡器的频率方差;评估所述频率方差,从所述待测芯片中筛选出不合格芯片。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述输出测试信号至若干个待测芯片,以使所述若干个待测芯片输出目标振荡信号,包括:分别输出所述测试信号至所述若干个待测芯片,以使所述若干待测芯片的rc振荡器开始振荡;使若干个待测芯片输出相应的目标振荡信号。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述在若干个rc振荡器的振荡周期中分别设置若干个振荡采集窗口,包括:设置各个振荡周期的起点为第一个振荡采集窗口的采集起点;以上一个振荡采集窗口的终点的下一个信号上升沿做为下一个振荡采集窗口的起点,至设置有若干个振荡采集窗口。4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述在各个振荡采集窗口中,以标准时钟为计数信号,计算相应目标振荡信号在所述振荡采集窗口中的振荡次数,包括:获取标准时钟作为计数信号;计算所述各个振荡采集窗口的时间长度;将各个所述时间长度分别除以所述计数信号的时长,获得相应目标振荡信号在所述振荡采集窗口中的振荡次数。5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述计算所述各个振荡采集窗口的时间长度,包括:获取所述各个振荡采集窗口的采集起点;获取所述各个振荡采集窗口的采集终点;将所述各个振荡采集窗口的采集终点减去相应振荡采集窗口的采集起点,获得所述各个振荡采集窗口的时间长度。6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述以所述振荡次数作为相应振荡采集窗口的振荡频率,对各个振荡采集窗口的振荡频率进行统计,获得相应rc振荡器的频率方差,包括:以所述振荡次数作为相应振荡采集窗口的振荡频率,对各个振荡采集窗口的振荡频率进行统计,计算所述振荡频率的平均值,再计算获得所述频率方差。7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述评估所述频率方差,从所述待测芯片中筛选出不合格芯片,包括:将所述频率方差与预设阈值进行比较,判断所述频率方差是否大于所述预设阈值;若是,则判断与所述频率方差相对应的待测芯片为不合格芯片;
若否,则判断与所述频率方差相对应的待测芯片为合格芯片。8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述振荡周期的起点为相应的目标振荡信号的信号上升沿;所述振荡周期的终点为相应的目标振荡信号的信号下降沿。9.一种芯片频率检测装置,其特征在于,包括:信号输出单元,用于输出测试信号至若干个待测芯片,以使所述若干个待测芯片输出目标振荡信号;窗口设置单元,用于在若干个rc振荡器的振荡周期中分别设置若干个振荡采集窗口;振荡计数单元,用于在各个振荡采集窗口中,以标准时钟为计数信号,计算相应目标振荡信号在所述振荡采集窗口中的振荡次数;频率计算单元,用于以所述振荡次数作为相应振荡采集窗口的振荡频率,对各个振荡采集窗口的振荡频率进行统计,获得相应rc振荡器的频率方差;频率筛选单元,用于评估所述频率方差,从所述待测芯片中筛选出不合格芯片。10.一种电子设备,其特征在于,包括:至少一个处理器;以及,与所述至少一个处理器通信连接的存储器;其中,所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令,所述指令被所述至少一个处理器执行,以使所述至少一个处理器能够执行如权利要求1-8的任一项所述的一种芯片频率检测方法。11.一种非易失性计算机存储介质,其特征在于,所述计算机存储介质存储有计算机可执行指令,该计算机可执行指令被一个或多个处理器执行,可使得所述一个或多个处理器执行如权利要求1-8任意一项所述的一种芯片频率检测方法。

技术总结
本发明实施方式公开了一种芯片频率检测方法、装置及电子设备。该方法包括:输出测试信号至若干个待测芯片,以使若干个待测芯片输出目标振荡信号;在若干个RC振荡器的振荡周期中分别设置若干个振荡采集窗口;在各个振荡采集窗口中,以标准时钟为计数信号,计算相应目标振荡信号在振荡采集窗口中的振荡次数;以振荡次数作为相应振荡采集窗口的振荡频率,对各个振荡采集窗口的振荡频率进行统计,获得相应振荡器的频率方差;评估所述频率方差,从待测芯片中筛选出不合格芯片。通过上述方式,本发明实施方式能够将待测芯片中RC振荡异常的不合格芯片挑选出来,以提高应用该芯片的产品合格率,避免误用不合格芯片所造成的成本损失。避免误用不合格芯片所造成的成本损失。避免误用不合格芯片所造成的成本损失。


技术研发人员:许崇铭 吴瀚平
受保护的技术使用者:深圳市中科蓝讯科技股份有限公司
技术研发日:2022.10.31
技术公布日:2023/1/17
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